Practica Erick Barrios Barocio.

12
Laboratorio de Óptica, Facultad de Ciencias, UNAM.

La interferencia es una consecuencia directa de la interpretación

ondulatoria de la luz. Este fenómeno ha sido muy estudiado y tiene
un gran número de aplicaciones en la actualidad, particularmente en
el área de la metrología, ya que permite realizar mediciones de muy
alta precisión. También se presenta en fenómenos comunes como lo
son los patrones de colores que se pueden observar en una película
de aceite sobre agua. Entender cómo es que ocurre la interferencia
de ondas es un concepto básico que se abordará en esta práctica.

99
 Interferencia

PELÍCULAS DELGADAS.

Los efectos de interferencia son apreciables en películas Cambio de Sin cambio

fase de 180° de fase
delgadas, como capas de aceite en agua o la delgada superficie
de una burbuja de jabón. Los diversos colores que se observan 1 2
cuando incide la luz blanca sobre estas películas, son resultado 𝑛1 < 𝑛2
Aire
𝑛𝑎𝑖𝑟𝑒 < 𝑛𝑝𝑒𝑙í𝑐𝑢𝑙𝑎
de la interferencia de ondas reflejadas en las dos superficies de A
la película como se explica a continuación.
Película t
Consideremos una película de espesor uniforme t e índice
de refracción n (Figura 1). Supongamos que los rayos B
Aire
luminosos son casi normales a las dos superficies de la
Figura 1. Desfases que sufre una haz de luz
película. Para determinar si los rayos reflejados interfieren en
al reflejarse en una película delgada.
forma destructiva o constructiva se debe tomar en cuenta lo
siguiente [1]:
 Una onda que viaja de un medio de índice de refracción n1 hacia un medio con índice de
refracción n2 experimenta un cambio de fase de π en la reflexión cuando 𝑛2 > 𝑛1 y no
experimenta cambio de fase cuando 𝑛2 < 𝑛1.
 La longitud de onda de la luz en un medio cuyo índice de refracción es n es: 𝜆𝑛 = 𝜆⁄𝑛.
Donde 𝜆 es la longitud de onda de la luz en el espacio libre.
En el caso de la Figura 1, 𝑛𝑝𝑒𝑙í𝑐𝑢𝑙𝑎 > 𝑛𝑎𝑖𝑟𝑒 . El rayo 1 experimenta un cambio de fase de π respecto
a la onda incidente cuando se refleja en la superficie (A). A diferencia del rayo 2, el cual se refleja en la
superficie (B) sin experimentar un cambio de fase. Por tanto, el rayo 1 está a 180° fuera de fase en
relación con el rayo 2, lo cual es equivalente a una diferencia de trayectoria de 𝜆𝑛 /2. Sin embargo, el
rayo 2 viaja una distancia adicional aproximada de 2t antes de que las ondas se recombinen en el aire.
Sí, 2𝑡 = 𝜆𝑛 /2, los rayos 1 y 2 se recombinan en fase y el resultado es interferencia constructiva. En
general, la condición para la interferencia constructiva es:
1
2𝑡 = (𝑚 + ) 𝜆𝑛 , 𝑚 = 0,1,2, … (1)
2
Dicha condición ya toma en cuenta las condiciones de de diferencia de longitud de la trayectoria
(𝑚𝜆𝑛 ) y el cambio de fase de 180° en la reflexión (𝜆𝑛 /2). Puesto que 𝜆𝑛 = 𝜆⁄𝑛, la condición para
interferencia constructiva en películas delgadas es:
1
2𝑛𝑡 = (𝑚 + 2) 𝜆 , 𝑚 = 0,1,2, … (2)

Si la distancia adicional 2t recorrida por el rayo 2 corresponde a un múltiplo entero de 𝜆𝑛 , las dos
ondas se combinan fuera de fase y el resultado es interferencia destructiva, cuya condición es:

2𝑛𝑡 = 𝑚𝜆 ; 𝑚 = 0,1,2, … (3)

Aunque para la interferencia destructiva, la opción m=0 implica que no hay película. Las condiciones
anteriores son válidas cuando el medio sobre la superficie superior de la película es el mismo que el
medio debajo de la película.

|
100
 Interferencia

EL INTERFERÓMETRO DE MICHELSON.

El interferómetro de Michelson se utiliza para generar Espejo

retardos de fase y producir interferencia con gran precisión. Un móvil Posición virtual
diagrama simplificado del aparato se muestra en la Figura 2. Luz d del espejo fijo.

de una fuente monocromática pasa a través de un divisor de haz,

Divisor
produciendo dos rayos perpendiculares y de igual intensidad. de haz
Fuente

Espejo
Los dos rayos se reflejan en dos espejos separados que están

fijo
colocados a distintas distancias del divisor de haz. Los espejos
están alineados de forma que los haces se retro-reflejen sobre la Compensador
trayectoria original. Cuando los rayos se recombinan en el
Detector
divisor de haz, interferirán uno con el otro. Si la interferencia es
constructiva o destructiva dependerá de la fase relativa de los Figura 2. Diagrama esquemático del
montaje de un interferómetro de
rayos combinados. Esto se determina por la diferencia de
Michelson.
camino recorrido por los rayos (2d); así, la condición para
interferencia constructiva es:
1
2𝑑 = (𝑚 + 2) 𝜆 , 𝑚 = 0,1,2, … (4)

Y la condición para interferencia destructiva es:

2𝑑 = 𝑚𝜆 , 𝑚 = 0,1,2, … (5)

Al mover uno de los espejos, se puede modificar la diferencia de longitud recorrida (o fase relativa)
de uno de los rayos. Conforme esta diferencia cambia, se puede observar interferencia constructiva y
destructiva secuencialmente.
Es bastante práctico usar un haz dispersado en lugar Imagen del
del haz puntual. Con un rayo dispersado, el Espejo M2 Lente
interferómetro produce un patrón de interferencia en una Convexo
Espejo móvil

pantalla en lugar de un solo punto (Figura 3). Los rayos

paralelos reflejados hacia la pantalla interactúan de θ Láser
forma constructiva o destructiva dependiendo en la d
diferencia de camino. Esta diferencia ahora depende del
ángulo de dispersión (θ) a través de la expresión 2𝑑𝑐𝑜𝑠𝜃. Figura 3. Diagrama que muestra el uso de una lente
convexa para generar interferencia de anillos.
Debido a que la diferencia de camino depende del
ángulo, habrá ciertos ángulos para interferencia
constructiva y otros para interferencia destructiva. La condición para interferencia constructiva es ahora:

2𝑑𝑐𝑜𝑠𝜃 = 𝑚𝜆 (6)

Debido a la simetría cilíndrica, esta interferencia da lugar a un patrón de franjas anulares concéntricas
obscuras y brillantes. La diferencia de camino ocasionada por el desplazamiento del espejo, producirá
que los anillos de interferencia se muevan hacia el centro o se alejen de él. En el centro del patrón se
observará un punto que alternará entre obscuridad y luz.

|
101
 Interferencia

Una franja será producida o aniquilada por cada longitud de onda de desfase que se agregue a la
diferencia de camino. Debido a esto, se requiere un control muy fino del espejo móvil. Un tornillo
micrométrico está diseñado para este propósito y controla la posición de uno de los espejos.
La distancia recorrida por el espejo móvil (d) es igual al cambio en la separación de los espejos.
Contando el número de franjas que pasan por un cierto punto, correspondiente a un cierto
desplazamiento, se puede calcular la longitud de onda de una fuente de luz. El número (N) de franjas
brillantes que pasan en un desplazamiento d, es proporcional al número de longitudes de onda completas
que la diferencia de camino ha cambiado:

𝜆 = 2𝑑/𝑁 (7)

En general, los tornillos micrométricos de los interferómetros de Michelson, tiene que ser calibrados
para conocer el factor de proporcionalidad entre el desfase de los dos rayos (en términos de longitudes
de onda) y el desplazamiento indicado por el tornillo. Para esto, se debe girar el tornillo micrométrico y
contar el número de franjas (N) que pasan por un punto cualquiera. El valor de distancia marcado por el
micrómetro será d’. El movimiento real del espejo (d) estará dado por 𝑁𝜆/2 (el factor de ½ viene de
que el desplazamiento de una longitud de onda equivale a 2d), donde 𝜆 es la longitud de onda conocida
de la fuente de luz. Entonces, el factor de proporcionalidad entre desplazamiento indicado será de d´/d.
Todas las mediciones futuras de desplazamientos se tendrán que multiplicar por este factor:
2𝑑´
𝑘= (8)
𝑁𝜆

EJERCICIOS.

1. Completar la siguiente tabla asumiendo que se tiene una lámina de media onda Calcular el
espesor mínimo de una película de una burbuja de jabón (n=1.33) que origina interferencia
constructiva en la luz reflejada cuando la película se ilumina con luz de 𝜆 = 600 𝑛𝑚.
2. Una cuña de aire se forma entre dos placas de vidrio separadas en un borde por
un alambre muy delgado, como se muestra en la Figura 4. Cuando el borde se
ilumina desde arriba con luz de 600 nm, se observan 30 franjas obscuras.
Figura 4
Calcular el radio del alambre.
3. Se utiliza luz de 550.5 nm en un interferómetro de Michelson, El espejo móvil se desplaza 0.18
mm. ¿Cuántas franjas obscuras se cuentan? Asumir que el factor de conversión es 𝑘 = 1.
4. El espejo móvil de un interferómetro se desplaza una distancia 𝐿. Durante dicho desplazamiento
se cuentan 250 franjas brillantes. Si se emplea luz de 632.8 nm, ¿Cuál es el valor del
desplazamiento 𝐿?.

PRACTICA.
4.1 MATERIAL.
1 interferómetro de Michelson. 1 Osciloscopio. 1 Detector de diodo. 1 cable BNC-BNC. 1 láser verde
o azul. 1 Diodo láser rojo. 1 mesa elevadora. 1 pinza de tres dedos con nuez. 1 objetivo de microscopio
de 40x. 3 porta-postes grandes con bases. 1 poste extra-largo. 2 postes chicos. 2 Planos ópticos. 1 soporte
universal. 1 pantalla.

|
102
 Interferencia

4.2 PROCEDIMIENTO.
A) INTERFERÓMETRO DE MICHELSON.
El interferómetro de Michelson es un instrumento de precisión y en consecuencia es bastante frágil,
por lo que se debe extremar cuidado al operarlo. Hay que tomar en cuenta las siguientes
recomendaciones:
 Nunca forzar el tornillo micrométrico. Este siempre debe correr de forma suave.
 Nunca tocar los espejos o el divisor de haz con los dedos. La grasa puede crear una capa
que modifique el camino óptico o actuar como difusor produciendo una mala interferencia.
En la primer parte del experimento se calibrará el tornillo micrométrico para obtener su factor de
corrección (pasos 1-3). En la segunda parte se calculará la longitud de onda de un par de láseres de
distinto color (pasos 4-6).
1. Usando el láser con longitud de onda conocida, alinear los espejos del interferómetro de forma
que se genere interferencia. Para esto, el haz debe pasar por el centro de la apertura de entrada
del interferómetro. El haz será separado en dos por el divisor de haz, los haces se reflejarán en
los espejos y serán recombinados por el divisor solo si los espejos están colocados de forma
perpendicular a los haces (Figura 5a), de lo contrario cada haz viajará por una trayectoria
diferente y no serán recombinados de forma correcta (colineal) por el divisor (Figura 5b). Para
hacer que los haces sean colineales, cambiar la orientación del espejo fijo con ayuda de sus
tornillos posteriores hasta que los dos haces proyectados en el puerto de salida del interferómetro
estén empalmados, en este punto se verá que el haz de luz cintila (nota, hay múltiples reflexiones
en el interferómetro, por lo que se observaran múltiples puntos proyectados, los dos más
brillantes son los principales, que son con los que se trabajará).
Pantalla con un solo Pantalla con un solo
a b
punto proyectado punto proyectado

Divisor
Láser Láser
de haz Espejo Espejo
desplazable desplazable
Divisor
de haz

Espejo ajustable Espejo ajustable

con tornillos. con tornillos.
Figura 5. Alineación del interferómetro de Michelson. a) Buena alineación, b) Mala alineación.

2. Colocar frente al láser un objetivo de Objetivo de

microscopio de 10x (montado en un porta microscopio
lentes) para abrir el haz de luz que entra al Láser
interferómetro (Figura 6). Esto producirá que
el haz proyectado en la pantalla también se
abra. Si el interferómetro está bien alineado,
se observaran franjas (anillos) de
interferencia en la pantalla. Ajustar el espejo
con tornillos de forma que el centro de los Figura 6. Alineación del interferómetro de Michelson
para observar anillos de interferencia.
anillos esté en el centro de la pantalla.

|
103
 Interferencia

3. Una vez hecho lo anterior, colocar el tornillo micrométrico en el cero de la escala micrométrica
(la escala anular). Luego, girar el tornillo hasta ver pasar 30 franjas, tomar la medida de la
distancia recorrida por el tornillo, este valor será d´. Calculando la d esperada usando la
ecuación (8), calcular el factor de corrección. Repetir esta medición con cada integrante del
equipo para hacer un promedio.
4. Remover el objetivo de microscopio y en lugar
de proyectar la interferencia en una pantalla,
detectarlo con un fotodetector conectado a un
osciloscopio (Figura 7). Divisor
Osciloscopio
5. Colocar el tornillo en cero. Girar el tornillo de Láser
de haz
forma constante y lenta por un intervalo de
distancia pequeño (~0.25 𝑑𝑒 𝑣𝑢𝑒𝑙𝑡𝑎/ Espejo
𝑠𝑒𝑔𝑢𝑛𝑑𝑜) y observar en el osciloscopio el Espejo ajustable desplazable
patrón de interferencia detectado. Congelar la con tornillos.
pantalla utilizando el botón de "Run/Stop".
Con ayuda del "zoom" contar el número de Figura 7. Montaje con fotodetector y osciloscopio.
franjas de interferencia detectadas por el osciloscopio. Ver la distancia recorrida por el tornillo
y usando la ecuación (8) y el factor de corrección calcular la longitud de onda (con
incertidumbre) del láser (tomar en cuenta el factor de corrección). Realizar 6 tomas de datos
para tener un promedio.
6. Repetir el paso anterior con un láser de otro color y calcular su longitud de onda (con
incertidumbre).

REFERENCIAS.

[1] R.A. Serway, R.J. Beichner. Física para ciencias e ingeniería. 5° edición, McGraw-Hill. 2002.
[2] E. Hecht. Óptica. 3° edición. Addison Wesley. 2000.

|
104