LABORATORIO DE MATERIALES CERÁMICOS

MANUAL DE USUARIO SOFTWARE X´PERT-HIGHSCORE

Elaborado por:

John Dairo Henao Penenrey

Andrés Giovanni González H.

MEDELLIN

DICIEMBRE DE 2010
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SOFTWARE X´PERT-HIGHSCORE

El software X'Pert Highscore es una herramienta ideal para la identificación de

fases analizadas por DRX, realizando un análisis semi-cuantitativo, de conglomerados, y el
tratamiento de patrones y gráficos. El algoritmo de búsqueda en X'Pert Highscore combina los
datos del perfil de los picos de difracción en un solo paso de búsqueda, lo cual produce
resultados muy fiables.

Características Principales :

Realiza un análisis de agrupamiento, lo cual clasifica automáticamente todos los

análisis de un experimento en grupos estrechamente relacionados, y marca la
exploración más representativa de cada grupo. Esto es útil para los experimentos en
condiciones especiales, muestras de minería y la cartografía de suelos, también
para controlar la uniformidad de los productos industriales.

Restringe los elementos de búsqueda o amplia según los datos que se deseen buscar
en software.

Integra completamente las medidas y derivados de datos, gráficos y resultados.

Posee una opción de referencia de bases de datos antiguas y nuevas que contienen
información de los patrones de referencia.

En este tutorial se explicará paso a paso la organización y el ajuste de los parámetros y datos
para el análisis de un patrón de difracción de rayos X. La muestra a analizar en el software
debe ser previamente sometida a un equipo de difracción de rayos X. El equipo debe generar
una serie de datos, los cuales se deben importar al software X'Pert Highscore ejecutando varios
pasos, con el fin de comparar sus resultados con referencia a la base de datos del ICDD
(Centro Internacional para la difracción de datos). Se hace la aclaración que el software
compara los patrones, más no analiza un patrón desconocido.

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PROCEDIMIENTO

1. Si los datos están en Excel se deben seleccionar y ordenar de menor a mayor,

posteriormente se deben completar con la misma cantidad de decimales. (si están en
otra aplicación se debe realizar el mismo procedimiento).

2. Se seleccionan los datos y se copian en el block de notas, donde se realiza el cambio

de comas por puntos en la opción reemplazar.

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3. Se debe guardar el archivo con la extensión .asc , para que lo reconozca el software.

4. Abrir el software X´pert Highscore, en el menú inicio, todos los programas.

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5. Abrir el archivo en la barra de menú ubicada en la parte superior, menu - file, opción
Open y se busca el archivo.

6. Posteriormente en el menú de herramientas ubicado en la zona Izquierda de la imagen nos

ubicamos en la opción Linear y-axis, y oprimimos el cursor sobre esta, lo cual nos genera
la grafica igual a la de Excel.

7. Luego se vamos a la barra de menú, a la opción treatment y se le da en determinar

background.

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8. Al aparecer la ventana de determinar background mostrará el valor granularuity y

bending factor, como recomendación se debe utilizar los valores 22 – 10. Si desea
cambiarlos puede ingresar los valores y oprimir aceptar.

9. Ir a la menú treatment y buscar la opción search peaks. Aparecerá una ventana donde
se podrán ingresar los valores máximos y mínimos de los picos para encontrar los datos,
entre mas alto el valor menos picos le va a mostrar, por lo que lo recomendado es entre 1
y 10. Esto depende del espectro. Luego debe presionar el cursor en search peaks y
aceptar.
Valor entre 1-10,
determina la cantidad
de picos a analizar. 10
o más muestra menor
cantidad.

10. Luego ir a la barra de menú - análisis, opción search and match, en la cual aparecerá una
ventana con 3 pestañas, se debe presionar en la pestaña de restricciones

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11. Se elige la restricción dependiendo de lo que se esté analizando, si son minerales se

coloca solo minerales etc.

12. Para restringir los elementos, se va a la pestaña de restricciones y le da en la opción de

edit restricciones y aparece la opción para ver los elementos de la tabla periódica.

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13. Se le da correr al programa en search, el inicia la búsqueda y habilita la pestaña patern

en la cual se puede hacer la comparación de los picos de difracción, selecciona los
minerales que cree que están presentes en el patrón y por comparación se descartan los
picos.
Arrastrando los patrones y
seleccionándolos en la casilla
“visible” aparecerá el espectro
del mineral que desea comparar

Patrones de referencia para

comparar con el espectro dado

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Por ejemplo para el caso anterior donde el patrón de comparación seleccionado fue el cuarzo, al
abrir la pestaña patern, se ve el patrón de difracción del material y el patrón de referencia del
mineral a analizar, en este caso el cuarzo, como se muestra en la figura para los picos
enumerados 1,2,3,4,5,6 , los picos para el cuarzo concuerdan muy bien con los del material
analizado, por lo que se concluye que este mineral está presente en el material analizado por
difracción.

Otra opción importante es que cuando se oprime el cursor sobre cualquiera de los minerales
analizados este muestra los datos cristalográficos y de la difracción de referencia.

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REFERENCIA BIBLIOGRÁFICA

• www.panalytical.com. Consultado 15 de diciembre de 2010.

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