MEKANIKA KUANTUM

Merinda Lestari/180322815504

 Efek Penerobosan (Tunneling Effect)

Adalah probabilitas partikel menembus dinding meskipun energinya kecil.
Efek penerobosan membutuhkan suhu yang sangat tinggi yakni lebih dari 700oC.
Pada mekanika klasik partikel seharusnya tidak dapat menembus dinding
penghalang. Namun pada mekanika kuantum dapat dituliskan sebuah partikel
dengan energi kinetik E menumbuk sebuah dinding penghalang setinggi U dan
menembus dinding penghalang kemudian muncul di sisi lainnya.
Pada mekanika klasik dapat digambarkan sebagai berikut :

Gambar 1. Mekanisme klasik

Sesuai gambar 1, mekanika klasik menjelaskan bahwa :
1. Partikel tidak memiliki cukup energi untuk dapat menumbuk dinding
penghalang.
2. Partikel yang kekurangan energi untuk menembus dinding penghalang akan
terpantul kembali (refleksi).
3. Pada kasus yang langka dan ekstrim, bola akan masuk ke dalam dinding
penghalang (absorpsi).

Sedangkan pada mekanika kuantum digambarkan sebagai berikut :

Gambar 2. Mekanisme kuantum

Sesuai gambar 2, mekanika kuantum menjelaskan bahwa :

1. Partikel merupakan gelombang jadi dapat direfleksikan atau ditransmisikan.
 2. Dengan probabilitas yang kecil partikel dapat menembus dinding
penghalang.
3. Misalkan partikel meminjam energi dari sekitarnya untuk dapat menembus
dinding penghalang dan akan ‘mengembalikan’ energinya dengan
merefleksikan elektron yang menghasilkan energi.
Permasalahan mengenai efek penerobosan (tunneling effect) digambarkan dengan
diagram 3 area yakni :

Gambar 3. Diagram efek penerobosan (tunneling effect)

Partikel memiliki energi E, dinding penghalang U dan batas dinding 0 – L. Partikel

yang memiliki energi di dalam ketiga area tersebut dapat diselesaikan dengan
menerapkan persamaan Schrodinger.
1. Area I
Pada saat x < 0 maka,
ℏ2 𝑑 2 𝜓 𝐼
+ (𝐸 − 𝑈)𝜓𝐼 = 0
2𝑚 𝑑𝑥 2
Persamaan Schrodinger yang diterapkan merupakan persamaan umum untuk
kotak 1 dimensi tidak bergantung waktu. Ketika ada partikel bergerak 1
dimensional dan terhalangi potensial tak hingga sehingga membuat partikel
tidak bisa meloloskan diri. Hal ini berlaku pada partikel di area I, yang
terhalangi dinding penghalang (potensial tak hingga).
Saat V = 0 dengan identitas fungsi gelombang
√2𝑚𝐸
𝑘= maka,
ℏ
𝑑 2 𝜓𝐼 2𝑚𝐸
+ 𝜓𝐼 = 0
𝑑𝑥 2 ℏ2
𝑑 2 𝜓𝐼
+𝑘 2 𝜓𝐼 = 0 (persamaan differensial orde 2)
𝑑𝑥 2
Solusi persamaan differensial orde 2 pada gelombang adalah :
𝜓𝐼 = 𝐴𝑒 𝑖𝑘𝑥 + 𝐵𝑒 −𝑖𝑘𝑥
 Pada area I, 𝜓𝐼 = 𝑔𝑒𝑙𝑜𝑚𝑏𝑎𝑛𝑔 𝑑𝑎𝑡𝑎𝑛𝑔 (𝜓𝐼+ ) + 𝑔𝑒𝑙𝑜𝑚𝑏𝑎𝑛𝑔 𝑝𝑎𝑛𝑡𝑢𝑙 (𝜓𝐼− )
𝜓𝐼 = 𝜓𝐼+ + 𝜓𝐼−
Maka solusi untuk tiap gelombang datang dan gelombang pantul adalah :
𝜓𝐼+ = 𝐴𝑒 𝑖𝑘𝑥
𝜓𝐼− = 𝐵𝑒 −𝑖𝑘𝑥
2. Area II
Pada saat 0<x<L maka,
ℏ2 𝑑 2 𝜓𝐼𝐼
+ (𝐸 − 𝑈)𝜓𝐼𝐼 = 0
2𝑚 𝑑𝑥 2
Dengan nilai identitas fungsi gelombang ,
√2𝑚(𝐸−𝑈)
𝑘𝐼𝐼 = 𝑖𝑘 = maka,
ℏ
𝑑 2 𝜓𝐼𝐼 2𝑚(𝐸−𝑈)
+ 𝜓𝐼𝐼 = 0
𝑑𝑥 2 ℏ2
𝑑 2 𝜓𝐼𝐼 2
+𝑘𝐼𝐼 𝜓𝐼𝐼 = 0
𝑑𝑥 2
Solusi dari persamaan diatas adalah
𝜓𝐼𝐼 = 𝐶𝑒 𝑖𝑘𝐼𝐼𝑥 + 𝐷𝑒 −𝑖𝑘𝐼𝐼 𝑥
Subtitusi persamaan 𝑘𝐼𝐼 = 𝑖𝑘 didapatkan

𝜓𝐼𝐼 = 𝐶𝑒 −𝑘𝑥 + 𝐷𝑒 𝑘𝑥

3. Area III
Pada saat x > L maka,
ℏ2 𝑑 2 𝜓𝐼𝐼𝐼
+ (𝐸 − 𝑈)𝜓𝐼𝐼𝐼 = 0
2𝑚 𝑑𝑥 2
Saat V = 0 dengan identitas fungsi gelombang
√2𝑚𝐸
𝑘= maka,
ℏ
𝑑 2 𝜓𝐼𝐼𝐼 2𝑚𝐸
+ 𝜓𝐼𝐼𝐼 = 0
𝑑𝑥 2 ℏ2
𝑑 2 𝜓𝐼𝐼𝐼
+𝑘 2 𝜓𝐼𝐼𝐼 = 0 (persamaan differensial orde 2)
𝑑𝑥 2
Solusi persamaan differensial orde 2 pada gelombang adalah :
𝜓𝐼𝐼𝐼 = 𝐹𝑒 𝑖𝑘𝑥 + 𝐺𝑒 −𝑖𝑘𝑥
 Karena pada area III hanya terdapat gelombang datang maka,
𝜓𝐼𝐼𝐼 = 𝑔𝑒𝑙𝑜𝑚𝑏𝑎𝑛𝑔 𝑑𝑎𝑡𝑎𝑛𝑔 (𝜓𝐼𝐼𝐼+ ) + 𝑔𝑒𝑙𝑜𝑚𝑏𝑎𝑛𝑔 𝑝𝑎𝑛𝑡𝑢𝑙 (𝜓𝐼𝐼𝐼− )
𝑖𝑘𝑥
𝜓𝐼𝐼𝐼 = 𝐹𝑒
Solusi persamaan gelombang pada area I, II, dan III adalah :
I. 𝜓𝐼 = 𝐴𝑒 𝑖𝑘𝑥 + 𝐵𝑒 −𝑖𝑘𝑥
II. 𝜓𝐼𝐼 = 𝐶𝑒 −𝑘𝑥 + 𝐷𝑒 𝑘𝑥
𝑖𝑘𝑥
III. 𝜓𝐼𝐼𝐼 = 𝐹𝑒
Terapkan syarat batas saat x = 0 dan x = L :
 x = 0 ; 𝜓𝐼 = 𝜓𝐼𝐼
𝐴𝑒 𝑖𝑘𝑥 + 𝐵𝑒 −𝑖𝑘𝑥 = 𝐶𝑒 −𝑘𝑥 + 𝐷𝑒 𝑘𝑥
𝐴𝑒 0 + 𝐵𝑒 0 = 𝐶𝑒 0 + 𝐷𝑒 0
𝐴+𝐵 =𝐶+𝐷
 x = L ; 𝜓𝐼𝐼 = 𝜓𝐼𝐼𝐼
𝐶𝑒 −𝑘𝑥 + 𝐷𝑒 𝑘𝑥 = 𝐹𝑒 𝑖𝑘𝑥
𝐶𝑒 −𝑘𝐼𝐼 𝐿 + 𝐷𝑒𝑘𝐼𝐼𝐿 = 𝐹𝑒 𝑖𝑘𝐼𝐼 𝐿
 karena 𝜓𝐼𝐼𝐼 tidak dipantulkan maka
𝜓𝐼𝐼𝐼 = 𝐹𝑒 𝑖𝑘𝑥

 Mekanisme SEM (Scanning Electron Microscope)

Scanning Electron Microscope atau SEM merupakan mikroskop elektron yang
memungkinkan pengamat untuk mendapatkan gambar permukaan sampel yang dapat
diperbesar 10 hingga 3.000.000 kali dengan resolusi 1 – 10 nm. Mikroskop
elektron (SEM) berfungsi sama persis seperti
mikroskop optical kecuali menggunakan sinar elektron yang terfokus dan bukannya
cahaya untuk mendapatkan gambar detail objek dan informasi tentang struktur beserta
komposisinya.
Mengapa menggunakan elektron?
Elektron memiliki resolusi yang lebih tinggi daripada cahaya. Cahaya hanya mampu
mencapai 200nm, sedangkan elektron dapat mencapai resolusi hingga 0,1 – 0,2 nm.
Berikut ini merupakan perbandingan hasil gambar mikroskop cahaya dengan SEM.

Gambar 1. Perbandingan hasil mikroskop cahaya dengan SEM

Detail fungsi dari SEM antara lain yakni :
1. Mengetahui topografi objek, ciri – ciri permukaan dan teksturnya
(keras/lembek, sifat objek dapat memantulkan cahaya atau tidak).
2. Morfologi, bentuk dan ukuran partikel penyusun objek.
3. Komposisi, yaitu data kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam
objek (titik lebur, kereaktifan, dsb).
4. Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir
– butir di dalam objek yang diamati (konduktifitas, sifat elektrik, kekuatan,
dsb).
Prinsip kerja SEM :
1. Langkah awal bermula dari electron beam yang dihasilkan oleh sebuah filamen
pada electron gun. Electron gun merupakan penembak elektron. Pada
umumnya electron gun yang digunakan adalah tungsten hairpin gun dengan
filamen berupa lilitan tungsten yang berfungsi sebagai katoda. Tegangan yang
diberikan kepada lilitan mengakibatkan terjadinya pemanasan. Anoda
kemudian akan membentuk gaya yang dapat menarik elektron melaju menuju
ke anoda.
2. Lensa magnetik memfokuskan elektron menuju suatu titik pada permukaan
sampel.
3. Sinar elektron yang terfokus kemudian memindai (scan) keseluruhan objek
dengan diarahkan oleh koil pemindai.
4. Ketika elektron mengenai objek, maka akan terjadi hamburan elektron dari
permukaan objek dan akan dideteksi oleh detektor dan dimunculkan dalam
bentuk gambar pada monitor CRT.
Berikut gambar mekanisme kerja SEM :

Gambar 2. Mekanisme kerja SEM