MÉTODOS MINERALÓGICOS Y QUÍMICOS

a) Espectrometría de Reflexión Infrarroja y Visible

When satellite systems, and LANDSAT™ is the best known example, became
capable of collecting not only spatial data but spectral data as well, researchers
found they had a new and very useful tool. They now had to learn what it was
telling them and to discover its applications. To do that they needed to
understand the spectral properties of the materials, such as rocks, soil,
vegetation and minerals seen at the Earth’s surface.

Reflectance spectroscopy can be defined as the technique that uses the energy
in the Visible (0.4-0.7), Near InfraRed (0.7-1.3) and Short Wave InfraRed (1.3-
2.5μm) wavelength regions of the electromagnetic spectrum (Figure 1) to
analyze minerals. The science and techniques of reflectance spectroscopy are
based on the spectral properties of materials. Certain atoms and molecules
absorb energy as a function of their atomic structures. The manifestation of this
takes the form of a reflectance spectrum,

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

Figure 1.
This plot shows the region of the ElectroMagnetic Spectrum which is of interest. The
Visible (VIS) Near Infrared (NIR) and Short Wave Infrared (SWIR) wavelength values are delimited.
The horizontal scale is in microns; the vertical scale is in percent reflectance as calibrated to the
reflectance standard, halon. The positions and breadth of LANDSAT™ are marked. Selected
spectra of iron oxide (hematite), a mineral (kaolinite) and vegetation (both wet and dry grass) are
superimposed.

TABLE II – MAJOR ABSORPTION FEATURES

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 POSITION MECHANISM MINERAL GROUP

~1.4 μm OH and WATER CLAYS, SULFATES,

HYDROXODES, ZEOLITES

~1.56 μm NH4 NH4 SPECIES

~1.,8 μm OH SULFATES

~1.9 μm MOLECULAR WATER SMECTITE

2.02, 2.12 μm NH4 NH4 SPECIES

~2.2 μm AL-OH CLAYS, AMPHIBOLES,

SULFATES, MICAS

~2.35 μm co3-2 CARBONATES

b) Difracción de Rayos X

XRD es el método definitivo para

la identificación de todos los
minerales cristalinos incluyendo
minerales opacos y polimorfos
estructurales de similares
composiciones químicas. Equipos
modernos pueden realizar análisis
semi automatizados e
identificación de minerales
computarizada, a partir de
pequeñas cantidades de muestra
pulverizada

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 c) Microscopía Electrónica

El microscopio electrónico de barrido (SEM) es un “pariente cercano” de la

microsonda electrónica (EMP) aunque fue diseñado originalmente para imagen
más que para análisis. Las imágenes se producen por rastreo del haz de
electrones y la proyección de la señal de un detector de electrones en una
pantalla. Eligiendo el modo apropiado de detección puede enfatizarse el
contraste topográfico o composicional, este último se refiere al promedio de los
pesos atómicos y no a un elemento individual. La relación espacial es de
décimas a centésimas de micras. Las imágenes del SEM obtienen una
profundidad de campo cien veces mayor o más que las de un microscopio
óptico, así las imágenes de objetos tridimensionales están dispuestas a la
interpretación intuitiva de la persona.

Es posible agregar un espectrómetro de rayos x a un SEM y formar imágenes

desde los rayos x característicos de un elemento determinado. Claro que
deteniendo el rastreo se pueden obtener análisis puntuales como en la
microsonda con una resolución espacial limitada a 1 µm. En la microsonda
electrónica el orden de prioridades es diferente y varios dispositivos de análisis
están incorporados.

El Microscopio Electrónico de Barrido Convencional

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 Interacción
Radiación - Objeto

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 Profundidad de Campo

Tetraedrita con venilla argentífera

Inclusiones: Te - Ag - Bi

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera
 d) Microsonda Electrónica
La microsonda electrónica permite analizar un mineral individual
bombardeándolo con un haz de electrones de 2 µm de diámetro. La muestra
emite rayos x fluorescentes que son registrados en base a la longitud de
onda (WDS) o en base a la energía (EDS). El primero tiene una mejor
resolución del elemento pero requiere de un cristal separador de rangos y un
canal detector para cada elemento. El segundo es menos preciso pero más
compacto y requiere sólo de un pequeño detector. Pueden ser montados en
un SEM.

La microsonda es una técnica para análisis químico de pequeñas áreas

seleccionadas en muestras sólidas. El espectro de rayos x secundario
contiene líneas que son características de los elementos presentes, así un
análisis cualitativo es fácilmente obtenido a partir de las longitudes de onda
o la energía de fotones. Comparando las intensidades de estas líneas con las
de muestras estándar es posible determinar la concentración del elemento
(análisis cuantitativo). La precisión se acerca a 1 % relativo y los límites de
detección alrededor de 50 ppm.

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 Introduction
Operational Princips of the Electron-Microprobe

Gun An electron beam of high

Electron Beam energy is generated, focused
and shot on a sample.
Lenses and
Apertures
Characteristic X-rays are
generated in the sample and
Diffracting Crystal analysed for wavelenghts and
Beam Scanner
intensities using a crystal
Opt. Microscope Detector
Characteristic X-Rays
spectrometer (WDS) or with
WDS-Spectrometer an additional solid state
Stage,Sample EDS-Spektrometer, SE-,BSE-,Cl-Detectors detector combined with a
multichannel analyzer (EDS).
High
Vacuum
Pump

H.-J. Bernhardt 2003

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera
UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera
 CAMECA SX50 Working at Ruhr-Uni-Bochum

Historical Notes

1958 2003

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

H.-J. Bernhardt 2003

 Electron-Matter-Interaction
Overview

Emissions

Electron Beam
Secondary Electrons Backscattered Electrons
Auger Electrons Characteristic X-Rays
Bremsstrahlung Kossel Diffraction
Heat Light from Cathodolum.
Material
Surface
Auger Electrons Secondary Electrons

Primary Electron Penetration Depth

Effective Depth for X-Ray Signals
Back- scattered
Electrons

Primary X-Ray
Excitation

Bremsstrahlung
Specimen
Secondary Fluorescence Current

Back Reflected X-Rays

Kossel Diffraction
H.-J. Bernhardt 2003

Wavelength Dispersive Spectrometer

Diffracting Crystals and Pseudocrystals
Crystal 2d Element Range

Higher order reflexions are

suppressed with PCs

K Lines L Lines M Lines H.-J. Bernhardt 2003

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 Energy-Dispersive Spectrometer
Scheme

H.-J. Bernhardt 2003

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 Energy-Dispersive Spectrometer
EDS vs. WDS

EDS WDS WDS and EDS

Simultaneous aquisition of all
elements
Wavelength resolution rel. bad
> 128 eV => often overlapps
Rel. bad peak / background
relation => not for traces
High sensitivity => low current Low sensitivity => high
(SEM)
No mechanical movement
Very sophisticated electronics
Sequential aquisition of should be available
requested (all) elements, on both.
several spectrometers Electronic and
High wavelength resolution > software connection
2 eV. is possible for
combined analyses.
Good peak / background
relation => traces possible I use EDS only for
preliminary
current element
identification
Complicated mechanical
movement

Must be held under liquid

nitrogene allways
Difficult for light elements Boron can be measured
quantitatively H.-J. Bernhardt 2003

Beam Scanning (BSE)

Image of Bravoite (Fe,Ni,Co) S2 (Chemical Contrast)

Beam Scanning (BSE)

Image of Bravoite (Fe,Ni,Co) S2 (Chemical Contrast)

Difference in mean atomic weight is very low!

H.-J. Bernhardt 2003

Difference in mean
atomic weight is very low!

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 Beam Scanning

Light optical Image of Bravoite

Beam Scanning
Light optical Image of Bravoite
In normal light zones are visible.
In normal light zones
are visible.
Most of the times no contrasts are visible in
Most of the times no
normal light, when the can be detected using contrasts are visible in
normal light, when
BSE or X-maps the can be detected
using BSE or X-maps

e) Fluorescencia de Rayos X
5 µm
Una manera de estimular la producción
de rayos x característicos en una H.-J. Bernhardt 2003

muestra es bombardearla con rayos x de

alta energía. Este ha sido un método estándar para análisis de elementos en
geología por varias décadas y ofrece buena precisión para elementos
mayores y límites de detección de alrededor de 1 ppm. Usualmente es un
método para muestras de conjunto (bulk) como el de roca completa o total

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 f) Absorción Atómica

Un método desarrollado hace varias décadas; una disolución es aspirada

hacia una flama o a un horno de grafito, un haz de luz de una determinada
longitud de onda pasa a través de la flama o el horno. La absorción
(reducción e intensidad de la luz resultante) es medida y comparada con la
reducción en estándares

La energía es absorbida por átomos en la muestra para alcanzar un estado

de excitación, de manera que un determinado elemento absorbe energía en
frecuencias características.

ESPECTROFOTÓMETRO DE ABSORCIÓN ATÓMICA

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 g) Emisión Atómica.- ICP –AES y ICP – MS

En los años 70s estuvieron disponibles las técnicas de plasma acoplado por
inducción (ICP). Las muestras son disueltas y luego mezcladas con gas
argón cuando son aspiradas a un generador de radio frecuencia, donde el
plasma (similar al de un tubo de luz fluorescente) es creado.

Este es un método particularmente efectivo de estimular átomos. La línea

de emisión relacionada a cada elemento se aísla por una malla de difracción
y es detectada por unas series de fotomultiplicadores, en canales separados
para elementos específicos. Todos los canales son contados
simultáneamente y enviados a una computadora donde es calculada la
concentración de cada elemento. Un buen equipo moderno de ICP puede
hacer el análisis químico de algo más de sesenta elementos en un minuto

Requiere que los átomos de la muestra se eleven a un estado inestable por

la absorción de alguna forma de energía. Generalmente implica transferir
un electrón de un nivel orbital de baja energía a uno de mayor energía.
Luego el átomo retorna espontáneamente a su estado original, lo que
implica la emisión de un fotón cuya energía (o longitud de onda) está
directamente relacionada a la energía de la transferencia del electrón
(diferencia entre los dos niveles de orbitales). La energía irradiada es
característica del elemento y el número de fotones emitidos en un periodo
de tiempo es proporcional a su concentración.

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 Tabla periódica mostrando métodos económicamente efectivos de análisis de
elementos en niveles encontrados en los valores de fondo (back ground) de muestras
de exploración

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

3. OTROS

h) Scanning Tunneline Microscopy (STM) and Atomic Forcé Microscopy

(AFM)

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 STM y AFM son dos tipos de microscopía desarrollados desde 1980, que
permiten el examen de superficies en una escala atómica revelando rasgos en
varios órdenes de magnitud más pequeños que los que se pueden ver en la
microscopía electrónica.

El STM funciona desplazando una varilla metálica filuda sobre la superficie de

una muestra que puede conducir electricidad. Cuando la varilla es acercada a
unos 10 Å de la superficie, la aplicación de un bajo voltaje permite un
intercambio de electrones “tunnel” a lo largo del espacio entre la varilla y la
muestra. El intercambio de electrones generalmente se da sólo entre los más
bajos de la varilla y los más cercanos de la superficie de la muestra. En el
barrido con la varilla se mide la variación de la corriente eléctrica resultante,
revelando la posición de cada átomo como en la figura A 3.3

El instrumental AFM es similar al anterior descrito, pero emplea una varilla

muy filuda que llega a tocar la superficie de la muestra. En lugar de utilizar una
corriente eléctrica el AFM usa un haz de laser óptico que registra la topografía a
escala atómica al barrer la muestra. Esto no llega a revelar los átomos sino
muestra claramente desniveles y otros rasgos de crecimiento o disolución.
Como esto no utiliza movimiento de electrones, sirve tanto para trabajar con
muestras aislantes y conductoras

a) Análisis de Elementos Traza e Isotópicos por Micro Haces

En años recientes se han desarrollado nuevas técnicas que permiten hacer en

secciones pulidas, microanálisis cuantitativos de elementos trazas y
determinación de relaciones isotópicas de minerales. Entre estas nuevas
técnicas hay dos bastante desarrolladas y aplicadas:

La microsonda de protones (proton – induced X-ray emission or PIXE) implica

dirigir un micro haz de protones desde un pequeño acelerador de partículas
hacia la superficie pulida de la muestra, allí causa la emisión de rayos X
característicos de los elementos presentes. La ventaja de la microsonda de
protones está en la relación mucho más alta de los picos en relación al fondo,
obtenidos en la emisión de rayos X. Ello permite la medición de elementos
traza en concentraciones hasta de pocos ppm en granos individuales de
minerales.

La microsonda de iones, conocida también como espectrometría de masas de

iones secundarios o SIMS, implica bombardear la superficie de la muestra con
un haz de iones energéticos que desprende material de la superficie en forma de
varios átomos, iones y moléculas. Este material es dirigido hacia un

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera

 espectrómetro de masas y su análisis puede determinar cantidades relativas o
absolutas de las especies presentes. La gran sensibilidad de esta técnica permite
hacer análisis de elementos traza en granos individuales de minerales, también
la determinación de radios isotópicos puede ayudar a comprender el proceso de
formación de los minerales

UNMSM 2014 Métodos M y Q M. Rivera