Scribd Logo
Загрузить

Добро пожаловать в Scribd!

  • Lorentz Model Data Fitting in Lumerical

    Загружено:

    aqsaehsan
    11 просмотров1 страница
    Lumerical software can be used to fit Lorentz oscillator models to experimental data for amorphous silicon (a-Si:H). The software allows the user to define multiple Lorentz oscillators to model the dielectric function of a-Si:H over a wide spectral range. By adjusting the oscillator parameters such as amplitude, broadening, and resonance wavelength, the user can optimize the model fit to match transmission or reflection measurements on a-Si:H thin films.

    Исходное описание:

    Lorentz Model Data Fitting in Lumerical

    Оригинальное название

    Lorentz Model Data Fitting in Lumerical

    Авторское право

    © © All Rights Reserved

    Доступные форматы

    DOCX, PDF, TXT или читайте онлайн в Scribd

    Этот документ был вам полезен?

    Это неприемлемый материал?

    Пожаловаться на этот документ
    Lumerical software can be used to fit Lorentz oscillator models to experimental data for amorphous silicon (a-Si:H). The software allows the user to define multiple Lorentz oscillators to model the dielectric function of a-Si:H over a wide spectral range. By adjusting the oscillator parameters such as amplitude, broadening, and resonance wavelength, the user can optimize the model fit to match transmission or reflection measurements on a-Si:H thin films.

    Авторское право:

    © All Rights Reserved
    Скачайте в формате DOCX, PDF, TXT или читайте онлайн в Scribd
    Отметить как неприемлемый контент
    11 просмотров1 страница

    Lorentz Model Data Fitting in Lumerical

    Загружено:

    aqsaehsan
    Lumerical software can be used to fit Lorentz oscillator models to experimental data for amorphous silicon (a-Si:H). The software allows the user to define multiple Lorentz oscillators to model the dielectric function of a-Si:H over a wide spectral range. By adjusting the oscillator parameters such as amplitude, broadening, and resonance wavelength, the user can optimize the model fit to match transmission or reflection measurements on a-Si:H thin films.

    Авторское право:

    © All Rights Reserved
    Скачайте в формате DOCX, PDF, TXT или читайте онлайн в Scribd
    Отметить как неприемлемый контент
    из 1

    Lorentz Model Data Fitting in Lumerical for a-Si:H:

    Вам также может понравиться