Вы находитесь на странице: 1из 52

Федеральное агентство железнодорожного транспорта

Уральский государственный университет путей сообщения


Кафедра «Автоматика, телемеханика и связь
на железнодорожном транспорте»

В. Н. Коваленко

СИНТЕЗ ПРОВЕРЯЮЩИХ И ДИАГНОСТИЧЕСКИХ


ТЕСТОВ ДЛЯ УСТРОЙСТВ ЖЕЛЕЗНОДОРОЖНОЙ
АВТОМАТИКИ, ТЕЛЕМЕХАНИКИ И СВЯЗИ

Методические указания и задания


к курсовой работе
по дисциплине «Основы технической диагностики»
для студентов специальности
190901.65 «Системы обеспечения движения поездов»
специализаций «Автоматика и телемеханика
на железнодорожном транспорте»
и «Телекоммуникационные системы и сети
железнодорожного транспорта»
всех форм обучения

Екатеринбург
УрГУПС
2016
УДК 658.562–192: 621.317
К56

Коваленко, В. Н.
К56 Синтез проверяющих и диагностических тестов для устройств же-
лезнодорожной автоматики, телемеханики и связи : метод. указания. –
Екатеринбург : УрГУПС, 2016. – 52 с.

В методических указаниях рассмотрены вопросы построения про-
веряющих и диагностических тестов для непрерывных и дискретных
систем, реализованных на релейно-контактных схемах и логических
элементах.
Методические указания предназначены для студентов всех форм
обучения электротехнических специальностей и могут быть полезны
инженерно-техническим работникам и аспирантам.
УДК 658.562–192: 621.317

Издано по решению
редакционно-издательского совета университета

Автор: В. Н. Коваленко, доцент кафедры «Автоматика, теле-


механика и связь на ж.д. транспорте», канд. техн. наук,
доцент, УрГУПС
Рецензенты: Б . С. Сергеев, профессор, д-р техн. наук, УрГУПС
С. А. Щиголев, канд. техн. наук, УО ВНИИЖТ

Учебное издание

Коваленко Владимир Николаевич

СИНТЕЗ ПРОВЕРЯЮЩИХ И ДИАГНОСТИЧЕСКИХ


ТЕСТОВ ДЛЯ УСТРОЙСТВ ЖЕЛЕЗНОДОРОЖНОЙ
АВТОМАТИКИ, ТЕЛЕМЕХАНИКИ И СВЯЗИ

Редактор С. И. Семухина
Верстка Н. А. Журавлевой

Подписано в печать 04.03.2016. Формат 60х84 1/16.


Усл. печ. л. 3,0. Тираж 45 экз. Заказ 90.

УрГУПС
620034, Екатеринбург, ул. Колмогорова, 66

© Уральский государственный университет


путей сообщения (УрГУПС), 2016
Оглавление

Введение............................................................................................................4
1. Системы диагноза и тесты.............................................................................6
2. Построение проверяющего и диагностических тестов
для непрерывной системы............................................................................ 10
2.1. Построение проверяющего теста для непрерывной системы
с использованием таблиц покрытий ................................................ 10
2.2. Построение диагностических тестов для непрерывной системы
с использованием таблиц покрытий................................................. 16
2.3. Построение проверяющего теста для непрерывной системы c ис-
пользованием аппарата булевых функций....................................... 19
2.4. Построение диагностических тестов для непрерывной системы
с использованием аппарата булевых функций................................. 22
3. Построение тестов для объекта диагноза, реализованного на реле............. 26
3.1. Построение тестов для комбинационной релейно-контактной
схемы ................................................................................................. 26
3.2. Метод цепей и сечений...................................................................... 31
4. Построение тестов для комбинационных схем на логических элементах.... 39
Библиографический список ............................................................................ 47
ПРИЛОЖЕНИЕ А......................................................................................... 48
ПРИЛОЖЕНИЕ Б......................................................................................... 52

3
Введение

Устройства железнодорожной автоматики и телемеханики явля-


ются одним из элементов, определяющих пропускную и провозную
способность железнодорожных линий, обеспечивая при этом без-
опасность движения поездов, поэтому работа их должна быть на-
дежной, безопасной и бесперебойной. Однако с течением времени
в них возникают отказы элементов, которые могут иметь как ка-
тастрофический, так и параметрический характер, но они так или
иначе могут уменьшить пропускную способность участка или же
в наихудшем случае создать аварийную ситуацию. Поэтому решение
задач технической диагностики (прогноза, диагноза и генеза) в этих
устройствах позволяет повысить надежность, безопасность и бес-
перебойность их функционирования.
Основной целью технической диагностики является организация
процессов определения технического состояния объектов. При изго-
товлении, эксплуатации, ремонте и хранении технических объектов
необходима проверка их исправности, работоспособности, правиль-
ности функционирования и поиска неисправностей.
Объекты диагноза могут быть разделены на два класса:
– объекты с непрерывно изменяющимися параметрами;
– объекты с дискретно изменяющимися параметрами.
Класс дискретных объектов может быть, в свою очередь, поделен
на два подкласса: дискретные комбинационные объекты и дискрет-
ные объекты с памятью.
Такая классификация позволяет выделить общие, существен-
ные с точки зрения технической диагностики свойства объектов,
и в значительной мере абстрагироваться от специфических свойств
объекта, которые определяются, например, физическими или энер-
гетическими характеристиками, их назначением, условиями при-
менения и т. д. Специфические свойства объектов учитываются на
этапах, предшествующих построению описывающих эти объекты
математических моделей, а также на этапе физической реализации
технических средств диагноза.
Техническая диагностика решает три типа задач по определению
технического состояния объектов. К первому типу относятся задачи
по определению состояния, в котором находится объект в настоящий
момент времени. Это – задачи диагноза. Задачами второго типа явля-

4
ются задачи по предсказанию состояния, в котором окажется объект
в будущий момент времени. Это – задачи прогноза. К третьему типу
относятся задачи определения состояния, в котором находился объект
в предыдущий момент времени, т. е. в прошлом. Это – задачи генеза.
В «жизни» любого объекта всегда можно выделить три этапа: этап
производства, этап эксплуатации и этап хранения или нахождения
в резерве.
Для любого объекта на каждом этапе его жизненного цикла за-
даются определенные технические требования. Желательно, чтобы
объект всегда соответствовал этим требованиям, но в объекте могут
возникать неисправности, нарушающие эти требования. Тогда задача
состоит в том, чтобы создать первоначально (на этапе производства)
или восстановить нарушенное неисправностью (на этапах эксплуата-
ции или хранения) соответствия объекта техническим требованиям.
Решение этой задачи невозможно без непрерывного или эпизодиче-
ского диагноза состояния объекта.
Задача проверки исправности объекта возникает на этапах произ-
водства, ремонта и хранения. Решение задачи проверки исправности
позволяет узнать, содержит ли изготовленный объект дефектные
компоненты, а его монтаж – ошибки. При ремонте проверка ис-
правности позволяет убедиться, что действительно устранены все
имеющиеся в объекте неисправности, а в условиях хранения – что
не возникли какие-либо неисправности за время хранения объекта.
Задача проверки работоспособности объекта возникает на этапе
эксплуатации: при профилактике объекта, перед применением его по
назначению или после такого применения в ряде случаев необходимо
убеждаться в том, что объект в состоянии выполнять все функции,
предусмотренные его рабочим алгоритмом функционирования. Про-
верка работоспособности может быть менее полной, чем проверка
исправности, т. е. может оставлять необнаруженными неисправности,
не препятствующие применению объекта по назначению. Например,
резервированный объект может быть работоспособным, несмотря на
наличие неисправностей в резервных компонентах или связях.
Для решения задач технического диагноза состояния устройств суще-
ствуют две системы технического диагноза – это система тестового диа-
гноза и система функционального диагноза. В данной работе рассмотрен
один из основополагающих вопросов построения системы тестового
диагноза – это синтез минимальных проверяющих и диагностических
тестов для непрерывных систем, комбинационных релейно-контактных
схем и комбинационных схем, реализованных на логических элементах.

5
1. Системы диагноза и тесты

Для решения задач диагноза в технических объектах существуют


два вида систем диагностирования – это системы тестового и функ-
ционального диагностирования.
Системы тестового диагностирования решают задачи: проверки
исправности, проверки работоспособности и поиска неисправного
элемента или множества элементов, среди которых имеется неис-
правный (эквивалентные неисправности). В этом случае процесс
диагноза представляет собой последовательность операций, каждая
из которых предусматривает подачу на входы объекта некоторого
воздействия и определения на выходах реакции на это воздействие.
Эту элементарную операцию называют проверкой и обозначают π.
В качестве выходов могут быть использованы как основные или ра-
бочие выходы системы, так и контрольные выходы системы.
Совокупность проверок, позволяющую решать какую-либо из за-
дач диагноза, называют тестом Т = π1, π2,...πn. Число входящих в него
проверок называют длиной теста и обозначают буквой L.
По назначению тесты делят на проверяющие и диагностические.
Проверяющий тест ТП – это совокупность проверок, которая по-
зволяет обнаружить в системе любую неисправность из заданного
множества. Он решает задачи проверки исправности системы (в этом
случае список неисправностей включает все возможные в системе
неисправности) и проверки работоспособности (включают неис-
правности, которые приводят к отказу систем). Диагностический
тест ТД – это совокупность элементарных проверок, позволяющих
отыскать место неисправности с точностью до класса эквивалентных
неисправностей. Этот тест позволяет решать задачу диагноза поиска
неисправностей.
По числу обнаруживаемых неисправностей различают одиночный,
кратный и полный тесты. Одиночный тест позволяет обнаруживать
в объекте все одиночные повреждения входящих в него элементов.
Кратный тест позволяет обнаруживать все возможные комбинации
из k одиночных неисправностей элементов, в то же самое время тест
кратности k должен фиксировать не только все совокупности из k
одиночных неисправностей, но и все неисправности меньшей крат-
ности, в том числе и одиночные. Полный тест позволяет обнаруживать
неисправности любой кратности, то есть все возможные.

6
В зависимости от числа проверок, входящих в тест, различают три-
виальный, минимальный и минимизированные тесты. Тривиальный
тест содержит все возможные для данной системы проверки и имеет
максимальную длину. Наименьшую длину обеспечивает минимальный
тест, который позволяет решить данную задач диагноза и не суще-
ствует для данного устройства другого теста, который бы имел мень-
шее число проверок. Для построения минимального теста требуются
большие объемы вычислений, поэтому на практике чаще всего строят
минимизированные тесты, которые имеют длину, близкую к длине ми-
нимального теста, но синтез их требует меньшего объема вычислений.
На основе полученного теста строят процедуру диагноза, в основе
которого лежит алгоритм диагноза, представляющий собой после-
довательность элементарных проверок, и правило анализа резуль-
тата этих проверок. Алгоритм диагноза реализуется специальными
устройствами, которые называются средствами диагноза. Объект
диагноза и средство диагноза образуют систему диагноза. Таким об-
разом, процесс диагноза представляет собой многократную подачу
на объект определенных входных воздействий и многократное изме-
рение и анализ результатов на эти воздействия. Измерение и анализ
результата всегда осуществляется средствами диагноза.
Система тестового диагноза предусматривает взаимодействия
между средствами диагноза СД и объектом диагноза ОД. Функцио-
нальная схема системы тестового диагноза приведена на рис. 1.
Функциональная схема системы тестового диагноза содержит ти-
повой комплект блоков и функционирует следующим образом: блок
управления БУ – служит для хранения алгоритма диагноза и для
управления работой средств диагноза СД; источник воздействий ИВ –
вырабатывает воздействия aj элементарных проверок, которые входят
в тест и, в соответствии с алгоритмом диагноза, в определенной после-
довательности подаются через устройство связи УС на объект диагно-
за ОД; модель диагноза МОД – вырабатывает информацию о возмож-
ных технических состояниях объекта в виде возможных результатов
b*j элементарных проверок и выдает сигнал на БРР; измерительное
устройство ИУ – нормализует сигналы фактических результатов bj
элементарных проверок, которые через УС поступают с ОД.
Сигналы с выхода ИУ bj подаются на БРР, если формирование
очередной элементарной проверки зависит от результата предыду-
щей, то между блоками БРР и БУ устанавливается прямая связь. Блок
расшифровки результатов (БРР) служит для сравнения результатов
элементарных проверок bj иbj*, снимаемых соответственно с выходов

7
ОД и МОД. Результат сравнения очередной элементарной проверки
запоминается в БРР, а после этого БУ вырабатывает следующую эле-
ментарную проверку, входящую в тест (рис. 1). После прохождения
всего или части теста блок БРР формирует результаты диагноза.

БУ
aj
ИВ УС bj ОД
aj

МОД ИУ

bj * bj

БРР
СД

РД

Рис. 1. Функциональная схема тестового диагноза

Системы функционального диагностирования решают задачи:


проверка правильности функционирования и поиск неисправностей,
нарушающих нормальное функционирование. В системе функцио-
нального диагноза средства диагноза СД не формируют воздействие
на ОД. На ОД и СД поступают только рабочие воздействия РВ, пред-
усмотренные рабочим алгоритмом функционирования объекта, т. е.
система диагноза работает в процессе рабочего функционирования ОД
и решает задачи проверки правильности функционирования и поиска
неисправностей, нарушающих нормальное функционирование.
Функциональная схема системы функционального диагноза при-
ведена на рис. 2.
В этой системе рабочее воздействие aj поступает на основные
входы объекта диагноза. С объекта диагноза снимаются сигналы yj ,
которые служат для управления средствами диагноза, и сигналы bj от-
ветов объекта диагноза на входное воздействие aj. Сигналы yj управ-
ляют блоками БУ и МОД в зависимости от режима работы объекта
диагноза. Между блоками БРР и ОД устанавливается прямая связь,

8
если на систему диагноза возлагается защита объекта управления от
неправильного воздействия ОД. Таким образом, в схеме функцио-
нального диагноза процедура диагноза сводится к сравнению работы
идеального устройства, реализованного МОД и реального иссле-
дуемого устройства. Число неисправностей в реальном устройстве,
как правило, велико, поэтому процедура диагноза сложна и требует
большого числа измерительных и вычислительных операций. Для
проведения процедуры диагноза требуется решение следующих ос-
новных задач:
– выбор и построение модели объекта диагностирования;
– синтез теста;
– построение алгоритма диагноза;
– синтез и реализация средств диагноза.

aj
Основные
БУ входы
yj

УС bj ОД
yj

МОД ИУ Основные
выходы
bj * bj

БРР
СД

РД

Рис. 2. Функциональная схема системы


функционального диагноза

9
2. Построение проверяющего
и диагностических тестов
для непрерывной системы

2.1. Построение проверяющего теста


для непрерывной системы с использованием
таблиц покрытий

Системы железнодорожной автоматики, телемеханики и связи


(СЖАТС) с непрерывными сигналами имеют те особенности, ко-
торые позволяют при их анализе отдать предпочтение логическим
моделям. Применение логических моделей связано с допусковыми
методами контроля, которые характеризуются тем, что заключение
о техническом состоянии объекта составляют по результатам оценки
значений сигналов в контрольных точках (значений контролируе-
мых параметров объекта). Результаты контроля параметров при этом
приводятся к оценкам вида: «в норме – не в норме», т. е. к оценкам
двузначного типа (1 – единица или 0 – ноль). В этих случаях удобно
применять логические модели и различные логические методы.
Логическая модель может быть построена для объекта диагноза,
имеющего непрерывные сигналы, если он обладает следующими свой-
ствами: объект можно разделить на несколько связанных между со-
бой функциональных элементов; каждый функциональный элемент
имеет два состояния – работоспособное и неработоспособное; для
всех входных и выходных параметров всех элементов можно выделить
области их допустимых и недопустимых значений; выходной параметр
элемента является допустимым в том случае, если сам элемент работо-
способен и все приложенные к нему входные воздействия допустимые.
В процессе построения логической модели можно выделить не-
сколько этапов. На первом этапе построения модели в системе вы-
деляют отдельные функциональные элементы, входы и выходы ко-
торых доступны для измерения. Выбор этих элементов определяется
необходимой глубиной диагноза. На втором этапе построения модели
составляют функциональную схему системы как объекта диагноза,
в которой указывают все выделенные элементы и связи между ними.
Затем для каждого элемента указывают значения допустимых вход-
ных и выходных воздействий.

10
Рассмотрим функциональную схему объекта диагноза, которая
приведена на рис. 3. Эта схема содержит восемь функциональных эле-
ментов Э1 ÷ Э8, имеет четыре внешних входных воздействия х1 ÷ х4
и формирует четыре выходные реакции у5 ÷ у8. Каждый элемент фор-
мирует свою выходную реакцию уi , причем выходные реакции элемен-
тов Э5 ÷ Э8 совпадают с выходными реакциями схемы. В том случае,
если i-е входное воздействие или выходная реакция j-го элемента яв-
ляются допустимыми, то примем, что хi = 1 и уi = 1, в противном случае
хi = 0 и уi = 0. Обозначим n – разрядным двоичным числом состояния
системы, содержащей n элементов, в котором i-й разряд равен 1(0),
если i-й элемент исправен (неисправен). В общем случае система из
n элементов имеет 2n состояний, из которых одно исправное и 2n-1 не-
исправных. В рассматриваемом примере ограничимся рассмотрением
только одиночных неисправностей:
s0 = 11111111, s1 = 0 1111111, s2 = 10111111, s3 = 11011111, s4 =11101111,
s5 =11110111, s6 =11111011, s7 =11111101, s8 =11111110.

x1 y5
Э1 Э5

x2 y6
Э2 Э6

x3 y7
Э3 Э7

y8
x4 Э4 Э8

Рис. 3. Функциональная схема объекта диагноза

В случае использования логической модели предполагается, что


на входы объекта диагноза поступает одно-единственное входное
воздействие, определяемое допустимыми значениями всех сигналов.
Следовательно, возможные элементарные проверки будут отли-
чаться только наборами контрольных точек, в которых осуществля-
ются измерения. При этом задача построения алгоритма диагноза
сводится к выбору совокупности контрольных точек, достаточной
для решения определенной задачи диагноза. Каждая проверка имеет

11
2k исходов, где k – число контролируемых элементов. Общее число
проверок 2n, где n – число элементов системы. На практике большое
число проверок не может быть реализовано из-за отсутствия доступа
к выходам некоторых элементов; невозможно подключиться сразу
к выходам нескольких элементов и т. д.
В рассматриваемом примере будем считать, что возможны только
те проверки, которые заключаются в измерении реакции на выходе
одного элемента системы, причем для измерений доступны выходы
всех элементов. Обозначим как πi результат i-й элементарной про-
верки, т. е. контроль реакции на выходе i-го элемента (i ∈{1, 2, …,8}.
Таблица функций неисправностей (ТФН) для функциональной
схемы объекта диагноза (см. рис. 3) приведена в табл. 1.

Таблица 1
Таблица функций неисправностей

Результат Rij проверки для системы, находящейся в состоянии Si


Проверка
S0 S1 S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8
Π1 1 0 1 1 1 1 1 1 1
Π2 1 1 0 0 1 1 1 1 1
Π3 1 1 1 0 1 1 1 1 1
Π4 1 0 1 1 0 1 1 1 1
Π5 1 0 0 0 1 0 1 1 1
Π6 1 1 0 0 1 1 0 1 1
Π7 1 1 0 0 1 1 0 0 1
Π8 1 0 1 1 0 1 1 1 0

В том случае, если система исправна (состояние S0) и на всех вхо-


дах присутствуют допустимые сигналы, то и на выходах всех элемен-
тов имеют место допустимые значения сигналов – 1. Отказ какого-
либо элемента или поступление на его вход недопустимого значения
сигнала вызывает появление недопустимого значения сигнала на
его выходе и на выходах всех связанных с ним элементов. Таблица
функций неисправностей содержит всю необходимую информацию
для построения проверяющего и диагностического тестов. Каждый
столбец ТФН задает некоторую функцию, определяемую на мно-
жестве проверок πi (i ∈{1, 2, …,8}). Функция равна единице, если
проверка дает допустимый результат.

12
Рассмотрим процедуру получения проверяющего теста Тп . По
полученной ТФН строится преобразованная ТФН (табл. 2), в кото-
рой проводится объединение состояний (столбцов, имеющих оди-
наковое заполнение), соответствующих эквивалентным неисправ-
ностям (в данной ТФН таковых нет). Также из таблицы удаляются
графы, заполненные одними единицами, так как они соответствуют
неисправностям, которые не могут быть обнаружены при принятом
методе диагностирования (в данной ТФН таких граф нет). Из этой
таблицы также удаляется графа, соответствующая исправному со-
стоянию схемы S0.

Таблица 2
Преобразованная таблица функций неисправностей

Результат Rij проверки для системы, находящейся в состоянии Si


Проверка
S1 S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8
Π1 0 1 1 1 1 1 1 1
Π2 1 0 0 1 1 1 1 1
Π3 1 1 0 1 1 1 1 1
Π4 0 1 1 0 1 1 1 1
Π5 0 0 0 1 0 1 1 1
Π6 1 0 0 1 1 0 1 1
Π7 1 0 0 1 1 0 0 1
Π8 0 1 1 0 1 1 1 0

По преобразованной ТФН (см. табл. 2) строится таблица покры-


тий (табл. 3). Для ее построения в элементах преобразованной ТФН,
где проставлен 0, записывается знак покрытия (х), а те элементы, где
проставлена 1, оставляют незаполненными.

Таблица 3
Таблица покрытий

Результат Rij проверки для системы, находящейся в состоянии Si


Проверка
S1 S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8
Π1 х
Π2 х х
Π3 х

13
Окончание табл. 3
Результат Rij проверки для системы, находящейся в состоянии Si
Проверка
S1 S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8
Π4 х х
Π5 х х х х
Π6 х х х
Π7 х х х х
Π8 х х х

На следующем шаге решается задача получения минимального


покрытия, т. е. определяется такое минимальное множество строк
таблицы {πj...πj}, при котором каждая графа должна иметь знак по-
крытия хотя бы в одной строке этого множества. В этом случае полу-
ченное множество составляет проверяющий тест.
Для получения минимального покрытия проводится сокращение
исходной таблицы покрытий (см. табл. 3). Для этого для каждой гра-
фы Si находится такое множество Q(Si), которое включает в себя те
строки (проверки πi (i ∈ {1, 2, …, 8})), на пересечении с которыми в
графе Si проставлен знак покрытия.
Для таблицы покрытий, представленной в табл. 3, такими мно-
жествами являются:
=
Q (S1 ) {π1 , π4 , π5=
, π8 }, Q (S 2 ) {π2 , π5 , π6 ,=
π7 }, Q (S 3 ) {π2 , π3 , π5 , π6 , π7 },
=
Q (S 4 ) {π4 ,=
π8 }, Q (S 5 ) {π
=5 }, Q (S 6 ) {π6 , π7 }, Q (S 7 ) = {π7 },
Q (S 8 ) = {π8 }.

В том случае, если подмножество Q(St) является элементом мно-


жества Q(Sn), т. е. Q(St) ⊂ Q(Sn), то графу Sn можно исключить из
таблицы покрытий. Если множества равны Q(St) = Q(Sn), то исклю-
чается одна (любая) из граф St , или Sn. В табл. 3 исключают графы S1,
так как Q(S8) ⊂ Q(S1), S2 – Q(S5) ⊂ Q(S2), S3 – Q(S7) ⊂ Q(S3), S6 – Q(S7) ⊂
⊂ Q(S6), S4 – Q(S8) ⊂ Q(S4).
В результате выполнения этой процедуры получаем минимизи-
рованную (сокращенную) таблицу покрытий в (табл. 4).
По сокращенной таблице покрытий составляется следующее ло-
гическое выражение, которое в общем виде может быть записано как
Q(Т) = S& (πi ∨ ... ∨ π j ∨ πk ), (1)
∈S t

14
где S – множество граф таблицы;
πi, πj,...,πk – проверки, входящие в множество граф Q(St), которые
включены в минимизированную таблицу покрытий.
Затем полученное логическое выражение преобразуется по за-
конам алгебры логики. При этом осуществляется раскрытие всех
скобок, если они есть, и сокращение всех избыточных элементов.

Таблица 4
Сокращенная таблица покрытий
Результат Rij проверки для системы, находящейся в состоянии Si
Проверка
S5 S7 S8
Π1
Π2
Π3
Π4
Π5 х
Π6
Π7 х
Π8 х

В соответствии с выражением (1) по табл. 4 получаем


Q(Т) = π5π7π8 (2)
В том случае, если минимальных тестов более одного, получен-
ное выражение представляет собой дизъюнкцию конъюнкций, где
каждая конъюнкция соответствует одному из возможных проверя-
ющих тестов (см. [3, табл. 1.5]). Тест представляет собой множество
проверок, входящих в конъюнкцию. Из полученного выражения (2)
следует, что в рассматриваемом примере существует только один
минимальный тест, содержащий три проверки – ТП = {π5, π7, π8}.

15
2.2. Построение диагностических тестов
для непрерывной системы с использованием
таблиц покрытий

Для построения диагностического теста ТД с использованием по-


лученной таблиц покрытий (см. табл. 3) составляется диагностическая
таблица покрытий (табл. 5), которая содержит число сочетаний из
k по 2 – C k2 граф, где k – число граф исходной таблицы покрытий. При
этом каждая графа соответствует одному сочетанию двух неисправных
состояний (Si, Sj), представленных в таблице покрытий (см. табл. 3).
В диагностической таблице (табл. 5) эти состояния расположены
в графе. В графе, соответствующей сочетанию неисправных со-
стояний (Si, Sj), проставляется знак покрытия во всех строках, где
этот знак расположен в одной из граф Si или Sj , кроме тех строк,
в которых знак покрытия записан в обеих графах (табл. 3).
В полученной диагностической табл. 5 знак покрытия показывает
те проверки, при помощи которых при диагностировании можно от-
личить друг от друга неисправные состояния Si и Sj .
Полученную диагностическую табл. 5 минимизируем по тем же
правилам, которые были использованы при минимизации таблицы
покрытий для построения проверяющего теста, приведенных в табл. 3.
В табл. 5 исключают графы:
– (S1 S3), (S1 S6), (S1 S7), (S1 S8), так как Q(S1 S4) ⊂ Q(S1 S3),
Q(S1 S4) ⊂ Q(S1 S6), Q(S1 S4) ⊂ Q(S1 S7), (S1 S4)⊂ Q(S1 S8);
– (S2 S3), (S2 S4), (S2 S7), (S2 S8) так как Q(S2 S6) ⊂ Q(S2 S3),
Q(S2 S6) ⊂ Q(S2 S4), Q(S2 S6) ⊂ Q(S2 S7), Q(S2 S6) ⊂ Q(S2 S8);
– (S3 S4), (S3 S5), (S3 S6), (S3 S8) так как Q(S3 S7) ⊂ Q(S3 S4),
Q(S3 S7) ⊂ Q(S3 S5), Q(S3 S7) ⊂ Q(S3 S6), Q(S3 S7) ⊂ Q(S3 S8);
– (S4 S5), (S4 S6), (S4 S7) так как Q(S4 S8) ⊂ Q(S4 S5),
Q(S4 S8) ⊂ Q(S4 S6), Q(S4 S8) ⊂ Q(S4 S7)
– (S5 S6) так как Q(S5 S7) ⊂ Q(S5 S6);
– (S6 S8) так как Q(S6 S7) ⊂ Q(S6 S8).

16
Таблица 5
Диагностическая таблица покрытий

S S1 S1 S1 S1 S1 S1 S1 S2 S2 S2 S2 S2 S2 S3 S3 S3 S3 S3 S4 S4 S4 S4 S5 S5 S5 S6 S6 S7
π S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8 S3 S4 S5 S6 S7 S8 S4 S5 S6 S7 S8 S5 S6 S7 S8 S6 S7 S8 S7 S8 S8
π1 х х х х х х х
π2 х х х х х х
π3 х х х х х х х
π4 х х х х х х х х х х х
π5 х х х х х х х х х х х х х х х
π6 х х х х х х х х х х х х
π7 х х х х х х х х х х х х х х х х
π8 х х х х х х х х х х х х х х х

17
В результате получаем сокращенную диагностическую таблицу
покрытий (табл. 6).
Используя выражение (1), по табл. 6 получаем следующее логи-
ческое выражение:
Q(Т ) = (π1 ∨ π5) (π2 ∨ π5) π3 π4 (π5 ∨ π7) (π5 ∨ π8) π6 (π7 ∨ π8) =
= π3 π4 π5 π6 π7 ∨ π3 π4 π5 π6 π8;

По полученному выражению определяем возможные варианты


диагностического теста:
Т1Д1 =π3 π4 π5 π6 π7 ;

TД1 2 =π3 π4 π5 π6 π8 .

По диагностическому тесту составляется словарь неисправностей,


который позволяет фиксировать неисправность при помощи выпол-
нения формальной процедуры.

Таблица 6
Сокращенная диагностическая таблица покрытий

S S1 S2 S3 S4 S5 S5 S6 S7
π S4 S6 S7 S8 S7 S8 S7 S8
π1 х
π2 х
π3 х
π4 х
π5 х х х х
π6 х
π7 х х
π8 х х

Словарь неисправностей представляет собой таблицу (см. табл. 7),


строки которой соответствуют проверкам, входящим в Т1Д ,
и графы, соответствующие классам эквивалентных неисправностей,
т. е. словарь неисправностей является частью сокращенной ТФН
(см. табл. 2).

18
Таблица 7

Словарь неисправностей для диагностического теста Т1Д1

π S S1 S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8
π3 1 1 0 1 1 1 1 1
π4 0 1 1 0 1 1 1 1
π5 0 0 1 1 0 1 1 1
π6 1 0 1 1 1 0 1 1
π7 1 0 0 1 1 0 0 1

2.3. Построение проверяющего теста


для непрерывной системы c использованием
аппарата булевых функций
Пусть необходимо построить проверяющий тест для объекта диа-
гноза, функциональная схема которого представлена на рис. 4. Эта
схема содержит восемь элементов Э1 – Э8, имеет четыре внешних
входных воздействия х1– х4 и формирует три выходные реакции
у6 – у8. Каждый элемент формирует свою выходную реакцию уi, при-
чем выходные реакции элементов Э6 –Э8 совпадают с выходными
реакциями схемы. В том случае, если i-е входное воздействие или
выходная реакция j-го элемента являются допустимыми, то при-
мем, что хi = 1 и уi =1, в противном случае хi = 0 и уi = 0. Обозначим
n – разрядным двоичным числом состояние системы, содержащей
n элементов, в котором i-й разряд равен 1(0), если i -й элемент ис-
правен (неисправен). В общем случае система из n элементов имеет
2n состояний, из которых одно исправное и 2n-1 неисправных. В рас-
сматриваемом примере также ограничимся рассмотрением только
одиночных неисправностей
s0 =11111111, s1 = 01111111, s2 =10111111, s3 =11011111, s4 =11101111,
s5 =11110111, s6 =11111011, s7 =11111101, , s8 =11111110.

В случае использования логической модели предполагается, что


на входы объекта диагноза поступает единственное входное воздей-
ствие, определяемое допустимыми значениями всех сигналов.
Следовательно, возможные элементарные проверки будут отли-
чаться только наборами контрольных точек, в которых осуществляются

19
измерения. При этом задача построения алгоритма диагноза сводится
к выбору совокупности контрольных точек, достаточной для решения
определенной задачи диагноза. Каждая проверка имеет 2k исходов,
где k – число контролируемых элементов. Общее число проверок 2n,
где n – число элементов системы. На практике большое число про-
верок не может быть реализовано из-за отсутствия доступа к выходам
некоторых элементов; невозможно подключиться сразу к выходам
нескольких элементов и т. д.

y1 y3
x1 y6
Э1 x3 Э3 Э6

x4 y4 y7
Э4 Э7

x2 y2 Э8 y8
Э2 Э5
y5

Рис. 4. Функциональная схема объекта диагноза

В рассматриваемом примере будем считать, что возможны только


те проверки, которые заключаются в измерении реакции на выходе
одного элемента системы, причем для измерений доступны выходы
всех элементов. Обозначим как πi результат i-й элементарной про-
верки, т. е. контроль реакции на выходе i-го элемента (i ∈{1, 2, …,8}.
Таблица функций неисправностей (ТФН) для функциональной схе-
мы объекта диагноза, который представлен на рис. 4, приведена в табл. 8.
В том случае, если система исправна (состояние S0) и на всех вхо-
дах присутствуют допустимые сигналы, то и на выходах всех элемен-
тов имеют место допустимые значения сигналов – 1. Отказ какого-
либо элемента вызывает появление недопустимого значения сигнала
на его выходе и на входах всех связанных с ним элементов. Поэтому
на выходах всех элементов, на входы которых поступает недопусти-
мый сигнал, будет недопустимый сигнал – 0.
Таблица функций неисправностей содержит всю необходимую
информацию для построения проверяющего и диагностического
тестов. Каждый столбец ТФН задает некоторую функцию, опреде-
ляемую на множестве проверок πi (i∈{1, 2, …,8}). Функция равна
единице, если проверка дает допустимый результат.

20
Таблица 8
Таблица функций неисправностей

Результат Rij проверки для системы, находящейся в состоянии Si


Проверка
S0 S1 S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8
Π1 1 0 1 1 1 1 1 1 1
Π2 1 0 0 0 0 0 0 0 1
Π3 1 0 1 0 1 1 1 1 1
Π4 1 0 0 0 0 0 0 0 1
Π5 1 0 0 0 0 0 0 0 1
Π6 1 0 0 0 0 0 0 0 1
Π7 1 0 0 0 0 0 0 0 1
Π8 1 0 0 0 0 0 0 0 0

Обозначим: F – функция исправного объекта; fi – функция i-го


состояния неисправного объекта или функция i-й неисправности.
Для рассматриваемого примера имеем:
F = π1 ∨ π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8;

f1 = 0; f2 = π1 ∨ π3; f3 = π1; f4 = π1 ∨ π3; f5 = π1 ∨ π3; f6 = π1 ∨ π3;

f7 = π1 ∨ π3; f8 = π1 ∨ π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7.
При построении проверяющего теста Тп для каждой неисправ-
ности вычисляют проверяющую функцию:
φi = F ⊕ fi . (3)
Проверяющая функция равна единице (φi = 1) только на тех про-
верках, на которых результаты проверок различны для исправной
схемы и для схемы с i-й неисправностью, т. е. она объединяет те
проверки, на которых i-я неисправность обнаруживается.
Проверяющий тест Тп определяется как конъюнкция проверяю-
щих функций по следующему выражению:
Тп = φ1 · φ2 · ··· · φn , (4)
где n – число неисправностей.
Вычисляем проверяющие функции φi для рассматриваемого при-
мера:

21
φ1 = π1 ∨ π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8 ;
φ2 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8 ;
φ3 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8 ;
φ4 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8 ;
φ5 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8 ;
φ6 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8 ;
φ7 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8 ;
φ8 = π8 ;

Записываем проверочный тест Тп и производим его минимиза-


цию:

Тп = φ1 · φ2 · φ3 · φ4 · φ5 · φ6 · φ7 · φ8 = (π1 ∨ π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨
∨ π8) (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8)( π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8)( π2 ∨ π4 ∨
∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8)(π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8)(π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8)
(π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8)(π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ∨ π8) π8 = π8.

Из полученного выражения проверочного теста Тп = π8 следует,


что для полной проверки системы, представленной функциональной
схемой (см. рис. 2) относительно одиночных неисправностей, не-
обходимо и достаточно подать на внешние входы допустимые воз-
действия и измерить реакцию на выходе элемента Э8. Если система
исправна, то на его выходе будет присутствовать допустимый сигнал,
если же система неисправна, то на его выходе будет присутствовать
недопустимый сигнал.

2.4. Построение диагностических тестов


для непрерывной системы с использованием
аппарата булевых функций

Для решения задачи поиска неисправного элемента либо множе-


ства эквивалентных неисправностей, в которое входит неисправный
элемент, вычисляют диагностический тест Тд. Диагностический тест
определяют следующим образом.
Для каждой пары неисправностей (с номерами i и j) вычисляют
различающую функцию:
φi,j = fi ⊕ fj . (5)
Различающая функция равна единице (φi,j = 1) только на тех про-
верках, на которых результаты проверок различны для схем, находя-

22
щихся в состоянии i и j неисправности (каждая графа ТФН Si с ин-
дексом i ∈{1,2, …,8} соответствует определенной неисправности Ni).
Для всех различных пар неисправностей определяем различающие
функции:
φ1,2 = π1 ∨ π3; φ1,3 = π1; φ1,4 = π1 ∨ π3; φ1,5 = π1 ∨ π3; φ1,6 = π1 ∨ π3;
φ1,7 = π1 ∨ π3; φ1,8 = π1 ∨ π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 .
φ2,3 = π3; φ2,4 = 0; φ2,5 = 0; φ2,6 = 0; φ2,7 = 0; φ2,8 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7.
φ3,4 = π3 ; φ3,5 = π3 ; φ3,6 = π3 ; φ3,7 = π3 ; φ3,8 = π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨π7.
φ4,5 = 0; φ4,6 = 0; φ4,7 = 0; φ4,8 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7.
φ5,6 = 0; φ5,7 = 0; φ5,8 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 .
φ6,7 =0; φ6,8 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7.
φ7,8 = π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7.
В зависимости от решаемой задачи диагноза возможно использо-
вание одного из двух вариантов диагностического теста.
Первый вариант диагностического теста используют в том случае,
если заведомо известно, что система неисправна, и поэтому перед
тестированием ставится только одна задача – обнаружение неис-
правного элемента.
В этом случае тест Тд вычисляют как логическое произведение
различающих функций:
Тд = φ1,2 φ1,3••• φn-1,n. (6)
Для рассматриваемого примера:
Тд = φ1,2 φ1,3••••• φ6,8 φ7,8 = (π1 ∨ π3) π1 (π1 ∨ π3) (π1 ∨ π3) (π1 ∨ π3) &
& ( π1 ∨ π3)(π1 ∨ π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7) π3 (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7) π3 &
& π3 π3 π3(π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7) (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7)
(π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ) (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7 ) (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7).
Минимизируем полученное выражение и получаем:
Тд = π1 π3 (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7).
Полученное выражение содержит пять минимальных тестов:
Тд1 = π1 π2 π3; Тд2 = π1 π3 π4; Тд3 = π1 π3 π5; Тд4 = π1 π3 π6;
Тд5 = π1 π3 π7;
Рассмотрим тест Тд2 = π1 π3 π4 и построим для него словарь не-
исправностей.

23
Словарь неисправностей является частью ТФН. Он представляется
в виде таблицы, строки которой соответствуют проверкам, содержа-
щимся в Тд2, а графы – соответствующим классам эквивалентных не-
исправностей. Словарь неисправностей для Тд2 представлен в табл. 9.
Третья графа в табл. 9 соответствует классу эквивалентных неис-
правностей N2 ,N4 ,N5 ,N6 ,N7 . В непрерывных системах такие классы
образуют неисправности элементов, входящих в контуры, охвачен-
ные обратной связью. В функциональной схеме объекта диагноза
(см. рис.1) такой контур образуют элементы Э2, Э4, Э5, Э6, Э7. При
отказе любого элемента, входящего в контур, недопустимый сигнал
появляется на выходах всех элементов контура.

Таблица 9
Словарь неисправностей для диагностического теста Тд2

Результат Rij проверки для системы, находящейся в состоянии Si


Проверка
S1 S2 S4 S5 S6 S7 S3 S8
π1 0 1 1 1
π3 0 1 0 1
π4 0 0 0 1

Для определения отказавшего элемента в этом случае в замкнутом


контуре разрывают обратную связь.
Словарь неисправностей позволяет обнаруживать неисправный
элемент при помощи формальной процедуры. Для этого на входы
системы подают допустимые воздействия и производят измерения в
контрольных точках (выходах функциональных элементов), соответ-
ствующих проверкам, входящим в словарь неисправностей. Резуль-
таты измерения сравнивают с данными, приведенными в словаре не-
исправностей. По совпадению судят о номере отказавшего элемента.
Второй вариант диагностического теста используют тогда, когда
задача поиска неисправности и задача проверки исправности систе-
мы совмещаются в едином процессе диагноза. Такой подход часто
используется на практике. В этом случае диагностический тест опре-
деляется по следующему выражению:
Тд* = Тп φ1,2 φ1,3••• φn-1,n. (7)
Для рассматриваемого примера Тд определяется как:
*

24
Тд* = Тп φ1,2 φ1,3••• φ7,8 = π8 (π1 ∨ π3) π1 (π1 ∨ π3) (π1 ∨ π3) (π1 ∨ π3)
(π1 ∨ π3) (π1 ∨ π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7) π3 (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7) π3&
&π3 π3 π3 (π2 ∨ π3 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7) (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7) (π2 ∨π4 ∨ π5 ∨
∨ π6 ∨ π7 ) (π2 ∨ π4 ∨ π5 м π6 ∨ π7 ) (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7).
После минимизации полученного выражения получаем:
Тд* = π1 π3 π8 (π2 ∨ π4 ∨ π5 ∨ π6 ∨ π7).
Полученное выражение содержит пять минимальных тестов:
Тд1* = π1 π2 π3 π8; Тд2* = π1 π3 π4 π8; Тд3* = π1 π3 π5 π8; Тд4* = π1 π3 π6 π8;

Тд5* = π1 π3 π7 π8 ;
Тесты Тд1* ,Тд2* ,Тд3* ,Тд4* ,Тд5* обеспечивают полную проверку си-
стемы, а словари неисправностей содержат помимо граф, соответ-
ствующих классам эквивалентных неисправностей, графу S0, соот-
ветствующую исправному состоянию системы.
В качестве примера приведем словарь неисправностей для теста
Тд2* (табл. 10).
Логические модели упрощают непрерывные объекты и поэтому не
позволяют решать все задачи диагностики (в частности, не позволяют
различать неисправности элементов, охваченных обратной связью).
Поэтому их часто используют на первом этапе диагноза, так как они
являются простыми и удобными для анализа. Для более полного
анализа применяют другие методы.

Таблица 10
Словарь неисправностей для Тд2 *

Проверка Результат Rij проверки для системы, находящейся в состоянии Si


S0 S1 S2 S4 S5 S6 S7 S3 S8
π1 1 0 1 1 1
π3 1 0 1 0 1
π4 1 0 0 0 1
π8 1 0 0 0 0

Варианты заданий для построения тестов непрерывных систем


приведены в приложении А.

25
3. Построение тестов для объекта диагноза,
реализованного на реле

3.1. Построение тестов для комбинационной


релейно-контактной схемы

3.1.1. Построение проверяющего теста для комбинационной ре-


лейно-контактной схемы
Релейно-контактные схемы (РКС) широко используются в устрой-
ствах ЖАТС и состоят из контактов, обмоток реле и соединительных
проводов. Контакты имеют два вида неисправностей: короткое за-
мыкание – когда цепь остается замкнутой независимо от состояния
реле; разрыв контакта – когда цепь остается разомкнутой независимо
от состояния реле.
Обмотки реле также имеют два вида неисправностей (к ним от-
носятся и неисправности механических элементов реле). При обрыве
обмотки реле не включается, когда оно должно включаться. При-
чинами этого могут быть обрыв обмотки, межвитковые замыкания
в ней, механические повреждения подвижных частей. При этом нор-
мально замкнутые (тыловой и общий) контакты остаются замкну-
тыми, а нормально разомкнутые (общий и фронтовой) контакты –
разомкнутыми. При ложном включении обмотки реле включается,
когда оно не должно включаться. Причиной этого может быть соеди-
нение обмотки с источником питания, залипание или заклинивание
якоря, сваривание замыкающих контактов. При этом размыкающие
контакты размыкаются, а замыкающие – замыкаются.
Неисправность типа «обрыв обмотки» эквивалентна кратной
неисправ­ности, в которую входят короткие замыкания всех раз-
мыкающих кон­тактов и разрыв всех замыкающих контактов,
а неисп­равность «ложное включение обмотки» эквивалентна крат-
ной неисправности, включающей в себя короткие замыкания всех
замыка­ющих контактов и разрыв всех размыкающих контактов. Это
об­стоятельство позволяет выявлять неисправности обмоток теми же
способами, что и неисправности контактов, а в большинстве схем
вообще рассматривать только неисправности контактов.
Поэтому элементарная проверка для релейно-контактной схемы
заключается в подаче на ее входы определенного набора значений

26
входных переменных (состояний кнопок SBA, SBB, SBC) и опре-
делении факта наличия проводимости схемы по состоянию реле F.
Входные переменные обозначим строчными буквами, соответству-
ющими обозначениям реле – а, b, с.
Рассмотрим построение проверяющего и диагностических тестов
для релейно-контактной схемы, заданной в виде ФАЛ F = {1, 2, 3, 5}
a,b,c.
Минимизируем заданную ФАЛ с помощью карты Карно (рис. 5)
и построим релейно-контактную схему для функции F = {001, 010,
011, 101}.
c
b

0 1 1 1

a 0 0 0 1

Рис. 5. Карта Карно функции F ={001,010,011,101}

В результате этой операции получаем минимизированную функ-


цию F = a ⋅ b1 + b2 ⋅ c. Комбинационная релейно-контактная схема,
соответствующая полученной ФАЛ, представлена на рис. 6. Она со-
держит три входных реле – А, В, С – и четыре контакта – a, b1, b2, с.
Общее число проверок для схемы с m входами равно 2m. Рассмо-
трим только одиночные неисправности контактов. Для построения
тестов релейно-контактной схемы будем использовать ТФН.
Рассматриваемая схема имеет восемь проверок, одно исправное
и 8 неисправных состояний.
Функции неисправностей могут быть рассчитаны двумя методами.
При первом методе неисправность вносится в схему и по полученной
структуре схемы определяется искомая функция. Схема с внесенной
неисправностью – коротким замыканием контакта a реализует функ-
цию f1 = b1 ∨ b‾2c. При втором методе используют влияние неисправ-
ности на формулу, отражающую структуру схемы. Между ее буквами
и контактами схемы существует взаимно однозначное соответствие.
Короткое замыкание контакта соответствует переводу соответству-
ющей буквы в единицу, а разрыв контакта – в ноль. Для короткого
замыкания контакта a функция f1= b1 ∨ b2c.

27
П SBA
A
М

SBB
B

SBC
C

a b1
F

П М

b2 c

Рис. 6. Комбинационная релейно-контактная схема

В соответствии с рассмотренными методами определения функ-


ции неисправностей для множества неисправностей контактов схемы
они имеют вид:
f1 = b1 + b2 ⋅ c; f 2 = b2 ⋅ c2 ;
f3 =a + b2 ⋅ c; f 4 =b2c;
f5 = a ⋅ b1 + b2 ; f 6 = ab1 ;
f7 = a ⋅ b1 + c; f8 = a ⋅ b1 .

Для заданной релейно-контактной схемы ТФН представлена


в табл. 11.
На основании построенной ТФН и в соответствии с выражением
для вычисления проверяющей функции (3) находим проверяющие
функции.

28
Таблица 11
Таблица функций неисправностей

f1 f2 f3 f4 f5 f6 f7 f8
Входной набор
F при внесении неисправности
№ a b c a1 a0 b11 b10 c1 c0 b21 b20

0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 0
1 0 0 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0
2 0 1 0 1 1 0 1 0 1 1 1 1
3 0 1 1 1 1 0 1 0 1 1 1 1
4 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0
5 1 0 1 1 1 1 1 1 1 0 1 0
6 1 1 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0
7 1 1 1 0 1 0 0 0 0 0 1 0

ϕ1 = 6 ∨ 7; ϕ2 = 2 ∨ 3; ϕ3 = 0; ϕ4 = 2 ∨ 3;
ϕ5 = 0 ∨ 4; ϕ6 = 1 ∨ 5; ϕ7 = 7; ϕ8 = 1 ∨ 5.

Проверяющий тест в соответствии с выражением (4) равен


Тп = φ1 · φ2 · φ3 · φ4 · φ5 · φ6 · φ7 · φ8 = (6 ∨ 7) (2 ∨ 3)· 0 · (2 ∨ 3) (0 ∨ 4)
(1 ∨ 5) · 7 · (1 ∨ 5) = (2 ∨ 3) · 0 · (1 ∨ 5) · 7 = 0127 ∨ 0257 ∨ 0137 ∨ 0357.
Это выражение содержит 4 минимальных теста:
Тп1 = 0 · 1 · 2 · 7; Тп2 = 0 · 2 · 5 · 7 ;Тп3 = 0 · 1 · 3 · 7; Тп4 = 0 · 3 · 5 · 7.
3.1.2. Построение диагностических тестов для комбинационной
релейно-контактной схемы
Для построения диагностических тестов, согласно выражению
(5), для каждой пары неисправностей ТФН находим различающую
функцию.
φ1,2 = 2 ∨ 3 ∨ 6 ∨ 7; φ2,3 = 0 ∨ 2 ∨ 3; φ3,4 = 0 ∨ 2 ∨ 3;
φ1,3 = 0 ∨ 6 ∨ 7; φ2,5 = 0 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 4; φ3, 5 = 4;
φ1,5 = 0 ∨ 4 ∨ 6 ∨ 7; φ2,6 = 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5; φ3,6 = 0 ∨ 1 ∨ 5;
φ1,6 = 1 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7; φ2,7 = 2 ∨ 3 ∨ 7; φ3,7 = 0 ∨ 7; φ1,7 = 6;
φ 5,6 = 0 ∨ 1 ∨ 4 ∨ 5; φ5,7 = 0 ∨ 4 ∨ 7;  φ6,7 = 1 ∨ 5 ∨ 7; φ7,8 = 1 ∨ 5 ∨ 7.

29
Диагностический тест первого вида определяем согласно выра-
жения (6), и при этом предполагается, что диагностируемая схема
неисправна.
Диагностический тест для рассматриваемого примера имеет вид
Тд = φ1,2 · φ1,3· φ6,7 · φ7,8 = 4 · 6 · (0 ∨ 2 ∨ 3)(1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5)(2 ∨ 3 ∨ 7)
(0 ∨ 1 ∨ 5)(1 ∨ 5 ∨ 7).
После выполнения операций конъюнкции и рассмотрения всего
множества диагностических тестов получим, что оно содержит два
минимальных теста: Тд1 = 2 · 4 · 5 · 6; Тд2 = 1 · 2 · 4 · 6.
Словарь неисправностей, построенный для Тд1, представлен в табл. 12.
Поиск неисправности в заданной схеме осуществляют следую-
щим образом. На входы схемы последовательно подаются входные
наборы, входящие в диагностический тест. Для каждого случая фик-
сируются значения выхода схемы по состоянию реле F. Полученные
результаты сравнивают с данными, приведенными в словаре неис-
правностей (табл. 12). Совпадение состояний выхода реле F и состо-
яний, приведенных в столбце словаря неисправностей, указывает на
неисправность или на класс эквивалентных неисправно­стей, которые
соответствуют данному столбцу.

Таблица 12
Словарь неисправностей для Тд1

f1 f2 f4 f3 f5 f6 f8 f7
Входной набор
F при внесении неисправности
№ a b c a1 a0 b10 b11 c1 c0 b20 b21

2 0 1 0 1 1 0 1 1 1 1
4 1 0 0 0 0 0 0 1 0 0
5 1 0 1 1 1 1 1 1 0 1
6 1 1 0 0 1 0 0 0 0 0

Точное указание неисправности внутри класса эквивалентных


неисп­равностей возможно только при измерениях во внутренних
точках схемы, соответствующих классу эквивалентных неисправ-
ностей.
Диагностический тест второго вида определяется в том случае,
если заранее не известно, что тестируемая схема неисправна. В этом
случае диагностический тест Tд’ определяется по выражению (7)

30
Tд’ = TП ·φ 1,2,·φ1,3 ·…·φ6,7,· φ78.
T'д = 0 · 1 · 2 · 7 · 4 · 6 · (0 ∨ 2 ∨ 3)(1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5)(2 ∨ 3 ∨ 7)(0 ∨ 1 ∨ 5)
(1 ∨ 5 ∨ 7).

После минимизации полученного выражения получаем множе-


ство диагностических тестов. Из результатов анализа полученного
множества диагностических тестов следует, что оно содержит один
минимальный тест T'д = 0 · 1 · 2 · 4 · 6 · 7.
Словарь неисправностей для минимального диагностического
теста T'д приведен в табл. 13.

Таблица 13
Словарь неисправностей диагностического теста T'д

f1 f2 f4 f3 f5 f6 f8 f7
Входной набор
F при внесении неисправности
№ a b c a1
a0 b10 b11 c1 0
c0 b2 b21
0 0 0 0 0 0 0 1 1 0 0
1 0 0 1 1 1 1 1 1 0 1
2 0 1 0 1 1 0 1 1 1 1
4 1 0 0 0 0 0 0 1 0 0
6 1 1 0 0 1 0 0 0 0 0
7 1 1 1 0 1 0 0 0 0 1

Поиск неисправности в схеме осуществляют аналогичным об-


разом, как и в случае диагностического теста Тд.

3.2. Метод цепей и сечений

При расчете тестов на ЭВМ для хранения ТФН из-за ее большого


размера требуется большой объем памяти, что снижает размерность
решаемых задач. В связи с этим для различных объектов диагноза
разработаны специальные модели и методы, которые не имеют уни-
версального характера, но с учетом особенностей объекта позволяют
более просто решать задачи построения тестов.
Так, например, для релейно-контактных схем при построении
проверяющих тестов используют метод цепей и сечений.

31
a1 b2

П b1 c1
F

c2 a2

Рис. 7. Релейно-контактная схема

Под цепью понимается набор состояний контактов, которые обе-


спечивают наличие цепи проводимости между полюсами схемы.
Под сечением понимается набор состояний контактов, которые
обеспечивают разрыв всех цепей схемы.
Рассматриваемая схема, которая представлена на рис. 7, имеет
четыре цепи: G1 = a1 b 2 , G2 = a1 c1 , G3 = b1 c1 , G4 = с2 a 2 , а также со-
держит два сечения: H1 = a1 b1 c 2 , H2 = b2c1а2. Все остальные цепи и
сечения содержат противоречия, например H3 = a1 b1 а2 и H4 = b2c1 c 2 ,
поэтому мы их из рассмотрения исключаем.
Перечисление всех цепей и сечений однозначно задает схему. Под
цепью, урезанной на каком-то определенном контакте, понимается
набор состояний контактов, соответствующий данной цепи, из ко-
торого исключен этот контакт. Аналогично определяется сечение,
урезанное на каком-то определенном контакте.
Для того чтобы проверить некоторый контакт параллельно-по-
следовательной схемы (см. рис. 7) на отсутствие неисправности
типа «разрыв», необходимо обеспечить наличие какой-либо цепи,
содержащей этот контакт, и обрыв всех других цепей, в которые не
входит данный контакт. Тогда при отсутствии неисправности схема
будет замкнута, а о наличии неисправности будет свидетельствовать
разомкнутое состояние схемы (реле F выключено).
При проверке некоторого контакта на отсутствие неисправно-
сти типа «короткое замыкание» необходимо обеспечить разрыв всех

32
цепей схемы и наличие хотя бы одной цепи, разорванной только на
данном контакте. Тогда при отсутствии неисправности схема будет
разомкнута, а о наличии неисправности будет свидетельствовать зам-
кнутое состояние схемы.
В алгоритм вычисления проверяющей функции какого-то опреде-
ленного контакта для неисправности типа «разрыв» (φ°) выписыва-
ются все цепи, содержащие этот контакт; выписываются все сечения,
содержащие этот контакт; определяются все сечения, урезанные на
этом контакте; каждую выписанную цепь рассматривают в сочетании
с каждым урезанным сечением. Для них определяют входные наборы,
на которых они одновременно существуют. Проверяющую функцию
φ° находят как объединение всех наборов.
Алгоритм вычисления проверяющей функции для короткого за-
мыкания (φ¹) аналогичен, только термин «цепь» необходимо заме-
нить на термин «сечение».
Для контакта «a1» определяем проверочную функцию φ°a1.
Контакт «а1» входит в цепи G1 = a1 b2 и G 2 = a1 c1 , а также в сечение
H 1 = a1 b1 c 2 . Сечение, урезанное на контакте а1, равно H1/a1 = b1 c 2 .
Рассмотрим сочетание цепи G1 = a1 b 2 с сечением H1/a1 = b1 c 2 .
Цепь G1 существует при подаче входных переменных а = 1, b = 0,
а сечение H1/а – при b = 0, c = 0, т. е. цепь G1 и сечение H1/a одно-
временно существуют на наборе ab с .
Затем рассматриваем цепь G2 и сечение H1/a1 = b1 c 2 . Цепь G2 = a1 c1
существует при наборе а = 1, с = 0, а сечение H1/a1, урезанное на
контакте a1, существует на наборе b = 0, с = 0, т. е. цепь G2 и H1/a1
одновременно существуют при таком же наборе переменных а b c ,
как и G1 и H1/a1.
Таким образом, φa1° = а b c .
Для контакта a1 определяем проверочную функцию φа1¹. Контакт
a1 входит в сечение H1= a1 b1 c 2 и цепи G1 = a1 b 2 и G2 = a1 c1 . Цепи
G и G , урезанные на контакте a , соответственно равны G /a = b 2 ,
1 2 1 1 1
G2/a1 = c1 .
Рассмотрим сечение H1 и цепь, урезанную на контакте a1 – G1/a1.
Сечение H1 существует при значениях переменных а = 0, b = 0, с = 0,
а цепь, урезанная на контакте G1/a1, существует при b = 0.
Таким образом, H1 и G1/a1 существуют одновременно на наборе
а b c.

33
Затем рассматриваем сечение H1 и цепь, урезанную на контакте
a1, G2/a1. Сечение H1 существует при наборе а = 0, b = 0, с = 0, а цепь
G2/a1 существует при значении с = 0, т. е. сечение H1 и цепь G2/a1
существуют одновременно также на наборе а b c .
Таким образом, проверяющая функция – φа¹ = а b c .
Определяем проверяющие функции для контакта b1.
Вычисляем проверяющую функцию – φ°b1 . Контакт b1 входит
в цепь G3 = b1 c1 , и сечение H1 = a b1 c2 . Сечение H1, урезанное на
контакте b1, равно H1/b1 = a c2 .
Цепь G3 и сечение H1/b1 одновременно существуют на наборе а = 0,
b = 1, с = 0, т. е. проверяющая функция – φ°b1 = а b c
Вычисляем проверяющую функцию φ1b1 .
Контакт b1 входит в сечение H1 = a b1 c2 и в цепь G3 = b1 c1 . Цепь
G3, урезанная на контакте b1, G3/ b1 = b2 . Сечение H1 и урезанная на
контакте b1 цепь – G3/ b1 одновременно существуют на наборе а = 0,
b = 0, с = 0.
Таким образом, проверяющая функция – φ1b1 = а b c .
Определяем проверяющие функции – φ°c2 и φ1c2.
Вычисляем проверяющую функцию φ°c2. Контакт c2 входит в цепь
G = с a 2 и в сечение H = a1 b1 c 2 . Сечение H , урезанное на контакте
4 2 1 1
c2, H1/c2 = a1 b1 . Цепь G4 и урезанное сечение H1/c2 одновременно
существуют на наборе a1 b1 c2, т. е. φ°c2= a1 b1 c2.
Вычисляем проверяющую функцию φ1c2.
Контакт c2 входит в сечение H1 = a1 b1 c 2 и в цепь G4 = с2 a1 . Цепь
G4, урезанная на контакте c2, G4/ a 2 = a 2 . Они одновременно суще-
ствуют на наборе a1 b1 c 2 , т. е. – φ1c2 = a1 b1 c 2 .
Определяем проверяющие функции для контакта b2 – φ° b2 и φ1 b2 .
Вычисляем проверяющую функцию φ° b2 . Контакт b2 входит
в цепь G1 = a1 b 2 и сечение H2 = а2 b2c1. Сечение H2, урезанное на кон-
такте b2, равно H2/b2 = а2 c1. Цепь G1 = a1 b 2 существует на наборе вход-
ных переменных а = 1, б = 0, а сечение H2, урезанное на контакте b2,
H2/b2 = а2c1 существует на наборе а = 1, с = 1, т. е. цепь G1 и сечение
H2, урезанное на контакте b2, одновременно существуют на наборе
а = 1, б = 0, с = 1.
Таким образом, проверяющая функция – φ°b2 = а b с.
Вычисляем проверяющую функцию φ1b2.

34
Контакт b2 входит в сечение H2 = а2 b2c1 и цепь G1 = a1 b 2 . Цепь G1,
урезанная на контакте b2, равна G1/b2 = a1.
Рассмотрим сечение H2 и цепь, урезанную на контакте b2– G1/b2.
Сечение H2 существует при значениях переменных а = 1, b = 1, с = 1,
а цепь, урезанная на контакте b2, G1/b2 существует при а = 1.
Таким образом, H2 = а2 b2c1 и G1/b2 существуют одновременно на
наборе а b c – следовательно, проверяющая функция – φ1b2 = а b c.
Определяем проверяющие функции φ°c1 φ1c1.
Вычисляем проверяющую функцию φ°c1.
Контакт с1 входит в цепи G2 = a1 c1 , G3 = b1 c1 , и сечение H2 = b2c1а2.
Сечение H2, урезанное на контакте с1, равно H2/с1 = b2а2.
Рассмотрим цепь G2 = a1 c1 и сечение H2, урезанное на контакте с1,
H2/с1. Они одновременно существуют на наборе входных переменных
а = 1, b = 1, с = 0, т. е. – а b c .
Рассмотрим цепь G3 = b1 c1 и сечение H2, урезанное на контакте с1,
H2 /с1. Они одновременно существуют на наборе входных переменных
а = 1, b = 1, с = 0, т. е. – а b c .
Следовательно, проверяющая функция φ°c1 = а b c .
Вычисляем проверяющую функцию φ1c1.
Контакт с1 входит в сечение H2 = а2 b2c1 и цепи G2 = a1 c1 , G3 = b1 c1 .
Цепь G2, урезанная на контакте с1, равна G2/с1 = a1. Цепь G3, урезанная
на контакте с1 , равна G3/ с1 = b1.
Рассмотрим сечение H2 и цепь, урезанную на контакте с1, G2/с1.
Сечение H2 существует при значениях переменных а = 1, b = 1, с = 1,
а цепь, урезанная на контакте с1, G2/с1, существует при b = 1, т. е. на
наборе а b c.
Рассмотрим сечение H2 и цепь, урезанную на контакте с1 – G3/с1.
Они одновременно существуют на наборе а b c.
Таким образом, проверяющая функция – φ1 с1 = а b c.
Определяем проверяющие функции φ°а2 и φ1а2 .
Вычисляем проверяющую функцию φ°а2 .
Контакт a2 входит в цепи G4 = с2 a2 и сечение H2 = b2с1а2. Сечение
H2, урезанное на контакте a2 , равно H2/ a2 = b2а2.
Рассмотрим цепь G2 = с2 a2 и сечение H2, урезанное на контакте
a2 , H2/ a2 . Они одновременно существуют на наборе входных пере-
менных а = 0, b = 1, с = 1, т. е. – a b с, следовательно, проверяющая
функция – φ°а2 = a b с.

35
Вычисляем проверяющую функцию φ1 а2.
Контакт a2 входит в сечение H2 = а2 b2c1 и цепь G4 = с2 a2 ,. Цепь
G4, урезанная на контакте a 2 , равна G4/ a2 = с2 .
Рассмотрим сечение H2 и цепь, урезанную на контакте a2 , G4/ a2 .
Сечение H2 существует при значениях переменных а = 1, b = 1, с = 1,
а цепь, урезанная на контакте a2 , – G4/ a2 , существует при с = 1, т. е.
на наборе а b c.
Следовательно, проверяющая функция – φ1а2 = а bc.
После определения проверяющих функций для всех контактов
схемы определяем проверяющий тест Тп, который находится как
логическое произведение проверяющих функций
Тп = φ°a1 · φ1a1 · φ°b1 · φ¹ b1 · φ°c2 · φ1c2 · φ°b2 · φ¹b2 · φ°c1 · φ1c1 · φ°a2 · φ1a2; (8)
Подставляем полученные значения проверяющих функций в вы-
ражение (8) и производим его минимизацию.
Тп = a b c · а b c · а b c · а b c  ·  а b с ·  а b c  · а b с ·abc · a b c · abc · a ×
× bc · abc = a b c · а b c · а b c · а b с ·abc · a b c · a bc.
Таким образом, проверочный тест для приведенной на рис. 7 ре-
лейно-контактной схемы будет представлять множество входных
наборов
Тп = {a b c , а c c , а b c , а b с, abc, ab c , a bc}.
Для решения большинства практических задач построения
тестов с помощью метода цепей и сечений для последовательно-
па­раллельных схем, которые часто встречаются на практике, це-
лесообразно использовать следующий алгоритм построения мини-
мизированного теста – ТП.
1. Выписываются все возможные для данной схемы цепи. Для
каждой выписанной цепи находят проверяющий входной набор,
т. е. такой входной набор переменных, при котором обеспечивает-
ся замыкание всех контактов, входящих в цепь, и размыкание всех
остальных цепей схемы. Следовательно, на таком входном наборе
одновременно проверяются на отсутствие неисправности типа «раз-
рыв» все контакты, входящие в эту цепь. В схемах без избыточно­сти
такие наборы существуют для каждой цепи схемы. Полученные на-
боры включаются в тест.
Например, для схемы, представленной на рис. 7, имеются четыре
цепи:

36
G1 = a1 b2 ; G 2 = a1 c1 ; G3 = b1 c1 ; G 4 = c2 a2 . Для цепи G1 = a1 b2 про-
веряющим набором является входной набор переменных abc . На
этом наборе замыкаются все контакты данной цепи, а также размы-
кание цепи G 2 = a1 c1 на контакте c1, цепи G3 = b1 c1 на контактах b1 и c1
и цепи G 4 = c2 a2 на контакте а2. Таким образом, на наборе abc про-
верятся отсутствие неисправности типа «разрыв» контактов а1 и b2 .
Для цепи G 2 = a1c1 проверяющим набором является входной на-
бор переменных abc . На этом наборе цепь G1 = a1 b2 размыкается
контактом b2 , цепь G 4 = c2 a2 размыкается контактом а2. Так как
цепь G3 = b1 c1 не размыкается на контакте b1, то проверяется на этом
наборе только отсутствие неисправности типа «разрыв» контакта c1 .
Для цепи G3 = b1 c1 проверяющим набором является входной набор
переменных abc . На этом наборе цепи G1 = a1 b2 и G 2 = a1 c1 размыка-
ются контактами а1 и и b2 , цепь G 4 = c2 a2 размыкается контактом c2.
Следовательно, на наборе abc проверяется отсутствие неисправности
типа «разрыв» контактов b1 и c1 .
Для цепи G 4 = c2 a2 проверяющим набором является входной
набор переменных abc . На этом наборе цепи G1 = a1 b2 , G 2 = a1 c1
и G3 = b1 c1 размыкаются контактами b 2 и c1 . Таким образом, на
наборе abc проверяется отсутствие неисправности типа «разрыв»
контактов c2 и a2 .
2. Далее рассматриваются все сечения, начиная с первого. Нахо-
дят набор, на котором обеспечивается существование этого сечения,
и он является проверяющим для группы контактов сечения, которые
имеют урезанные цепи. Отмечают те контакты сечения, для которых
при выбранном наборе обеспечивается существование урезанной на
данном контакте цепи. В том случае, если цепь остается разомкнутой,
то делается заключение, что у контактов этой группы отсутствует не-
исправность типа «короткое замыкание» контакта.
Затем рассматривают следующее по порядку сечение. При этом
целесообразно выбирать сечение, которое имеет наибольшее число
неотмеченных контактов.
Процесс рассмотрения сечений заканчивается только тогда, когда
все кон­такты схемы будут отмечены. Все полученные при этом на-
боры вклю­чаются в тест.
Например, схема, представленная на рис. 7, имеет два сечения:
H 1 = a1b1c2 , H2 = b2c1a2. Все остальные сечения содержат противо-

37
речия, например H3 = a1 b1 a2 , H4 = b2c1 c2 , и поэтому мы их из рас-
смотрения исключаем.
Рассмотрим первое сечение H 1 = a1 b1 c 2 , которое обеспечивается
при подаче входного набора abc . Можно проверить, что в этом слу-
чае для каждого контакта, входящего в сечение H 1 = a1 b1 c 2 , существу-
ет урезанная цепь. Так, например, при коротком замы­кании контакта
а1 замыкается цепь G1 = a1 b2 и G 2 = a1c1 , при коротком замыкании
контакта b1 — цепь G3 = b1 c1 , а при коротком замыкании контакта
c2 — цепь G 4 = c2 a2 . Поэтому все контакты сечения H 1 = a1 b1 c 2 про-
веряются на указанном наборе на отсутствие отказа типа «короткое
замыкание» и должны быть отме­чены.
Далее, целесообразно рассмотреть сечение H 2 = b2c1a2 , потому что
оно содержит только неотмеченные контакты. Сечение H 2 = b2c1a2
существует на наборе abc. На этом входном наборе для всех контактов
сечения H 2 = b2c1a2 для всех трех контактов сечения H 2 = b2c1a2 суще-
ствуют урезанные цепи. Поэтому контакты b2 , c1 и a2 отмечаются.
В результате этой процедуры все контакты схемы оказались отмечен-
ными и поэтому процесс рассмотрения сечений на этом завершается.
Все наборы входных переменных, проверяющие отсутствие
у контактов неисправностей типа «разрыв» контакта и типа «корот-
кое замыкание» контакта, включаются в проверяющий тест – ТП.
В результате выполнения этого алгоритма получен следующий про-
веряющий тест: TП = {abc,abc,abc,abc,abc} .

Вариант задания для синтеза проверяющего теста с использо-


ванием метода цепей и сечений выбирается в соответствии с при-
ложением Б.

38
4. Построение тестов для комбинационных
схем на логических элементах

Логический элемент представляет собой устройство, имеющее


n входов и один выход, на котором реализуется некоторая функция
алгебры логики (ФАЛ) F(x) (рис. 8). Неисправность во внутренней
структуре логического элемента приводит к тому, что на его выходе
вместо функции F(x) реализуется функция неисправности f(x).

х1 ЛЭ
· F(x)
·
·
хn

Рис. 8. Логический элемент

Для логических элементов число и вид неисправности зависит от


внутренней структуры элемента. Неисправности логических элемен-
тов подразделяются на константные и неконстантные. Константную
неисправность можно рассматривать как фиксацию в константу
(ноль или единицу) сигнала на входе или выходе элемента. Среди
множества константных неисправностей можно выделить эквива-
лентные и импликантные неисправности.
Эквивалентными неисправностями называются такие неисправ-
ности, для которых по состоянию выхода элемента невозможно опре-
делить, где конкретно имеет место неисправность – на каком входе
или выходе.
Классы эквивалентных неисправностей для логических элементов
ИЛИ, И, И-НЕ, ИЛИ-НЕ приведены на рис. 9 в виде графов, нане-
сенных на изображение элементов. Эквивалентные неисправности
соединены прямыми линиями.
Неисправность Ni находится в отношении импликации к неисправ-
ности Nj (обозначается: Ni →Nj), если на тех входных наборах, на ко-
торых равна единице проверяющая функция неисправности φi = F ⊕ fi
(fi функция, соответствующая неисправности Ni), равна единице

39
и проверяющая функция неисправности Nj φj (φi → φj). Отношение
импликации показывается на изображении элементов в виде на-
правленного графа от Ni к Nj.

x1 1 x1 & x1 1 x1 & x1 1
x2 x2 x2 x2 x2

Рис. 9. Классы эквивалентных неисправностей логических элементов

На рис.10 показаны отношения импликации неисправностей для


логических элементов И, ИЛИ, И-НЕ, ИЛИ-НЕ.

x1 & x1 1 x1 & x1 1

x2 x2 x2 x2

Рис. 10. Импликатные неисправности в логических элементах

Комбинационная схема содержит логические элементы и связи


между ними. В ней возможны следующие дефекты: неисправности
логических элементов (ЛЭ), обрывы соединений, замыкания между
соединениями, перепутывание связей.
Неисправности комбинационных схем делят на две группы. Не-
исправность называют правильной, если содержащая ее комбина-
ционная схема остается в классе схем без памяти. Если же в резуль-
тате внесения неисправности комбинационная схема превращается
в схему с памятью, то такую неисправность называют неправильной.
Правильные неисправности подразделяются на константные
и неконстантные. Для константных неисправностей характерно сле-
дующее свойство: функция, реализуемая неисправной схемой, может
быть получена из функции исправной схемы фиксацией в ноль или
единицу ее отдельных букв или входящих в нее сложных выражений.
Все неисправности, не удовлетворяющие этому условию, относят
к классу неконстантных неисправностей.
В курсовой работе требуется построить проверяющий и диагно-
стический тесты относительно множества константных неисправ-
ностей.

40
Согласно варианту задания, которое представлено в виде ФАЛ,
F = {1, 2, 3, 5} a,b,c. Минимизируем её с помощью карты Карно (рис. 11)
и записываем в аналитическом виде.

c
b

0 1 1 1

a 0 0 0 1

Рис. 11. Карта Карно ФАЛ F = {001,010,011,101}

В схеме реализуется функция F = a ⋅ b1 + b2 ⋅ c.


Рассмотрим построение проверяющего теста комбинационной
схемы относительно константных неисправностей. Для этого по за-
данной ФАЛ вычерчиваем схему с указанием всех логических элемен-
тов и связей между ними (рис. 12). Комбинационная схема реализует
функцию F = a ⋅ b1 + b2 ⋅ c.

НЕ1
6
1
a И1
&
7 5
b 4
8
ИЛИ2
1 F
c НЕ2
3 И2
1
&
2 1

Рис. 12. Комбинационная схема, реализующая функцию F = a ⋅ b1 + b2 ⋅ c

При этом на схеме укажем компоненты и все неисправности ком-


понент. Под компонентами понимают входы и выходы элементов
и входы схемы. Входы схемы, выходы элементов, если они соеди-
нены со входом только одного элемента, рассматривают как одну

41
компоненту. Если в схеме имеется точка разветвления, то в качестве
компонент считаются как точки разветвления, так и все ветви раз-
ветвления.
Для каждой компоненты наносим две константные неисправ-
ности К→ 1, К→ 0.
Данная схема имеет 10 компонент и 20 неисправностей.
На каждый логический элемент наносим графы эквивалентных
неисправностей (см. рис. 9) и отношения импликации между не-
исправностями (см. рис.10), т. е. устанавливаем отношения между
всеми неисправностями схемы.
Затем нумеруем неисправности, при этом среди эквивалентных
неисправностей нумеруем только одну, ближе всех расположенную
к выходу. Все неисправности, к которым направлены дуги, не нуме-
руют, а если дуга направлена к одной из эквивалентных неисправ-
ностей, то ни одну из них не нумеруют.
В результате выполнения данной операции сокращаем список
неисправностей, которые рассматриваем при построении теста.
данной схеме пронумеровано 8 неисправностей, в то время как ис-
ходное множество содержит 20 неисправностей.
Составляем ТФН, в которую включаем все пронумерованные не-
исправности. ТФН для рассматриваемого примера, вычисленная по
приведенным ниже функциям неисправностей, приведена в табл. 14.
Функции неисправностей рассчитывают такими же методами, кото-
рые используются для релейно-контактных схем.
Функции неисправностей:
f1 = a ⋅ b; f 2 = a ⋅ b + b ;
f3 = a ⋅ b + c; f 4 = bc;
f5 =
a + bc; f6 =
b + bc;
=
f7 a=
; f 8 c.

Таблица 14
Таблица функций неисправностей

Входной
Функция неисправности
№ набор F
a b c f1 f2 f3 f4 f5 f6 f7 f8
0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 1 0
1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1

42
Окончание табл. 14
Входной
Функция неисправности
№ набор F
a b c f1 f2 f3 f4 f5 f6 f7 f8
2 0 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 0
3 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1
4 1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0
5 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1
6 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0
7 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 0 1

Вычисляем проверяющие функции в соответствии с выражением (3):


ϕ1 = 1 ∨ 5;
ϕ2 = 0 ∨ 4;
ϕ3 =7;
ϕ4 = 2 ∨ 3;
ϕ5 =0;
ϕ6 = 6 ∨ 7;
ϕ7 = 0 ∨ 5;
ϕ8 = 2 ∨ 7.

В соответствии с выражением (4) вычисляется проверяющий тест:


Тп = φ1 ·φ2·φ3·φ4·φ5·φ6·φ7·φ8.
Подставляем в выражение для проверяющего теста полученные
проверочные функции и минимизируем полученное выражение:
Тп = (1 ∨ 5)(0 ∨ 4)· 7 · (2 ∨ 3) · 0 · (6 ∨ 7)(0 ∨ 5)(2 ∨ 7) =
= 0 · 7 · (1 ∨ 5) (2 ∨ 3).
В результате получаем четыре минимальных теста: Тп1 = 0 ·1 · 2 · 7;
Тп2 = 0 ·1·3·7; Тп3 = 0 ·2·5·7; Тп4 = 0 ·3 ·5 ·7.
Вычисление диагностического теста
Диагностический тест комбинационных схем рассчитывается
аналогичным методом, но при этом не учитывают отношения им-
пликации между неисправностями. На схему наносят только графы

43
эквивалентных неисправностей, которые нумеруют в соответствии
с указанным для них правилом. В результате число неисправностей,
включаемых в ТФН, увеличивается, так как в данном случае допол-
нительно в ТФН включаются две неисправности выхода схемы, ко-
торым соответствуют функции неисправностей (f9 = 1, f10 = 0).

НЕ1
6
1
a И1

&
7 5
b 4
8
ИЛИ2
1 F
НЕ2
c
3 И2
1
&

2
1

Рис. 13. Эквивалентные неисправности комбинационной схемы

Представленным на рисунке неисправностям соответствует та-


блица функций неисправностей (табл. 15).
По данной таблице определяем диагностический тест. Для каждой
пары неисправностей вычисляем различающую функцию в соответ-
ствии с выражением (5):

Таблица 15
Таблица функций неисправности

Входной набор Функция неисправности


№ F
a b c f1 f2 f3 f4 f5 f6 f7 f8 f9 f10
0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 1 0 1 0
1 0 0 1 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 0
2 0 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 0 1 0
3 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0
4 1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0

44
Окончание табл. 15
Входной набор Функция неисправности
№ F
a b c f1 f2 f3 f4 f5 f6 f7 f8 f9 f10
5 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 0
6 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0
7 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0

φ1,2 = 0 ∨ 1 ∨ 4 ∨ 5; φ1,3 = 1 ∨ 5 ∨ 7; φ1,4 = 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5; φ1,5 = 0 ∨ 1 ∨ 5;


φ1,6 = 1 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7; φ1,7 = 1 ∨ 2; φ1,8 = 1 ∨2 ∨ 5 ∨ 7; φ1,9 = 0 ∨ 1 ∨ 4 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7;

φ1,10 = 2 ∨ 3;
φ2,3 = 0 ∨ 4 ∨ 7; φ2,4 = 0 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 4; φ2,5 = 4; φ2,6 = 0 ∨ 4 ∨ 6 ∨ 7;
φ2,7 = 4 ∨ 5; φ2,8 = 0 ∨ 2 ∨ 4 ∨ 7; φ2,9 = 6 ∨ 7; φ2,10 = 0 ∨ 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 4 ∨ 5;
φ3,4 = 2 ∨ 3 ∨ 7; φ3,5 = 0 ∨ 7; φ3,6 = 6; φ3,7 = 1 ∨ 5 ∨ 7; φ3,8 = 2;
φ3,9 = 0 ∨ 4 ∨ 6; φ3,10 = 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5 ∨ 7;
φ4,5 = 0 ∨ 2 ∨ 3; φ4,6 = 2 ∨ 3 ∨ 6 ∨ 7; φ4,7 = 0 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5; φ4,8 = 3 ∨ 7;
φ4,9 = 0 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 4 ∨ 6 ∨ 7; φ4,10 = 1 ∨ 5;
φ5,6 = 0 ∨ 6 ∨ 7; φ5,7 = 5; φ5,8 = 0 ∨ 2 ∨ 7; φ5,9 = 4 ∨ 6 ∨ 7;
φ5,10 = 0 ∨ 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5;
φ6,7 = 0 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7; φ6,8 = 2 ∨ 6; φ6,9 = 0 ∨ 4; φ6,10 = 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7;
φ7,8 = 0 ∨ 2 ∨ 5 ∨ 7; φ7,9 = 4 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7; φ7,10 = 0 ∨ 1 ∨ 2 ∨ 3;
φ8,9 = 0 ∨ 2 ∨ 4 ∨ 6; φ8,10 = 1 ∨ 3 ∨ 5 ∨ 7;
φ9,10 = 0 ∨ 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 4 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7.

В соответствии с выражением (6 )вычисляем диагностический


тест Тд : Тд= φ1,2· φ1,3 ·…· φ8,10 · φ9,10

Тд = (0 ∨ 1 ∨ 4 ∨ 5)(1 ∨ 5 ∨ 7)(1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5)( 0 ∨ 1 ∨ 5)(1 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7)&


&(1 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7)(1 ∨ 2)(1 ∨ 2 ∨ 5 ∨ 7)(0 ∨ 1 ∨ 4 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7)(2 ∨ 3)&
& (0 ∨ 4 ∨ 7)(0 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 4) 4 (0 ∨ 4 ∨ 6 ∨ 7)(4 ∨ 5)(0 ∨ 2 ∨ 4 ∨ 7)(6 ∨ 7)&
&(0 ∨ 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 4 ∨ 5)(2 ∨ 3 ∨ 7)(0 ∨ 7) 6 (1 ∨ 5 ∨ 7) 2 (0 ∨ 4 ∨ 6)&
&(1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5 ∨ 7)(0 ∨ 2 ∨ 3)(2 ∨ 3 ∨ 6 ∨ 7)(0 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5)(3 ∨ 7)
(0 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 4 ∨ 6 ∨ 7)(1 ∨ 5)(0 ∨ 6 ∨ 7) 5 (0 ∨ 2 ∨ 7)(4 ∨ 6 ∨ 7)
(0 ∨ 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5) & (0 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7)( 2 ∨ 6)( 0 ∨ 4)(1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7)
(0 ∨ 2 ∨ 5 ∨ 7)(4 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7)(0 ∨ 1 ∨ 2 ∨ 3)( 0 ∨ 2 ∨ 4 ∨ 6)(1 ∨ 3 ∨ 5 ∨ 7)
(0 ∨ 1 ∨ 2 ∨ 3 ∨ 4 ∨ 5 ∨ 6 ∨ 7).

В результате минимизации полученного выражения получаем


Тд = 2 · 4 · 5 · 6 · (0 ∨ 7) (3 ∨ 7). Полученное выражение содержит один
минимальный тест Тд = 2 · 4 · 5 · 6 · 7.

45
Для поиска конкретной неисправности в соответствии с получен-
ным выражением Тд используется словарь неисправностей, который
представлен в табл. 16.

Таблица 16
Словарь неисправностей для Тд.

Входной набор Функция неисправности


№ F
a b c f1 f2 f3 f4 f5 f6 f7 f8 f9 f10
2 0 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 0 1 0
4 1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0
5 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 0
6 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0
7 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0

Второй вариант нахождения диагностического теста:


Тд’ = Тп · φ1,2·φ1,3·…·φ8,10·φ9,10 .
Тд’ = 0 · 3 · 5 · 7 · 2 · 4 · 5 · 6 · (0 ∨ 7)(3 ∨ 7). Полученное выражение
содержит один минимальный диагностический тест Тд’ = 0·2·3·4·5·6·7.
Словарь неисправностей для диагностического теста представлен
в табл. 17.

Таблица 17
Словарь неисправностей для диагностического теста Тд’

Входной набор Функция неисправности


№ F
a b c f1 f2 f3 f4 f5 f6 f7 f8 f9 f10
0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0 1 0 1 0
2 0 1 0 1 1 1 1 0 1 1 1 0 1 0
3 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 1 1 0
4 1 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 1 0
5 1 0 1 1 0 1 1 1 1 1 0 1 1 0
6 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 0
7 1 1 1 0 0 0 1 0 0 1 0 1 1 0

Варианты заданий построения проверяющих и диагностических


тестов для релейно-контактных схем и схемы на логических элемен-
тах приведены в Приложении Б.

46
Библиографический список

1. Дмитренко И. Е. Измерения и диагностирование в системах же-


лезнодорожной автоматики, телемеханики и связи : учеб. для
вузов ж.-д. трансп. / И. Е. Дмитренко, Д. В. Дьяков, В. В. Сапож-
ников; под ред. И. Е. Дмитренко. – М. : Транспорт, 1994. – 263 с.
2. Сапожников В. В. Теория дискретных устройств железнодорож-
ной автоматики, телемеханики и связи : учеб. для вузов ж.-д.
трансп./ В. В. Сапожников, Ю. А. Кравцов, Вл. В. Сапожников. –
М. : Транспорт, 2001. – 312 с.
3. Сапожников В. В. Основы технической диагностики : учеб. по-
собие для вузов ж.-д. трансп. / В. В. Сапожников, Вл. В. Сапож-
ников. – М. : Маршрут, 2004. – 318 с.

47
ПРИЛОЖЕНИЕ А

Варианты задания для синтеза проверяющих


и диагностических тестов

1 x1 y7 2 x1 y5
Э1 Э7 Э1 Э5

x2 y5 x2 y6
Э2 Э5 Э2 Э6

x3 y6 x3 y7
Э3 Э6 Э3 Э7

x4 y8 x4 y8
Э4 Э8 Э4 Э8

3 4
x1 y8 x1 y5
Э1 Э8 Э1 Э5

x2 y5 x2 y6
Э2 Э5 Э2 Э6

x3 y6 x3 y7
Э3 Э6 Э3 Э7

y7 x4
x4 y8
Э4 Э7 Э4 Э8

5 x1 y8 6 x1 y5
Э1 Э8 Э1 Э5

x2 y5 x2 y6
Э2 Э5 Э2 Э6

x3 y6 x3 y7
Э3 Э6 Э3 Э7

x4 y7 x4 y8
Э4 Э7 Э4 Э8

7 8
x1 y8 x1 y5
Э1 Э8 Э1 Э5

x2 y5 y6
Э2 Э5 x2 Э2 Э6

x3 y6 x3 y7
Э3 Э6 Э3 Э7

x4 y7 x4 y8
Э4 Э7 Э4 Э8

Рис. П.А.1. Функциональные схемы непрерывных систем

48
9
x1 y8 10 x1 y1
Э1 Э8 Э1 Э5
x2 y5 y2
Э2 Э5 x2 Э2 Э6
x3 y6 x3 y3
Э3 Э6 Э3 Э7
y7 x4 y8
x4 Э4 Э7 Э4 Э8

11 x1 y5 12 x1 y5
Э1 Э5 Э1 Э5
x2 y6 x2 y6
Э2 Э6 Э2 Э6
x3 y7 x3 y7
Э3 Э7 Э3 Э7
y8 x4 y8
x4 Э4 Э8 Э4 Э7

13
y5 14 x1 y5
x1 Э1 Э5 Э1 Э5

x2 y6 x2 y6
Э2 Э6 Э2 Э6

x3 y7 x3 y7
Э3 Э7 Э3 Э7
x y8 x4
4 Э4 Э8 Э4

15 16
x1 y5 x1 y5
Э1 Э5 Э1 Э5

x2 y6 x2 y6
Э2 Э6 Э2 Э6
x3 y7 x3 y7
Э3 Э7 Э3 Э7
x4 y8 x4 y8
Э4 Э8 Э4 Э7

Рис. П.А. 2. Функциональные схемы непрерывных систем

49
17 18
x1 y5 x1 y5
Э1 Э5 Э1 Э5
x2 y6 y6
Э2 Э6 x2 Э2 Э6
x3 y7 x3 y7
Э3 Э7 Э3 Э7
x y x4 y8
4 Э4 Э8 Э4 Э8

19 20
x1 y5 x1 y5
Э1 Э5 Э1 Э5
x2 y6 y6
Э2 Э6 x2 Э2 Э6
x3 y7 x3 y7
Э3 Э7 Э3 Э7

x4 y8 x4
Э4 Э8 Э4 Э8

21 22
x1 y5 x1 y5
Э1 Э5 Э1 Э5
y6 x2 y6
x2 Э2 Э6 Э2 Э6

x3 y7 x3 y7
Э3 Э7 Э3 Э7
x4 y8 x4 y8
Э4 Э8 Э4 Э7

23 24
x1 y5 x1 y5
Э1 Э5 Э1 Э5
x2 y6 x2 y6
Э2 Э6 Э2 Э6

x3 y7 x3 y7
Э3 Э7 Э3 Э7
y8 x4
x4 Э4 Э4 Э8
Э8

Рис. П.А. 3. Функциональные схемы непрерывных систем

50
25 26
x1 y5 x1 y5
Э1 Э5 Э1 Э5
x2 y6 x2 y6
Э2 Э6 Э2 Э6
x3 y7 x3 y7
Э3 Э7 Э3 Э7
x4 y8 x4 y8
Э4 Э8 Э4 Э7

27 28
x1 y5 x1 y5
Э1 Э5 Э1 Э5
x2 y6 y6
Э2 Э6 x2 Э2 Э6
x3 y7 x3 y7
Э3 Э7 Э3 Э7
x4 y8 x4 y8
Э4 Э8 Э4 Э8

29 30
x1 y5 x1 y5
Э1 Э5 Э1 Э5
x2 y6 y6
Э2 Э6 x2 Э2 Э6
x3 y7 y7
Э3 Э7 x3 Э3 Э7
x4 y8 x4 y8
Э4 Э8 Э4 Э8

31 32
x1 y1 x1 y1
Э1 Э5 Э1 Э5
x2 y2 y2
Э2 Э6 x2 Э2 Э6
x3 y3 y3
Э3 Э7 x3 Э3 Э7
x4 y4 x4 y4
Э4 Э8 Э4 Э8

Рис. П.А. 4. Функциональные схемы непрерывных систем

51
ПРИЛОЖЕНИЕ Б
Таблица П.Б
Варианты заданий для построения проверяющих и диагностических тестов
для релейно-контактных и комбинационных схем
Номер варианта Функция
1 F = {1, 2, 3, 5} а, в, с
2 F = {0, 2, 5, 6, 7} а, в, с
3 F = {1, 2, 4, 6} а, в, с
4 F = {0, 2, 3, 5, 7} а, в, с
5 F = {0, 2, 3, 4, 6, 7} а, в, с
6 F = {1, 2, 4, 7} а, в, с
7 F = {1, 2, 3, 4, 5} а, в, с
8 F = {1, 2, 3, 6, 7} а, в, с
9 F = {1, 2, 3, 4} а, в, с
10 F = {1, 3, 4, 5, 7 а, в, с
11 F = {0, 2, 4, 7} а, в, с
12 F = {1, 2, 5, 7} а,в,с
13 F = {0, 1, 2, 4, 5} а, в, с
14 F = {0, 3, 4, 6} а, в, с
15 F = {3, 4, 5, 6, 7} а, в, с
16 F = {0, 1, 2, 6} а, в, с
17 F = {1, 3, 4, 5, 6} а, в, с
18 F = {0, 3, 4, 6} а, в, с
19 F = {0, 3, 4, 5} а, в, с
20 F = {1, 3, 4, 5} а, в, с
21 F = {0, 1, 2, 5, 7} а, в, с
22 F = {0, 4, 5, 7 } а, в, с
23 F = {0, 1, 2, 3, 4} а, в, с
24 F = {1, 2, 4, 6} а, в, с
25 F = {0, 1, 2, 6, 7} а, в, с
26 F = {0, 2, 4, 7} а, в, с
27 F = {1, 2, 4, 6, 7} а, в, с
28 F = {0, 2, 5, 6} а, в, с
29 F = {0,2, 3, 5} а, в, с
30 F = {0, 1, 2, 7} а, в, с

Примечание. Заданную функцию следует минимизировать одним из методов,


например последовательным алгебраическим методом, методом карт Карно или
методом Квайна – Мак-Класки. Затем составить схемы соответственно на релей-
но-контактных элементах и комбинационную схему на логических элементах И,
ИЛИ, НЕ, реализующую полученную минимизированную функцию.

52

Оценить