7° Fluorescencia de Rayos X

Por

FERNANDEZ URBANO, YOEL

ESPECTROMETRÍA GE 545
TUIRO SALVADOR, MARÍA C.
 ¿CUÁL ES EL PRINCIPIO, LAS APLICACIONES Y EL SISTEMA BÁSICO EN EL MÉTODO DE
FLUORESCENCIA DE RAYOS X

La zona del espectro electromagnético comprendida entre 0.1 Å y 10 nm de longitud de

onda corresponde a las radiaciones X y, igual que en la radiación ultravioleta y visible, se
puede trabajar midiendo la radiación absorbida, emitida o difractada, originando las
siguientes técnicas:

Absorción de rayos X, muy utilizada en Medicina y en detección de fallos en piezas

metálicas.

Fluorescencia de rayos X, de amplia utilización en análisis cualitativo y semicuantitativo

de la mayoría de los elementos.

Difracción de rayos X, muy usada para identificar estructuras cristalinas de sólidos,

proporcionando información acerca de la colocación de las moléculas y átomos en un
cristal a partir de la ecuación de Bragg, nλ=2d.senω. Con ella es posible obtener importante
información en materiales tan diversos como minerales, cristales sintéticos y tejidos de
organismos vivos.

Desde el punto de vista analítico, el uso de la radiación X se circunscribe, prácticamente, a

la utilización del espectro de emisión originado cuando un átomo es activado por radiación
X procedente de otro (fluorescencia) o por interacción con partículas aceleradas
previamente, con energía suficiente para provocar la emisión de radiación en esa zona
espectral. Por ello, en este tema, se tratará, casi exclusivamente, de la fluorescencia de
rayos X.

PRINCIPIO:

Los electrones se encuentran en el átomo distribuidos en los distintos niveles y subniveles

de energía, si bombardeamos estos átomos con un haz de electrones o con fotones de rayos

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 X, una pequeña parte de la energía se invierte en la producción del espectro característico
de rayos X de los elementos que componen la muestra bombardeada. El proceso de
producción de este espectro característico puede esquematizarse del modo siguiente:

Excitación: el choque de un electrón o fotón X incidente con un electrón de las capas

internas del átomo, produce la expulsión de dicho electrón quedando el átomo en estado de
excitado.

Emisión: este átomo en estado excitado tiende a volver inmediatamente a su estado

fundamental, para lo cual se producen saltos de electrones de niveles más externos para
cubrir el hueco producido. En este proceso hay un desprendimiento de energía, igual a la
diferencia de energía de los niveles entre los que se produce el salto electrónico, en forma
de radiación electromagnética correspondiente a la región de rayos X.

Al ser, las energías de los distintos niveles electrónicos características para cada tipo de
átomos, la radiación X emitida será característica para cada de elemento, y, en principio, no
dependerá de la sustancia química en la que se encuentre, ya que, en general, estas
radiaciones están originadas por transiciones entre los niveles electrónicos internos, cuyas
energías no se ven afectadas por el tipo de enlace existente.

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 ESQUEMA DEL EQUIPO:

El esquema de un espectrómetro de fluorescencia de rayos X clásico o espectrómetro de

rayos X de dispersión de longitudes de onda, llamando así porque el espectro de
fluorescencia policromático emitido por la muestra al ser excitada por un haz de radiación
producido por un tubo de rayos X, es descompuesto en sus componentes monocromáticas
en función de sus longitudes de onda, al difractarse en un monocristal de espaciado
conocido. El haz difractado para cada posición angular del monocristal incide sobre un
detector, generalmente un detector de gas proporcional de flujo o de centelleo, que
convierte los fotones en impulsos eléctricos.

Luego con ayuda de la ley de Braggse podrá calcular la longitud de onda. Del análisis de
estas longitudes de onda se puede conocer la composición cualitativa de la muestra,
mientras que la medida de su intensidad nos da la composición cuantitativa.

En los últimos años ha tenido un gran desarrollo una variante de ésta, que es la
espectrometría de rayos X de dispersión de energías. Esta surge de la utilización de
semiconductores, principalmente de Si (Li), como detectores de los rayos X. La
relativamente elevada resolución de éstos (entre 160-180 eV) permite descomponer el

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 espectro de fluorescencia en sus componentes monocromáticas en función de la diferencia
entre sus energías. En este caso el propio detector actúa como agente separador.

En un espectrómetro de rayos X de dispersión de energías el detector recibe el espectro

total emitido por todos los elementos de la muestra a la vez. Para cada fotón de rayos X
incidente el detector genera un impulso eléctrico cuya altura será proporcional a la energía
del fotón. Los distintos impulsos eléctricos generados son separados y almacenados en
función de su valor con ayuda de un analizador de altura de impulsos multicanal.

APLICACIONES DE FRX

• Análisis de rocas y suelos

• Aleaciones ferrosas y no ferrosas

• Industria del cemento

• Materia prima y combustibles nucleares

• Aceites e industria química

Las diferentes partes del espectro electromagnético tienen efectos muy diferentes en la interacción
con la materia. Empezando con las ondas de baja frecuencia de radio, el cuerpo humano es bastante
transparente. A medida que nos desplazamos hacia arriba a través de las microondas y los
infrarrojos, hasta la luz visible, se absorben más y más fuertemente. En el rango inferior del
ultravioleta, todo el ultravioleta del Sol, es absorbido por una delgada capa de nuestra piel. Según
nos desplazamos hacia arriba, dentro de la región de rayos X del espectro, nos volvemos de nuevo
transparente, ya que la mayoría de los mecanismos de absorción han desaparecido. Entonces,
aunque solamente se absorbe una pequeña fracción de la radiación, estos son los eventos de
ionización mas violentos. Cada porción del espectro electromagnético, tiene las energías cuánticas
apropiadas para la excitación de ciertos tipos de procesos físicos. Los niveles de energía para todos
los procesos físicos en el nivel atómico y molecular, están cuantizados, y si no hay disponibles
cuantificados niveles de energía, con espaciamientos que respondan a la energía cuántica de la
radiación incidente, entonces, el material será transparente a esa radiación, y pasará a su través.

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 ¿CUÁL ES EL PRINCIPIO, EL ESQUEMA BÁSICO Y LAS APLICACIONES DEL MÉTODO DE
DIFRACTOMETRÍA DE RAYOS X?

PRINCIPIO BÁSICO

El fundamento de las técnicas de difracción se basa en la interacción de la estructura

cristalina de un sólido con una fuente de rayos X, esta estructura cristalina está presente en
muchos sólidos tanto naturales como artificiales y consiste en la repetición periódica de los
átomos o moléculas que forman este sólido en las tres direcciones del espacio.

A una distancia interplanar “d”y un angulo de difraccion θ, se cumplira la ley de Bragg

(2d.senθ = nλ) como cada familia de planos tiene una distancia d, vamos a detectar estos
planos a diferentes ángulos, y los resultados serán diferentes según la estructura de lo que
estemos midiendo, por lo que podemos caracterizar las fases que componen la muestra en
base a los diferentes “picos” de detección que son en realidad las reflexiones de los planos
de cada fase, para una rápida identificación se tienen tabulados los valores de las diferentes
fases en fichas y se comparan con los resultados obtenidos.

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 ESQUEMA DEL EQUIPO

Componentes:
 Fuente de alta tensión
 Tubos de rayos X
 Sistema de refrigeración con agua a presión
 Goniómetro
 Detector
 Analizador de pulsos
 Registrador y Microprocesador

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 Aplicaciones de DRX

La difracción de Rayos X es una técnica de caracterización muy útil, que nos proporciona
una información estructural muy detallada de estructuras epitaxiales. Es una técnica no
destructiva, analiza grandes áreas de la muestra, hasta una penetración del orden de 10 mm,
pero al mismo tiempo nos da información a escala atómica. Usando HRXRD se pueden
obtener espectros de difracción de estructuras periódicas (multicapas).
Se pueden hacer simulaciones con gran detalle, y comparar lo que se intentaba crecer con lo
que realmente se ha crecido, por lo que nos da un mejor entendimiento del método de
crecimiento en sí mismo. Actualmente se está usando el equipo de HRXRD para estudiar el
modo de crecimiento y la perfección estructural en muestras de GaAs, GaSb, LiNbO3,
superredes de InGaAs/GaAs, etc. Identificación de fases componentes utilizando fichas
ASTM. Otra gran aplicación de la difracción de Rayos X es la resolución de estructuras de
compuestos químicos, especialmente compuestos orgánicos

En investigación en nuevos materiales y productos en un amplio campo de diversas

actividades, tales como:

 Análisis de materias primas y productos finales en la industria cerámica.

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  Control de calidad en cementos, metales, etc.
 Análisis de muestras arqueológicas.
 Estudios de oxidación.
 Deposición de metales.
 Detección de concentración de iones, análisis de compuestos orgánicos.

¿Cómo se interpreta un difracto grama?

Obtenido el DIFRACTOGRAMA se determinan las distancias interplanares (usando la Ley

de Bragg) e intensidades relativas (área bajo el pico) de cada uno de los picos generados
por los distintos planos atómicos de los cristales que forman la muestra.

Las fichas de ASTM de difracción de polvos de compuestos naturales y artificiales de tipo

orgánico e inorgánico han sido compilados con información estructural, química, distancias
interplanares, intensidades relativas e indizado de manera que los datos obtenidos de
difracto gramas problemas pueden ser comparados para la identificación de los compuestos
que constituyen la muestra problema.

Para los fines analíticos el análisis cualitativo se realiza por comparación con las fichas
ASTM conocidas, y el análisis semicuantitativo y cuantitativo con estándares de fases
conocidas de manera que la matriz sea lo más cercano al de la muestra problema (curva de
calibración e interpolación).