1. Введение
Рассмотрение плазмы, в которой существенную роль играют заряженные частицы
микронных размеров (так называемой пылевой плазмы) представляет интерес как
фундаментального, так и прикладного характера (см. литературу в [1,2]). Особый интерес
связан с наблюдением в пылевой плазме коллективных эффектов, обусловленных ее
неидеальностью [3-6]. Часто свойства неидеальной плазмы рассматривают в так
называемом однокомпонентном приближении. При этом один из зарядов как бы
размазывается однородно по пространству, а поляризационные эффекты учитываются в
некоторых случаях в виде поправок.
Физика процессов в пылевой плазме, по-видимому, принципиально иная. Объектом
исследования должны быть в первую очередь пылинки, окруженные облаками зарядов с
массами много меньшими массы пылинки. Заряженная пылинка, окруженная облаком
зарядов противоположного знака, является аналогом атома в кинетике газов. Вообще
говоря, у такого «пылевого атома» зарядовая оболочка может быть термодинамически
неравновесна. Однако мы здесь будем рассматривать ситуацию, когда заряды в оболочке
распределены по Больцману. Такой пылевой атом естественно называть дебаевским атомом
[7] в отличие от томас-фермиевского атома, в котором зарядовой оболочкой является
вырожденный электронный газ. Аналогично можно ввести понятие дебаевской молекулы
[8,9] и дебаевского кристалла. Свойства таких дебаевских систем математически задаются
распределением Больцмана и уравнением Пуассона, т.е. уравнением Пуассона-Больцмана.
Согласно целому ряду экспериментов (см., например, [3-6]) пылинки микронных
размеров в термоэмиссионной плазме, плазме газового разряда и ядерно-возбуждаемой
плазме могут образовывать пространственные структуры. В связи с этим естественно
предположить наличие сил притяжения, обусловленных поляризацией зарядовых оболочек
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2125 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
2. Постановка задачи
Уравнение Пуассона-Больцмана. Ниже мы для конкретности будем рассматривать
термоэмиссионную плазму, и говорить о положительно заряженных пылинках и об
электронной оболочке зарядов. Однако основные результаты справедливы также для
пылевой плазмы электрических разрядов и плазмы, ионизуемой внешним источником
жесткого излучения, когда пылинки заряжены отрицательно, а зарядовые оболочки состоят
преимущественно из положительных ионов.
Пусть электронный газ, окружающий заряженные частицы, формируется за счет
эмиссии электронов из пылинок, имеющих достаточно высокую температуру T. Кроме
того, пылинки находятся в частично ионизованном газе. Для нахождения распределения по
пространству потенциала φ, напряженности поля −∇φ и плотности заряда ρ = e(Ni − Ne )
следует решить уравнение Пуассона ∇(−∇φ) = 4πρ. В этом уравнении плотности ионов Ni
электронов Ne определяется распределением Больцмана Ni = Ni0exp(−eφ/T), Ne =
Ne0exp(eφ/T), где Ni0, Ne0 – плотности ионов и электронов в тех точках, где потенциал равен
нулю; ∇ - гамильтонов векторный оператор.
Итак, уравнение Пуассона-Больцмана имеет вид:
где nD = rD3Ne0.
Ниже мы при оценках, как правило, будем ориентироваться, на условия
экспериментов [3], в которых Ne0=2.5⋅1010 см-3, T=0.146 эВ =1700К, для характерных
величин имеем: rD= 18 мкм, T/e = 0.146 В, T/erD = 80 В/см. При среднем радиусе пылинки rp
= 0.4 мкм (r0 = rp/rD = 2.23⋅10-2) и ее заряде Zpe =500e имеем напряженность поля на
поверхности частицы Zpe/r02 = 4.5⋅104 В/см (E0 = E(r0)=550).
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2127 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
Здесь dsz– проекция элемента поверхности ds на ось z; сила F связана с безразмерной силой
f выражением F = (T 2/8πe2)⋅f; электрическое давление направлено наружу поверхности
пылинок.
Однако из расчетов следует (см. рис. 2), что при измеренных в [3] значениях плотности и
температуры электронов для данного радиуса пылинок их заряд в состоянии теплового
равновесия должен иметь значение Zp = 286 (zp = 0.156) меньшее измеренного Zp ≈ 500.
Следовательно, либо измерения параметров плазмы существенно неточны, либо заряд
пылинок в условиях экспериментов [3] неравновесен (см. также [24]).
Дебаевский атом в плазме. В случае δ ≠ 0, когда зарядовые облака состоят из
частиц обоих знаков, радиус дебаевского атома по-прежнему определяется как расстояние r
= a0, на котором заряд пылинки полностью компенсируется свободными зарядами плазмы
(E(a0)= 0). Как и в случае δ = 0, радиус дебаевского атома равен половине среднего
расстояния между пылинками a0 = ap ≡ (Np-1/3/2rD). При δ = 1, может рассматриваться, одна
изолированная пылинка в бесконечном объеме плазмы. При δ → 1 радиус дебаевского
атома стремится к бесконечности: a0 → ∞. Дело в том, что конечный заряд частицы z0
может полностью компенсироваться квазинейтральной плазмой только при ее бесконечных
размерах. Если δ < 1, радиус дебаевского атома конечен.
Электронный и ионный безразмерный заряды, содержащиеся в зарядовой оболочке,
определяются выражениями:
a0 a0
(
∆p p − E (− x) − E ( x)
2 2
)
= . (12)
p p
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2133 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
Как видно из рис. 5, если потенциал плоскости не мал ϕ0 >> 1, даже на небольших
расстояниях x ~ 0.01 величина ∆p/p составляет десятки процентов, в то время как разность
потенциалов слева и справа ϕ(-x) − ϕ(x) практически равна нулю. Иначе говоря, при
численном интегрировании требуется очень высокая точность в определении производной
от потенциала вблизи поверхности частицы, что требует очень мелкого шага сетки вблизи
поверхности.
В то же время, для точного нахождения величины силы, действующей на частицу,
метод решения уравнения Пуассона-Больцмана должен обеспечивать максимальную
точность именно в области вблизи поверхности пылинок. При этом основной интерес
представляют расстояния между пылинками намного превышающие их диаметр. В
обычных системах координат трудно добиться достаточной точности в вычислении силы,
действующей на малые пылинки.
Обычно константа подбиралась так, чтобы в минимуме энергия U(d) равнялась нулю
min(U(d)) = 0.
5. Результаты расчетов
5.1. Дебаевская молекула в облаке зарядов одного знака (δ = 0)
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2135 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
Выбор параметров расчетов. Расчеты проводились для таких параметров ϕ0, r0, a0,
которые при d >> a0 соответствуют уединенному дебаевскому атому. Для этого сначала
решалась сферически симметричная задача, в которой значения поля и потенциала в точке r
= a0 полагались равными нулю. Из решения этой задачи определялся потенциал ϕ0 на
частице заданного радиуса r0. Затем с этими значениями ϕ0, r0, a0 решалась двуцентровая
задача для d =10a0. Результаты решения для сферически симметричной и для двуцентровой
задачи совпадали с высокой точностью. В дальнейшей серии расчетов переходили к
меньшим значениям d.
В серии расчетов, представленных на рис. 8, мы ориентировались на параметры
плазмы работы [3], и положили a0 = 0.755. Как показали расчеты, наиболее интересна
область сравнительно больших расстояний d ~ 2a0 . Полагая, что при d ~ 2r0 облако
электронов вблизи поверхности пылинок поляризуется слабо, и для удобства вычислений
мы взяли радиус частицы r0 = 0.1 в пять раз больше, чем в эксперименте. Соответственно,
потенциал ϕ0 =1.16, взятый из решения одно-центровой задачи для r0 = 0.1, имеет значение
существенно меньшее потенциала на поверхности пылинки малого радиуса (ϕ0 = 6.5 при r0
= 0.0223). Иначе говоря, небольшой заряженный проводящий шарик был заменен
проводящим шариком большего размера с зарядом, частично компенсированным зарядами
электронного облака. Как показали расчеты, глубокие электронные оболочки
действительно поляризуются слабо и такая замена оправдана (см. ниже).
Зависимость силы взаимодействия пылинок от расстояния. Для определения
зависимости силы взаимодействия пылинок от расстояния между ними d проводились
серии расчетов с заданными значениями ϕ0, r0, a0. При этом заряд частицы z0 также
оказывается функцией d. Поэтому проводились дополнительные расчеты со значениями ϕ0
или a0 измененными таким образом, чтобы заряд частицы z0 не зависел от d.
Расчеты показали, что при малых расстояниях между частицами d ~ r0 имеет место
отталкивание. Это не согласуется с результатами численных расчетов [8,9], в которых при
d ~ r0, имело место притяжение. По-видимому, в расчетах [8,9] была высокой
отмечавшаяся выше погрешность вычисления производной потенциала вблизи поверхности
пылинки. К этой погрешности очень чувствительна результирующая сила. В
действительности, ввиду того, что близкие к поверхности пылинки зарядовые оболочки
поляризуются слабо, на близких расстояниях отталкивание зарядов преобладает над
поляризационным притяжением.
Большой интерес представляет равновесное расстояние между пылинками d = d0, на
котором происходит смена знака проекции силы. В расчетах, представленных на рис. 8
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2136 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
имеем d0 ≈ 1.3, что несколько меньше среднего расстояния между пылинками 2a0 = 1.5.
Положение точки d0 слабо зависит от того, какие величины (ϕ0, a0 или z0, a0) сохранялись в
расчетах при изменении d. Изменение a0 (при постоянных значениях z0, ϕ0) влияет на
значение d0 более существенно. По-видимому, удержание постоянного заряда z0 = const за
счет изменения потенциала частицы ϕ0 = ϕ0(d) больше соответствует физике
взаимодействия заряженных пылинок.
В связи с тем, что при d >> a0 задачу нельзя считать бинарной, мы приводим
результаты расчетов лишь для сравнительно небольших значений d < 4a0. При удалении
частиц на расстояния d > 2a0 становится существенным отталкивание от других частиц,
окружающих две рассматриваемых частицы (см. рис. 1).
Зная силу притяжения пылинок F(2a0) на среднем межчастичном расстоянии 2a0,
можно оценить электростатическое давление сжимающее газ пылинок
PE ≈ F(2a0)⋅Np2/3 = (T 2/8πe2)⋅Np2/3⋅f(2a0) (17)
и поверхностное натяжение «пылевой жидкости»
σE ≈ F⋅Np1/3 = (Np1/3T2/8πe2)⋅f(2a0).
Сравнивая электростатическое давление на пылинки с газокинетическим давлением
пылинок и газокинетическим давлением свободных электронов имеем:
PE/NpT = (T/8πe2Np1/3)⋅f(2a0); PE/NeT = (T/8πe2Ne)⋅Np2/3⋅f(2a0).
В условиях экспериментов [3]: |f(2a0)| ≈ 0.2; PE = 9.7⋅10-7⋅|f(2a0)|⋅Тор ≈ 2⋅10-7⋅Тор; σE =
3.5⋅10-9⋅|f(2a0)|⋅Н/м ≈ 7⋅10-10⋅Н/м; PE/NpT ≈ 20; PE/NeT ≈ 0.04.
Следует, впрочем, отметить, что сравнение электростатического давления на
пылинки с газодинамическим электронным давлением не позволяет сделать каких-либо
существенных выводов, поскольку электроны не свободны, а находятся в электрическом
поле пылинок. В то же время можно предположить, что газ дебаевских атомов в смеси с
нейтральным газом, должен проявлять в условиях экспериментов [3] тенденцию к сжатию.
Такого рода ситуация рассмотрена в [27-29]. Рассмотрение вопросов влияния
взаимодействия дебаевских атомов на газодинамические свойства пылевой плазмы выходит
за рамки данной работы.
Зависимость от размера дебаевского атома. Было проведено несколько серий
расчетов для различных значений a0 (см. рис. 9). Расчеты показали, что притяжение имеет
место лишь при a0 ≤ 1. Уже при a0 > 1.12 точка смены знака силы удаляется на большое
расстояние d0 > 4a0.
Условие a0 = ap/rD < 1 можно переписать для размерных величин в виде:
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2137 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
T
N e 0 > N ecr ≡ N 3p / 2 . (18)
πe 2
В условиях эксперимента имеем Necr = 4.4⋅1010 см-3, Zecr = 460. Эти величины
порядка измеренных в экспериментах [3]: Ne0 ≈ 2.5⋅1010 см-3, Zp ≈ 500.
Ввиду того, что на основании рассмотрения двух дебаевских атомов нельзя
определить глубину потенциальной ямы без учета воздействия других частиц, силу
взаимодействия дебаевских атомов будем характеризовать крутизной в точке пересечения с
осью абсцисс:
ξ = f ′(d ) d =d = U ′′(d ) d = d .
0 0
6. Заключение
ЛИТЕРАТУРА
1. В.Е.Фортов, И.Т.Якубов. Неидеальная плазма. М.: Энергоатомиздат. 1994.
2. Н.Н.Цытович. УФН. -1997. - 167, №1. -С. 57-99.
3. В.Е. Фортов, А.П. Нефедов, О.Ф. Петров, А.А. Самарян, А.В. Чернышев. ЖЭТФ., -
1997. - Т.111, №2. -С. 467-477.
4. В.Е. Фортов, В.С. Филинов, А.П. Нефедов, О.Ф. Петров, А.А. Самарян, А.М.
Липаев. ЖЭТФ., -1997. -Т.111, №3. -С. 889-902.
5. Фортов В.Е., Владимиров В.И., Депутатова Л.В., Молотков В.И., Нефедов А.П.,
Рыков В.А., Торчинский В.М., Худяков А.В. ДАН, т. 336, № 2, с. 184-187 1999
6. А.П. Нефедов, О.Ф. Петров, В.Е. Фортов. УФН, 167 №11 1997 с.1215-1226 1997
7. Ткачев А.Н., Яковленко С.И. ЖТФ, Т. 69, № 1, с. 53-57, 1999.
8. Яковленко С.И. О взаимодействии заряженных пылинок. Дебаевская квазимолекула.
Письма в ЖТФ, Т. 25, № 16, с. 83-89, 1999
9. Яковленко С.И. Дебаевская квазимолекула. Краткие сообщения по физике ФИАН № 9,
с.3-9, 1999
10. Derjagin B., Landau L. Acta Physicochimica U.R.S.S. v. XIV, No 6, p. 633, 1941
11. Яковленко С.И. Сила взаимодействия заряженных плоскостей в облаке электронов и в
плазме. Письма в ЖТФ, Т. 27, № 9, с. 83-93, 2001
12. Д.Н. Герасимов, О.А. Синкевич. Теплофизика высоких температур. Т. 37, № 6, с. 853-
857, 1999
13. Ivanov A.S. Physics Letters A 290, 304-308, 2001
14. A.M. Larsen, D.G. Grier. Nature (London) 385, 230, 1997
15. D.G. Grier. Nature (London) 393, 621, 1998
16. W.R. Bowen, A.O. Sharif. Nature (London) 393, 663, 1998
17. J.C. New. Phys. Rev. Lett. 82, No 5, 1072-1074, 1999
18. M. Tokuyama. Phys. Rev. 59, No 3, R2250-R2253, 1999
19. Гундиенков В.А., Яковленко С.И. Краткие сообщения по физике ФИАН № 12, с.3,
2001; Письма в ЖТФ, Т. 28, № 10, с. 46-56, 2001
20. Математический энциклопедический словарь. Гл. ред. Ю.В. Прохорова. М. Научн. Изд.
«Большая российская энциклопедия», 1995
21. И.Н. Бронштейн, К.А. Семендяев. Справочник по математике. М: Наука, 1964
22. Ткачев А.Н., Яковленко С.И. О формировании заряда макрочастиц в классической
кулновской плазме. Письма в ЖТФ, 25, № 1, с. 52-55, 1999
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2143 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
23. Яковленко С.И. Термоэлектронные облака и заряд пылинок. Письма в ЖТФ, Т. 26, №
16, с. 47-55, 1999
24. Яковленко С.И. Рекомбинация ионов на пылинках в плазме плотного газа,
возбуждаемого жестким ионизатором. Письма в ЖТФ, Т. 26, № 26, с. 38-46, 2000
25. Яковленко С.И. Краткие сообщения по физике ФИАН № 1, с.3, 2002
26. E.G. Gibson. Phys. Rev., 1966, V. 9, No 12, 2389-2399
27. С.А. Майоров, А.Н. Ткачев, С.И. Яковленко. Усп. физич. наук. Т. 164, № 3. С. 298-
307, 1994.
28. S.A. Mayorov, A.N. Tkachev, S.I. Yakovlenko. Physica Scripta V. 51. P. 498-516, 1995
29. С.И. Яковленко. Изв. ВУЗов, Физика. - 1995. - Т.38, № 4. - С. 3. (in Russian, for English
translation see: Russian Physics J. 1995 38(4), 329-335)
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2144 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
d ~ 2a0
Дебаевская молекула
a0
Зарядовая оболочка
дебаевского атома
Пылинка
4 r a
1 10 0 0
3
1 10
100
10
ϕ0
z
0.1 0
0.01
0.01 0.1 1
z0e, z0i, z0 δ 1, a0
100 10
10
1 1
0.1
0.01 0.1
0.1 1 0.1 1
δ δ
4 r0
1 .10
3
1 .10
100
10
0.1
0.01
0.01 0.1 1 10
r
Рис. 4. Зависимость заряда z(r) (сплошная кривая), напряженности поля E(r) (пунктирная
кривая) и потенциала ϕ(r) (штриховая кривая) от расстояния до центра частицы, измеренного в
единицах дебаевского радиуса, δ = 0.999. Радиус микрочастицы r0 = 2.23⋅10-2 выбран для условий
экспериментов [2].
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2148 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
40
20
0 0
20 4
1 10 0.001 0.01 0.1
x
Рис. 5. Зависимость от расстояния до плоскости x погрешности в определении давления на
(
∆p p − E (− x) − E ( x)
2 2
)
проводящую плоскость = и разности потенциалов слева и справа от
p p
плоскости. Рассматриваемая плоскость находится между двумя другими заряженными плоскостями,
все плоскости находятся под потенциалом ϕ0 = 10. Половина расстояния до левой плоскости a0 = 6.27, до
правой - a0 = 2.08; при этом p = 2
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2149 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
x
Рис. 6. Координаты Кассини для расстояния между фокусами d = 1, которое при a0 ≈ 1 примерно
соответствует смене притяжения отталкиванием
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2150 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
0.5
0
0
0.5
0.5 1
1
x, y , ϕ
а)
0
1
1
0.5
0 2
3
1
0 1
u,v,ϕ
б)
f(d), z(d),
2. r 1.3
0
0.156
0 0
1
0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
d
а)
U(d)
1
2. r 2. a
0 0
0.8
0.6
0.4
0.2
0
0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4
d
б)
Рис. 8. Зависимость проекции силы на ось x (а) и потенциальной энергии взаимодействия
пылинок (б) от расстояния между ними d для случая δ = 0. Положительное значение силы соответствует
отталкиванию пылинок, отрицательное - притяжению. Нормировка потенциальной энергии выбрана
так, чтобы в минимуме энергия U(d) равнялась нулю.
Сплошные кривые соответствуют постоянному потенциалу на поверхностях пылинок ϕ0 = 1.16.
Пунктирные кривые соответствуют постоянному заряду пылинки z0 = 0.156, обеспеченному подбором
ϕ0(d). Штриховые кривые соответствуют постоянному заряду, обеспеченному подбором a0(d) при ϕ0 =
1.16
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2152 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
d0(a0), ξ(a0)
3
1.12
2 2
0 0
2
0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1 1.1 1.2 1.3
a0
Рис. 9. Зависимость координаты d0 точки смены знака силы (жирные кривые) и крутизны силы
ξ в точке d0 (тонкие кривые с квадратиками) от размера дебаевского атома a0. Сплошные кривые
соответствуют не зависящему от d потенциалу на поверхностях пылинок который соответствует a0;
пунктирные кривые соответствуют постоянному заряду пылинки, обеспеченному подбором ϕ0(d).
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2154 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
d0
1.6
2. a
0
1.4
1.2
1
0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 0.35 0.4
r0/a0
Рис. 10. Зависимость координаты d0 точки смены знака силы от r0/a0. Здесь r0 можно
рассматривать, как радиус области, в которой пренебрегается поляризацией зарядового облака.
Потенциал ϕ0 для r = r0 определялся при a0 = 0.755
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2155 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf
f(d) U(d)
0.8
2
0.6
0.4 1
0.2
0
0
0
0
0.2 1
1 10 100 0.1 1 10 100
d d
a) б)
f(d) U(d)
2 2
2 2
0
0
1
2
4
0
0
1 8
1 10 100 1 10 100
d d
в) г)
Рис. 11. Зависимость проекции силы на ось x (а,б) и потенциальной энергии (в,г)
взаимодействия пылинок от расстояния между ними d для разных значений δ ≠ 0 (см. таблицу 1). Во
всех случаях r0 = 0.1. Сплошные кривые на рис. а), б) соответствуют аналитическим выражениям
работы [7]:
f(d) = const⋅(1/d)⋅(1+ d − 1/2d2)⋅exp(−d); U(d) = const⋅(1/d2)⋅(1− 1/2d)⋅exp(−d)
Электронный журнал «ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ» 2156 http://zhurnal.ape.relarn.ru/articles/2002/192.pdf