NAMA : SONIA F.

TLONAEN
NIM : 1501060008
SEMESTER : V

1. X-RAY FLUORESENCE (XRF)

A. Dasar Teori

X-Ray Fluoresence (XRF) adalah teknik analisis unsure yang membentuk suatu
material dengan dasar interaksi sinar-X dengan material analit. Teknik ini banyak digunakan
dalam analisa batuan karena membutuhkan jumlah sample yang relative kecil ( sekitar 1
gram). Teknik ini dapat digunakan untuk mengukur unsure-unsur yang tertutama banyak
terdapat dalam batuan atau mineral.
Apabila electron dari suatu kulit atom bagian dalam dilepaskan, maka electron yang
terdapat pada bagian kulit luar akan berpindah pada kulit yang ditinggalkan tadi
menghasilkan sinar-X dengan panjang gelombang yang karakteristik bagi unsure tersebut .

Pada teknik difraksi sinar-X suatu berkas electron digunakan, sinar-X dihasilkan dari
tembakan berkas elektron terhadap suatu unsur di anoda untuk menghasilkan sinar-X dengan
panjang gelombang yang diketahui. Peristiwa ini terjadi pada tabung sinar-X. Pada teknik
XRF, kita menggunakan sinar-X dari tabung pembangkit sinar-X untuk mengeluarkan
electron dari kulit bagian dalam untuk menghasilkan sinar-X baru dari sample yang di
analisis.
Seperti pada tabung pembangkit sinar-X, elektoron dari kulit bagian dalam suatu atom
pada sample analit menghasilkan sinar-X dengan panjang-panjang gelombang karakteristik
dari setiap atom di dalam sample. Untuk setiap atom di dalam sample, intensitas dari sinar-X
karakteristik tersebut sebanding dengan jumlah (konsentrasi) atom di dalam sample. Dengan
demikian, jika kita dapat mengukur intensitas sinar –X karakteristik dari setiap unsure, kita
dapat membandingkan intensitasnya dengan suatu standar yang diketahui konsentrasinya,
sehingga konsentrasi unsure dalam sample bisa ditentukan.
Pemilihan filter didasarkan terhadap logam yang akan kita analisa dalam sampel. Filter
berfungsi sebagai penyaring interferensi terhadap analisa.

B. Skema Kerja Alat

 C. Prinsip Kerja XRF

Apabila terjadi eksitasi sinar-X primer yang berasal dari tabung X ray atau sumber radioaktif
mengenai sampel, sinar-X dapat diabsorpsi atau dihamburkan oleh material. Proses dimana
sinar-X diabsorpsi oleh atom dengan mentransfer energinya pada elektron yang terdapat pada
kulit yang lebih dalam disebut efek fotolistrik. Selama proses ini, bila sinar-X primer
memiliki cukup energi, elektron pindah dari kulit yang di dalam menimbulkan kekosongan.
Kekosongan ini menghasilkan keadaan atom yang tidak stabil. Apabila atom kembali pada
keadaan stabil, elektron dari kulit luar pindah ke kulit yang lebih dalam dan proses ini
menghasilkan energi sinar-X yang tertentu dan berbeda antara dua energi ikatan pada kulit
tersebut. Emisi sinar-X dihasilkan dari proses yang disebut X Ray Fluorescence (XRF).
Proses deteksi dan analisa emisi sinar-X disebut analisa XRF. Pada umumnya kulit K dan L
terlibat pada deteksi XRF. Sehingga sering terdapat istilah Kα dan Kβ serta Lα dan Lβ pada
XRF. Jenis spektrum X ray dari sampel yang diradiasi akan menggambarkan puncak-puncak
pada intensitas yang berbeda (Viklund,2008).

Berikut gambar yang menjelaskan nomenclature yang terdapat pada XRF (Stephenon,2009) :

~ transisi elektron ~
Gambar diatas menggambarkan prinsip pengukuran dengan menggunaan XRF
(Gosseau,2009.)

D.Contoh Spektra
 2. X-RAY DIFFRACTION (XRD)
A. Teori Dasar

Proses analisis menggunakan X-ray diffraction (XRD) merupakan salah satu metoda
karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga sekarang. Teknik
ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan
parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Sinar X merupakan radiasi
elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar 200 eV sampai 1 MeV. Sinar X
dihasilkan oleh interaksi antara berkas elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom.
Spektrum sinar X memilki panjang gelombang 10-10 s/d 5-10 nm, berfrekuensi 1017-1020 Hz
dan memiliki energi 103-106 eV. Panjang gelombang sinar X memiliki orde yang sama
dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai sumber difraksi kristal. SinarX
dihasilkan dari tumbukan elektron berkecepatan tinggi dengan logam sasaran. Olehk arena
itu, suatu tabung sinar X harus mempunyai suatu sumber elektron, voltase tinggi, dan logam
sasaran. Selanjutnya elektron elektron yang ditumbukan ini mengalami pengurangan
kecepatan dengan cepat dan energinya diubah menjadi foton.
Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895, di
Universitas Wurtzburg, Jerman. Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar
X. Untuk penemuan ini Rontgen mendapat hadiah nobel pada tahun 1901, yang merupakan
hadiah nobel pertama di bidang fisika. Sejak ditemukannya, sinar-X telah umum digunakan
untuk tujuan pemeriksaan tidak merusak pada material maupun manusia. Disamping itu,
sinar-X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat
digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material. Pengujian dengan menggunakan
sinar X disebut dengan pengujian XRD (X-Ray Diffraction).
XRD digunakan untuk analisis komposisi fasa atau senyawa pada material dan juga
karakterisasi kristal. Prinsip dasar XRD adalah mendifraksi cahaya yang melalui celah kristal.
Difraksi cahaya oleh kisi-kisi atau kristal ini dapat terjadi apabila difraksi tersebut berasal
dari radius yang memiliki panjang gelombang yang setara dengan jarak antar atom, yaitu
sekitar 1 Angstrom. Radiasi yang digunakan berupa radiasi sinar-X, elektron, dan neutron.
Sinar-X merupakan foton dengan energi tinggi yang memiliki panjang gelombang berkisar
antara 0.5 sampai 2.5 Angstrom. Ketika berkas sinar-X berinteraksi dengan suatu material,
maka sebagian berkas akan diabsorbsi, ditransmisikan, dan sebagian lagi dihamburkan
terdifraksi. Hamburan terdifraksi inilah yang dideteksi oleh XRD. Berkas sinar X yang
dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga
yang saling menguatkan karena fasanya sama. Berkas sinar X yang saling menguatkan itulah
yang disebut sebagai berkas difraksi. Hukum Bragg merumuskan tentang persyaratan yang
harus dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi.

B. Skema Kerja Alat

Gambar 3: Skema alat uji XRD

Dari metode difraksi kita dapat mengetahui secara langsung mengenai jarak rata-rata antar
bidang atom. Kemudian kita juga dapat menentukan orientasi dari kristal tunggal. Secara
langsung mendeteksi struktur kristal dari suatu material yang belum diketahui komposisinya.
Kemudian secara tidak langsung mengukur ukuran, bentuk dan internal stres dari suatu
kristal. Prinsip dari difraksi terjadi sebagai akibat dari pantulan elastis yang terjadi ketika
sebuah sinar berinteraksi dengan sebuah target. Pantulan yang tidak terjadi kehilangan energi
disebut pantulan elastis (elastic scatering). Ada dua karakteristik utama dari difraksi yaitu
geometri dan intensitas. Geometri dari difraksi secara sederhana dijelaskan oleh Bragg’s
Law (Lihat persamaan 2). Misalkan ada dua pantulan sinar α dan β. Secara matematis sinar β
tertinggal dari sinar α sejauh SQ+QT yang sama dengan 2d sin θ secara geometris. Agar dua
sinar ini dalam fasa yang sama maka jarak ini harus berupa kelipatan bilangan bulat dari
panjang gelombang sinar λ. Maka didapatkanlah Hukum Bragg: 2d sin θ = nλ. Secara
matematis, difraksi hanya terjadi ketika Hukum Bragg dipenuhi. Secara fisis jika kita
mengetahui panjang gelombang dari sinar yang membentur kemudian kita bisa mengontrol
sudut dari benturan maka kita bisa menentukan jarak antar atom (geometri dari latis).
Persamaan ini adalah persamaan utama dalam difraksi. Secara praktis sebenarnya nilai n pada
persamaan Bragg diatas nilainya 1. Sehingga cukup dengan persamaan 2d sin θ = λ . Dengan
menghitung d dari rumus Bragg serta mengetahui nilai h, k, l dari masing-masing nilai d,
dengan rumus-rumus yang telah ditentukan tiap-tiap bidang kristal kita bisa menentukan latis
parameter (a, b dan c) sesuai dengan bentuk kristalnya.

C. Prinsip Kerja Alat

Prinsip dari alat XRD (X-ray powder diffraction) adalah sinar X yang dihasilkan dari
suatu logam tertentu memiliki panjang gelombang tertentu, sehingga dengan memfariasi
besar sudut pantulan sehingga terjadi pantulan elastis yang dapat dideteksi. Maka menurut
Hukum Bragg jarak antar bidang atom dapat dihitung dengan data difraksi yang dihasilkan
pada besar sudut – sudut tertentu. Prinsip ini di gambarkan dengan diagram dibawah ini.

Difraksi sinar-X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar-X oleh atom dalam
sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar-X dalam fasa tersebut memberikan
interferensi yang konstruktif. Dasar dari penggunaan difraksi sinar-X untuk mempelajari kisi
kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg :

n.λ = 2.d.sin θ ; n = 1,2,...

dengan λ adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, d adalah jarak antara dua
bidang kisi, θ adalah sudut antara sinar datang dengan bidang normal, dan n adalah bilangan
bulat yang disebut sebagai orde pembiasan.
Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel kristal,
maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang gelombang sama
dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan akan ditangkap oleh
detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi. Makin banyak bidang
kristal yang terdapat dalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan yang dihasilkannya.
Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang kristal yang memiliki
orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang didapatkan dari data
pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinar-X untuk hampir semua
jenis material. Standar ini disebut JCPDS.

D. Contoh