Академический Документы
Профессиональный Документы
Культура Документы
Лекция №1
Полупроводники
Современные электронные схемы содержат в качестве нелинейных элементов
большое количество функциональных компонентов, основанных на использовании
свойств полупроводниковых материалов.
+4 +4 +4 +4 +4 +4
Валентные -
электрон
электроны
+4 +4 +4 +4 +4 +4
Ковалентные +
связи дырка
+4 +4 +4 +4 +4 +4
а) б)
Модель атома кремния: а) - двухмерная; б) - с нарушенной ковалентной связью
Обедненный слой
p - + n
-
+ - +
-
+ - +
l
k
0
Ширина этого слоя для кремниевого перехода равняется l=0,3 мкм. Появление
противоположно заряженных ионов приводит к возникновению электрического поля в
переходе. Это поле направлено таким образом, что тормозит процессы диффузии.
Электрическому полю отвечает контактная разница потенциалов φк, которая
определяет высоту потенциального барьера. При температуре Т=27 0 С для кремния
φк≈0,8 В.
Электрическое поле в переходе вызывает появление дрейфового тока - тока
неосновных носителей зарядов в переходе. Дырки из n- области переносятся
электрическим полем в р- область, а электроны из р- области затягиваются в n- область.
Величина дрейфового тока мала, поскольку малая концентрация неосновных носителей
заряда. В постоянном режиме диффузионный ток равняется дрейфовому.
Высоту потенциального барьера возможно изменять, для этого к р-n - переходу
прикладывается внешнее напряжение. Если внешнее напряжение создает в р-n
-переходе поле, какое совпадает с внутренним, то высота потенциального барьера
увеличивается, при противоположной полярности прилагаемого напряжения высота
потенциального барьера уменьшается. Если прилагаемое напряжение равняется
контактной разнице потенциалов, то потенциальный барьер совсем исчезает.
9
U U
k U k U
0
0
10
- тепловой потенциал.
T
Iпр
I0
k U
Iзв
C0
Cб
uоб ,
1
к
где к - контактная разница потенциалов; C - значение барьерной емкости при u=0;
uоб - обратное напряжение на переходе.
Зависимость барьерной емкости от напряжения показана на рисунке.
Диффузная емкость характеризуется накоплением неуравновешенного заряда,
который обусловлен диффузией электронов и дыр вглубь полупроводника за пределы
перехода. Поскольку время жизни электронов и дыр ограничено, то по обе зоны
перехода появляются дополнительные объемные заряды. Диффузионная емкость для
малых переменных напряжений линейно увеличивается с увеличением тока:
I
,
пр
C д р
к
Сб
Сб0
k U
Полупроводниковые диоды
Iпр
Iср
I
U
Uот Uпр k U
Iоб
Iа
U ст
А I min ст Uа
I ст
В I max ст
ВАХ стабилитрона
20
Iа С
С0
Uа 0
Uзв U