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CONFIABILIDADE DE EOUIPAMENTOS - PLANOS DE ENSAID DE 03.075

CONFORMIDADE PARA TAXA DE FALHAS E TEMPO MEDIO ENTRE
FALHAS ADMITINDO-SE TAXA DE FALHAS CONSTANTE NER 9325

ABW1986
M&todo de ens&

SUMARIO

1 Objet&
2 Normas complementares
3 Defini@s
4 Generalidades
5 Planos e procedimentos gerais de ensaio
Planor de ensaior requenciais
Caracteristicas dos planor de ensaio corn duraqka e/au ntimero de falhas pr&fixados

1 OBJETIVO

1.1 Esta Norma fornece OS pianos de ensaio de conformidade para taxas de falhas

e tempo m&dio entre falhas admitindo-se taxa de falhas constantes.

1.2 A distribui$ao estatistica dos tempos entre falhas consecutivas pat-a equipa

mentos reparados ou, 0.5 tempos at& a falha para equipamentos n& reparados 6 ad
-
mitida coma sendo caracterizada par uma taxa de falhas constantes descrita Par
uma distribui@a exponential.

Portanto, a taxa de falhas e o tempo media entre falhas s& independentes da

"idade" do equipamento. Nestas condi@es OS pianos de ensaio desta Norma s% v5-

lidas para ensaios de conformidade de confiabilidade (ensaios ECC) relatives a

tam de falhas, tempo media entre falhas e tempo ate a falha.

1.3 A especificagk detalhada de ensaios de confiabilidade deve indicar a carat

-
teristica de confiabilidade a ser considerada em cada ensaio.

2 NDRMAS COMPLEMENTARES

Na aplicqk desta Norma 6 necessario consultar:

NBR 5462 - Confiabilidade - Terminologia

NBR 9320 - Confiabilidade de equipamentos - Recomenda@es gerais - Procedimen

-
to.

Origem: ABNT - MB-2340185 (PrOjet 3~01.56.1~003)

(x-3 - Cornit Brarileiro de Eletricidade
CE.3:56.1 - Comisseka de Estudo de Confiabilidade
Esta Norma foi baseada na IEC 665-7

SISTEMA NACIONAL DE ABNT - ASSOCIACAO BRASILEIRA

METROLOGIA. NORMALIZACAO
DE NORMAS TECNICAS
E OUALIDADE INDUSTRIAL
a

palawar-chave: confiabilidade. equipamentos. NER 3 NORMA BRASILEIRA REGISTRADA

CD”: 621.38.03:658.56 Tcdor os dinitoa ruamios 31 p6ginas

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2 NBR 9325/1986

3 DEFlNlC6ES

Para os efeitos desta Norma sao adotadas as defini$es da NBR 5462

4 GENERALIDADES

4.1 A caracteristica de confiabilidade fundamental utilizada nesta Norma 6 o

tempo mkdio entre falhas. 0 tempo & entendido coma sendo tempo relevante acumu -

lado de ensaio, obtido pela somatoria dos tempos relevantes de todos OS i tens

sob ensaio.

4.2 A variavel tempo pode ser substiturda par distancia, ciclos ou outra quan -

tidade ou unidade apropriada para o equipamento sob ensaio. As falhas S&I enten -

didas coma falhas relevantes dos itens sob ensaio acumuladas durante o ensaio.

A especifica$ao detalhada de ensaio de confiabilidade dew definir o tempo rele -

vante e as falhas relevantes aplicaveis a cada ensaio. A letra “m” 6 usada para

indicar a caracteristica de confiabilidade fundamental nos pianos de ensaio.

4.3 As caracteristicas de confiabilidade “tempo-midio at6 a primeira falha” e

“taxa de falhas” podem ser matematicamente substituidas pelo tempo mGdio entre

falhas utilizando-se a5 express&s abaixo.

4.4 Deste redo, os pianos de ensaio desta Norma 530 plenamente aplicaveis a

tais caracteristicas:

a) para aplica$ao do tempo media entre falhas, MTBF;

MTBF = m.

b) para aplicasao do tempo media at& a primeira falha, mF ou MTTF;

= MTTF = m
mF

c) para aplica@o de taxas de falhas, h;

1
m.
h

5 PLANOS E PROCEDIMENTOS GERAIS DE ENSAIO

5.1 Tips de pianos de ensuio

5.1.1 Esta Norma fornece planos de ensaio para ensaios seqtiencias truncados e

ensaios corn durafao e/au nl;mero de falhas pr& fixadas, descritos nos capitu -
10s 6 e 7 respectivamente.

5.1.2 A especifica$o detalhada de ensaio de confiabilidade dew indicar o ti

-
po de ensaio a ser utilizado. Urn guia para escolha do tipo de ensaio 6 dada na
NBR 9320. A escolha tambern depende de circunstancias tGcnicas, por exemplo as

possibilidades de controle do desempenho dos itens durante o ensaio (Wr

NBR 9320) e o tempo total dispon:vel para a realizagao do ensaio. Para cada pla -

no de ensaio dados non caprtulos 6 e 7. a apresentagao 6 feita graficamente e

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NBR 9325/1986 3

par uma tabela junta corn OS graficos das respectivas curves caracter;sticas de
opera& (probabilidade de aceita@o em fun& do valor verdadeiro do tempo me
-
dio entre falhas) e o valor esperado do tempo de ensaio para chegar a uma deci
-
5%~ (aceita+, rejeisao ou continuidade do ensaio).

5.2 Procedimento gcral de ensuio

5.2.1 0 procedimento geral de ensaio 6 submeter o(s) item (itens) a ser(em) en

-
saiado(s), isto 6 o nfimero especificado de equipamentos amostrados aleatoriamen
-
te da popula& escolhida, ao ciclo de ensaio especificado, medir o tempo rele -
vante de ensaio e contar as falhas relevantes de acordo corn NBR 9320, somados
sucessivamente para todos 05 itens sob ensaio.

5.2.2 Quando urn item repar;ivel falhar, devera ser reparado de acordo corn

NBR 9320, f2 ser retornado ao ensaio.

5.2.3 0 tempo relevante de ensaio 6 contado independentemente do tempo total

(idade) do item sob ensaio. 0 tempo rflevante de ensaio e as falhas relevanetes

5% acumulados at& que uma decisao possa ser tomada de acordo corn o piano de en-

saio seqiiOncial escolhido ou, at& que a condi$o de termino por falhas seja
atingida, de acordo corn o piano de ensaio de durasao e/au nCimero de falhas prG-

-fixadas escolhido.

5.2.4 0 tempo relevante de ensaio 6 definido na NBR 5462 e pode ser calculado

conforme descrito em 5.3.

5.3 Ccilculo do tempo reZevante acmulndo de ensaio

5.3.1 0 tempo relevante de ensaio de cada item pode per medido por contadores

de tempo. Neste ca~o o tempo relevante acumulado, Tk, ate a falha K 6 a SOnE
das leituras dos indicadores de tempo.

”
Tf= x
tk,m
m=l

Onde:

" = numero total de itens sob ensaio;

= tempo relevante de ensaio indicado no contador, referente ao item nG

-
tk,m
mere m at6 o aparecimento da falha K entre o total de itens.

5.3.2 0 tempo relevante acumulado de ensaio T* no ponto de decis& nao coinci -

dindo corn uma falha 6 dada par:

n
T* = L t;
m=l

Onde:
t* = tempo relevante de ensaio do item nlimero m at& o ponto de decis&
m
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5.3.3 Se o tempo relevante de ensaio for registrado por outros meios, o tempo

relevante acumulado de ensaio, TK, no aparecimento da falha K deve ser calcula -

da pela formula iterativa dada a seguir. A formula inclue o tempo relevante de

ensaio acumulado at6 a falha K-l e o tempo relevante de ensaio transcorrido no

interval0 entre as falhas K - 1 e K.

n
z t
Tk = Tk-l + .i, m.j
j

Onde:

n = nl;mero total de itens sob ensaio;

t = j-esimo period0 de tempo relevante de ensaio do item n!k~ero m apk

m,j
o aparecimento da falha K-l entre o total de itens.

5.3.4 As interrup$es podem ser causadas pela falha K-l ou por outras raz%s

tGcnicas ou administrativas. 0 nimero de interrup@es, j, pode variar de i tern

para item. A Figura I abaixo explica corn maiores detalhes a numera$ao dos per-70 -

dos de tempo relevante de ensaio.

Nbmero do
i tern sob ensaio Fa I ha Tempo rcl wan te
“1.1 “1.2 de ensaio
lx/- HI ! .,,, + c,,*

1 t2.1 t.23 1
t2~2
2 1 4 I 1 t---l t2.1 + “22 + 1%3
I
I 0
3 j
I
I i
I m.l I I ‘“12 >: tn,j + km2
m
I
I
t
n.1
I! 4 “n.l
N;r:ero 1
I
da I
falha k-l
1: Tempo

FIGURA 1 - Numerap%~ de periodon de tempo relevante de ensaio

5.3.5 0 tempo relevante acumulado de ensaio T” no ponto de decisao nao coincl

dindo corn uma falha 6 neste case:

n
T*=T + X Et
r j m>J
m=l

Onde :

T = tempo relevante acumulado de ensaio at6 a Gltima falha antes do pan

r -
to de decisk;
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t = j-6simc periodo de tempo relevante de ensaio do item nimero m, ap&

m,j
o aparecimento da liltima falha entre o total de itens.

5.3.6 As formulas anteriores tambGm sao aplicaveis no case em que 05 itens sob

ensaio s.50 equipamentos nk reparados, exceto que o tempo relevante de ensaio

“50 existe apk a primeira falha de cada um dos itens sob ensaio.

6 PLANOS DE ENSAIOS SEOiiENClAlS

Nesta capitulo sk descritos os pianos de ensaios preferenciais para ensaios se-

qiknciais truncados, incluindo-se curvas caracteristicas de opera~ao e o valor

esperado de tempo relevante de ensaio para chegar a uma decisk (aceita$o, re

-
jeisao ou continuidade do ensaio).

6.1 Caracteristicas do.5 ptanos de ensaios seqiienciais

6.1.1 OS pianos de ensaios seqknciais descritos neste item sao caracterizados

por:

a) m. = valor aceitavel especificado da caractertstica de confiabilidade;

b) n = risco do fabricante;

c) e = risco do consumidor;

d) Dm = taxa de discrimina@k para o tempo media entre falhas.

6.1.2 0 risco do fabricante, risco a, G a probabil idade de rejeisao do equipa -

mento corn o verdadeiro valor de m igual a mo.

6.1.3 0 risco do consumidor, risco E, 6 a probabilidade de aceitagao do equipa -

mento corn o verdadeiro valor de m igual a m,, onde 6 o valor inaceitavel da ca-

racteristica de confiabilidade.

6.1.4 A taxa de discriminaqk para o tempo media entre falhas 6 definida por:

m
Dm= ’

ml

6.2 Tabelas E grLificos dos pZanos de ensnio scqiicnciais

A Tabela I contern a rela& dos pianos de ensaio apresentados nesta se@ da

Norma.
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TABELA 1 - Planor de ensaio

Plan0

n?
Caracteristicas

do piano
Valor

chegar
decisk
esperado
do tempo
a
para
uma
p/m=mo
T Risco

dadeiro
2
ver -

I
T
Valor nominal "/ D Mbltiplos de m=m
m 1

1
m
0
4 cl’ B'

6:1 IO 175 17,? 1 I ,5 12,s

6:~ 10 5,1 12,8 l2,8
6:3 10 : 290 11,l 10.9
6:4 10 5 0,6 12,4 13,O

-
t
6:5 20 195 796 22,7 23,2
6:6 20 2 2,4 22,3 22,5
6~7 20 3 18,2 19,2
6:8 30 195 :'1 31,Y 32.8
6:9 30 3': 2 1:3 29,3 29,Y
6:lO 35 40 1925 530 36,3 39,7
- -
Abtns: a) OS riscos verdadeiros 0~' e B' diferem dos riscos nominais a e B de-

vido a aproximqk e interrupsoes feitas nos pianos de ensaio;

b) Continuamente durante o ensaio, ou a intervalos nao maiores que as

dura@es do ciclo de ensaio, e do interval0 de controle ( ver

NBR 9320), dew-se comparar o tempo relevante acumulado de ensaio e

o nimero de falhas relevantes corn o criteria de aceit&& e rejei -

$0.

6.2.1 Plnrs, de ensaio b-:1 iver Figuras 2, 3 e 4 e !mbc?la 2)

Par.3 a = 0,lO 6 = 0.10 D = I,5

m

efalhar relevantly

onto de deck% esperado

0
0 3omo ‘mmo

Tempo relevanfe acumulado

de ensaio

FIGURA 2 - Zonas de deck% para o piano de ensaio 6:l

 TABELA 2 - Tab& de deck% pan o plano de enfaio 6:l

r Tempo relevante acumulado

” I
Tempo relevante acumulado

r
Nimero de de ensaio (em multiples de m-1 Numero de de ensaio (em mljltiplos de m-1
falhas
"antes
rele -
Rejeitar Aceitar
falhas
vantes
rele/ Rejeitar
~ ( menor
I Aceitar

!
(menor ou igual) ( major ou igual) ou igual) (maior ou igual)

I----- 4,40
5,21
21
22
12,61
13,42
21.43
22,24
6,02 23 14923 23,05
6,83 24 15,o4 23,86
7,64 25 15,85 24,67
8,45 26 16,66 25,48
o,45 9927 27 17,47 26,29
1.26 lo,08 28 18929 27,11
i 2,o7 IO,89 29 IV,10 27,92
9 2,88 11,70 30 19,YO 28,73
10 3,69 12,51 31 20,72 x9,54
11 4.50 13,32 32 21,53 30,35
12 5;ii 14,13 22,34 31,16
13 6,~ 14,94 :z 23,15 31,97
14 6,93 15,75 23,96 32372
15 7,74 16,56 24277 33,oo
16 8,55 17,37 25,58 33,00
17 9,37 18,19 26,39 33,oo
18 IO,18 19,oo 27,21 33,oo
19 10,YY 19,81 28,02 33,oo
20 11,80 20,62
-

\‘OtQ: Rejeitar sempre que o n;mero de falhas for maior ou igual a 41

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NBR 9325/19&j
8

1.0

0.9

0.8

0.7

0.6

0.5

0.4

0.3

0.2

0.1

~a\or verdadeiro de m

2Om0

lam0

16mo

14mo

12mo

10mo

Ema

6mo

4mo

2mo

0
0 ml 1 “70 2mo 3mo
valor verdadeiro de m
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NBR 93X/1986 9

.=’ acumulado de falhar relevantel

t

0 2.5m0 5mo 7.5m0 lOm0 12.5mCJ

Tempo relevanteacumulado de ensaio

FIGURA 5 - Zonas de deck% para o piano de enraio 62

TABELA 3 - Tab& de deck% para o piano de ensaio 6:2

Nimero de Tempo relevante acumulado de ensaio

falhas re (em mGltiplos de mn)
1evantes-
Rejeitar Aceitar
(menor ou igual) (maior ou igual)

0 2,20
1 2,89
2 3,59
3 0,35 4,28
4 1,04 4,97
I,74 5,67
2 2,43 6.36
3,12 7;05
; 3.82 7,75
9 4,51 8,44
10 5.20 9.13
11 5190 9.83
12 6.59 10,30
13 7928 10.30
14 7,97 10,30
15 8,67 lo,30

!L’Ot <I : Rejeitar sempre que o n&mero de falhas for major ou igual a 16.
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10 NBR 9325/1986

I Probabilidade de aceit?&

1.0

0.9

0.8

0.7

0.6

0.5

0.4

0.3

0.2

0.1

0
0 ml lmo 2mo. 3ma
Valor verdadeiro de m

6.0 mo

5.5mo

5.0mo

4.5mo

4.0mo

3.5mo

3.0mo

2.5m.9

2.0mo

1.5mo

l.Om0

0.5m

0
0 ml lm 2mo 3mo
Valor verdadeiro de m

FIGURA 7 - Valor erperado de tempo relevante de ensaio para chegar a uma deck%
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t no acumulado de falhas relevantes

7

0
0 lmo 2m.a 3m0
Tempo relevante acumulado de ensaio

FIGURA 8 - Zonao de decitio para o piano de ensaio 6:3

TABELA4-Tabeladedecisdb para o piano deensaio6:3

NGmero de Tempo relevante acumulado de ensaio

falhas re (em m;ltiplos de mn)
levantes-
Rejeitar Aceitar
(menor ou igual) (maior ou igual)

0 1,257
1 1,80

2 0,lY 2.35

3 0,74 2,YO
4 I,29 3,45

5 1.84 3,45

6 I 2,39 I 3,45

N9 tn : Rejeitar sempre que o ntimero de falhas for maior ou -i

gual a 7
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12 NBR 9325/1986

f Probabilidade de aceitaqeio

1.0

0.9

0.8

0.7

0.6

0.5

0.4

0.3

0.2

0.1 I

0 J,
0 mt lm0 2m0 3m
Valor verdadeiro de m

FIGURA 9 - Cura caracteristica de operagiio

2.2m0

2.Om0

l.Bmo

1.6mo

1.4mo

1.2mo

l.Omo

0.8mo

0:6m,

0.4,no

0.2m.3

0
0 ml 1 “10 2 mo 3mo
Valor verdadeiro de m

FIGURA 10 - Valor esperado de tempo relevanfe de ensaio para chegar a uma deck%
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NRR 9325/19nfi 13

no acumulado de falhas relevantes

7
Rejaitar

z Continuar
Con&r
0 ensaia

I
/

Aceitar
i
esperadv

0 0.25mo 0.5Omo 0.75rn~ l.Omo

1
1.25mo 1.50mo
Tempo relevante acumulado de ensaio

FIGURA 11 - ZonaS de decirk para o piano de ensaio 6:4

TABELA 5 - Tab& de deck% para o piano de ensaio 6:4

Numero de Tempo relevante acumulado de ensaio

falhas re (em m6ltiplos de mo)
levantes-
Rejei tar Acei tar
(menor ou igual) (maior ou igual)

0 0,55
I 0,04 0.95

2 0.44 I,25
3 0,85 I,25

!‘j, to : Rejeitar sempre que o ruimero de falhas for maior ou igual a

4.
Licenca de USCI exclusiva para P&rob& S.A.
ld NBR 9X26/1986

Probabilidade de aceita@io
1.0

0.9

0.8

0.7

0.6

0.5

0.4

0.3

0.2

0.1

0
lmo 2mo 3ma
Valor verdadeiro de m

FIGURA 12 - Curva caracteristica de operatio

Tempo esperado
0.7m0

0.6mo

0.5mo

0.4m0

0.3m

0.2mo

0.1 mo

0
0 lmo 2mo 3 “70
ml
Valor verdadeiro de m

FIGURA 13 - Valor esperado de tempo relevante de ensaio para chegar a uma deck%
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t no acumulado de falhas relevantes

ii
0 5m 1OfiQ 15mo 20mo
Tempo relevante acumulado de ensaio

FIGURA 14 - Zonas de deck% para o plano de ensaio 135

TABELA6 -TabeladedecisZo para o planodeensaio63

Numero de falhas Tempo relevante acumulado de ensaio

relevantes (em mljltiplos de m,,)

Rejeitar Aceitar
(menor ou igual) (maior ou igual)

2,E
3,6o
4.41
0,16 5722
0,97 6,o3
I,78 6,84
2,60 7,66
3,41 a,47
4,22 9928
9 5,03 10,OY
10 5,54 IO,90
11 6,65 11,71
12 7,46 12,52
13 a,27 13,33
I4 Y,Ofl 14,14
15 9,59 14,6fl
16 IO.70 14,60
17 II,52 14,60
18 12.33 14,60
Licenca de use exclusiva para P&rob& S.A.
16 NBR 9325/1966

1.0

0.9

0.6

0.7

0.6

0.5

0.4

0.3

0.2
I I I I I I I I I I I, I I I
0.1

d I
0 ml lm0 2m 3mo
Valor verdadeiro de m

FIGURA 15 - Curva caracterktica de operaq%

Tempo esperado
t
8ml

7mo

6~

5mo

4mo

3mo

2mo

lm

0
0 m lmo 2mo 3mo
Valor verdadeiro de m

F,GURA 16 - Valor experado de tempo relevante de ensaio para chegar a uma decir%
Licenca de USCI exclusiva para P&rob& S.A.
NBFI 9325/19&i 17

Ponto de deck% esperado ,

para m = In,
1 /

0
0 1m 2mo 3mj 4% 5m
Tempo relevante acumulado de ensaio

FlGURA 17 -Zones de deck% para o piano de ensaio 6%

TABELA 7 - Tab& de de&.% para o piano de ensaio 6:6

Nimero de Tempo relevante acumulado de ensaio

falhas '5 (em multiples de m_)
”
I evantes
Rejeitar Aceitar
(menor ou igual) (maior ou igual)

I,40

2,OP
0,35 2,79
1,04 3,48
I,73 4,17
2,43 4,87
3.12 4,87
3.81 4,a7

,No t a : Rejeitar sempre que o n;mero de falhas for maior ou igual

a 8.
Licenca de us.0 exclusiva para Petrobrks S.A.
NBR 9325/1986
18

Pmbabilidade de aCeit@
1.0

0.9

0.8

0.7

0.6

0.5

0.4

0.3

0.2

0.1
I I I I I I I I I I I I
0 ml lma 2mo 3mo
Valor verdadeiro de m

FIGURA 18 - Curva caracteristica de opera@0

Tempo esperado

2.4~

2.2 mo

2.Om0

1.8mo

1.6mo

1.4mo

1.2mo

i.OmO

0.8 mo

0.6mo

0.4 “0

O.Znro

0
0 ma 101~ 3 ‘“i’
Valor verdadeiro de m

FIGURA 19 - Valor esperado de tempo relevante de ensaio para chew a “ma deck.%
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3
I no acumulado de falhas relevantes

Rejeitar

2 -

Continusr
0 enraio
test
1
.j Ayitar

Ponto de deck& esperado

para m = m.
/. I I
‘0
0 0.25mo 0.50mo 0.75mo l.Omz 1.25rn~ 1.5Om0 1.75.q
Tempo relevante acumulado de ens&

FIGURA 20 - Zonar de deeirk para o piano de ensaio 6:7

TABELA 8 - Tab& de deck% para 0 piano de ensaio 6:7

0 0,89
1 1,44

2 0,lZ 1,50

!UC>ta : Rejeitar sempre que o n6mero de falhas for maior ou igual a

3.
Licenca de USCI exclusiva para P&rob& S.A.
20 NBR 9325/1986

Probabilidade de aceita@O
1.0

0.9

0.8

0.7

0.6

0.5

0.4

0.3

0.2

0.1
I I I I I I I I I I I ! I
OlA ,’
0 ml 1m0 2m 3m0
Valor verdadeiro de m

FIGURA 21 - Curva carscterirtica de opera@0

1.2mo

0.8 mo

0 “11 1 “70 2mo 3mo

Valor verdadeiro de m

FIGURA 22 - Valor esperado de ternpa relevanfe de enraio para chew a uma deck%
Licenca de USCI exclusiva para P&rob& S.A.
NBR 9325/1986 21

2
ado
para m = m,
1

0
0 2m3 3no 4m
Tempo relevanfe acumulado de ensaio

FIGURA 23 - Zonas de decisb para o piano de ensaio 6:s

TABELA 9 - Tab& de deck% para o piano de ensaio 6:s

NGmero de Tempo relevante acumulado de ensaio

falhas re (em miltiplos de mn)
levantes-
Rejeitar Aceitar
(menor a igual) I (maior ou igual)

2,lO
2,Yl
3772
o,a1 4,53
I ,62 4,53
2,43 4,53

‘VO t17 : Rejeitar sempre que o n;mero de falhas for maior ou igual
a 6.
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22 NBR 9325/1986

I Probabilidade de aceitack

1.0

0.9
t i / i t
0.8

0.7

0.6

0.5
/
I
0.4
/ , i
0.3
I I I I .I I
f
I I
,
I
I
I
0.2
l4zrlT
0.1

0 I iYi i, i
0 ia lmo 2w 3mo
Valor vardadeiro de m

FIGURA 24 - Curva caracteristica de opera@o

Tempo espkdo
t
4.Om

3smo

3.omo

2.5mo

2.0mo

1.5mo

l.Omo

0.5mo

F~G~RA 25 -valor esperado de tempo relevante de ensaio para chqar a uma deck%
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no acumulado de falhan relevanter

A&tar
/

Ponto de deck&
Ponfo asperado
param=lno

, I
0.5mo l.Om0 1.5mo 2.0mo 2.5mo
Tempo relevante acumulado de ensaio

FIGURA 26 - Zonas de deck% para o piano de enraio 6:9

TABELA 10 - Tab& de deck% para o piano de ensaio 6:9

Numero de Tempo relevante acumulado de ensaio

falhas re (em mliltiplos de mO)
1evantes-
Rejeitar Aceitar
(menor ou igual) (maior ou igual)

0.86
I,55
2,25

.*,Tota : Rejeitar sempre que o numero de falhas for maior ou igual

a 3.
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1.0

0.9

0.8

0.7

0.6

0.5

0.4

0.3

0.2

0.1

0 -
0 m 2mo 3m0
Valor verdadeiro de m

FIGURA27 - Curva caracteristica de operagk~

Tempo esperado
t
1.3m0

1.2m0

0.9 mo

0.8mo

0.7 ml

0.6W

0.5mo

0.4 mo

0.3mo

0.2mo

0.1 mo

0 7-
0 ,?I, 1 n,j 2 “70 3 “‘0
Valor verdadeiro de m

FIGURA 28 - Valor elperado de tempo relevante de ensaio para chegar a uma deck%
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T no acumulado de falhas relevantes

0 2m 4m cm, 8m 1D “0
Tempo relevante acumulado de ensaio

FIGURA 29 - Zonas de deck& para o piano de ens&o 6:lO

TABELA 11 -Tab& de deck% para o piano de ensaio 6:lO

Numero de Tempo relevante acumulado de ensaio

falhas re (em mjltiplos de m_)
”

levantes-
Rejeitar Aceitar
(menor ou igual) Cmaior ou igual)

2,00
2,89
3,79
4,69
0,45 5,57
I,34 6,46
2,24 7936
3.13 8,25
4,oz 8325

!‘b’,?f a : Rejeitar sempre que o numero de falhas for maior ou igual

a 9.
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Pmbabilidade de aceita@o

FIGURA 30 - Curva caracteristica de opera@o

5.5mo

S.OmO

4.5mo

4Om0

3.5m0

3.Om0

2.5m0

2.0mo

Mm0

l.Omo

0.5m,

0
0 3m0
Valor verdadeiro de m

F1GlJR.A 31 - Valor esperado de tempo relevante de enfaio para chegar a uma decis&
Licenp de use exclusiva para Petrobrks S.A.
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7 CARACTER&TICAS DOS PLANOS DE ENSAIO COM DURAC~O E/OU NljMERO DE FAL,,AS PRE.
FIXADOS

~este capitulo 5%~ descritos OS pianos de ensaio preferenciais para ensaios corn

duraGao e/au nhmero de falhas pre-fixados, incluindo-se curvas caracteristicas

de opera$So e valor esperado de tempo relevante de ensaio para chegar a uma deci -

520 (acei ta+, rejeiG.50 ou continuidade do ensaio).

7. I Caracteristicas dm :hhu3s dc! cnsaio cm durcqG0 e/ox n&ero & f~,!.hiz,9 ps

-fixmios

OS pianos de ensaio corn duracao e/au nimero de falhas pri-fixados descritos nes
-
te item 550 caracterizados por:

a) mo = valor aceitavel especificado da caracter;stica de confiabilidade;

b) a = risco do fabricante;

cl R = risco do consumidor;

d) Dm = taxa de discriminaGao para o tempo media entre falhas,

0 risco do fabricante, risco a, 6 a probabilidade de rejeisao do equipamento corn

o verdadeiro valor de m igual a m .

0
0 risco do consumidor, risco 5, e a probabilidade de aceitasao do equipamento

corn valor de m igual a m,, onde m, 6 o valor inaceitavel da caracteristica de

confiabilidade.

A taxa de discrimina$ao para o tempo mgdio entre falhas 6 definida por:

A Tabela 12 contern 0s plan05 de ensaio recomendados para ensaios corn dura -

$ao e/au nfimero de falhas pr&fixados incluindo o crit6rio de decisao. 0 tempo

relevante de ensaio 6 acumulado at6 que urn valor pre-determinado de tempo rel e-
“ante seja ultrapassado (aceitar) ou, urn nCimero pr&determinado de falhas tenha
ocorrido (rejei tar).

/TABELA 12
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TABELA 12 Pianos de ensaia para ensaio corn duratio eiou ntimero de falhar p+fixsdos

CaracterTsticas Limite Riscos

Plan0 do piano de Nljmero ma verdadeiros
ximo de 2
N? Tempo
falhas
Valor
p
nominal
TD
m
Flljltiplos
m
0
dt rn=nl

8’
0
rn=m

6'
a 6
-

7:l 10 10 175 30,o 37 12,0 9,Y

?:2 10 IO 2 994 14 9,6 lo,6
7:3 10 10 3 3,l 6 994 979
7:4 10 10 5 1,lO 3 10,o 898
71 5 20 20 195 14.1 18 18,o 21,7
7:6 20 20 2 3,Y 6 20,o 21,0

7:7 20 20 3 1,46 3 18,1 18,8

7:2 30 30 I,5 5,3 7 28,3 32,O

7:y 30 30 2 I ,84 3 28,D 28,~
7: 10 35 40 1925 677 8 35,7 40.2
-

Valor verdadeira de m

FIGURA 32 - Curva caracteristica de opera~k dor planor 711. 7z2.7:3 e 7:4

Licenca de USCI exclusiva para P&rob& S.A.
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20 mg

1Omo

0
0 lm0 2mo
Valor verdadeiro de m

7~1 - Valor esperado de tempo relevante de ensaio para chegar a uma deck&a

1Omo

8ma

em.3

4mo

2mo

0
0 lm0 2m
Valor verdadeiro de m

7~2 - Valor esperado de tempo relevante de ensaio para chegar a uma deck%

t Tempo esperado

1"70 2 “Q 2 IT>,)
Valor verdadeiro de m Valor verdadeiro de m

7:3 Valor erperado de tempo relevante de ensaio 7~4 Valor esperado de tempo relevante de ensaio
pm chegar a “ma de%% para chegar a “ma deck%

FIGURA 33 - Greficos pan determina@o do tempo esperado para os pianos 7:l. 72, 7~3 e 7~4
Licenp de USCI exclusiva para Petrobrks S.A.

30 NBR 9325/1986

Probabilidade de aceitaq.Zo

t WiiInyi i i i i iii i i i i i i i i i~i i t

0 lmo 2m Valor verdadeiro de m

FIGURA 34 - Curvas caracterirticas de opera@o don pianos 75. 7~6 e 7~7

0
0 1m0 ?Q
Valor verdadeiro de m

7~5 - Valor esperado de tempo relevante de enraio para chegar a uma deck%

Tempo erperado

4mo

3m0 L5mo

2mo 1,0/Q

1 m3 05m,

0 0
0 lm0 2m0 0 lmo 2m0
Valor verdadeiro de m Valor verdadeiro de m

7% Valor esperado de tempo relevante de ensaio 7:7 Valor esperado de tempo relevanfe de emaio
para chegar a uma deck.% para chegar a uma deck%

FIGURA 35 - Graficos para determinaq.% do tempo esperada para OS planor 7~5. 75 e 7~7
 Licenca de us.0 exclusiva para P&rob& S.A.

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0.8

0
0 2% Valor verdadeiro de m

FIGURA 36 - Curvar caracteriaticas de opera&! dor planor 7:8.78 e 7:lO

0
0 lm 2mo
Valor verdadeiro de m

7~8 - Valor esperado de tempo relevante de ensaio para chegar a uma deck%

2~Om0 8m
1.5m0 6mo
l.Omo 4m
05mo 2mo
0 0
0 lmo 2q 0 Zmo
Valor verdadeiro de m Valor verdadeiro de m

7:9 Valor esperado de tempo relevante de ensaio 7:lO Valor erperado de tempo relevante de ensaio
para chegar a uma deck% para chegar a uma deck%

FIGURA 37 - Graficos para determinaqk do ternpa esperado para OS planos 718. 7:9 e 7:lO