10.

8 Dispersión fotográfica

La espectroscopia electromagnética implica la interacción de las ondas electromagnéticas

y la materia. Podemos usar todas las regiones del espectro electromagnético, y cada una

brinda información específica sobre un material. La Tabla 10.5 proporciona un resumen,

y las siguientes secciones tratan cada uno de los métodos con un poco más de detalle con

una aplicación específica a la cerámica. Una vez más, para comprender realmente cada

uno de los métodos que necesita para leer un texto especializado.

10.9 RAMAN Y ESPECTROSCOPIA IR.

La espectroscopia Raman e IR implican la dispersión de la luz. En la espectroscopia IR,

la luz es policromática y se acopla a los modos vibratorios en el sólido a través de los

momentos dipolares, que están asociados con la vibración. Estos modos de vibración

causan una caída en los espectros de transmisión o un pico en los espectros de absorción.

El rango de IR es de 0,78–1,000 mm (12,820–10 cm 1). La región donde se producen la

mayoría de los modos de vibración fundamentales, que es la más útil para la

caracterización de materiales, es de 2,5–25 mm (4,000–400 cm 1). Esto a veces se llama

la región del IR medio. La fuente de luz es una cerámica calentada (generalmente una

cerámica conductora o un calentador de alambre revestido con cerámica) que emite un

rango de frecuencias. ▪ Espectroscopia: el arte de usar un espectroscopio ▪ Espectrometría:

el acto de usar un espectroscopio

Una variante importante es el espectrómetro FTIR. Las principales ventajas de FTIR son

que es mucho más rápido porque mide todas las frecuencias simultáneamente y es más

sensible que los espectrómetros de dispersión de infrarrojos.

El componente clave de un FTIR es el interferómetro, que puede entenderse considerando

el interferómetro de Michelson que se muestra en la Figura 10.17. Una viga paralela

dirigida desde la fuente se divide en Bs, por lo que el 50% de la luz se transmite y refleja

de nuevo por el espejo MF, y el resto se refleja en Bs y luego nuevamente en MM. Los

haces se recombinan en Bs. El haz recombinado muestra una interferencia constructiva o

destructiva que depende de la diferencia en las longitudes de camino Bs a MF y Bs a MM.

A medida que M M se mueve suavemente hacia o lejos de Bs, el detector ve una señal

que se altera en intensidad. Si el haz recombinado de Bs pasa a través de una muestra

antes de llegar al detector, las absorciones de muestra aparecen como huecos en la

distribución de frecuencia. La compleja distribución de intensidad recibida por el detector

es transformada por Fourier por una computadora para producir un espectro de absorción.

Los espectros de infrarrojos se emiten en forma de gráficos de intensidad (porcentaje de

transmitancia,% T o absorbancia (A) versus energía (en julios), frecuencia (en hercios),

longitud de onda (en micrómetros) o número de onda (por centímetro)) . Se prefiere el

uso de wavenumber, pero algunas de las fuentes de referencia estándar de los espectros

IR utilizan la longitud de onda. FTIR se puede utilizar para determinar el contenido de

oxígeno en el silicio. La banda de estiramiento de Si – O se produce a 1,105 cm 1, y a

partir de la intensidad de pico, la concentración de oxígeno se puede determinar utilizando

la norma ASTM F 121. Los espectros de absorción FTIR en la Figura 10.18 son de

Li0.1Mn2O4 después de calentar durante 8 horas a 250ºC. C y 18 h a 300 c. Estos FTIR

los distinguen fácilmente del óxido binario MnO2. En la espectroscopia Raman, la luz es

casi monocromática y generalmente está en el rango visible. La fuente de luz es un láser

(por ejemplo, un láser de diodo de 50 mW a 785 nm). La espectroscopia Raman se ha

convertido en una herramienta de rutina para explorar la estructura y las propiedades

químicas de los materiales. Puede proporcionar más información que la espectroscopia

IR. Hay tres tipos de señales en un experimento Raman típico, como se ilustra en la Figura

10.19.