Открыть Электронные книги
Категории
Открыть Аудиокниги
Категории
Открыть Журналы
Категории
Открыть Документы
Категории
На правах рукописи
Научный руководитель
д.т.н, профессор
Латыев Святослав Михайлович
Санкт-Петербург – 2016
2
ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ ...................................................................................................................... 5
4.2 Проектные и проверочные методы расчета точности центрировки линз ... 104
ВВЕДЕНИЕ
Актуальность работы
Цель работы
Задачи исследования
Методы исследования
Научная новизна
Публикации
Таблица 1.3
Механические методы Оптические методы
Центрирование линз зажатием в Центрирование линз с установкой
патронах по «блику».
Центрирование при контроле Центрирование линз по прибору.
разнотолщинности линз по краю. Центрирование линз с
применением лазера.
RБ h RБ2 1
Отсюда получаем: C T T , (1.4)
D D2 4
базовой осью). Под базовой (ВГ) осью понимается ось цилиндрической базовой
поверхности Г оправы, проходящая перпендикулярно ее плоской базовой
поверхности В (см. рисунок 1.13). Проанализируем основные способы крепления
линз и погрешности, вызывающие их децентрировки относительно базовой оси
оправы.
СБ1 RБ d 1 RБ d В (1.6)
где RA – радиус кривизны поверхности А;
СБ С RA RБ d RA RБ d C R A 1 D12 4R .
2
A (1.8)
соответственно.
Использование оправ линз и компонентов, выполненной результативной
обработкой от их оптических осей с помощью центрировочного патрона и трубки
Забелина (см. рисунок 1.17), позволяет достичь достаточно высокой точности
центрировки компонентов линзовой системы. Если точность центрировки
недостаточна, то ее достигают юстировкой, которая обеспечивается сдвигами или
разворотами некоторых оправ компонентов (см. п. 3.3, 3.4).
Насыпная в оправах конструкция применяется обычно при
конструировании многокомпонентных фотообъективов, микрообъективов
проекционных и фотограмметрических объективов, к которым предъявляются
высокие требования к качеству создаваемого изображения.
Конструкции таких линзовых систем, менее технологичны по сравнению с
насыпными (без оправ), так как содержат большее количество деталей. Однако
она позволяет создавать конструкцию объективов с линзами существенно разных
диаметров и, кроме того, обеспечить более высокую точность центрировки
благодаря возможности результативной обработки оправ и юстировочных
подвижек компонентов.
A – коэффициент влияния;
n – число децентрированных поверхностей.
В других методах расчёта этот характер не учитывается [1] [35]:
52
yvd
qi . (1.18)
Ai n
децентрировки по Релею;
Aqi – коэффициент влияния.
p 0 – показатель степени;
Чем точнее будут изготовлены собираемые детали (линзы, оправы), тем дешевле
будет их сборка, т.к. легче получить требуемую точность узла.
В работе [10] приведена система уравнений для расчета допусков (к
сожалению не решенная), учитывающая минимизацию затрат на изготовление и
сборку узлов:
n
A K
i 1
2
ci
2
pi qi2 yvd
, (1.20)
Ti qi min
n n
Ti
i 1 qi
2p
' 2 p'
i 1
где yvd – допустимое значение суммарной погрешности (аберрации),
Выводы по главе 1:
СБ1 RБ d 1 RБ d В , (2.3)
соответственно, мм;
RA , RБ – радиусы кривизны поверхности А и Б, соответственно, мм;
значении эксцентриситета:
С Ае2 СБ е2 е2 . (2.4)
58
СБ С RА RБ d RА RБ d R A
4 Л2 RA2 . (2.6)
CA1 RБ d RZ В , (2.9)
где d – толщина линзы по оси.
линзы на величину:
С А ' L A ' 2
, (2.11)
CБ ' LБ' 2
Отклонение
от круглости
Форма Отклонение от
0,5 0,5
Отклонение
мкм мкм
плоскостности от профиля
продольного
сечения
Отклонение от
Позиционное 1
Расположение перпендикуляр- 5’’
отклонение мкм
ности
Относительное
Отклонение от 1
положение 5’’ Соосность
параллельности мкм
поверхностей
CA RA h1 1 , (2.16)
CA 2 RБ d h2 2 ; (2.18)
Выводы по главе 2:
и далее
D 2
, (3.13)
2R 4 2 1
D
а при 0, 27 будет осуществляться самоцентрировка линзы в корпусе
2R
С1С R1 R2 d ε R1 R2 d C R
2 1 Dл2 4R ,
2
2 (3.18)
2
siмах Ci 2 0,5 q к q опi qк2 qопi , (3.19)
поверхн
остей
остей
Ак Аm Аs Ак Аm Аs
№
№
1 0.002 -0.0043 -0.0008 11 0.0019 0.0037 0.0019
2 0.00006 -0.00036 -0.00002 12 0.00094 -0.00088 0.00006
3 0.0012 0.0064 0.0053 13 -0.0024 0.0076 0.0084
4 0 0 0 14 0.002 -0.0206 -0.0144
5 -0.0051 -0.0069 -0.0056 15 -0.0014 -0.0015 -0.0009
6 -0.002 0.023 0.0098 16 0.0002 0.0039 0.0009
7 -0.0035 0.0002 0.0006 17 0.0013 0.005 0.0022
8 0.0007 -0.0072 -0.0067 18 0.0006 -0.003 0.001
9 0.0013 0.0007 -0.0003 19 0 0.00028 -0.00006
10 0.0021 -0.0047 -0.0019 20 -0.00022 -0.00096 -0.00126
Таблица 3.3: Коэффициенты влияния децентрировок поверхностей
97
Выводы по главе 3:
вероятности q 0 ).
Коэффициент, учитывающий вид закона рассеяния погрешности и расположение
поля рассеяния относительно границ поля допуска:
Kq q 0 q , (4.4)
K q 1,73 .
то
C pi M Av Cqi 0 . (4.10)
= Aci2 2 Avi 2 qi M 2 Avi 2 qi qi 2 Avi
2
yi D yi Aci 2 Avi 2 qi M 2 Avi 2 qi qi 2 Avi
2
(4.13)
С вероятностью 99,7 %:
yi 3 yi . (4.14)
Из формулы (4.4) получаем:
qi Kqi 0 qi . (4.15)
1
qi K qi qi (4.17)
3
1 1
y Ac 2 Av K q2 q2 M 2 Av K q2 q2 Cq2 q2 2 Av
9 9
Ac 2 Av K q2 9Cq2 M 2 Av K q2 q
1
= (4.18)
3
Подставив значение y из (4.18) в (4.14) получим:
yi 3 yi Aci 2 Avi Kqi2 9Cqi2 M 2 Avi Kqi2 qi Aci K pi qi . (4.19)
Отсюда, имеем: