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DEPARTAMENTO DE TECNOLOGÍA.
CARRERA: INGENIERÍA INDUSTRIAL
CONTROL Estadístico de la calidad
42 E specificaciones
_ LE I 34
_
X=40,322 O bjetiv o 40
40
LE S 46
38 LCI=37,693
, 5 ,0 ,5 , 0 ,5 , 0 ,5 , 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 34 36 37 39 40 42 43 45
LCS=10,90
10
_
5 R=5,44
0 LCI=0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 35 40 45 50
Cp 0,93 Pp 0,96
40 Cpk 0,88 Ppk 0,91
G eneral
PPM 5699,90 Cpm 0,95
PPM 4279,11
35
Especificaciones
2 4 6 8 10
Muestra
𝑬𝑺 − 𝑬𝑰
𝑪𝑷 =
𝟔𝝈
𝟒𝟔 − 𝟑𝟒
𝑪𝑷 =
𝟔(𝟐. 𝟏𝟒𝟕)
𝑪𝑷 = 𝟎. 𝟗𝟑
𝟔𝝈
𝑪𝑹 =
𝑬𝑺 − 𝑬𝑰
𝟔(𝟐. 𝟏𝟒𝟕)
𝑪𝑹 =
𝟒𝟔 − 𝟑𝟒
𝑪𝑹 = 𝟏. 𝟎𝟕
𝝁−𝑵
𝑲= 𝑿𝟏𝟎𝟎
𝟏
𝟐 (𝑬𝑺 − 𝑬𝑰)
𝟑𝟗. 𝟗𝟗 − 𝟔𝟎
𝑲= 𝑿𝟏𝟎𝟎
𝟏
𝟐 (𝟒𝟔 − 𝟑𝟒)
𝑲 = −𝟑𝟑𝟑. 𝟓
𝝉 = √𝝈𝟐 + (𝝁 − 𝑵)𝟐
𝑬𝑺 − 𝑬𝑰
𝑪𝑴𝑷 =
𝟔𝝉
𝟒𝟔 − 𝟑𝟒
𝑪𝑴𝑷 =
𝟔(𝟐𝟎. 𝟏𝟐)
𝑪𝑴𝑷 = 𝟎. 𝟎𝟗%
40 E specificaciones
_ LE I 18
_
X=32,1 O bjetiv o 30
30
LE S 42
20 LCI=21,06
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 16 24 32 40 48
40 LCS=40,49
_
20 R=19,15
0 LCI=0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 40 60
Cp 0,49 Pp 0,50
30 Cpk 0,40 General Ppk 0,41
PPM 157921,05 Cpm 0,48
PPM 148418,59
10 Especificaciones
2 4 6 8 10
Muestra
𝟔𝝈
𝑪𝑹 =
𝑬𝑺 − 𝑬𝑰
𝟔(𝟖. 𝟐𝟑𝟐)
𝑪𝑹 =
𝟒𝟐 − 𝟏𝟖
𝑪𝑹 = 𝟐. 𝟎𝟔
𝝁 − 𝑬𝟏 𝑬𝑺 − 𝝁
𝑪𝑷𝑲 = 𝑴𝑰𝑵 [ , ]
𝟑𝝈 𝟑𝝈
𝟑𝟐. 𝟏 − 𝟏𝟖 𝟒𝟐 − 𝟑𝟐. 𝟏
𝑪𝑷𝑲 = 𝑴𝑰𝑵 [ , ]
𝟑(𝟖. 𝟐𝟑𝟐) 𝟑(𝟖. 𝟐𝟑𝟐)
𝑪𝑷𝑲 = [𝟎. 𝟓𝟕 , 𝟎. 𝟒𝟎]
𝝁−𝑵
𝑲= 𝑿𝟏𝟎𝟎
𝟏
𝟐 (𝑬𝑺 − 𝑬𝑰)
𝟑𝟐. 𝟏 − 𝟓𝟎
𝑲= 𝑿𝟏𝟎𝟎
𝟏
(𝟒𝟐 − 𝟏𝟖)
𝟐
𝑲 = −𝟏𝟒𝟗. 𝟏𝟔
𝝉 = √𝝈𝟐 + (𝝁 − 𝑵)𝟐
𝑬𝑺 − 𝑬𝑰
𝑪𝑴𝑷 =
𝟔𝝉
𝟒𝟐 − 𝟏𝟖
𝑪𝑴𝑷 =
𝟔(𝟏𝟗. 𝟕𝟎)
𝑪𝑴𝑷 = 𝟎. 𝟐𝟎%
Máquina 2
Muestras Datos
1 25 27 17 26 23
2 28 26 15 12 18
3 33 31 25 24 21
4 34 24 37 22 20
5 26 27 26 28 28
6 25 25 28 21 20
7 28 29 28 29 27
8 22 26 19 21 25
9 24 22 16 24 22
10 24 21 26 25 25
30
E specificaciones
_ LE I 18
_
25 X=24,5 O bjetiv o 30
LE S 42
20
LCI=18,74
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 12 18 24 30 36 42
20 LCS=21,13
_
10 R=9,99
0 LCI=0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 10 20 30 40
Cp 0,93 Pp 0,85
Cpk 0,50 G eneral Ppk 0,46
20 PPM 65124,78 Cpm 0,55
PPM 82652,50
10 Especificaciones
2 4 6 8 10
Muestra
𝑬𝑺 − 𝑬𝑰
𝑪𝑷 =
𝟔𝝈
𝟒𝟐 − 𝟏𝟖
𝑪𝑷 =
𝟔(𝟒. 𝟐𝟗𝟓)
𝑪𝑷 = 𝟎. 𝟗𝟑
𝟔𝝈
𝑪𝑹 =
𝑬𝑺 − 𝑬𝑰
𝟔(𝟒. 𝟐𝟗𝟓)
𝑪𝑹 =
𝟒𝟔 − 𝟑𝟒
𝑪𝑹 = 𝟐. 𝟏𝟓
𝝁−𝑵
𝑲= 𝑿𝟏𝟎𝟎
𝟏
𝟐 (𝑬𝑺 − 𝑬𝑰)
𝟐𝟒. 𝟓 − 𝟓𝟎
𝑲= 𝑿𝟏𝟎𝟎
𝟏
𝟐 (𝟒𝟐 − 𝟏𝟖)
𝑲 = −𝟐𝟏𝟐. 𝟓
𝝉 = √𝝈𝟐 + (𝝁 − 𝑵)𝟐
𝑬𝑺 − 𝑬𝑰
𝑪𝑴𝑷 =
𝟔𝝉
𝟒𝟐 − 𝟏𝟖
𝑪𝑴𝑷 =
𝟔(𝟐𝟓. 𝟖𝟓)
𝑪𝑴𝑷 = 𝟎. 𝟏𝟓%