Instituto Tecnológico de Chihuahua: Perfilómetro de Relieve de Superficies Por Proyección de Franjas

Instituto Tecnológico
de Chihuahua
Perfilómetro de Relieve de Superficies

por Proyección de Franjas
Prototipo de Laboratorio
Proyecto DGEST 622.07-P

Perfilometría tridimensional de objetos sólidos aplicando técnicas
de barrido de patrones láser
Reporte Técnico
Dra. Didia Patricia Salas Peimbert
Dr. Gerardo Trujillo Schiaffino
Dr. Saúl Almazán Cuéllar
M.C. Luis Francisco Corral Martínez
Ing. Laura de la Rosa Molina
Julio, 2008.

Proyecto DGEST 622.07-P Perfilómetro de Relieve de Superficies por Proyección de Franjas
FUNDAMENTOS TEORICOS
ANTECEDENTES
En la actualidad, existe un gran número de objetos, los cuales están diseñados con
formas sumamente complejas que son imposibles de describir mediante simples
ecuaciones matemáticas (por ejemplo un automóvil, teléfono, reloj, bota de esquiar,
asiento, etc.). Es por eso que muchos de los productos fabricados en serie parten de
un prototipo o modelo único que sirve de patrón para la producción. De aquí nace lo
que se denomina ingeniería inversa, la cual debido a sus orígenes podría pensarse que
su única aplicación es el copiar piezas, sin embargo, sus aplicaciones son aún mas
amplias: ingeniería de producto, inspección dimensional, control de calidad,
aplicaciones avanzadas de ingeniería, medicina, arte, restauración, comercio
electrónico y multimedia por mencionar algunas.
De la ingeniería inversa se derivan las técnicas de digitalización, que son

clasificadas en dos grandes grupos: sistemas de contacto (digitalizadores mecánicos) y
de no contacto (digitalizadores de luz estructurada). [1]
Técnicas de contacto
Los sistemas de contacto miden la geometría del objeto mediante contacto físico.
Estos digitalizadores se usan en la fabricación de calzado, verificación de piezas
industriales, entre otras y su precisión en los resultados obtenidos es alta. Sin
embargo, presentan el problema de tener que colocar un puntero sobre cada punto que
se pretende digitalizar. Para ello, la superficie debe ser lo suficientemente rígida para
evitar ser deformada al contacto, por lo que reconstruir grandes muestras resulta
bastante difícil. Además, la velocidad de adquisición de los datos es muy lenta.
Ejemplos de este tipo de sistema son las máquinas de medición por coordenadas
(MMC), que consisten en instrumentos de medición con los cuales se pueden medir
características geométricas tridimensionales de objetos en general, véase la figura 1.
Instituto Tecnológico de Chihuahua 1 División de Estudios de Posgrado e Investigación

a) b)
Fig. 1. Máquinas de Medición por Coordenadas. a) Palpador localizado en las coordenada [8, 9,3]. b)
Origen de referencia para las mediciones.
Su función es la extracción de la geometría de piezas y lo hace utilizando distintas

puntas de prueba: de punto, línea, plano, círculo, cilindro, cono, esfera y toroide. Con
estos elementos puede hacerse la medición completa de una pieza [2]. Véase la figura
2.
a) b)
Fig. 2. Tipos de puntas de prueba para la extracción de la geometría de piezas. a) Estrella y línea, b)
Círculo y cilindro.
En la actualidad existen una gran cantidad de aplicaciones. Un ejemplo de ello es la

medición de la parrilla de un automóvil utilizando un sistema MMC tipo brazo con
alcance de medición de 4000 mm x 2500 mm x 2000 mm, véase la figura 3. En esta

configuración, el eje X queda horizontal y paralelo a lo largo de auto y se relaciona con

el largo del automóvil, el eje Z es la columna que se relaciona con la altura y el eje Y es
el brazo que recorre el ancho del automóvil. Debido a su alcance de medición, esta
máquina puede medir al automóvil por partes o como un todo, es decir; completamente
armado. [3]
Fig. 3. Medición de la parilla de un automóvil usando un sistema MMC.
Técnicas de no contacto
Las técnicas de no contacto se caracterizan por contar con un emisor (de luz o
ultrasonido) y un receptor. Conociendo las direcciones de las ondas emitida y reflejada
por un punto del objeto, se logra conocer la distancia y por lo tanto se obtiene la
profundidad del punto.
A continuación se mencionan algunas de las técnicas más importantes, cuya

principal ventaja es que cuentan con una velocidad de adquisición de datos muy
superior a las de los digitalizadores de contacto.
Técnicas acústicas
Los sistemas de no contacto acústicos funcionan bajo el principio de las ondas
sonoras donde el sonido es producido por un movimiento vibratorio de las moléculas de
una sustancia elástica. La energía mecánica de propagación del sonido se absorbe en
el medio por el cual se propaga y este puede ser gaseoso, líquido o sólido. [4]

Entre los distintos tipos de sistemas de no contacto acústicos, destacan los sistemas
ultrasónicos donde una vibración mecánica (con un rango de frecuencia mayor al
detectado por el oído humano) es conducida a través de un medio físico, orientada,
registrada y medida en Hertz con ayuda de un dispositivo, véase la figura 4.
Fig. 4. Ejemplo de un en robot móvil con sistema ultrasónico.
Algunas de las aplicaciones de los sistemas ultrasónicos son: se emplean en robots

móviles, en construcción de mapas, detección y caracterización de discontinuidades,
medición de espesores extensión y grado de corrosión. Tienen como ventajas: una
mayor exactitud al determinar la posición de las discontinuidades internas estimando
sus dimensiones, orientación y naturaleza, una alta sensibilidad para detectar
discontinuidades pequeñas y una buena resolución que permite diferenciar dos
discontinuidades próximas entre si.
Sus limitaciones son: baja velocidad de inspección cuando se emplean métodos

manuales, dificultad para inspeccionar piezas con geometría compleja de espesores
muy delgados o de configuración irregular, detección o evaluación de discontinuidades
cercanas a la superficie sobre la que se introduce el ultrasonido, alto costo del equipo y
además; requiere de personal con preparación técnica y gran experiencia para su
control.

Técnicas ópticas
Los sistemas ópticos se fundamentan en el cálculo de la profundidad y constan de al
menos un emisor de luz y un receptor. Conociendo la dirección del rayo emitido así
como la dirección del rayo reflejado, se obtiene por triangulación las dimensiones de las
aristas y con ello se puede conocer la altura o profundidad del punto inspeccionado,
véase la figura 5.
Fig. 5. Sistema óptico por triangulación.
En la actualidad, algunas de las técnicas de reconstrucción de objetos en 3-D son:

proyección de una línea láser y proyección de franjas utilizando luz blanca véase la
figura 6; siendo esta última, la técnica utilizada en el presente trabajo.
Estos digitalizadores no dañan las superficies de prueba, su velocidad para la

adquisición de los datos es muy superior a la de los digitalizadores de contacto y son
muy útiles en la industria, biomedicina, etc.

a) b)
Fig. 6. Técnicas de no contacto para la reconstrucción 3D. a) Proyección de una línea láser.
b) Proyección de franjas (luz blanca).
Proyección de una línea láser
La técnica de proyección de una línea láser para detección 3D de objetos, es muy

utilizada en aplicaciones industriales. La geometría de este sistema óptico se muestra
en la figura 7. En ella se puede observar como el láser emite y proyecta una línea de
luz sobre la superficie del objeto. Esta línea es reflejada por el mismo y capturada por
una cámara CCD. El objeto de prueba se encuentra colocado sobre una base giratoria
(puede ser lineal bajo otra geometría de arreglo) que permite que toda la superficie del
objeto sea barrida por la línea láser. Cada vez que la línea es deformada por el relieve
del objeto una imagen es capturada. De las imágenes capturadas se obtiene la
información para la reconstrucción del objeto.[6] Los resultados obtenidos con este tipo
de proyección resultan ser muy precisos, pero la reconstrucción digital es más lenta
que la proporcionada por la técnica de proyección de franjas.

Fig. 7. Sistema óptico de reconstrucción 3D por proyección de una línea láser.
Proyección de franjas incoherentes
Una de las técnicas de iluminación más utilizada para adquirir la información

tridimensional de un objeto consiste en proyectar un patrón de franjas o rejilla
sinusoidal (rejilla sintética) sobre el objeto. La geometría del arreglo experimental utiliza
un proyector de luz blanca y una cámara CCD como se muestra en la figura 8. Las
franjas deformadas por el objeto son capturadas por la cámara, digitalizadas y
utilizadas en la reconstrucción del mismo.
La parte fundamental de la proyección de franjas para la reconstrucción

tridimensional de objetos es el cálculo de fase, el cual está basado en la detección de
la fase del patrón de franjas [7]. Este análisis proporciona mapas de fase discontinuos,
por lo que se hace necesario utilizar algoritmos como la Transformada de Fourier o
Corrimiento de Fase (Phase Stepping) para su interpretación. Este último algoritmo
permite determinar la fase del objeto a partir de N imágenes digitalizadas en intensidad
luminosa, al cambiar regularmente la fase (cierta cantidad conocida) en un intervalo de
2π.
Los principales inconvenientes del algoritmo de corrimiento de fase son: la

influencia de la variación del fondo continuo y la no linealidad del sistema de

Proyecto DGEST
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erfilómetro de Relieve
R de Sup
perficies por Prroyección de Frranjas
desplaza
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Fig.8
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ptico de recon
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ón de franjas.
Rejilla cosenoidal
c l
Una rejilla line

eal puede ser desccrita como una transmitancia cosenoidal de
frecuenccia constan
nte. La siguiente ecuacción representa este tiipo de rejilla
a
2π
S1 ( x, y ) = a + a cos(
c x) (1)
P
Dond
de P es el periodo
p de la rejilla y donde
d dad o amplitud de la onda,
a ess la intensid o
así tamb
bién determ
mina el conttraste de la misma. La
a principal aplicación
a d la rejilla es la
de
Instituto Te
ecnológico de Chihuahua
C 8 Divvisión de Estud
dios de Posgra
ado e Investigacción

medición de la fase modulada. Esto significa que la rejilla dada por la ecuación (1)
también puede ser expresada como:
⎛x ⎞
S 2 ( x, y ) = a + a cos 2π ⎜⎜ + ψ ( x) ⎟⎟ (2)
⎝p ⎠
Donde ψ(x) es la función de modulación y es equivalente al desplazamiento de la

rejilla lineal u(x), está dividida por el periodo total de la rejilla p. [12]
u ( x)
ψ ( x) = (3)
p

FUNDAMENTOS DE APOYO
Dispositivos utilizados
Los dispositivos utilizados son un proyector para computadora (PC), una cámara
CCD, una pantalla de proyección color blanca o mater y una computadora para su
procesamiento.
Proyector para computadora, modelo Epson EMP-S3, con sistema de proyección

Epson 3LCD advanced imaging technology, el cual permite mostrar el patrón de franjas
generado sintéticamente en la PC, vea la figura 9.
Fig 9. Proyector Epson EMP-S3.
Para la captura de imágenes se utilizó una cámara CCD modelo LCL-902C de la

compañía Watec America Corp (monocromática, 640x480 píxeles, formato 2/3 plg.
8.8x6.6 mm, formato de salida rs170), vea la figura 10.
Fig.10 Cámara CCD

La pantalla de proyección se utiliza para definir un plano de referencia (PR), útil en la

reconstrucción del objeto bajo prueba, vea la figura 11.
Fig. 11. Distintas vistas de la pantalla de proyección y colocado sobre el PR, el objeto bajo prueba.
Para el procesamiento se empleo el software Labview y para la interfaz se utiliza una

tarjeta de adquisición de datos PCI – 1405 de un canal, vea la figura 12.
a) b)
Fig. 12 a) software desarrollado en labview, b) Tarjeta PCI-1405.

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Procediimiento im
mplementad
do
Para lograr la re
econstruccción tridimensional deben alinearse los eje es ópticos de
d la
cámara CCD y los s del proyector, una vez
v realizad do lo anterrior se coloca el objetto de
prueba sobre el plano
p de reeferencia e inciden la
as franjas sobre él, las cuales son
dos por la cámara.
capturad c
La fig
gura 13 mue ototipo implementado para la recconstrucción
estra el pro n tridimensional
de un ob
bjeto solido
o.
Fig. 13. Distintas visttas del prototiipo implemen

ntado en la reconstrucción 3D.
Instituto Te
C 1
12 D
División de Estu
udios de Posgrrado e Investigación

DESARROLLO DEL PROTOTIPO
INTRODUCCION
Actualmente la reconstrucción 3D es el proceso mediante el cual, objetos reales, son

reproducidos atreves de una computadora (PC), que mantiene sus características
físicas (dimensiones, volumen y forma), para lograr recuperar la información
tridimensional del objeto, existen diferentes métodos ópticos, dentro de los cuales se
encuentran los de luz estructurada.
La técnica utilizada para recuperar la extracción de los datos 3D, es por medio de la
técnica de proyección de franjas que se basa en la captura de imágenes con la
intensión de obtener una réplica digital de un objeto real. Y para lograr tener los
resultados deseados se utilizan los algoritmos de corrimiento de fase, desenvolvimiento
de fase y determinación de la altura asociada al mapa de fase desenvuelto. En este
último paso se toma en cuenta la geometría del sistema óptico para la obtención de la
topografía del objeto.
Configuración del sistema óptico
La figura 14 muestra el montaje óptico, que permite obtener la topografía del objeto
y la figura 15 muestra el dispositivo implementado. La superficie es entonces iluminada
incoherentemente con una rejilla sinusoidal generada sintéticamente y observada por
una cámara CCD.
Para la proyección de la rejilla sintética se utilizó un proyector para computadora, ya

que permite flexibilidad en el diseño de las rejillas proyectadas, modelo Epson EMP-S3,
con sistema de proyección Epson 3LCD advanced imaging technology, así mismo para
la captura de imágenes se utilizó una cámara CCD modelo (monocromática, 640x480
píxeles, formato 2/3 plg. 8.8x6.6 mm, formato de salida rs170).

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4. Sistema ópttico
Fig. 14
1 Montaje im
Fig. 15. mplementado en el sistema
a.
Instituto Te
C 1
14 D
División de Estu
udios de Posgrrado e Investigación

Extracción de información 3D, con la generación del patrón de la rejilla con perfil
de intensidad cosenoidal
Para lograr adquirir la información del objeto bajo prueba, se genera un patrón de
franjas con un perfil de intensidad cosenoidal sintético, mediante una computadora
(PC), utilizando el siguiente algoritmo:
2π
S ( x, y ) = [ a ( x, y ) + b( x, y ) cos[( x * ) + φ ( x, y )]] (4)
Po
Donde:
a (x,y)= Plano de referencia
b (x,y) =Amplitud de la onda.
Po= Periodo espacial del patrón de franjas.
Ø= Representa el desplazamiento de la fase inicial, del patrón de franjas proyectado

sobre el objeto.
Desarrollo de software para el despliegue de la rejilla (sinusoidal)
Para simplificar el análisis del desarrollo del patrón de franjas se analizó con
distintos parámetros el algoritmo de la rejilla sinusoidal ecuación (6.1) con la finalidad
establecer los valores adecuados a utilizar en nuestro arreglo experimental.
Se implementó el algoritmo de la función cosenoidal utilizando los siguientes

parámetros: plano de referencia a=0; amplitud de onda b=1; periodo espacial Po=50 y
desplazamiento lateral del patrón de franjas θ= 0; dando como resultado la onda, de la
figura 16.

Fig. 16. Función cosenoidal.
El patrón de franjas o rejilla cosenoidal se procesó en tonos de gris ya que fue

necesario trabajar los parámetros en niveles de intensidad, se estableció un rango de 0
a 255, por tratarse de una imagen de mapas de bits (bmp). Lo anterior obliga a
modificar los parámetros de la amplitud y el plano de referencia de la onda cosenoidal,
ver la figura 17.
Fig. 17. Parámetros de onda cosenoidal en grafica xy, con amplitud b= 127.5 y plano de referencia
a=127.5.

Con los parámetros establecidos en la gráfica xy, se generó el patrón de la rejilla

cosenoidal en una gráfica de píxeles en visión, resultando el patrón de franjas a utilizar
en el arreglo experimental de la figura 18.
Fig. 18. Patrón de rejilla sinusoidal en gráfica de visión, con plano de referencia a= 127.5, Amplitud de la
onda b= 127.5, Periodo espacial Po= 31.03, fase φ= 90º.
Se puede observar el patrón de franjas cosenoidal en la figura 19, que se estará

proyectando sobre los objetos de prueba.

Fig. 19. Patrón de franjas cosenoidales útil en la proyección.
Proceso de reconstrucción 3D.
En general el desarrollo del sistema buscó llegar a la topografía del objeto

(reconstrucción 3D), la cual se obtiene a través de la siguiente ecuación:
φ Po
z= * (5)
2π senβ
Donde:
φ =fase (profundidad del objeto de prueba)
β = ángulo entre el proyector y cámara
Antes de emplear la ecuación 5 es necesario calcular la fase φ , utilizando el método

de desplazamiento de fase de “4” pasos, que se aplica a la rejilla sinusoidal generada
sintéticamente, se capturan y graban 4 imágenes de franjas consecutivas, agregando
π
un desplazamiento de entre ellas.
2

Cabe mencionar que el desplazamiento de fase de la ecuación 6 se aplica de

manera independiente a la rejilla de referencia y a la rejilla sobre el objeto de prueba.
S1 ( x , y ) = [a + b cos(φ )]
π
S 2( x , y ) = [a + b cos(φ + ]
2 (6)
S 3( x , y ) = [a + b cos(φ + π ]
3π
S 4( x , y ) = [a + b cos(φ + ]
2
S(x,y) representa las matrices que contiene los datos de intensidad para las imágenes
con desplazamientos de fase 0, , , .
De cada una de las expresiones que se muestran en la ecuación 6 y utilizando

relación trigonométrica, tenemos la solución para la fase envuelta, se expresa de la
siguiente manera:
S2 − S4
(φ ) = tan −1 (− ) (7)
S1 − S 3
La diferencia de fase (ø), estará determinada por la tangente inversa, la cual toma
valores en el rango de (-π, π), por lo cual no es muy clara la información y es necesario
recurrir al desenvolvimiento de fase (unwrapping fase).
‐π
a) b)
Fig. 20. Resultados del desplazamiento de fase: a) Fase envuelta de la rejilla de referencia, b) Perfil de la
onda de referencia (π,-π).

El desenvolvimiento de fase de la ecuación 8, permite decodificar la información que

se encontraba en la fase envuelta, por lo que al momento del desarrollo tenemos como
resultado la fase, o dicho de otra manera conocemos la profundidad del objeto, útil para
el desarrollo de reconstrucción 3D de un objeto o topografía del objeto emplenado la
ecuación 5.
φ ( Xi, Yj) = φw( Xi, Yj) + 2πm( Xi, Yj) (8)
Donde
φw( Xi , Yj ) = Fase envuelta
m ( Xi , Yj ) =Tamaño del arreglo dimensional
φ ( Xi , Yj ) = Fase desenvuelta
a) b)
Fig 21. Resultados del desenvolvimiento de fase de la rejilla de referencia a) desenvolvimiento de fase,
b) perfil de onda.

RESULTADOS
El sistema óptico implementado en la reconstrucción 3D posee un campo de

observación de 82cm x 140cm, una ángulo de proyección de 30 grados y una
separación promedio entre franjas de 2,5cm. Para poder recuperar la topografía del
objeto (reconstrucción 3D) interviene fundamentalmente la geometría del montaje y
dando como resultado la ecuación 6.6.
φ Po
Z= *
2 * Π sen(α ) (9)
Donde
Z = Reconstrucción 3D.
φ = Fase recuperada por la desenvuelta (profundidad).
Po = Periodo promedio de la adquisición de franjas.
α = Angulo de proyección.
Cabe mencionar que la sensibilidad del método depende del ángulo de proyección α
e inversamente del paso promedio de Po de las franjas.
A grandes rasgos mostramos los resultados de cada etapa desarrollada y como

resulta la reconstrucción 3D de un objeto bajo estudio, vea la figura 22.

a) b) c)
Fig. 22. Etapas de la reconstrucción 3D de una cruz de cerámica: a) fase envuelta b) fase desenvuelta c)
reconstrucción 3D del objeto bajo prueba.
La figura 23 muestra un corazón de cerámica reconstruido en 3D, obtenida en una

gráfica tridimensional.
Fig. 23 Reconstrucción tridimensional de un corazón de cerámica, vista de perfil.

COMENTARIOS
Para establecer el ángulo de proyección adecuado, antes se tuvieron que hacer

algunos análisis y pruebas de distintos montajes sugeridos para la proyección de
franjas.
La adquisición y procesamiento se llevo a cabo mediante el software LABVIEW 8.2 de

National Instruments.
También es posible implementar algunos otros algoritmos de desplazamiento de fase

con los que posiblemente se puedan obtener diferentes resultados.

CONCLUSIONES
• Se logro el objetivo de implementar un sistema computacional para la

digitalización y reconstrucción tridimensional de objetos sólidos con superficies
continuas basadas en la técnica de proyección de franjas.
• Las mediciones de fase se realizaron mediante un algoritmo de desplazamiento
de fase de 4 pasos.
• La decodificación de altura se realizo mediante un algoritmo bidimensional de
desenvolvimiento de fase.
• El sistema desarrollado realiza mediciones sin contacto por lo cual el objeto bajo
prueba no sufre ningún daño.
• La alineación del sistema óptico (proyector, cámara, pantalla), resulta un factor
importante para reducir la incertidumbre en las mediciones topográficas
efectuadas.
• Si el objeto bajo prueba presenta discontinuidades es recomendable el uso de
una máscara para eliminar posibles errores.
• La resolución del sistema se puede variar al aumentar o disminuir la distancia de
la cámara CCD al plano de referencia.

REFERENCIAS
[1] A. Martínez, J.A. Rayas, J.M. Flores M., R. Rodríguez-Vera y D.

Donato Aguayo, “Técnicas Ópticas para el Contorneo de Superficies
Tridimensionales”, Revista Mexicana de Física, 51 (4), 431–436,
(2005).
[2] Connie Dotson. Roger Harlow. Richard L. Thompson, “Coordinate

measuring machines”, Cap. 17 en Fundamental of dimensional
metrology, Cuarta edition, pp. 525-546, Thomson Delmar Learning,
Canadá, (2003)
[3] Club Mexicano de Usuarios de Maquinas de Coordenadas
Disponible en http://www.cenam.mx/cmuc/Que%20son%20MMC.htm
[4] Sistemas de percepción Sónar: Sistema de Percepción Acústica
Disponible en
http://www.disa.bi.ehu.es/spanish/asignaturas/17223/SONAR.pdf
[5] Dr. Oded Kafri and Ilana Glatt, “The Physics of Moiré Metrology”, John
Wiley y Sons, New York, (1990)
[6] Dr. J. Apolinar Muñoz Rodríguez, “Avances en la Detección 3D por

Proyección de Una Línea de Luz”, Tesis para obtener el grado de
Doctor en Ciencias (Óptica), Centro de Investigaciones en Óptica,
León, Guanajuato, (Marzo 2001).
[7] Z.Perz, J.Meneses, “Aproximación Espacio – Temporal Para la Medida

Absoluta de la Forma 3D de un Objeto por Proyección de Franjas”,
Revista Colombiana de Física, Vol.38, No.2, (2006).
[8] M.C. Venustiano Soancatl Aguilar, “Recuperación de Información

Tridimensional Usando Luz Estructurada”, Tesis para obtener el grado

de Maestro en Ciencias, en la especialidad de Ciencias

Computacionales, Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y
Electrónica, Tonantzintla, Puebla, (Julio del 2003).
[9] Eugene Hetch “Optica” Cap. 3, tercera edición, Pearson Addisson

Wesley.
[10] Nociones básicas sobre la luz

Introducción: “Características de la energía electromagnética”
Disponible en http://www.difo.uah.es/curso/c03/cap03#c03-1
[11] Dr. Saúl Almazán, Apuntes de óptica física sección 1, pág. [1-5]
[12] Apuntes de óptica metrology sección 7 “moiré methods”. Triangulation

seccion 7.2 “sinusoidal grating” pag 173,174.

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Perfilómetro de Relieve de Superficies

Proyecto DGEST 622.07-P

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Una rejilla line

Donde ψ(x) es la función de modulación y es equivalente al desplazamiento de la

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Fig. 13. Distintas visttas del prototiipo implemen

DESARROLLO DEL PROTOTIPO

Actualmente la reconstrucción 3D es el proceso mediante el cual, objetos reales, son

Configuración del sistema óptico

Para la proyección de la rejilla sintética se utilizó un proyector para computadora, ya

Instituto Tecnológico de Chihuahua 13 División de Estudios de Posgrado e Investigación

a (x,y)= Plano de referencia

b (x,y) =Amplitud de la onda.

Po= Periodo espacial del patrón de franjas.

Ø= Representa el desplazamiento de la fase inicial, del patrón de franjas proyectado

Desarrollo de software para el despliegue de la rejilla (sinusoidal)

Se implementó el algoritmo de la función cosenoidal utilizando los siguientes

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Fig. 16. Función cosenoidal.

El patrón de franjas o rejilla cosenoidal se procesó en tonos de gris ya que fue

Instituto Tecnológico de Chihuahua 16 División de Estudios de Posgrado e Investigación

Con los parámetros establecidos en la gráfica xy, se generó el patrón de la rejilla

Se puede observar el patrón de franjas cosenoidal en la figura 19, que se estará

Instituto Tecnológico de Chihuahua 17 División de Estudios de Posgrado e Investigación

Fig. 19. Patrón de franjas cosenoidales útil en la proyección.

Proceso de reconstrucción 3D.

En general el desarrollo del sistema buscó llegar a la topografía del objeto