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b Vetor de Burgers
Semiplano
adicional
Compressão
Discordância em cunha
Expansão
Discordância de Aresta
a) Um cristal perfeito;
b) Um plano extra é inserido no cristal (a);
c) O vetor de burgers b equivale à distância necessária para
fechar o contorno formado pelo mesmo número de átomos
ao redor da discordância de aresta.
O vetor de Burgers
• Expressa a “magnitude” e a
“direção” da distorção da rede
cristalina, associada a uma
discordância.
• A direção de b (vetor de
Burgers) apontará para
direção cristalográfica mais
compacta e intensidade igual
ao espaçamento interatômico,
definindo a direção de
deslizamento.
O vetor de Burgers é
perpendicular à linha da
discordância
Deslocação espiral ou Helicoidal
Os átomos são adicionados ao passo de uma hélice
Monocristal de SiC
Circuito de Burgers
Defeitos de Linha :
Discordância em Hélice (ou Espiral)
DISCORDÂNCIA EM HÉLICE Arranjo dos átomos em torno de uma
("screw dislocation") discordância em hélice.
• Discordância em aresta
O vetor de Burger é perpendicular à direção da linha da discordância
Linha de
discordância e
vetor de burger
formam um
ângulo qualquer
entre si.
Discordâncias: Mista
Defeitos de Linha
Tensão
Defeitos de Linha
• A linha de discordância delimita as regiões cisalhada e não-cisalhada.
• Uma discordância não pode terminar no interior de um cristal.
Linha de Discordância
e Plano de
Escorregamento
Deformação Plástica
(a) (b)
Formação de um degrau na superfície de um metal pela movimentação de (a)
uma discordância em cunha e (b) uma discordância em hélice.
Repulsão
Atração e
aniquilamento
b G
t
a 2
Onde:
t é a tensão teórica cisalhante
G é o módulo de cisalhamento
a e b estão definidos na figura
De um modo geral, os cristais reais começam a se
deformar plasticamente em tensões entre 1/1000 e
1/10000 da tensão teórica calculada por Frenkel!
Sistemas de
escorregamento
nos cristais CFC
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Sistemas de Escorregamento
Diferentes
estruturas
cristalinas Diferentes
propriedades
mecânicas
Observação das Discordâncias
• Indiretamente SEM e MO
(após ataque químico seletivo)
TEM: microscopia eletrônica de transmissão
HRTEM: microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução
SEM: microscopia eletrônica de varredura
MO: microscopia óptica
Defeitos de Linha