APLICACIONES DE LA DIFRACCIÓN

I. CONCLUSIONE

FACULTAD DE INGENIERIA ELECTRÓNICA Y

ELÉCTRICA

PROFESOR: ADRIANO PEÑA ROLANDO

CURSO : ÓPTICA Y FÍSICA MODERNA (FÍSICA IV)

FECHA DE ENTREGA: 0 7/ 05 /18

INTEGRANTES:

- Apeña Achilla, Jannet Samira 16190249

- Calderon Juscamayta, Jheysson 16190252
- Valverde Bandan, Kelly Nathaly 16190277

2018
- Zapata Gutiérrez ,Paolo Javier 16190018
- Julca Sanchez ,Edward 14190125
 1. OBJETIVOS
 Entender la importancia de la difracción en la tecnología actual y como se aplica en distintos
campos de estudio.
 Mostrar como con la ayuda del fenómeno de difracción se ha desarrollado distintos aparatos
para mejorar la historia con los avances científicos.

2. ESTADO DE ARTE
Difracción es la interferencia de ondas de una sola fuente. Este fenómeno se puede resumir o describir
como el paso de la luz por una rendija estrecha, esto produce que las ondas se curven alrededor de
esta rendija u obstáculo. Estos efectos son observables cuando se trata de un obstáculo o abertura
comparable en tamaño a la longitud de la onda considerada.
Partiendo de este concepto, a pesar de verse muy sencillo este enunciado, en los últimos años hemos
visto diversas aplicaciones que tiene la difracción, y de cómo éstas han tenido impacto en la tecnología
en diferentes campos de estudio, pero ¿Qué tan importante son estas aplicaciones?
Una parte técnica o aplicativa del tema tratado sobre la difracción esta direccionada hacia los células
solares, para eso tenemos que hacer una inspección histórica y ver cómo estos fueron idealizados en
base a la idea de la ”ley del mínimo” propuestas por el alemán, Justus Von Liebig con lo cual descubre
las reglas de la eficiencia, enunciando: “De igual forma que la capacidad para almacenar agua de un
barril con tablillas de distinta longitud está limitada por la longitud de la más corta de todas, el
crecimiento de una planta se ve limitado por el nutriente más escaso” vemos que tiene relación con la
fabricación de los paneles solares quienes fueron hechos por primera vez por el físico francés Edmond
Becquerel en 1839 a los 19 años, cuya eficiencia estaba limitada por el peor parámetro. Es decir que
aunque los demás componentes estén optimizados, basta que uno de ellos no este optimizado al 100%
para que no permitan un desenvolvimiento óptimo.
Varios conductores pueden emplearse, pero se prefiere el de silicio por la abundancia de este material.
En la actualidad hay muchos estudios dirigidos al mejoramiento de éstas, con alentadores resultados
mostrando que para una mejor absorción de energía también es importante la implementación de rejillas
de difracción en las partes traseras. Así también, deben adoptar formas esféricas hexagonales para una
mejor captura de la luz.
Otra de las más importantes que ha tenido la difracción ha sido en el campo de las telecomunicaciones
ya que a lo largo de estos últimos años ha proliferado el desarrollo de la industria en el campo de la fibra
óptica, centrándonos especialmente en los sensores que se pueden describir como dispositivos
electrónicos que son capaces de sensar o monitorear distintos y diversos parámetros físicos y a la vez
aplicados en diferentes ámbitos de la ciencia e ingenierías, por ejemplo en la ingeniería civil para
monitorizar puentes o centrales eólicas, también en la ingeniería naval para monitorear cargas
mecánicas y estructuras en campos.
Estos sensores han desplazado a otros desarrollados con diferentes métodos basados en
interferómetros Fabry-Perot, o los sensores basados en backscattering, los sensores ópticos basados
en redes de difracción de Bragg han cautivado la especial atención por su versatilidad y sus inherentes
características frente a los sensores convencionales: inmunidad a las interferencias, no conducen
corriente, no explotan, resistentes a radiaciones ionizantes, no necesitan re-calibración, alta
sensibilidad, gran ancho de banda, facilidad para ser utilizados dentro de las redes de comunicaciones
ópticas.
Siendo la fibra óptica tan relevante en la actualidad se ha venido realizando un gran esfuerzo en la
investigación de la fabricación de redes de difracción en fibra óptica. Para lograr grabar una red de
difracción en fibra es necesario modificar el índice de refracción de su núcleo de forma externa, aunque
generalmente se usa fibra dopada que sea fotosensible a la luz UV, se están buscando alternativas que
fácilmente modifiquen su índice de refracción sin la ayuda de trabajar con fibras especiales. En este
trabajo se corrobora que la hidrogenación, una de las técnicas de realce de la fotosensibilidad, no limita
en absoluto el uso, fiabilidad y durabilidad en alta temperatura de los dispositivos generados. La
reflectividad de las RDFO se ve menguada según incrementa la temperatura como consecuencia de un
aporte energético que vuelve a reordenar los distintos compuestos de la fibra. Simplemente se
desvanece (eliminado de la red de difracción) cuando se alcanza la temperatura de fusión de la fibra, lo
que implica el límite de uso en temperatura de este tipo de dispositivos.
Otro extenso ejemplo es la difracción de rayos x, que si bien tiene antecedentes tan anteriores como de
hace un siglo, desde el descubrimiento de los rayos por el alemán Röntgen, en la actualidad se han
moldeado y evolucionado en múltiples aplicaciones. Se ha utilizado para analizar la composición de
suelos e identificar minerales, cristales, aleaciones, metales, materiales catalíticos, ferroeléctricos y
luminiscentes, etc. Este tipo de análisis se ha incorporado al estudio de materiales en el área de la
nanotecnología. El difractómetro con el que se trabaja, muestra difractogramas, que ayuda a determinar
la composición y el sistema cristalino al que pertenece el compuesto así como los parámetros de celda,
es decir, la unidad mínima con que se organiza un cristal. Además también nos permite determinar el
tamaño de estos compuestos nanos. Este método no solo se limita a las áreas de geología,
mineralogía, o relacionados, sino que se puede extender a campos como la arqueología donde se
analiza piezas de cerámicas arqueológicas, así identificar las fases cristalinas presentes en las
muestras, además de ganar información sobre la composición superficial en relación con la matriz,
especialmente los pigmentos empleados en los diseños de las cerámicas.
Si bien el proceso de la difracción de rayos x es un proceso estándar y muy utilizado, en la mineralogía
y en diferentes áreas está siendo desplazado por la técnica EBSD o “técnica de difracción de electrones
retro-proyectados” (Adam y Mukul, 2000; Tschiptschin, 2002), convirtiéndose en una de las técnicas
más utilizadas en el análisis de aspectos relacionados con la cristalografía de materiales de ingeniería.
Su versatilidad y ventaja frente a la difracción de rayos X, ha permitido que investigadores de todo el
mundo en los más diversos campos de la ciencia e ingeniería de materiales, la hayan comenzado a
explorar y sacar el máximo provecho posible.
Así también, la microscopia electrónica, también relacionado con la difracción de electrones al igual que
la técnica EBSD, ha permitido aportar una primordial herramienta para una mejor observación de
organismos y materiales que el microscopio óptico común no podía llegar, debido a su alta radiación por
la longitud de onda de la luz, a diferencia de la longitud en los electrones que es más corto, con las
cuales se proyecta.
Y por supuesto, es un hecho que la tecnología impacta a la sociedad de manera impresionante por lo
que es necesario mencionar una aplicación que continua desarrollándose para ser más útil en la vida
real. La holografía muestra al objeto en tres dimensiones, brindando mayor información que una simple
fotografía; que no solo cuenta con la variación de la intensidad como en la fotografía sino con la fase
dependiendo de la profundidad del objeto. Esto causa la impresión que el objeto es visto físicamente y
nos da esa oportunidad de poder movernos y mirar a detalle distintos ángulos de la escultura de luz.
Este gran aporte es gracias Dennis Gabor que en el intento de mejorar las imágenes del microscopio
electrónico encontró una forma de representar los objetos en 3D. Con ayuda del haz del láser se capta
al objeto que se quiere representar, luego con una placa fotográfica se recibe la luz del láser, se obtiene
un patrón de franjas de la imagen, que se ilumina y genera al holograma. La holografía es un aporte
muy eficaz que recoge información precisa y permite reconocer si hubo algún cambio en el objeto, por lo
cual es aplicado en distintos campos científicos como tecnológicos. Entre los proyectos se encuentran
los hologramas láser 3D, televisor con tecnología 3D sin gafas, implementación de la microscopia
holografía digital para la detección de microorganismos en sangre. Este último es una gran
representación de como en la medicina demandan de instrumentos cada vez más complejos, otras
alternativas que superen las dificultades que se padecen. Esta aplicación trata de aprovechar el
movimiento del parásito T.Cruzi a partir de la comparación de dos hologramas tomados en tiempos
consecutivos, logrando una imagen final con perturbaciones indicativas de la presencia del parásito. Se
pueden utilizar estas técnicas para el diagnóstico de la fase aguda de la enfermedad de Chagas, ya que
es preciso y se puede examinar al 100% la muestra debido a los campos de visión rectangulares.
Por otro lado, últimamente se ha notado grandes avances en las técnicas para profundizar y utilizar la
materia a escalas nanométricas, lo cual conduce a consecuencias como conceptos modernos de
dispositivos nanoelectrónicos y nanofotónicos con una gran diversidad de aplicaciones. La incorporación
de dispositivos semiconductores a gran escala para la elaboración de circuitos integrados ha logrado tal
magnitud de miniaturización que las dimensiones empiezan a ganar importancia esencial en los
fenómenos vinculados a la interacción luz-materia. Se ha elaborado un prototipo óptico para llevar a
cabo experimentos de mediciones de plasmones polaritones de superficie empleando rejillas de
difracción metálicas en contacto con un medio dieléctrico. Este prototipo realizará mediciones de
plasmones polaritones de superficie en haces de luz que se encuentren difractados a ángulos menor a
90°, con lo cual se hicieron experimentos para hallar el ángulo resonante de excitación de plasmones
polaritones de superficie a través de una rejilla de difracción, donde su periodo espacial es superior a la
longitud de la onda de la señal de iluminación. Se hicieron ensayos en laboratorio donde se realizó
mediciones de la curva de intensidad de la señal de la luz difractada en los órdenes +1 y -1, lo cual se
pudo corroborar con lo que se propuso teóricamente.
Esto nos muestra que la difracción se sigue investigando cada vez más, con nuevas aplicaciones
moldeándose a las necesidades de la actual tecnología.

3. DESCRIPCIÓN

3.1 MEJORAMIENTO DE ABSORCIÓN DE LA LUZ MEDIANTE CÉLULAS SOLARES

Como pocas personas saben la energía fotovoltaica es un tipo de energía renovable con gran
proyección en el futuro porque ya genera un gran interés debido a lo baja significativa de los precios de
los paneles solares, además de las múltiples trabas por las energías ya posicionadas alrededor del
mundo como las compañías eléctricas cableadas que vieron como amenaza a sus capitales invertidos
en el mundo. Son fabricados de silicio mono o poli cristalino de los cuales el mono cristalino presenta
mejor eficiencia existen también de distintos materiales como el arseniuro de galio que alcanzan
mayores eficiencias. El propósito de este informe es demostrar que al aplicar una rejilla e difracción en
cualquiera de las caras del panel.
El formalismo y los resultados son válidos en el límite en el que el espesor de la célula solar es mayor
que la longitud de coherencia del espectro solar que ilumina, el uso de estos diseños ópticos mejora la
absorción e pues las células solares solo absorben una cierta parte del espectro solar débilmente.
Históricamente, esto ha sido de gran importancia para las células de película delgada, y en menor
medida, para las células a granel basado en semiconductores indirectos, tales como silicio cristalino.
 Dos posibles estructuras de células solares. En la
configuración (a) de la rejilla se coloca en la cara
frontal de la célula solar y en la configuración (b)
se coloca en la parte trasera. Un perfecto
reflector se coloca en la parte trasera en ambos.
Ordenes confinadas, fuente iluminada órdenes
de escape y órdenes de escape no iluminadas
desde la fuente están representados por flechas
negras, rojas y azules, respectivamente. En la
configuración (b) el área triangular sombreada
más ligera representa el cono de escape, que se
define Por el ángulo crítico de la parte delantera.
Dieléctricos perfectos o conductores perfectos).
Por lo tanto la disipación de energía en la rejilla
y generación de plasmones de superficie se
ignora.
Se tiene que tener en consideración que para que una célula solar pueda ser iluminada por una onda
plana incidente desde arriba cuyo vector dirección de propagación el vacío está dada por la ecuación:

De donde êx , êy , êz son vectores unitarios paralelos a los ejes de coordenadas y ux , uy , uz son los
llamados cosenos directores con los respectivos ejes, en cualquier configuración de la onda esta incide
sobre las rejillas y es difractado en una serie de rayos reflejados y trasmitidos propagando órdenes, los
componentes vectoriales de estas órdenes tangenciales al plano xy(u ⃗ = ux êx + uy êy ) se dan por la
ecuación de Fraunhofer.

De donde b ⃗ 1, b
⃗ 2 son los vectores reticulares recíprocos de la difracción rejilla y (b
⃗ 1 = 0 para una red
lineal uni-periódica) y (m1 , m2 ) ) son los índices de orden de difracción enteros n es el índice refractivo
del medio en el que la orden se propaga y λ0 = u ⃗ 0 son los vectores de dirección de longitud de onda y
tangenciales en el vacío respectivamente esta ecuación describe cualquiera de los 2 casos mostrados
anteriormente en el caso (a) hay ordenes reflejadas y trasmitidas aquí todos las ordenes reflejadas
escapan mientras que en la configuración (b) solo hay ordenes reflejados y todas las ordenes
trasmitidas que se propagan en el interior de la celda se confinan en la parte trasera del reflector y todas
las ordenes que formen ángulo con el plano z que es mucho menor que ángulo critico se escapan pero
aquellas que son mayores que el ángulo critico son reflejadas en la superficie frontal por reflexión
interna total .
Esto define el cono de escape que está representado por el área triangular sombreada más clara en (b).
Todos los pedidos confinados son representados por flechas negras. En ambas configuraciones, todos
los rayos confinados vuelven a incidir en la rejilla, su componente tangencial sin cambios. Esto se sigue
para todos los pasos subsiguientes; la potencia radiante se redistribuye entre los órdenes de difracción
en cada evento, pero las órdenes que son distintos de la serie original no se crean. Por consiguiente, el
problema se puede formular como un sistema discreto de N órdenes difractadas que pueden
descomponerse en órdenes s y p órdenes difractadas polarizadas de la forma 2N La onda plana
incidente inicialmente se considera que es una orden incidente cuya contraparte difractada es la
reflejada de orden cero (m1 = m2 = 0) en la ecuación que tiene las misma u ⃗ por lo tanto escapa de la
célula solar.
Este par se denomina como una fuente iluminada con orden de escape y se muestra como dos rojos
flechas en la figura inicial Todas las demás órdenes de escape son denominadas órdenes de escape no
iluminadas por fuente y son incidentes en la rejilla con amplitud cero; estas están representados por
flechas azules. Siguiendo la teoría de rejillas convencional, el complejo amplitud de campo eléctrico de
la i-ésima orden polarizada inmediatamente después de la difracción de la red es linealmente
relacionado con el de todos los demás pedidos polarizados de inmediato antes de la incidencia en la
rejilla: los coeficientes de esta ecuación lineal son los elementos de la matriz de dispersión s =
[sjj ] que son complejos y por lo tanto actúan en amplitud y fase del campo armónico de tiempo
2N×2N
Eidiff = ∑1≤j≤2N Sjj Ejinc .

La matriz de dispersión es una propiedad de la específica rejilla perfil y depende del vector de onda
incidente. Hay una variedad de métodos disponibles para calcular la matriz de dispersión
computacionalmente, basado en la solución rigurosa de las ecuaciones de Maxwell después de hallar
los limites termodinámicos y lambertianos con los filtros de Rugate para comparar los resultados en el
siguiente gráfico.

Los límites de absorción superiores para las

células que emplean una rejilla de difracción
dispuesta en la cara frontal (líneas continuas) y
un filtro Rugate (líneas de trazos) en función
del factor de concentración de la luz de
iluminación. Límites para células con
absorbancias distintas se muestran en negro,
rojo, azul y verde, respectivamente. En cada
caso, la rejilla se coloca en la superficie frontal
de la célula. Las líneas punteadas representan
el límite lambertiano para distintas
absorbancias.

Número relativamente similar de órdenes de fuente de iluminación; y ya que hay muchas órdenes
difractados, sus longitudes pueden ser de forma uniforme con particiones. La varianza total en
longitudes de trayectoria puede ser arbitrariamente pequeño: el límite de absorción superior para una
rejilla de difracción es igual al límite termodinámico. Las líneas continuas en la figura 6 representan este
límite como una función del factor de concentración para las absorbancias antes mencionadas. El factor
de concentración está directamente relacionada con el medio ángulo del cono de iluminación como se
mencionó anteriormente.
Tanto el filtro Rugate y rejilla de difracción demuestran una mejora significativa en el límite de Lambert.
Esto se convierte en más pronunciado a concentraciones más bajas. Cabe señalar que los factores de
concentración actualmente empleados en los sistemas prácticos rara vez superan los 1.000x. Se ha
demostrado que, tanto para el filtro Rugate y esquemas de rejilla de difracción cara frontal, el límite
superior de la longitud dela trayectoria media geométrica es igual a su límite termodinámico. Por lo
tanto, para absorbancias bajas, donde la longitud media camino es el factor dominante, los límites de
ambos esquemas son similares. La diferencia esencial es que aunque ambos componentes son
capaces de actuar como un selector de ángulo en la superficie frontal, sólo la rejilla de difracción tiene la
capacidad de controlar las trayectorias de los rayos de luz dentro el sustrato celular. Finalmente, aunque
se ha demostrado que la rejilla de difracción tiene el límite más alto de los dos esquemas, esto no
implica necesariamente que se va a lograr la captura mejor la luz en la práctica. Las limitaciones
impuestas a la rejilla para lograr la máxima absorción pues depende además de otras cosas pero
mejora considerablemente la eficiencia.
REJILLAS BI-PERIÓDICAS
Como vimos las rejillas de difracción mejoraron considerablemente la absorción que las dispersiones
Lambertianas y ahora se verá que con las rejillas pero bi-periódicas son capaces de mejorar mucho más
la absorción que las rejillas uni-periódicas ya mencionadas estas pueden ser fabricadas por nano-
escala utilizando técnicas litográficas para que puedan ser fabricadas con un óptimo rendimiento, Las
rejillas consisten en matrices hexagonales de torres elípticas y pozos grabados directamente en el
sustrato de la célula solar.
Los estudios se hacen de la mejora de la absorción en una célula solar de banda intermedia de puntos
cuánticos (QD-IBSC) y en una célula solar de silicio cristalino fino (SSC) se compara con las
dispersiones Lambertianas.
 Estructuras de las células solares (QD-IBSC) y (SSC)
La estructura básica de ambos tipos de células de rejilla
equipada se muestra en la Figura La rejilla de difracción, se
graba directamente en la superficie posterior de la oblea de
semiconductor y está encerrado en un revestimiento
transparente El índice de refracción del material de
revestimiento se toma como nciad = 1.52 que corresponde
aproximadamente a SiO2 (óxido de silicio) también se
adjunta un reflector perfecto plano en la parte posterior del
material de revestimiento.

 Diseño de las rejillas bi-periódicas

Las rejillas consisten en matrices bi-periódicas hexagonales de pozos binarios elípticas y torres
grabadas directamente en el sustrato de célula. Los perfiles de pozo y torre se muestran en la siguiente
figura Para ambos tipos de celdas, la optimización está hecha de cuatro claves parámetros: el período
de rejilla Λ , la profundidad del pozo (altura de la torre) d y los radios de los pozos a lo largo de los ejes
x e y: rx y ry , respectivamente, Cada parámetro se analiza sucesivamente y se realiza una
comparación de los parámetros optimizados para cada tipo de célula que permite en general su diseño.
RESULTADOS:

Células solares (QD-IBSC)

Corriente foto generada 𝐽𝑝ℎ 𝐼𝐵−𝐶𝐵 en
un QD-IBSC equipado con rejillas
optimizadas (curva azul) .Para la
comparación, se muestra el
𝑱𝒑𝒉 𝑰𝑩−𝑪𝑩 para la misma celda
equipada con un reflector posterior
Lambertiano ideal (curva roja) y con
un reflector trasero plano (curva
negra).

Células solares (SSC)

Corriente foto generada 𝑱𝒑𝒉 en un

SSC con las rejillas optimizadas
(curva azul) .Para la comparación,
se muestra el 𝑱𝒑𝒉 𝑰𝑩−𝑪𝑩 para la
misma celda equipada con un
reflector posterior Lambertiano
idealmente (curva roja) y con un
reflector trasero plano (curva
negra).

3.2 SENSORES DE FIBRA ÓPTICA TIPO REDES DE BRAGGS

Una fibra óptica está compuesta por tres elementos principales: el núcleo, el revestimiento y la capa
protectora. El revestimiento refleja la onda de luz de regreso al núcleo, asegurando la transmisión de la
luz en el núcleo. Esta acción es posible debido a un índice refractivo más alto en el núcleo con relación
al revestimiento, lo que provoca una total reflexión interna de luz. La capa protectora sirve para proteger
la fibra de condiciones externas y daños físicos.
Por lo general están formadas por un núcleo de vidrio entre 10 y 100µm, una corteza de vidrio óptico de
hasta 125µm y uno o dos revestimientos de plásticos (acrílicos, polimidas) y metales como cobre u oro,
dependiendo el material en que van a ser integrados.
La tecnología de sensores de fibra óptica utiliza este material como elemento sensor o como medio de
transmisión de señales desde un sensor remoto hacia un dispositivo electrónico que las procesa.
Un sensor de fibra óptica funciona al modular una o más propiedades de una onda de propagación de
luz, incluyendo intensidad, fase, polarización y frecuencia, en respuesta a la variable física que se mide.
Los sensores de fibra óptica FBG se manufacturan aprovechando la tecnología actual existente en la
industria de la fibra óptica para grado de telecomunicaciones, por medio de técnicas de exposición. Dos
configuraciones típicas consisten en exponer una pequeña porción de la fibra óptica a dos rayos de luz
ultravioleta (UV) que interfieren o un haz de luz UV enfocado a través de una máscara de fase. Esto
crea en el núcleo de la fibra óptica una pequeña modulación periódica del índice de refracción. Esta
alternación del índice refractivo de la fibra es permanente, dada la intensidad de luz a la que es
expuesto. A la variación periódica que resulta en el índice refractivo se le llama fiber Bragg
grating(FBG). Por lo general un sensor óptico FBGs se compone normalmente de cuatro elementos
fundamentales: una fuente óptica, un detector óptico, un sistema de procesamiento de la señal óptica
recibida y un transductor que es capaz de realizar las funciones ya antes mencionadas. Los bloques
básicos de un sensor se pueden observar en la siguiente figura:

Debido a la naturaleza periódica de la perturbación creada del índice refractivo, solo algunas
frecuencias ópticas discretas resonarán en la estructura.
Por lo tanto, cuando haces de luz de amplio espectro se envían por el núcleo del sensor de fibra óptica
FBG, la energía incidente en la rejilla creada a una frecuencia resonante específica será reflejada de
vuelta por la fibra óptica, dejando pasar sin ser afectado el resto del espectro óptico. La longitud de
onda central de esta condición de resonancia en el sensor de fibra óptica FBG puede expresarse como:
λB = 2. neff . Λ
Dónde:

λB : La longitud de onda Bragg

neff : Índice refractivo efectivo del núcleo de la fibra

Λ: Periodo de la modulación del índice refractivo o separación entre rejillas.

La siguiente figura muestra en forma esquemática las características de transmisión y reflexión en los
sensores de fibra óptica FBG. Debido a que la longitud de onda Bragg (λB ) es una función de la
separación entre las rejillas, los sensores de fibra óptica FBG se pueden fabricar con varias longitudes
de onda Bragg, lo que permite a diferentes sensores FBG reflejar longitudes de onda de luz específicas.
Nótese que cualquier cambio en la periodicidad de la modulación del índice refractivo o la distancia de
separación entre las rejillas cambiará la longitud de onda Bragg (λB ). En consecuencia, cualquier
temperatura o efecto de esfuerzo inducido (strain) en el sensor FBG podrán ser determinados por el
correspondiente desplazamiento en la longitud de onda central Bragg reflejada. El cambio en la longitud
de onda λB debido a un esfuerzo (strain) sobre el sensor de fibra óptica FBG y la temperatura está dado
por:

(∆λB )
= (1 − pe ). ε + (αΛ + αn )∆T
λB
∆λB : El cambio de la longitud de onda Bragg

λB : La longitud de onda Bragg inicial

pe : Constante foto-eslástica efectiva para la fibra óptica

∆L
ε= L : Esfuerzo (strain) sobre la longitud del sensor FBG

αΛ : Coeficiente de expansión térmica. Cambio en índice refractivo por ΔT.

αn : Coeficiente óptico térmico. Describe la expansión de la rejilla por ΔT.

∆T: Cambio de temperatura.

El primer término de la expresión, (1-pe )ε describe el cambio que ocurre en la longitud de onda Bragg
debido a la aplicación de un esfuerzo (strain) ya sea de tensión, compresión, flexión o torsión. El
segundo término describe el impacto debido a la temperatura en el cambio de longitud de onda. Un
sistema de sensores de fibra óptica FBG se compone al menos de:

• Fuente y detector de luz.

• Elementos sensores de fibra óptica FBG.

• Fibra óptica y accesorios para la interconexión de la fibra.

El principio del funcionamiento del sistema óptico consiste en que los elementos sensores de fibra
óptica FBG modulan algún parámetro de la señal enviada desde la fuente de luz (intensidad, longitud de
onda, polarización, fase), lo cual da lugar a un cambio en las características de la señal óptica recibida
en el detector de luz.
La fuente y el detector de luz del sistema se incorporan en un equipo denominado Interrogador Óptico.
Los métodos de interrogación óptica pueden categorizarse como: Multiplexación por División de
Longitud de onda (WDM, siglas en inglés de Wavelength Division Multiplexing) y Multiplexación por
División de Tiempo (TDM, siglas en inglés de Time Division Multiplexing). Algunas alternativas
tecnológicas para clasificar los interrogadores para sistemas de sensores de fibra óptica FBG son las
siguientes:

• Fuente de Amplio Espectro, arreglo de Diodo (WDM)

• Espectrómetro Multiplexado por División de Tiempo (TDM)

• Reflectómetro óptico en Dominio de frecuencia (OFDR–WDM)

• Reflectómetro óptico en Dominio de tiempo (OTDR–TDM)

• Laser Barrido de Longitud de onda (WDM– Swept Wavelength Laser).

Hoy en día, los más populares interrogadores ópticos WDM son los que utilizan láser de barrido rápido
como una fuente de luz en vez de una fuente de amplio espectro. Las ventajas son un mayor alcance
(debido a la fuente de energía más alta), una mayor capacidad de sensores (debido a rangos de
longitud de onda más amplios de 50 a 100 nm) y la posibilidad de interrogar simultáneamente múltiples
fibras, cada una con docenas de sensores.

Dichos interrogadores ópticos nos han servido mucho para determinar con precisión el sistema de
medidas que puede identificar todos nuestros parámetros físicos, también hemos visto cómo funciona
este sensor y que depende mucho de las variaciones que se puedan dar en la temperatura, tensión etc.

RESULTADOS

Aun con todo el progreso que ha tenido el desarrollo de los sensores ópticos a base de redes de
Braggs, el comportamiento de este a largo plazo es crucial en el ámbito del sensado ya que a lo largo
del tiempo de vida de un sensor que usualmente es 25 años este puede disminuir reflectividad,
alterando el sistema de interrogación, y en el peor de los casos dando paso a un fallo total del sistema
de medición, sin embargo se espera que los estudios e investigaciones venideros puedan dar a conocer
soluciones eficaces.

3.3 DIFRACCION DE RAYOS X

 Antecedentes

Los Rayos X se descubrieron en 1895 por el físico alemán Röntgen y recibieron ese nombre porque se
desconocía su naturaleza en ese momento. A diferencia de la luz ordinaria, esa radiación era invisible
pero viajaba en linea recta y ennegrecía las películas fotográficas de manera similar a como lo hacía la
luz. Sin embargo, esa radiación era mucho más penetrante que la luz y podía atravesar el cuerpo
humano, la madera, piezas delgadas de metal, etc. Esta propiedad encontró inmediatamente aplicación
en la obtención de radiografías: las porciones menos densas de un material dejan pasar la radiación X
en mayor proporción que las más densas: de esta forma es posible localizar la posición de una fractura
en un hueso o una grieta en una pieza metálica. En 1912 se estableció de manera precisa la naturaleza
de los rayos X. En ese año se descubrió la difracción de rayos x en cristales y este descubrimiento
probó la naturaleza de los rayos X y proporcionó un nuevo método para investigar la estructura de la
materia de manera simultánea.
 DRX teóricamente
La técnica de Difracción de Rayos X o DRX es un método utilizado principalmente para detectar la
presencia de distintas fases cristalinas presentes en una muestra y otros rasgos microestructurales. La
técnica consiste en bombardear la muestra a estudiar con un haz de rayos x de longitud de onda λ,
variando el ángulo de incidencia de los rayos en la muestra, θ. Un esquema del funcionamiento de un
difractómetro de método de polvos es presentado en la figura:

El principio básico de funcionamiento de esta técnica consiste en que los rayos x son difractados de
manera constructiva por la estructura de la muestra si es que se cumple la ley de bragg.

Donde:
n es un entero
λ es la longitud de onda
d es la distancia interplanar de la estructura de la muestra
θ el ángulo de incidencia de los rayos x

Figura 2

Los rayos difractados interfieren constructivamente (tal como lo muestra la figura 2), el receptor del
difractometro capta un peak energético. El conjunto de estos peaks es conocido como diagrama de
difracción, y es único para cada estructura cristalina. De esta forma, por comparación con diagramas
tabulados se puede determinar las fases cristalinas presentes en la muestra.
 Además de las faces presentes el análisis DRX permite conocer otros rasgos microestructurales,
tales como tamaño de cristalita, microdeformaciones, fallas de apilamiento, densidad de dislocaciones y
otros defectos cristalinos.
Tal como se muestra en la figura 3, los distintos defectos cristalinos contribuyen al ensanchamiento y
corrimiento al peak de difracción. Si se logra determinar el aporte de cada efecto por separado se puede
lograr caracterizar y cuantificar cada uno de los defectos involucrados.

 Funcionamiento del difractometro

Un difractómetro Philips modelo X’Pert tiene la configuración Bragg-Brentano. Los principales

componentes son el tubo de rayos x con ánodo de cobre, con un sistema cerrado de enfriamiento (agua),
rejillas, monocromador y el detector. El detector contiene xenón; este tipo de gas es adecuado para
detectar la radiación de longitud de onda Cu Ká o longitud de onda larga. Los rayos x se generan en el
tubo, que es una ampolla al vacío que alberga al electrodo positivo (ánodo) y el negativo (cátodo). El
cátodo contiene un filamento de tungsteno por donde viajan los electrones, producidos por una diferencia
de potencial de 45,000 voltios, que chocan con el blanco de cobre (puede ser de Mo, Fe, Co, etc.). Los
electrones que chocan con el blanco producen los rayos x de fondo que atraviesan por una ventana de
berilio que, debido a su bajo número atómico, permite el paso de los rayos x (figura 1b). La información
que se obtiene a partir de los difractogramas permite determinar el sistema cristalino al que pertenece el
compuesto así como los parámetros de celda, es decir, la unidad mínima con que se organiza un cristal.
Con las intensidades de las reflexiones es posible determinar la distribución de los átomos dentro de la
celda (análisis estructural). La geometría de los perfiles en los “picos” o máximos de difracción, permite
determinar el tamaño de los cristales.
 USOS DE LA DRX EN SISTEMAS NANOMÉTRICOS

Una de las aplicaciones de la DRX en las nanociencias consiste en determinar las estructuras de nuevos
compuestos a partir de sus patrones de difracción (Petrick-Casagrande y Castillo-Blanco, 2005) para
posteriormente asociar la estructura del compuesto con sus propiedades. Otra aplicación rutinaria es la
de identificar la composición de una muestra con base en su estructura cristalina. Esto es común cuando
se quiere preparar un compuesto que ya se conoce pero utilizando métodos nuevos, ya sea porque son
más baratos, de mayor rendimiento o menos tóxicos. La identificación se hace a partir del perfil (o patrón)
de difracción de rayos x característico para cada compuesto natural o sintético, que es como una huella
digital. Los materiales se identifican en la base de datos del International Centre for Diffraction Data
(ICDD, 2010) que reporta las condiciones del análisis así como los perfiles de difracción de polvos, las
distancias interplanares, las intensidades relativas y los índices de Miller, entre otros. Una de las
contribuciones de la DRX a la identificación de un compuesto al realizar una síntesis nueva fue durante la
preparación de nanotubos de carbono (NTC) cuyo catalizador era fibra de acero utilizada para lavar
platos y que empleaba benceno como fuente de carbono (Koch, 2007). En este caso, los investigadores
se auxiliaron de la DRX para confirmar que estaban obteniendo NTC, ya que en esta síntesis, justo por
ser nueva, existía la posibilidad de obtener carbono amorfo (estructura sin orden) y otros compuestos de
fierro como impurezas. En los difractogramas que se obtuvieron de muestras colectadas en tres puntos
diferentes del reactor, se detectó que aparecieron reflexiones características de grafito (marcadas con un
rombo en la figura ) que forma las estructuras de NTC. En este caso, la DRX les dio a los investigadores,
de manera rápida, indicios de la formación de NTC que posteriormente fue corroborada con imágenes de
microscopía electrónica de transmisión. Otra información que dio el difractograma fue que junto con la
formación del grafito, también hubo impurezas de fierro y carburo de fierro en poca cantidad. Esto se
sabe porque las reflexiones que corresponden a estos compuestos (su huella digital) fueron de baja
intensidad.
DRX EN LA ARQUEOLOGÍA
El método se usó en el análisis de las cerámicas de Vaquerias de Argentina, para analizar la
composición y la identificación de los pigmentos utilizados para pintar en su superficie. La técnica
de difracción de rayos X (DRX) fue utilizada para la identificación de las fases cristalinas
presentes en las muestras. La adquisición de los datos se realizó en el rango de 10°<2θ<70°
empleando un equipo Philips PW 3710 con monocromador y radiación de Cu (K-Alpha1 [Å] =
1.54060). Se utilizó un paso de 0.02° en 2θ con un tiempo de contaje de dos segundos por paso y
con un generador de 30 mA, 40 kV. Para la identificación de fases presentes se empleó un
programa denominado PC-Identify y la base de datos de la ICDD. Los fragmentos cerámicos
fueron analizados sin tratamiento ni preparación previa. Si bien la técnica de difracción de rayos X
es preferentemente usada para muestras molidas a polvo, utilizar los fragmentos cerámicos
permite ganar información sobre la composición superficial en relación con la matriz y, en
particular, sobre los pigmentos utilizados para realizar los diseños. El haz de rayos X se direccionó
sobre la zona decorada o con pigmentos a estudiar.
ELECTRON BACKSCCATERING PATTERNS (EBSP)

La difracción de electrones retro-proyectados (EBSD) es una de las técnicas más utilizadas en el

análisis de aspectos relacionados con la cristalografía de materiales de ingeniería. Su versatilidad y
ventaja frente a otras técnicas, como la difracción de rayos X, ha permitido que investigadores de todo
el mundo en los más diversos campos de la ciencia e ingeniería de materiales, la hayan comenzado a
explorar y sacar el máximo provecho posible.

La técnica EBSD, también conocida como Electron BackSccatering Patterns (EBSP), Electron Back-
Sccatering Kikuchi Patterns (BEKP) o Wide Angle Kikuchi Patterns (WEKP) es relativamente reciente
(Adam y Mukul, 2000; Tschiptschin, 2002). Se utiliza para estudiar aspectos relacionados con la
cristalografía de los materiales tanto monocristalinos como policristalinos. Entre los aspectos más
relevantes que pueden ser calculados por esta técnica se encuentran la textura (orientación cristalina
preferencial grano a grano), las funciones de distribución de orientación, el tamaño promedio y la
distribución del tamaño de grano, el tipo y cantidad de fases (que incluyen partículas de precipitados),
desorientación entre dos o más granos, etc., todo esto con resolución hasta de 50 nm (Randle y Engler,
2000; Delgado, 2006). El sistema EBSD que detecta y analiza electrones retro-proyectados, puede ser
adaptado a un microscopio electrónico de barrido o de transmisión (Scanning Electron Microscopy: SEM
o Transmission Electron Microscopy-TEM) que proporcionan el haz de electrones necesario que al
incidir sobre la muestra parte de ellos sufren difracción, los cuales se conocen como electrones retro-
proyectados. Esta adaptación permite combinar la técnica EBSD con imágenes obtenidas en el SEM o
TEM a través de electrones secundarios (Secundary Electrons-SE) o electrones retro-dispersos
(Backscattered Scanning Electron Microscopy-BSEM) e incluso con resultados de micro-análisis
químico EDS y WDS para ser mejor aprovechada (Boehm, 2007). La técnica EBSD se basa en el
análisis de patrones de difracción conocidos como líneas, bandas o patrones de Kikuchi, las cuales
están directamente relacionadas con la estructura reticular de la red cristalina en la región del material
analizado. Estas líneas son bandas de alta intensidad obtenidas por la difracción de electrones retro-
proyectados que resultan cuando la superficie del material en estudio es impactada con un haz de
electrones. Estos interactúan con los átomos ubicados en los planos atómicos favorecidos por ley de
Bragg, haciendo que muchos de ellos sufran difracción (Alam et al., 1954; Venables y Harland, 1973;
Randle, 1992). La información que traen los electrones retro-proyectados es recogida por un detector
especial y analizada para calcular aspectos relacionados con la cristalografía del material. La Figura
muestra un patrón típico EBSD donde se aprecian las líneas o bandas de Kikuchi, (Padilha, 1999). Los
patrones de Kikuchi se relacionan con el material de estudio de la siguiente manera:
• El patrón obtenido refleja la simetría del retículo cristalino.
• El ancho y la intensidad de las bandas están directamente relacionados con el espaciado atómico de
los planos cristalinos.
• Los ángulos entre las bandas están directamente relacionados con los ángulos entre los planos del
retículo cristalino (Goehner y Michael, 1996).
MICROSCOPIA ELECTRONICA
El objeto de este conjunto de técnicas (y por tanto de este tema) es la interacción de los electrones con
la materia y la forma de obtener información tanto estructural como de caracterización de defectos. En
muchos sentidos, el microscopio electrónico ME ofrece una solución ideal a los problemas que
presentan los microscopios ópticos (λ ~ 0.5 µm) que no pueden obtener resolución atómica ya que la
longitud de onda de la radiación incidente es demasiado grande. Con el ME se pueden obtener
electrones acelerados con λ asociada bastante menor de 1 Å, y por tanto se puede obtener, al menos
teóricamente, resolución atómica. Con las lentes adecuadas se puede transformar los electrones
difractados en la imagen real. Además de usarse para difracción e imagen, el ME tiene otros usos. Los
electrones en el ME se generan por efecto termo-iónico en un filamento (cátodo) que es generalmente
wolframio, y se monocromatizan acelerándolos a través de un potencial (E) en un sistema sometido a
vacío. Para un voltaje de 100 kV, la longitud de onda asociada a los electrones es 0.037 Å (0.01 Å para
1 MV). Los electrones interaccionan mucho con la materia y fe~104 fx por lo que es posible la difracción
de electrones de muestras gaseosas. De hecho, muchas estructuras moleculares (distancias y ángulos
de moléculas inorgánicas y orgánicas simples) fueron determinadas en la década de los años 1930 a
partir de datos de difracción de electrones en muestras gaseosas.
Sin embargo, la interacción entre los electrones y la materia es tan fuerte que no se cumple le teoría
cinemática (fenómenos de difracción múltiples) y por tanto interpretar las intensidades de la difracción
de electrones es muy complicado. En casos especiales y con mucho tiempo de estudio ya se están
resolviendo estructuras desconocidas a partir de difracción de electrones. En la figura se muestra las
diferentes respuestas que da un material al ser estimulado con un haz de electrones paralelo. Estas
interacciones originan algunas de las técnicas que se verán a continuación.

Microscopía electrónica de barrido

SEM del inglés “Scanning Electron Microscopy”. Los electrones secundarios de baja energía (<50 eV)
emitidos de la superficie de la muestra se puede utilizar para dar un tipo de imagen.
Un microscopio electrónico de barrido crea una imagen ampliada de la superficie de un objeto. No es
necesario cortar el objeto en capas para observarlo con un SEM, sino que puede colocarse en el
microscopio con muy pocos preparativos. El SEM explora la superficie de la imagen punto por punto, al
contrario que el TEM, que examina una gran parte de la muestra cada vez. Su funcionamiento se basa
en recorrer la muestra con un haz muy concentrado de electrones, de forma parecida al barrido de un
haz de electrones por la pantalla de una televisión. Los electrones del haz pueden dispersarse de la
muestra o provocar la aparición de electrones secundarios. Los electrones perdidos y los secundarios
son recogidos y contados por un dispositivo electrónico situado a los lados del espécimen. Cada punto
leído de la muestra corresponde a un píxel en un monitor de televisión. Cuanto mayor sea el número de
electrones contados por el dispositivo, mayor será el brillo del píxel en la pantalla. A medida que el haz
de electrones barre la muestra, se presenta toda la imagen de la misma en el monitor. Los microscopios
electrónicos de barrido pueden ampliar los objetos 200.000 veces o más. Este tipo de microscopio es
muy útil porque, al contrario que los TEM o los microscopios ópticos, produce imágenes
tridimensionales realistas de la superficie del objeto.
Microscopía electrónica de transmisión
TEM del inglés “Transmission Electron Microscopy”. Los electrones difractados al pasar a través de la
muestra generan un difractograma que puede ser transformado directamente en imagen mediante
lentes magnéticas que es la proyección de la estructura cristalina a lo largo de la dirección de los
electrones.
Permite la observación de muestra en cortes ultrafinos. Un TEM dirige el haz de electrones hacia el
objeto que se desea aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y
otros lo atraviesan formando una imagen aumentada del espécimen. Para utilizar un TEM debe cortarse
la muestra en capas finas, no mayores de un par de miles de ángstroms. Se coloca una placa
fotográfica o una pantalla fluorescente detrás del objeto para registrar la imagen aumentada. Los
microscopios electrónicos de transmisión pueden aumentar un objeto hasta un millón de veces.
 3.4 HOLOGRAFÍA DIGITAL

Un holograma es un patrón de interferencia que al mismo tiempo es de difracción registrado en una

película fotosensible o en un sensor de estado sólido, si es en película fotosensible, llámese placa de
vidrio o placa de acetato se conoce como holografía óptica (HO), si es sensor de estado sólido es
holografía digital (HD).

En HO y HD ocurren dos procesos: el registro y la reconstrucción, para registrar un holograma se

requiere de un montaje óptico en ambos casos que con la alineación precisa permite obtener el
respectivo interferograma; mientras en la reconstrucción, en HO es necesario el uso de placas
fotosensibles donde se realiza un proceso similar al de la fotografía, pero se debe tener en cuenta que
la información que captura la fotografía da cuenta de la intensidad más no la fase y es allí donde la
holografía se diferencia de la fotografía.

A nivel general, la HO permite obtener información de un objeto en estudio utilizando una placa
fotográfica, la cual se puede utilizar para un holograma y nada más, mientras que en HD se requiere de
una cámara (CCD O CMOS), con la cual se pueden registrar muchos hologramas. Cuando se registra
un holograma óptico y se reconstruye se tiene el holograma, se puede visualizar pero no es posible
tener acceso a la información de él, más que verlo, es decir, no se puede manipular la información y por
ello no se puede aplicar a otras cosas, aunque se sabe que allí, en ese vidrio está guardada toda la
información del campo óptico complejo, por lo tanto se conoce tanto la amplitud como la fase. En el
caso de la HD como se tiene digitalizada es susceptible de ser manipulada, implicando una apertura a
una aplicación en ensayos no destructivos, mejoramiento de imagen, filtrados digitales, estudio de
deformaciones, entre otras.

Este requisito impone que los dos campos ópticos provengan de la misma fuente coherente (láser),
hecho que supone la división del haz de la fuente en dos haces independientes: uno de ellos ilumina el
objeto y es llamado onda objeto y el otro es necesario para lograr el patrón de interferencia y es llamado
onda de referencia. Esta división se puede llevar a cabo por división de amplitud o división de frente de
onda, según sea el caso.
  REGISTRO HOLOGRÁFICO
Para obtener experimentalmente el patrón de interferencia entre los haces objeto y referencia en el
laboratorio, se puede utilizar por ejemplo, un interferómetro Mach - Zehnder que se basa en división del
haz de luz proveniente de la fuente, en dos haces independientes. A partir del registro de la interferencia
entre la onda objeto y la onda de referencia en el plano del sensor como se muestra en la figura 4 -1, es
posible reconstruir cualquiera de los dos frentes de onda que interfirieron.
Figura 4-1: Registro Holográfico (Rincón Bohorquez, 2006)

 RECONSTRUCCIÓN HOLOGRÁFICA
En el proceso de reconstrucción, si se tiene el holograma en una película fotosensible similar a la
empleada en la fotografía, se ilumina la imagen con una luz coherente, idéntica a la de referencia, que
es difractada por el sistema de franjas de interferencia, creado por el haz objeto y el haz de referencia,
produciendo en el holograma una difracción. Así es posible obtener un holograma mediante patrones de
interferencia y patrones de difracción.
La amplitud y la fase del frente de onda contienen información de la forma, las dimensiones y
especialmente del índice de refracción del objeto. Dicha información está codificada en forma de un
patrón de franjas entre brillantes y oscuras que usualmente no son visibles para el ojo humano. La
difracción de la onda registrada viene dada por la integral de Fresnel – Kirchhoff dada en la ecuación
[4.8] (Schnars & Jueptner, 2005):
Figura 4-2: Sistema de coordenadas para la reconstrucción numérica del holograma (Schnars &
Jueptner, 2005)
En síntesis, el patrón de interferencia generado por las ondas de objeto y referencia es registrado en un
sensor de estado sólido. Este patrón de interferencia se conoce con el nombre de holograma y esta
primera etapa constituye el proceso de registro. El holograma registrado en el medio digital se transfiere
a un computador para su respectivo procesamiento y reconstrucción. La etapa de reconstrucción del
holograma se lleva a cabo por medio del cálculo numérico del efecto de difracción que sufre una onda
esférica cuando ilumina el holograma. Si se desea obtener una imagen reconstruida con características
idénticas a las del objeto, la onda debe ser similar a aquella que iluminó la muestra siendo proveniente
de la misma fuente puntual.

PROCESO DE LA REALIZACIÓN DE LA HOLOGRAFIA

 se comienza con un haz de luz láser, parte del cual es dirigido directamente hacia el medio de
grabado, que usualmente es una emulsión fotográfica de muy alta resolución (película
holográfica); a este haz “Er” que incide directamente sobre el medio de grabado se le llama “haz
de referencia”; la otra parte del haz ilumina al objeto que dispersa e incide también sobre la
película, este haz dispersado “E0” constituye el “haz del objeto”.
 Puesto que ambas ondas (referencia y objeto) provienen de la misma fuente, forman un patrón
de interferencia estable en el medio de grabado. Este patrón, en general, es un sistema bastante
complicado de franjas; el grabado permanente de este patrón de interferencia es llamado
holograma (de las palabras griegas “holos” que significa completo y “grafos” que significa
grabado).
 La película holográfica, responde a la intensidad de la luz EE*, de manera que una vez expuesta
al patrón de interferencia, se revela usando soluciones químicas en un proceso análogo al de
cualquier película fotográfica. El resultado final sobre la película es algo irreconocible que no se
parece a ninguna imagen particular.
 Cuando el holograma es iluminado con un haz de luz similar al haz de referencia, debido al
patrón de interferencia ahi grabado, la onda transmitida se dividirá en dos componentes, una de
las cuales se difracta de manera tal, que reproduce exactamente a la onda del objeto original.
Esto significa que la imagen del objeto y la imagen reconstruida por el holograma son idénticas,
a tal punto que uno no puede diferenciar al objeto de la imagen reconstruida por el holograma.
DESCRIPCION DE LA MICROSCOPÍA HOLOGRÁFICA DIGITAL APLICADA A LA DETECCIÓN DE
MICROORGANISMOS MÓVILES
El dispositivo utilizado en este caso es un microscopio holográfico por transmisión, dado que el objeto
es una muestra de sangre fresca transparente. En la fotografía de la Fig. 3 se muestra el prototipo del
dispositivo construido para el registro de los hologramas. Consiste básicamente en un interferómetro de
Mach-Zehnder. En el brazo objeto, una platina de microscopio con sus respectivos tornillos
micrométricos para el movimiento x,y,z permite desplazar la muestra de manera lateral (para el
recorrido de campos) y axial para el movimiento de enfoque (a lo largo del eje óptico). Un haz de luz
láser de He- Ne (λ = 632.8 nm) linealmente polarizado, de 10 mW, filtrado y colimado, es dividido en un
haz de referencia y un haz objeto mediante el cubo divisor de haz DH1. La onda plana que recorre el
brazo objeto, luego de ser reflejada por el espejo E1, ilumina la muestra que se va a analizar.
La onda difractada por el espécimen contiene toda la información de la estructura de la muestra y es
colectada y magnificada por un OM de 10X, 0.25AN o alternativamente por uno de 40X, 0.65AN,
dependiendo del aumento lateral deseado. Al mismo tiempo, la onda plana que recorre el brazo de
referencia se refleja en el espejo E2, y se magnifica por OM2, de idénticas características al utilizado en
el brazo objeto, con el fin de lograr que ambos frentes de onda tengan similar curvatura. Esto corrige
parcialmente las aberraciones de fase introducidas en el plano del holograma por la curvatura del frente
de onda esférico que emerge de OM1. Las ondas objeto y de referencia se recombinan en el segundo
cubo divisor de haz DH2, e interfieren en el espacio de salida. La interferencia se registra en el plano del
sensor CCD de una cámara de TV, monocroma, ubicada entre el OM y el plano imagen de la muestra.
La imagen se digitaliza en 256 niveles de gris (holograma digital) y se almacena temporalmente en el
buffer de un frame grabber MATROX PULSAR. El tamaño de las imágenes es de 512 x 512 pix2 por lo
que el software de adquisición y procesamiento se programa para que la imagen original se recorte a
estas dimensiones. Los métodos de reconstrucción se p
compatible con la librería de procesamiento de imágenes MATROX MIL 32.
  RESULTADOS DE LA EXPERIENCIA
Teniendo en cuenta las consideraciones detalladas previamente, se estudió la posibilidad de
implementar la MHD, para la detección de microorganismos en muestras de sangre, particularmente
para el T. cruzi. La técnica óptica propuesta, pretende aprovechar toda la información que puede
extraerse de los hologramas, es decir amplitud y fase. Se utilizan muestras de sangre fresca infectadas
con el parásito, cuya preparación sigue un minucioso protocolo: se extrae (bajo anestesia) sangre de un
ratón infectado con T. cruzi, seccionando 1 mm de la punta de la cola. Luego, se colecta 10 µl de sangre
en un tubo capilar, se ubica en un portaobjetos y se cubre con un cubre objetos de 24 x 36 mm 2 . La
metodología propuesta, consiste en registrar dos hologramas espaciados temporalmente. Debido al
movimiento del parásito entre los dos registros, los glóbulos rojos adyacentes se ven más afectados que
los más alejados, dando lugar a que las franjas del holograma presenten curvaturas notablemente
diferentes en la zona donde se encuentra el mismo. Posteriormente, los dos hologramas se restan
matricialmente (píxel a píxel). El holograma-diferencia así obtenido, se reconstruye con alguno de los
métodos descriptos, obteniéndose la imagen de amplitud y el mapa de fase correspondiente. A modo de
ejemplo, en la Fig. 9a) se muestra un holograma-diferencia correspondiente a una muestra de sangre
infectada donde con antelación se verificó que había dos parásitos en el campo visual. También se
incluyen las imágenes de amplitud obtenidas al reconstruir con el Método PEA, a distintas distancias d.
Se utilizó un OM de 10X, 0.25 A.N a los fines de analizar un campo amplio.

En las imágenes de amplitud se advierten, zonas localizadas con niveles de gris muy elevados dentro
de un fondo oscuro, evidenciando la presencia de dos parásitos. Una característica atractiva del
método, es que resulta aún más útil en imágenes reconstruidas fuera de foco, ya que las zonas claras
se expanden, exhibiéndose así de manera más conspicua la presencia de los parásitos. En la Fig. 10,
se muestra la imagen de contraste de fase obtenida al reconstruir el holograma-diferencia de la Fig. 9a),
a una distancia d=12cm. Se observan perturbaciones indicativas de la presencia del parásito, en un
fondo de distribución de fase aleatoria (resultante de las vibraciones características de los glóbulos
rojos) y un patrón de interferencia de baja frecuencia espacial, debido a la geometría off-axis.
 3.5 DIFRACCIÓN EN FIBRAS ÓPTICAS Y NANOTECNOLOGÍA
Estudio del comportamiento a alta temperatura de las Redes de Difracción en Fibras Ópticas

Un gran cantidad de redes de difracción fueron grabadas para la realización de esta

experimentación dado que se basa en ensayos destructivos. Se han utilizado diferentes máscaras
de fase en su grabado en fibra óptica estándar de telecomunicación (SMF 28) para así poder
multiplexar varias a la vez en un único canal. Algunas se han grabado sobre fibra estándar sin
tratamiento previo mientras que otras lo han sido sobre trozos, de la misma bobina de fibra,
previamente hidrogenados (con hidrógeno a 150 atmósferas y a temperatura ambiente durante una
semana) con el fin de aumentar así su fotosensibilidad. Obviamente, el número de defectos
producidos en una fibra estándar sin tratar bajo un patrón de interferencia de luz ultravioleta es
mucho menor que en el caso de las fibras hidrogenadas, por lo que su reflectividad es
considerablemente menor aunque apta para los experimentos que se han llevado a cabo. Se
grabaron las redes de difracción usando un láser de ArKr, que es el encargado de suministrar la luz
UV (244 nm), y con máscaras de fase de diferentes periodos (las longitud de onda de Bragg de las
RDFO obtenidas se sitúan en torno a 1313 y 1550 nm y son de 1cm). El banco de medida preparado
para la caracterización de las redes de difracción, ver figura 1, está compuesto por: una fuente de
luz blanca (HP83437), un analizador de espectros óptico (Anritsu MS9701A), varios acopladores y
un conmutador (switch) óptico (HP86062C) para permitir medir alternativamente la luz transmitida y
la reflejada, motores de posicionamiento y un horno tubular (Carbolite MTF 12/38/250) junto con un
termopar para realizar la medida de las temperaturas a las que han sido sometidas las RDFOs.

Figura (1)

Mediante el analizador de espectros ópticos, se ha caracterizado, tanto en transmisión como en

reflexión, el comportamiento espectral de las redes de difracción grabadas. Las medidas han sido
tomadas exponiendo las RDFO a cada una de las temperaturas durante 10 minutos para posteriormente
sacarlas del horno y dejarlas a temperatura ambiente. Así, se han obtenido una serie de duplas de
medida con la intención de observar posibles histéresis. En la figura 2, se puede constatar la evolución
del espectro de una RDFO, grabada en fibra estándar y tratada previamente, con respecto a la
temperatura. Claramente se puede apreciar un desplazamiento hacia longitudes de onda superiores de
la longitud de onda central de la resonancia de Bragg así como una pérdida de la reflectividad.
Trabajando con los datos del espectro en transmisión se obtiene la figura 3 en la que se representa la
evolución con la temperatura del porcentaje de reflectividad relativa de algunas de las redes de
difracción usadas. Se observa que, aún teniendo mayores reflectividades para fibras hidrogenadas, el
decremento relativo de las mismas es similar en ambos casos. En la figura 4, se muestra la variación de
la longitud de onda de Bragg con respecto a la temperatura. Las medidas tomadas siguiendo el
procedimiento descrito anteriormente (duplas de medidas) llevan a la conclusión de que el
comportamiento es prácticamente lineal y que no existe ninguna histéresis en cuanto a la variación de la
longitud de onda por lo que queda comprobada la reversibilidad anteriormente comentada.
 Figura (2)
Figura (3)

Figura (4)

Fabricación de un prototipo óptico para experimentos de interacción luz-materia

Se fabricó un prototipo óptico flexible para ejecutar experimentos de mediciones de plasmones
polaritones de superficie empleando rejillas de difracción metálicas en contacto con un medio
dieléctrico, con las condiciones de que el periodo espacial de la rejilla sea mayor a la longitud de onda
de la seña de la luz usada en el sistema óptico experimental. Se usaron ensambles de monturas
diseñadas y elaboradas mediante impresión 3D, que en consecuencia son muy efectivas para fijar y
alinear los componentes del sistema ópitco.
Sistema óptico para excitación de PPS (plasmón polaritón de superficie) por el método de la
rejilla de difracción metálica.
La rejilla de difracción utilizada contiene un perfil rectangular de 1200 líneas/mm, donde se incurre luz
monocromática que consta de un diodo láser con longitud de onda de 𝜆0 = 650 𝑛𝑛.

Figura (1)
En la figura 1 se muestra un diagrama de la rejilla de difracción en donde se percibe los rayos incidente,
transmitido y reflejado. La rejilla se ubica sobre una superficie de vidrio de 30 𝑚𝑚 𝑋 25 𝑚𝑚, con la que
se obtien una rejilla de difracción metálica con una frontera dieléctrica, en donde es factible, mediante
variaciones apropiadas de las variables del experimento, lograr la condición de resonancia por medio de
la sintonización del vector de onda del plasmón-polaritón, 𝑘𝑝𝑝s, el cual está dado por la ecuación (2).

k pps  na ko sin  i  nk g (1) en la cual el ángulo de incidencia de un haz de luz con polarización p puede
tomar valores en 0 ≦ 𝛳𝑖 ≦ 𝜋/2.
En esta figura se aprecia el diagrama esquemático del arreglo experimental usado para inducir
resonancia del plasmón polaritón de superficie. La flexibilidad de este sistema permite medir los ángulos
de los órdenes difractados en el campo lejano fuera de la frontera de la superficie metálica, aún en
condiciones donde Λ > 𝜆0 . El prototipo está
compuesto por:
( 1 ) un diodo láser
( 2 )un polarizador lineal
( 3 ) un sistema de foto detección
( 4 ) una plataforma giratoria de precisión
( 5 ) una rejilla de difracción

Figura 2.

El diodo láser, la rejilla de difracción y el polarizador lineal se localizan posicionados en ensambles de

monturas diseñadas en Solidworks y fabricadas mediante impresión 3D. Aprecie sobre la mesa de
pruebas de la figura 2, que el diodo láser (1) y el polarizador lineal (2) permiten iluminar la rejilla con una
señal de luz con polarización p paralela al plano de incidencia. La rejilla se encuentra montada en la
plataforma de rotación, que al girar permite variar los ángulos del haz de luz incidente proveniente del
láser (1), del cual depende directamente el valor del vector de onda K𝑝𝑝s, a través de la ecuación (1).
La línea color negro es la normal a la superficie de la rejilla, y la línea color azul es el haz reflejado
(orden cero o componente directa). Observe también en rojo el haz difractado (orden +1) siendo
analizado por el foto detector (3). En el arreglo óptico, el diodo láser es fijo. El ángulo de incidencia se
controla al girar la plataforma giratoria (4) en contra de las manecillas del reloj. Al permanecer fijo el haz
incidente, la normal a la superficie gira también en contra de las manecillas del reloj, siendo esta línea el
eje de referencia para medir los ángulos incidente (𝛳𝑖) , reflejado (𝛳𝑟) y difractado 𝛳𝑠. (3) controlado
manualmente. La mesa de rotación tiene graduación angular, lo que permite controlar y medir el ángulo
reflejado (𝛳𝑖 = 𝛳𝑟) y realizar mediciones en la intensidad de luz para posiciones angulares equidistantes.
La flexibilidad del sistema óptico permite un fácil manejo, modificación de sus componentes, y
versatilidad para la alineación de sus elementos, así como un control de variables importantes en los
experimentos, tales como el ángulo de incidencia, la polarización de la señal, la fuente de luz, y la foto
detección.
Cálculo del vector de onda para una superficie plana de oro.
Para la rejilla de difracción utilizada en el experimento, los parámetros involucrados en la ecuación (1)
se encuentran publicados en tablas y sus valores son conocidos. Utilizando estos valores, la ecuación
(1) adopta la forma particular, k𝑝𝑝s = 1.0002763 ∗ 0.009666431 ∗ sin𝛳𝑖 + 0.007539816.
Por otra parte, el vector de onda para una superficie plana de oro, se calcula a partir de la ecuación [2],

w  '1  2 donde 𝑘 = 2𝜋/𝜆𝑝, ɛ2 es la constante dieléctrica del aire,

Re  kx  k  ɛ1 , es la constante dieléctrica (parte real) del oro, 𝑤 es
c  '1   2 la frecuencia angular de la señal de la luz, y 𝑐 es la
velocidad de la luz.

Se calcula el valor del vector de onda del plasma de electrones para el material con el que está
elaborada la rejilla de difracción (oro). Bajo las condiciones establecidas teóricamente para el
acoplamiento de fotones con valores de las constantes dieléctricas y aplicando la ecuación (2), tenemos
que el vector de onda para una superficie de oro tiene un valor de:
k𝑝lasmón=0.010111382489459x109 𝑚 −1, por lo que la longitud de onda del plasmón para la superficie
de oro utilizada en el experimento es, 𝜆𝑝 =621.3967285 nm. Se obtienen los valores exactos de los
vectores de onda, los cuales son proporcionales a la frecuencia angular (𝑤) a través de la velocidad de
la luz. La condición de resonancia se puede alcanzar sintonizando el vector de onda 𝑘𝑝𝑝s, mediante la
variación de 𝛳𝑖, la cual se dará cuando 𝑘𝑝𝑝s alcance valores muy cercanos a 𝑘𝑥. Realizando un barrido
del ángulo 𝛳𝑖 con un intervalo de lectura de 0.50 en el intervalo 0 ≦ 𝛳𝑖 ≦ 𝜋/2, se obtienen las curvas de
la figura 3, en donde se grafican k pps vs 𝛳𝑖 y k pps  k plasmón  k pps vs 𝛳𝑖.

Este artificio gráfico permite visualizar la convergencia de los valores 𝑘𝑝𝑝𝑝 y k𝑝lasmó𝑛 i.e. la resonancia
ocurre cuando, 𝑘𝑝𝑝s − kplasmó𝑛 = 0. Se observa que 𝑘𝑝𝑝s toma un valor muy cercano a 𝑘𝑝lasmó𝑛 en
aproximadamente 16.750 . Este resultado muestra que es factible obtener la resonancia del plasmón en
ese ángulo. Es factible confirmar la validez de la ecuación (3) para un ángulo de resonancia  R , dado
 (k ' x  mk g 
por la expresión,  R = sin 1   , (4) donde 𝑚 es el orden de difracción.
 na k 0 
 4. CONCLUSIONES

Se concluye que el fenómeno de la difracción, que ha sido estudiada y utilizada desde hace mucho
tiempo, a pesar de tender a ser muy puntual, es muy variable en cuestión de su aplicación a la
práctica. Demostrando que transforma y permite el desarrollo tecnológico, nosotros con esta
investigación podemos dar testimonio de cómo nos beneficia distintos proyectos que se han logrado en
base a este fenómeno. Por ejemplo mejorando el rendimiento de los paneles solares, utilizando la
energía renovable que colabora al cuidado del medio ambiente; el mejoramiento de la óptica;
revolucionar áreas de estudio como la biología molecular; también está el microscopio holográfico
digital, aportando a la medicina y la humanidad técnicas para detectar enfermedades a tiempo; por
último, ser concepto primordial de herramientas en la mineralogía, geología, arqueología y la
exploración espacial pues recientemente la NASA envió un Instrumento XRD miniaturizado para el
planeta Marte nombrado como Che Min, que se emplea para el análisis de los suelos y rocas en su
superficie y envía información de difracción que desentraña que la muestra contiene arcilla minerales y
materiales amorfos, con esto queremos aseverar que este trabajo no está terminado pues la ciencia
sigue innovando pero esperamos que les sea de ayuda para ver la suma importancia de este fenómeno.
5. BIBLIOGRAFÍA

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