Вы находитесь на странице: 1из 7

ISSN 0868–5886 НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, 2015, том 25, № 1, c.

76–82
МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ
И МОДЕЛИРОВАНИЕ В ПРИБОРОСТРОЕНИИ

УДК 543.426

© С. К. Савельев, А. В. Бахтиаров, В. Г. Семенов, Н. Б. Климова

ВИРТУАЛЬНЫЙ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ
СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС
ДЛЯ ОБУЧЕНИЯ И ИССЛЕДОВАНИЙ
Обозначены проблемы, возникающие при подготовке специалистов по сложным физическим методам ана-
лиза, которые могут быть решены созданием универсальных программных продуктов. Представляется опи-
сание схемы расчетов виртуального программно-моделирующего рентгеновского комплекса X-Energo,
а также возможностей его использования в учебном процессе и исследованиях аналитических характеристик
рентгенофлуоресцентного анализа на спектрометрах различного типа. Комплекс X-Energo предоставляет
возможности детального адекватного воспроизведения особенностей работы различных узлов рентгено-
флуоресцентного спектрометра, а также приемов сбора, обработки и интерпретации данных.

Кл. сл.: рентгенофлуоресцентный анализ, рентгенофлуоресцентные спектрометры, рентгеновский


энергодисперсионный спектрометр, уравнения связи, модифицированный способ стандарта-фона

ВВЕДЕНИЕ раз и навсегда освоившего определенные приборы.


Целью университетских курсов должно быть
Эффективность подготовки специалистов в об- в первую очередь освоение общих принципов ме-
ласти сложных физических методов исследования тода, а не определенного функционала конкретно-
и анализа вещества зависит от сбалансированно- го прибора либо его программного обеспечения.
сти в программах подготовки двух составляющих: В то же время не может быть оправдана сильная
сведений об особенностях физических процессов, перегрузка студентов, проходящих подготовку не
лежащих в основе изучаемого метода, и практиче- по физическим специальностям, деталями описа-
ских навыков в использовании возможностей кон- ний физических процессов, реализуемых в слож-
кретного оборудования для решения исследова- ном аналитическом оборудовании, или особенно-
тельских или аналитических задач. При этом стями математических методов обработки данных.
акцент в программах обучения может смещаться К тому же они, как правило, невозможны из-за
между этими двумя аспектами подготовки в зави- временных ограничений учебных программ.
симости от направленности учебного процесса на Оптимальный баланс между "эмпирическим"
подготовку специалистов для той или иной сферы и "теоретическим" подходами не есть что-то фик-
деятельности и от квалификации преподавателя. сированное. Его нужно искать для каждой кон-
Первый аспект подготовки будем называть "теоре- кретной ситуации, определяемой изучаемым ме-
тическим", а второй — "эмпирическим". тодом и его инструментальным воплощением. На-
И если акцент на эмпирическую составляющую хождение такого баланса может быть эффективно
программ вполне оправдан при подготовке техни- реализовано только при наличии в распоряжении
ческого персонала сервисных аналитических ла- преподавателя обширного и, самое главное, доста-
бораторий и менеджеров по продажам соответст- точно универсального набора инструментов (ап-
вующих приборов, то в университетских учебных паратных, программных и методических), которые
курсах обязательно соблюдение разумного балан- с запасом обеспечивают требования при подготов-
са между обеими составляющими программы обу- ке студентов всех уровней — от начального до
чения с бóльшим вниманием к "теоретическому" высшей квалификации. При этом очевидно, что
аспекту. Тем не менее при подготовке студентов при реализации "эмпирической" программы под-
химиков-аналитиков в настоящее время наблюда- готовки возникают существенные ограничения
ется существенный перекос в сторону "эмпириче- материального характера. В этом отношении "тео-
ского" подхода. Такая практика связана с привяз- ретический" аспект более гибок и может при
кой процесса подготовки к определенным моде- наличии хорошего обеспечения гибко адаптиро-
лям оборудования и обусловлена ограничениями ваться к различным условиям. Тем не менее при
в технической оснащенности и часто недостаточ- крене в сторону "теоретического" аспекта возни-
ной квалификацией преподавательского состава, кают свои проблемы.

76
ВИРТУАЛЬНЫЙ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС... 77

Сложная современная аналитическая техника, са — [2], характеристические линии элементов —


как правило, располагает развитым программным [3], края поглощения — [4], выход флуоресцен-
обеспечением (ПО), которое привязано к опреде- ции — [5, 6], вероятности радиационных перехо-
ленной марке прибора и реализует ограниченный дов и переходов Костера—Кронига — [6–8],
набор способов анализа. При этом даже не очень форм-факторы и сечения взаимодействия — [9–
быстрый прогресс в способах обработки данных 11].
приводит к более быстрому старению специализи-
рованных программных продуктов, чем происхо- Модели основных процессов
дит физический и моральный износ самой аппара- РФА-спектрометра
туры, и тогда возникает большое число задач, не
охваченных стандартным ПО, поставляемым В комплексе X-Energo реализованы два типа
с оборудованием. моделей: стохастическая, построенная на анализе
процессов взаимодействия отдельных фотонов
излучения со средой, и интегральная, базирую-
ПРОГРАММНО-МОДЕЛИРУЮЩИЙ щаяся на описании процессов переноса в предпо-
КОМПЛЕКС X-ENERGO ложении о том, что излучение распространяется
параллельным пучком, выполняется закон Буге-
Цели разработки ра—Ламберта—Бера и учет процессов рассеяния
Обозначенные проблемы могут быть решены ограничен однократным взаимодействием. При
созданием универсальных программных продук- рассмотрении закономерностей формирования
тов, максимально развязанных от конкретного флуоресцентного сигнала по интегральной модели
"железа", но в то же время предоставляющих не учитываются эффекты, обусловленные фото-
пользователю возможности детального, а самое и оже-электронами. А при определении сечений
главное, адекватного воспроизведения особенно- взаимодействия не учитываются эффекты, связан-
стей работы самых различных устройств, исполь- ные с аномальной дисперсией. В зависимости от
зуемых для реализации методов анализа, приемов решаемой задачи анализ ведется в 1D, 2D или 3D
сбора, обработки и интерпретации данных. Оче- геометрии.
видно, что такую задачу невозможно решить "эм- Использованные упрощения в большинстве слу-
пирическим" путем создания "самого универсаль- чаев не являются принципиальными и адекватны
ного прибора". Речь может идти только о вирту- реальным процессам, происходящим в приборах.
альной версии такого прибора со всеобъемлющим Основное предназначение комплекса наиболее
ПО, которое наряду с обеспечением возможности полно воплощается в программе моделирования
изучения физических процессов, лежащих в основе работы спектрометров. При реализации такой про-
метода, может служить тренажером для освоения граммы обеспечивается моделирование как про-
различных вариантов аналитических приборов. цесса получения спектра исходного излучения, так
На кафедре Аналитической химии СПбГУ реали- и последующей трансформации этого спектра при
зуется идея создания виртуального учебного ком- прохождении по тракту измерительного прибора,
плекса по физическим методам аналитической хи- его взаимодействии с элементами конструкции,
мии. В качестве первого этапа реализации намечен- исследуемым образцом и детектором. Это обеспе-
ной программы авторами предлагается использова- чивает получение на выходе результирующего
ние в учебном процессе программно-моде- аппаратного спектра. В дополнение к перечислен-
лирующего рентгеновского комплекса X-Energo [1]. ным моделирующим функциям пользователю пре-
Целью этой разработки является создание ап- доставляется мощный набор средств обработки
паратно-независимого программного комплекса спектральных данных, предназначенный для из-
для описания физических процессов, происходя- влечения из аппаратного спектра аналитической
щих в приборах, использующих рентгеновские и информации.
оптические методы спектрального анализа. Ком- Ниже приводится описание реализованных
плекс предоставляет пользователю возможность в X-Energo моделей основных физических процес-
детально ознакомиться с принципами функциони- сов, учитываемых при программной имитации ра-
рования прибора начиная от источника возбужде- боты рентгенофлуоресцентного спектрометра.
ния до формирования аналитического сигнала. Описание спектрального распределения
Спектральное распределение описывается как
Источники данных суперпозиция отдельных спектральных компонен-
Работа комплекса X-Energo обеспечивается ба- тов, которые будем называть спектральными ли-
зой атомных констант и сечений взаимодействия ниями, описываемых их положением на шкале
для элементов Периодической системы. Использо- энергий (длин волн) и формой распределения.
ваны следующие источники данных: атомные ве- Форма распределения может быть описана набо-

НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, 2015, том 25, № 1


78 С. К. САВЕЛЬЕВ, А. В. БАХТИАРОВ, В. Г. СЕМЕНОВ, Н. Б. КЛИМОВА

ром различных функций: прямоугольной, суперпо- с энергией Е.


зицией нескольких гауссовских, ступенчатой и т. п. При использовании соотношения (4) следует
Таким образом, учитывать изменение формы линии при некоге-
N
рентном рассеянии. В данной работе принято, что
I ( E )   I n  En , Pn  E   , (1) рассеянная линия имеет лорентцовский профиль,
n 1 ширина которого определяется эффективным
атомным номером рассеивателя и энергией рас-
где Pn  E  — функция, описывающая форму спек- сеиваемого излучения.
тральной n-й линии I n  En , Pn  E   . Модели для источника излучения
В описываемом комплексе X-Energo имеется
Обобщенная модель спектрометра и его возможность выполнения моделирования источ-
компонентов ников, генерирующих неполяризованное рентге-
В X-Energo спектрометр представляется как новское излучение, каковыми являются рентге-
набор M звеньев, последовательно преобразующих новские трубки с массивным или прострельным
спектральное распределение от источника излуче- анодом и радиоактивные изотопы. Кроме того,
ния (номер этого звена 1) вплоть до детектора из- имеется возможность генерировать спектры про-
лучения, имеющего номер М. извольного распределения по требованию пользо-
Распределение интенсивностей спектра после вателя.
прохождения k-го звена тракта спектрометра Ik(E) Генерация спектров излучения рентгеновских
получается как результат свертки входного спек- трубок в X-Energo может производиться по раз-
тра с аппаратной функцией преобразующего звена личным моделям. Так, в частности, для моделиро-
и может быть представлено следующим образом вания спектров тормозного излучения трубок
с массивными анодами хорошо зарекомендовала
I k  E    Ak ( E ) I k 1  E  dE , (2) себя модель [12]
где Ak(E) — аппаратная функция k-го звена спек-  E0 
9
трометра. I E  2.62  10 A   1 R a L E f (c), (5)
Однако с учетом специфики отдельных звеньев E 
спектрометра, в первую очередь таких как фильт-
рующие элементы и образец, соотношение (2)  photon / (s  keV  STR  mA) ,
в которой учитыва-
можно преобразовать к виду ется обратное рассеяние электронов (член Ra), по-
глощение в материале анода (f(c) член), зависи-
I k ( E )  I k 1  E  (Tk ( E )  Fk  I k 1  E  , Ck   , (3) мость тормозной способности от атомного номера
(LE).
где первое слагаемое Tk (E) описывает ослабление Здесь IE — спектральная плотность излучения
излучения, идущего от (k–1)-го звена, в рассмат- при энергии E; A и Z — атомная масса и атомный
риваемом k-м звене, а второе слагаемое
номер материала анода трубки; LE 
Fk  I k 1  E  ,Ck      iA  I k 1  E  ,Ck     ln 1.166  E0  E  0.023 Z  — тормозная способ-
A i
ность материала анода; E0 — напряжение на труб-
 I k 1  E  E incoh  Tkincoh  E  E incoh  (4) ке в кВ; Ra — фактор обратного рассеяния элек-
тронов Ra = 1.23 – ln Z /6; f(c) — поправка на по-
описывает спектральные компоненты, добавляе- глощение в аноде, которая по формуле Philibert
мые за счет флуоресценции вещества k-го звена, имеет вид
имеющего состав, определяемый вектором содер-
жаний Ck  , и рассеянием на нем падающего из- 1
f  c   1  c /   1  h / 1  h   c /   , (6)
лучения.  iA  I k 1  E  ,Ck   — функция, описыва-
ющая интенсивность флуоресценции i-й линии где c = (E) / tg ψ,  (E) — массовый коэффици-
элемента А, входящего в состав анализируемого ент ослабления фотонов с энергией E в аноде;
материала, состав которого описывается вектором ψ — угол отбора излучения из анода;
5 1.67 1.67
содержаний Ck  . Суммирование в первом члене   4.5  10 / ( E0  E ) — эффективный коэф-
осуществляется по всем элементам и всем харак- фициент поглощения электронов; h  1.2 A / Z 2 .
теристическим линиям каждого элемента. Второй Для расчета спектра трубок с прострельным
член описывает некогерентное рассеяние на ис- анодом используется выражение (5), но фактор
следуемой пробе, где E incoh — сдвиг по шкале поглощения рассчитывается по формуле, предло-
энергий при некогерентном рассеянии излучения женной Финкельштейном и Афониным [13]

НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, 2015, том 25, № 1


ВИРТУАЛЬНЫЙ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС... 79

f  ,d  
e
  d
1  K   e  d , (7)
 
 1    1  K   e 
 d

 
где χ =  (E) / tg ψ; d — толщина анода; K =
= h/(1+h) — эффективный коэффициент поглоще-
4.0  105
ния электронов;   1.65 1.65
— для континуу-
E0  E
4.0  105
ма и   1.67 1.67
— для характеристического
E0  E
излучения.
При расчете характеристического спектра мас-
сивного анода для интенсивности каждой l-линии
уровня q атомов используется соотношение [12]

11 f   
I ql  5  10 b q q p ql R a
Z Lq
 U 0 ln U 0  U 0  1  1   2  , (8)

 photon / (s  STR  mA) ,


где bq — эксперименталь- Рис. 1. Схема энергодисперсионного рентгеновского
ное сечение ионизации уровня q;  q — средний спектрометра (в центре схематически изображен
тракт спектрометра и схемы формирования спек-
выход флуоресценции уровня; U0 = Eq / E0 — вели- тров, соответствующих ключевым компонентам
чина перенапряжения; 2 — дополнительное воз- оптического тракта этого прибора)
буждение за счет тормозного излучения электро-
нов; pql — относительная интенсивность l-линии
в q-оболочке. Используемая модель аппаратной функции де-
тектора конкретизируется учетом спектральной
Дополнительные замечания к обобщенной зависимости эффективности детектора и опреде-
модели компонентов спектрометра ляется тремя компонентами: гауссовским профи-
Ключевым элементом анализа процессов фор- лем измеряемой линии, пиком вылета, имеющего
мирования аппаратного спектра является расчет также гауссовский профиль, плеча, формируемого
взаимодействия возбуждающего излучения с ве- в области энергий ниже энергии регистрируемой
ществом образца. В комплексе X-Energo для дан- линии за счет некачественной работы схемы де-
ного процесса в случае выполнения детерминиро- тектора.
ванного расчета за основу принята модель [14]. В случае моделирования волнодисперсионного
В случае моделирования волнодисперсионных прибора с амплитудным дискриминатором в трак-
приборов излучение образца рассеивается на кри- те детектора из аппаратного спектра необходимо
сталле-анализаторе. Форма спектра после взаи- вырезать диапазон энергий, определяемый уста-
модействия излучения с таким элементом опре- новками дискриминатора. Полученное спектраль-
деляется сверткой исходного спектрального ное распределение является конечным результатом
распределения со спектральной зависимостью, работы программы виртуального спектрометра.
определяемой структурой применяемого кри-
сталла. Аналогичное преобразование может быть Обработка и интерпретация данных
применено в случае использования в спектрометре
других спектрально селективных элементов, на- В случае, если в задачи исследования входит об-
пример таких как поликапилярные линзы. При работка и интерпретация полученного аппаратного
расчете таких элементов, очевидно, необходимо спектра, пользователь имеет возможность выпол-
применять соотношения типа (1). нить указанные операции средствами комплекса
Конечным этапом моделирования работы спек- X-Energo. С этой целью комплекс оснащен эффек-
трометра является моделирование отклика детек- тивным процессором спектральных данных, обес-
тора на поток излучения, приходящего на него. печивающим решение задач фильтрации, вычита-
Комплекс X-Energo позволяет моделировать ния фона, декомпозиции наложенных пиков, опре-
детекторы различных типов: сцинтилляционные, деления параметров пиков и идентификации пиков.
газоразрядные, полупроводниковые. На рис. 1 представлена схема, иллюстрирую-

НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, 2015, том 25, № 1


80 С. К. САВЕЛЬЕВ, А. В. БАХТИАРОВ, В. Г. СЕМЕНОВ, Н. Б. КЛИМОВА

щая работу программы виртуального энергодис- элементов или рассеянного излучения; Cj — со-
персионного рентгеновского спектрометра. держание элемента j в исследуемом образце;
Интерпретация результатов измерений C stj — содержание элемента j в образце сравнения.
Полученные в результате обработки спектра ин- На первом шаге (предиктор) используются со-
тенсивности аналитических линий могут быть ин- отношения, определяющие основные зависимости,
терпретированы с целью установления элементного описывающие связь аналитического сигнала и со-
состава исследуемого образца. Эта задача может держаний определяемых элементов. При необхо-
быть решена различными способами, реализацию димости к полученным из предиктора результатам
которых допускает комплекс X-Energo: множест- можно применить корректор, который строится на
венная регрессия, модифицированный способ стан- основе соотношений типа (10), но, как правило,
дарта-фона, способ фундаментальных параметров, в наиболее простой их форме.
способ теоретических поправок. Подставляя в выражение (9) перечисленные
Реализация вышеуказанных способов базирует- возможные варианты исходных переменных,
ся на двухшаговой процедуре расчета типа пре- можно получить любую из форм уравнений,
диктор—корректор и обобщенной форме уравне- используемых в большинстве современных под-
ний связи, записанных в следующем виде: ходов: множественной регрессии, теоретических
1
поправок, стандарта-фона, отношения интенсив-
Ci   Фk  , (9) ностей, а также другие формы, в том числе нели-
k
нейных соотношений, необходимых, например,
где Φk в свою очередь представляют выражения для реализации модифицированного способа
вида стандарта-фона МССФ [15].
M
Описанные приемы позволяют реализовать по-
Фk   bm  m . (10) строение высокоэффективных решений, обеспечи-
m 1
вающих единую градуировочную зависимость
в широком диапазоне содержаний. Так, методика
В последнем выражении параметры Θm могут на основе МССФ позволяет анализировать десятки
принимать значения   Ii ; I j ; Ii  I j ; Ii I j ; различных продуктов по единой градуировочной
зависимости, перекрывающей весь диапазон со-
C  C stj  , где Ii — интенсивность аналитической
j держаний практически от нуля до почти чистого
линии; Ij — интенсивность линий влияющих аналита (рис. 2).

Pd
y = 1.0005 x
y = 1,0005x
2
95
R =0.9999
2
R = 0,9999

90
85
А ттестов ан н ая трад иц и он н ая М В И , %

80
75
70
65
60
55
50
45
40
35
30
25
20
15
10
Рис. 2. Универсальная градуиро-
5
вочная зависимость для определе-
0 ния палладия [16]
0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 65 70 75 80 85 90 95

М С С Ф Р Ф А, %

НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, 2015, том 25, № 1


ВИРТУАЛЬНЫЙ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС... 81

ЗАКЛЮЧЕНИЕ 7. Salem S.I., Panossian S.L., Krause R.A. Experimental K


and L relative X-ray emission rates // Atom. Data and
К настоящему времени как комплекс X-Energo Nucl. Data Tables. 1974. Vol. 14, No. 2. P. 91–109.
целиком, так и его отдельные составляющие про- 8. Scofield J.H. Hartree-Fock values of L X-ray emission
шли апробацию в нескольких отечественных rates // Phys. Rev. A. 1974. Vol. 10, No. 5. P. 1507–
и зарубежных компаниях для программного обес- 1510.
печения создаваемой ими серийной и эксперимен- 9. Таблицы и формулы рентгеноспектрального анали-
за. Методические рекомендации / Под ред. Н.И. Ко-
тальной аппаратуры. Комплекс в целом готов для мяка. Т. 3. Л.: НПО "Буревестник", 1981.
включения в программу подготовки магистров 10. Hubbell J.H., Overbo I. Relativistic atomic form fac-
на химическом факультете СПбГУ и используется tors and photon coherent scattering cross-sections // J.
в магистерской программе БФУ им. Канта (г. Кали- Phys. Chem. Ref. Data. 1979. Vol. 8, No. 1. P. 69–105.
нинград) по специальности "Физика твердого тела". 11. Marenkov O.S., Savelyev S.K. X-ray atomic constants
and cross-sections reference data in the range 1–
Благодарности 150 keV on new approaches to hi-tech 98 // Interna-
За почти 25-летнюю историю комплекса X-Energo tional workshop "Nondestructive Testing and Comput-
в его совершенствовании, улучшении и тестировании er Simulations in Science and Engineering", NDTCS-
так или иначе приняли участие ряд наших коллег. Ав- 98. 8–12 June 1998, St. Petersburg, Russia. A 16.
торы благодарят Л.Н. Москвина за постоянную под- 12. Бахтиаров А.В. Рентгеноспектральный флуоресцент-
держку данной работы и ряд конструктивных рекомен- ный анализ в геологии и геохимии. Л., 1985. 143 с.
даций по продвижению в практику изложенных выше 13. Финкельштейн А.Л., Афонин В.П. Расчет интенсив-
идей. Особо следует отметить роль Р.И. Плотникова, ности рентгеновской флуоресценции // Методы
советы и рекомендации которого в немалой степени рентгеноспектрального анализа. Новосибирск,
обусловили возникновение данной работы. В создании 1986. С. 5–11.
и развитии комплекса значительную роль сыграл 14. Павлинский Г.В., Величко Ю.В., Ревенко А.Г. Про-
Б.Д. Калинин, выполнивший огромную работу по тес- грамма расчета интенсивностей аналитических ли-
тированию, анализу данной разработки, расширению ний рентгеновского спектра флуоресценции // За-
областей ее применения и предложивший ряд новых водская лаборатория. 1977. Т. 43, № 4. С. 433–436.
задач и подходов к включению в данную разработку. 15. Бахтиаров А.В., Савельев С.К., Зайцев В.А. и др.
Нужно отметить существенный вклад В.А. Зайцева, Рентгенофлуоресцентный анализ по модифициро-
разработки которого в части применения способа стан- ванному способу стандарта-фона в системе анали-
дарта-фона послужили основой для применяемого в тического контроля твердофазных продуктов мета-
настоящий момент в X-Energo обобщенного подхода лургического производства драгоценных метал-
для интерпретации данных рентгенофлуоресцентного лов // Заводская лаборатория. 2014. Т. 80, № 11.
анализа. С. 5–11.
Работа частично выполнена при поддержке 16. Бахтиаров А.В., Савельев С.К., Зайцев В.А. и др.
Министерства образования и науки Российской Применение рентгенофлуоресцентного анализа по
Федерации (грант № 14.Y26.31.0002, грант модифицированному способу стандарта-фона в
№ 02.G25.31.0086). системе аналитического контроля твердофазных
продуктов металлургического производства драго-
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ ценных металлов // Сборник тезисов. XX Между-
народная Черняевская конференция по химии, ана-
1. Савельев С.К., Плотников Р.И., Федоров С.И. Моде- литике и технологии платиновых металлов. Крас-
лирование энергодисперсионного рентгеновского ноярск: 7–12 октября 2013. Сибирский федер. ун-т.,
спектрометра в вычислительной среде X-Energo // 2013. С. 77. ISBN 978-5-7638-2891-7.
Оптика и спектроскопия. 1995. Т. 78, № 1. С. 174–176.
2. Holden N.E. Atomic weight 1977 // Pure and applied Санкт-Петербургский государственный универси-
chemistry. 1979. Vol. 51, No. 2. P. 405–433. тет, Институт химии (Савельев С.К.,
3. Cauchois Y., Senemaud C. Wavelengths of X-ray emis- Бахтиаров А.В., Семенов В.Г.)
sion lines and absorption edges // International tables
of selected constants. Pergamon Press. 1978. Vol. 18. Балтийский федеральный университет, НОЦ
P. 1–217. "Функциональные наноматериалы", г. Калининград
4. Sevier K.D. Atomic electron binding energies // Atom. (Климова Н.Б.)
Data and Nuclear Data Tables. 1979. Vol. 24, No. 4.
P. 323–371.
5. Krause M.O. Atomic radiative and radiationless yields Контакты: Савельев Сергей Константинович,
for K and L shells // J. Phys. Chem. Ref. Data. 1979. ssav@x-energo.com
Vol. 8, No. 2. P. 307–327.
6. Bambynek W., Crasemann B., Fink R.W. et al. X-ray Материал поступил в редакцию: 29.01.2015
fluorescence yields, Auger and Coster-Kronig transi-
tion probabilities // Rev. Mod. Phys. 1972. Vol. 44,
No. 4. P. 716–813.

НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, 2015, том 25, № 1


82 С. К. САВЕЛЬЕВ, А. В. БАХТИАРОВ, В. Г. СЕМЕНОВ, Н. Б. КЛИМОВА

SOFTWARE TOOLKIT FOR THE EDUCATION


IN X-RAY FLUORESCENCE ANALYSIS
S. K. Savelyev1,2, A. V.Bakhtiarov1, V. G. Semenov1, N. B. Klimova2
1
Saint-Petersburg State University, Institute of Chemistry, Saint-Petersburg, RF
2
Immanuel Kant Baltic Federal University, Kaliningrad, RF

The issues that arise during the process of students training in the class of complicated physic methods of
analysis are outlined. It is demonstrated that significant portion of those issues may be resolved by means of
conventional universal software solutions specialized for the named area. One of such solutions called X-Energo
is described with description of the main ideas of this package dealing with the possibilities of simulation of
X-ray fluorescence spectrometers of different types and determination of analytical characteristics of element
analysis of different stuff on such devices. X-Energo provides software realizations of the adequate, efficient,
detailed models for different components and the whole X-ray fluorescence spectrometer as well as the diversi-
fied tools for data acquisition, processing and interpretation.
Keywords: X-ray fluorescence analysis, universal software simulation complex, X-ray fluorescent spectrometers, energy
dispersive spectrometer, modified method standard background

REFERENСES
11. Marenkov O.S., Savelyev S.K. X-ray atomic constants
1. Savelyev S.K., Plotnikov R.I., Fedorov S.I. [Modeling of and cross-sections reference data in the range 1–
a power dispersive x-ray spectrometer in the computing 150 keV on new approaches to hi-tech 98. Interna-
environment X-Energo]. Optika i spektroskopiya [Optics tional workshop "Nondestructive Testing and Comput-
and spectroscopy], 1995, vol. 78, no.1, pp. 174–176. (In er Simulations in Science and Engineering", NDTCS-
Russ.). 98. 8–12 June 1998, St. Petersburg, Russia, A 16.
2. Holden N.E. Atomic weight 1977. Pure and applied 12. Bakhtiarov A.V. Rentgenospektral'nyy fluoreszentnyy
chemistry, 1979, vol. 51, no. 2, pp. 405–433. analiz v geologii i geochimii [The X-ray spectral fluores-
3. Cauchois Y., Senemaud C. Wavelengths of X-ray cent analysis in geology and geochemistry]. Leningrad,
emission lines and absorption edges. International 1985. 143 с. (In Russ.).
tables of selected constants, Pergamon Press, 1978, 13. Finkel'shteyn A.L., Afonin V.P. [Calculation of inten-
vol. 18, pp. 1–217. sity of x-ray fluorescence]. Metody rentgeno-
4. Sevier K.D. Atomic electron binding energies. Atom. spektral'nogo analiza [Methods of the X-ray spectral
Data and Nuclear Data Tables, 1979, vol. 24, no. 4, analysis], Novosibirsk, 1986, pp. 5–11. (In Russ.).
pp. 323–371. 14. Panvlinskiy G.V., Velichko Yu.V., Revenko A.G.
5. Krause M.O. Atomic radiative and radiationless yields [Program of calculation of intensivnost of analytical
for K and L shells. J. Phys. Chem. Ref. Data, 1979, lines of a x-ray range of fluorescence]. Zavodskaya la-
vol. 8, no. 2, pp. 307–327. boratoriya [Factory laboratory], 1977, vol. 43, no. 4,
6. Bambynek W., Crasemann B., Fink R.W. et al. X-ray pp. 433–436. (In Russ.).
fluorescence yields, Auger and Coster -Kronig transi- 15. Bakhtiarov A.V., Savelyev S.K., Zayzev V.A. et al.
tion probabilities. Rev. Mod. Phys., 1972, vol. 44, [The X-ray fluorescent analysis on the modified way of
no. 4, pp. 716–813. the standard background in system of analytical control
7. Salem S.I., Panossian S.L., Krause R.A. Experimental of solid-phase products of meta-lurgichesky production
K and L relative X-ray emission rates. Atom. Data and of precious metals]. Zavodskaya laboratoriya [Factory
Nucl. Data Tables, 1974, vol. 14, no. 2, pp. 91–109. laboratory], 2014, vol. 80, no. 11, pp. 5–11. (In Russ.).
8. Scofield J.H. Hartree-Fock values of L X-ray emission 16. Bakhtiarov A.V., Savelyev S.K., Zayzev V.A. et al.
rates. Phys. Rev. A, 1974, vol. 10, no. 5, pp. 1507– [Application of the X-ray fluorescent analysis on the
1510. modified way of the standard background in system of
9. Komyak N.I., ed. Tablizy i formuly rentgenospektral'no- analytical control of solid-phase products of metallur-
go analiza. Metodicheskie rekomendazii. Tom 3 [Tables gical production of precious metals]. Sbornik tezisov.
and formulas of the X-ray spectral analysis. Methodical XX Mezhdunarodnaya Chernyaevskaya konferenziya
recommendations. Vol. 3]. Leningrad, NPO "Burevest- po chimii, analitike i technologii platinovych metallov.
nik" Publ., 1981. (In Russ.). Krasnoyarsk: 7–12 oktyabrya 2013 [Proc. XX Interna-
10. Hubbell J.H., Overbo I. Relativistic atomic form fac- tional Chernyaevsky conference on chemistry, analyt-
tors and photon coherent scattering cross-sections. J. ics and technology of platinum metals. Krasnoyarsk:
Phys. Chem. Ref. Data, 1979, vol. 8, no. 1, pp. 69–105. October 7-12, 2013], Sibirskiy feder. un-t. Publ., 2013.
P. 77. ISBN 978-5-7638-2891-7. (In Russ.).

Contacts: Savelyev Sergey Konstantinovich,


ssav@x-energo.com Article received in edition: 29.01.2015

НАУЧНОЕ ПРИБОРОСТРОЕНИЕ, 2015, том 25, № 1