МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ РЕСПУБЛИКИ БЕЛАРУСЬ

Учреждение образования
«Гомельский государственный университет
имени Франциска Скорины»

Факультет физики и информационных технологий

Кафедра радиофизики и электроники

Отчёт по лабораторной работе №1

«Расчет надежности электронного блока (модуля)»

Выполнили
студенты группы СБ-
35: Гайдаш И. И.
Карсаков А.

Проверил:
Сидский В.В.

Гомель 2020
 Лабораторная работа №1

Расчет надежности электронного блока (модуля)

Цель работы: изучение методики расчета показателей надежности

электронного модуля при экспоненциальном законе распределения отказов
элементов.
Ход работы:
Поправочный коэффициент Kуэ = 1.
По формуле 1 рассчитаем интенсивность отказов отдельных элементов.
M
Δ=K уэ ∙ ∑ Nj ∙ λ 0 j ; (1)
j=1

Δмикросхемы = 0,00002 1/ч; Δрезистора = 0,00003 1/ч; Δтранзистора = 0,00003 1/ч.

Далее мы будем брать во внимания то, что на участке нормальной

эксплуатации преобладают случайные внезапные отказы, поэтому обычно
принимают интенсивность отказов λ(t) = Δ = const.
Для дальнейшего удобства обозначим элементы нашего модуля
следующим образом:
1 – микросхемы;
2 – резисторы;
3 – транзисторы.
По формуле 2 рассчитаем среднюю наработку до отказа для всех
элементов нашего модуля.
∞
1
T ср=∫ e Δ x ∂t = ; (2)
0 Δ

1 1
Tср1 = Δ = 0,000021/ч =50000 ч ;
1 1
Так как Δ2 = Δ3, получим Tср2, 3 = Δ = 0,000031 /ч =33333,3 ч.
1. Рассчитаем вероятность безотказной работы.
P ( t з )=e− Δ xt з; (3)
P (tз1) = e−0,9 =0,4.
Рассчитаем вероятность отказа.
Q ( t з )=1−e−Δ xt з ; (4)
Q (tз1) = 1−e−0,9=0,6.
По формуле 5 рассчитаем плотность вероятности отказа.
f ( t з ) =λ ∙ e−Δ xt з ; (5)
f (tз1) = 0,000001 ∙ 0,4 = 0,0000004.
 Рассчитаем вероятность безотказной работы на определенном интервале
времени. Интервал времени примем равным: t1 – 10000 ч; t2 – 30000 ч;
P ( t , t 2 )=e−Δ x (t 2−t 1); (6)
P (t, t2) = e −0,00002(30000−10000)
=0,67.
2. Произведем полный расчет показателей надежности для резисторов. tз
– заданная наработка, которую примем равной 28333,3 ч.
По формуле 3 рассчитаем вероятность безотказной работы.
P (tз2) = e−0,85=0,429 .
По формуле 4 рассчитаем вероятность отказа.
Q (tз2) = 1−e−0,85=0,5 30 .
По формуле 5 рассчитаем плотность вероятности отказа.
f (tз2) = 0,000001 ∙ 0,427 = 0,000000429.
По формуле 6 рассчитаем вероятность безотказной работы на
определенном интервале времени. Интервал времени примем равным: t1 –
8333,3 ч; t2 – 28333,3 ч;
P (t, t2) = e−0,00003(28333,3−8333,3)=0,548.
3. Произведем полный расчет показателей надежности для транзисторов.
tз – заданная наработка, которую примем равной 28333,3 ч.
По формуле 3 рассчитаем вероятность безотказной работы.
P (tз3) = e−0,85=0,429 .
По формуле 4 рассчитаем вероятность отказа.
Q (tз3) = 1−e−0,85=0,5 30 .
По формуле 5 рассчитаем плотность вероятности отказа.
f (tз3) = 0,000003 ∙ 0,429 = 0,000001287.
По формуле 6 рассчитаем вероятность безотказной работы на
определенном интервале времени. Интервал времени примем равным: t1 –
8333,3 ч; t2 – 28333,3 ч;
P (t, t2) = e−0,00003(28333,3−8333,3)=0,548.
4. Найдем все необходимые показатели надежности системы.
Q1+2 Q 2 0,6+ 2∗0,528
Qпосл.сист. = 3
=
3
=0,552 ;

Pпосл.сист. = 1- Qпосл.сист. = 0,448;

fпосл.сист. = 0.0000016∙0.448 = 0,0000007168;
Pпосл.сист. (t, t2) = e−0,000026 ∙ 20000 = 0,59.

5. Для того, чтобы рассчитать показатели надежности системы

необходимо рассмотреть всевозможные варианты отказа элементов.
5.1 Предположим, что произошел отказ микросхем, тогда показатели
надежности выглядят следующим образом:
Qпар. сист. = 0,528;
Pпар.сист. = 1- Qпосл.сист. = 0,472;
fпар.сист. = 0,000000354;
 Pпар.сист. (t, t2) = 0,74.
5.2
Распределение времени до отказа по
нормальному закону при параллельном
соединении при отказе микросхем
0.6

0.5

0.4

0.3
w(t)

0.2

0.1

0
0 0.58 1.16 1.5 1.85 2.2 2.55 2.89 3.24 3.47

Предположим, что произошел отказ резисторов, тогда показатели надежности

выглядят следующим образом:
Qпар. сист. = 0,564;
Pпар.сист. = 1- Qпосл.сист. = 0,436;
fпар.сист. = 3,27 ∙ 10−8;
Pпар.сист. (t, t2) = 0,78.

5.3
 Распределение времени до отказа по
нормальному закону при параллельном
соединении при отказе резисторов и транзисторов
0.8
0.7
0.6
0.5
0.4
w(t)

0.3
0.2
0.1
0
0 0.58 1.16 1.5 1.85 2.2 2.55 2.89 3.24 3.47

Предположим, что произошел отказ транзисторов, тогда показатели надежности

выглядят следующим образом:
Qпар. сист. = 0,564;
Pпар.сист. = 1- Qпосл.сист. = 0,436;
fпар.сист. = 2,18 ∙10−8;
Pпар.сист. (t, t2) = 0,78.
Вывод:
Чем выше значение поправочного коэффициента, который зависит от
условий эксплуатации, тем ниже вероятность безотказной работы всей системы
в целом. Если вероятность безотказной работы снижается, то повышается
вероятность отказа устройства. Это дает нам понять, что необходимо
использовать электронные устройства по своему прямому назначению и в
определенных условиях для снижения к минимуму вероятности отказов.