Иванов И.М., Курушин А.А.

Моделирование мощных СВЧ приборов

с помощью программы CST Particle Studio

Москва, 2018

1
УДК 621.38

И 940

Иванов И.М., Курушин А.А. Моделирование мощных СВЧ приборов с

помощью программы CST Particle Studio. М., изд-во «One-Book», 2018,
380

стр.

Рецензенты: Белов Леонид Алексеевич, к.т.н., профессор каф. РПДУ

ИРЭ
им. В.А.Котельникова, МЭИ;
Моругин Станислав Львович, д.т.н., проф. НГТУ
им. Р. Е.Алексеева.

Учебное пособие посвящено моделированию устройств с носителями

зарядов. Это электронные лампы, клистроны, магнетроны, лампы
бегущей волны. Моделирование и проектирование таких приборов
выполняется с помощью современных систем проектирования, в
качестве которой выбрана система CST STUDIO SUITE и ее утилита
CST Particle Studio. Программа разработана основанной в 1992 году
компанией CST, которая активно работает в области мультифизических
САПР СВЧ.

Книга предназначена для студентов радиотехнических и

электронных специальностей, аспирантов и специалистов, занятых в
области проектирования мощных СВЧ электронных приборов.

УДК 621.38

И 940

© Иванов Игорь Михайлович, Курушин Александр Александрович

kurushin@mail.ru

2
3
 Оглавление

Условные обозначения .................................................................................................................................... 8

1. Введение ............................................................................................................................................ 10
2. Обзор задач, решаемых CST Particle Studio .............................................................................................. 13
2.1. Лампа бегущей волны ЛБВ................................................................................................................. 15
2.2. Моделирование электронной пушки ................................................................................................. 20
2.3. Выходной резонатор клистрона ......................................................................................................... 22
2.4. Моделирование двухполостного монотрона .................................................................................... 25
2.5. Монитор положения луча ................................................................................................................... 28
2.6. Моделирование коллектора частиц ................................................................................................... 31
2.7. Моделирование коллиматора частиц ................................................................................................ 33
2.8. Моделирование широкополосной лампы бегущей волны............................................................... 37
2.9. Моделирование генератора на лампе обратной волны .................................................................... 40
3. Методы расчета движения частиц, используемые в CST Particle Studio ........................................... 44
3.1. Действие магнитного поля на заряженные частицы ................................................................... 44
3.2. Движение заряженных частиц в однородном магнитном поле ........................................................ 45
3.3. Выбор метода расчета при анализе распространения частиц ........................................................... 46
3.2.1. Программа PIC ............................................................................................................................. 46
3.2.2. Работа и результаты расчета программы PIC .................................................................................. 51
3.2. 3. Программа Wakefield ................................................................................................................. 52
3.3. Программа расчета трасс движения частиц ....................................................................................... 56
3.4. Расчет параметров потоков частиц ..................................................................................................... 65
3.5. Программа Particle-in-Cell ................................................................................................................... 67
3.6. Моделирующее устройство Particle Tracking ..................................................................................... 72
3.7. Программа расчета собственных мод ........................................................................................... 73
3.8. Программа расчета электростатического поля ............................................................................. 74
3.9. Программа расчета магнитного поля ............................................................................................ 74
3.10. Плазменные СВЧ источники .............................................................................................................. 76
4. Источники частиц CST PARTICLE STUDIO.............................................................................................. 80
4.1. Модели эмиссии ................................................................................................................................. 81
4.2. Источник частиц на плоскости ............................................................................................................ 82
4.3. Создание точечного источника частиц ............................................................................................... 84
4.4. Создание источника частиц круглой формы ...................................................................................... 85
4
 4.5. Модели эмиссии в программе Tracking .............................................................................................. 87
4.5.1. Установка параметров эмиссии ....................................................................................................... 88
4.6. Обзор моделей эмиссии в программе PIC (Particle in Cell) ................................................................ 98
4.7. Модель эмиссии постоянного тока DC .............................................................................................. 99
4.8. Поле эмиссии..................................................................................................................................... 101
4.9. Взрывная эмиссия ......................................................................... Ошибка! Закладка не определена.
4.10. Эмиссия под углом ...................................................................... Ошибка! Закладка не определена.
5. Моделирование клистрона ................................................................. Ошибка! Закладка не определена.
5.1. Создание нового проекта .............................................................. Ошибка! Закладка не определена.
5.2. Моделирование структуры ........................................................... Ошибка! Закладка не определена.
5.3. Задание волноводных портов....................................................... Ошибка! Закладка не определена.
5.4. Установки на моделирование ....................................................... Ошибка! Закладка не определена.
5.5. Задание СВЧ возбуждения ........................................................... Ошибка! Закладка не определена.
5.6. Результаты расчета ........................................................................ Ошибка! Закладка не определена.
5.7. Результаты моделирования .......................................................... Ошибка! Закладка не определена.
6.Метод трассирования частиц в CST ...................................................... Ошибка! Закладка не определена.
6.1. Моделирование структуры пушки ................................................ Ошибка! Закладка не определена.
6.2. Задание потенциалов на элементах пушки и магнитов ............... Ошибка! Закладка не определена.
6.3. Создание сетки разбиения ............................................................ Ошибка! Закладка не определена.
6.4. Задание источника частиц ............................................................ Ошибка! Закладка не определена.
6.5. Задание граничных условий ......................................................... Ошибка! Закладка не определена.
6.6. Анализ полученных результатов................................................... Ошибка! Закладка не определена.
6.7.Параметризация модели пушки частиц ........................................ Ошибка! Закладка не определена.
6.8. Автоматическая оптимизация структуры ..................................... Ошибка! Закладка не определена.
7. Метод траекторий в CST ...................................................................... Ошибка! Закладка не определена.
7.1. Лазерные электронный и фотонный плазменные коллайдеры .. Ошибка! Закладка не определена.
7.2. Моделируемая структура.............................................................. Ошибка! Закладка не определена.
7.3. Черчение структуры ...................................................................... Ошибка! Закладка не определена.
7.4. Описание источника пучка частиц ................................................ Ошибка! Закладка не определена.
7.5. Задание границ и условий симметрии ......................................... Ошибка! Закладка не определена.
7.6. Сетка разбиения на элементы пространства ................................ Ошибка! Закладка не определена.
7.7. Запуск моделирования ................................................................. Ошибка! Закладка не определена.
7.8. Анализ полученных результатов................................................... Ошибка! Закладка не определена.
8. Расчет мультипакции ........................................................................... Ошибка! Закладка не определена.
8.1. Черчение волноводного ступенчатого фильтра ........................... Ошибка! Закладка не определена.

5
 8.2. Описание материала фильтра....................................................... Ошибка! Закладка не определена.
8.4. Модель отраженных эластичных (упругих) электронов .............. Ошибка! Закладка не определена.
8.5. Монитор частиц ............................................................................. Ошибка! Закладка не определена.
8.6. Выбор источника эмиссии и модели эмиссии.............................. Ошибка! Закладка не определена.
9. Моделирование электровакуумных СВЧ приборов ........................... Ошибка! Закладка не определена.
9.1. Модель поглотителя клистрона .................................................... Ошибка! Закладка не определена.
9.2. Задание потенциалов на электродах ............................................ Ошибка! Закладка не определена.
9.3. Задание источника излучения (пушки частиц) ............................. Ошибка! Закладка не определена.
9.4. Установка граничных условий....................................................... Ошибка! Закладка не определена.
10. Моделирование движущихся в пространстве частиц ...................... Ошибка! Закладка не определена.
11. Моделирование магнетрона ............................................................. Ошибка! Закладка не определена.
11.1.Черчение структуры магнетрона ................................................. Ошибка! Закладка не определена.
11.2. Задание потенциалов и катушек с током ................................... Ошибка! Закладка не определена.
11.3. Создание источника частиц ........................................................ Ошибка! Закладка не определена.
11.4.Анализ результатов ...................................................................... Ошибка! Закладка не определена.
12. Моделирование магнетрона с резонаторами .................................. Ошибка! Закладка не определена.
12.1.Черчение структуры магнетрона................................................. Ошибка! Закладка не определена.
12.3. Установки на решение................................................................. Ошибка! Закладка не определена.
12.4. Мониторы поля в точке ............................................................... Ошибка! Закладка не определена.
12.5. Задание источника частиц и полей для их ускорения ................ Ошибка! Закладка не определена.
12.6. Задание аналитического поля и потенциалов на электродах магнетронаОшибка! Закладка не опред
12.7. Результаты расчета ...................................................................... Ошибка! Закладка не определена.
12.8. Подстройки для создания условий генерации магнетрона ....... Ошибка! Закладка не определена.
13. Моделирование разнорезонаторного магнетрона........................... Ошибка! Закладка не определена.
13.1. Создание структуры магнетрона ................................................ Ошибка! Закладка не определена.
13.2. Граничные условия ...................................................................... Ошибка! Закладка не определена.
13.3. Установки на решение................................................................. Ошибка! Закладка не определена.
13.4. Задание источника частиц и полей для их ускорения ................ Ошибка! Закладка не определена.
13.6. Установки программы PIC на расчет ........................................... Ошибка! Закладка не определена.
13.7. Результаты расчета магнетрона .................................................. Ошибка! Закладка не определена.
13. 8. Моделирование работы магнетрона с использованием двух источников токаОшибка! Закладка не о
14. Моделирование магнетрона с гребенчатой структурой .................. Ошибка! Закладка не определена.
15. Моделирование магнетрона для СВЧ-печки..................................... Ошибка! Закладка не определена.
16. Моделирование лампы бегущей волны ........................................... Ошибка! Закладка не определена.
16.1. Создание структуры ЛБВ ............................................................ Ошибка! Закладка не определена.

6
 16.2. Черчение системы замедления ЛБВ ........................................... Ошибка! Закладка не определена.
16.3. Задание материалов и граничных условий и портов ................. Ошибка! Закладка не определена.
16.4. Установки на решение ЛБВ ......................................................... Ошибка! Закладка не определена.
Заключение .............................................................................................. Ошибка! Закладка не определена.
Литература ............................................................................................... Ошибка! Закладка не определена.

7
 Условные обозначения
САПР – системы автоматизированного проектирования.
CST – Computer System Technics – компания и программа
электродинамического моделирования.
CST DESIGN ENVIRONMENT – общий интерфейс программы CST
CST Particle Studio – программа моделирования СВЧ устройств с потоком
частиц.
CST MWS (Microwave Studio) – программа моделирования СВЧ уствойств.
CST EMS – программа расчета электростатического и магнитного поля.
PIC (Particle in Cell) – программа и метод пошагового расчета положения
частиц.
Tracking – Программа расчета трасс частиц в пространстве устройства.
Wake-Field – программа расчета следов движения частиц в пространстве.
RF (Radio Frequency) - радиочастоты.
Eigenmode – собственные числа, собственные частоты, типы волн.
JDM Eigenmode – метод расчета собственных мод с учетом потерь.
FIT (Finite Integral Technics) – метод конечного интегрирования.
MAFIA – программа, предшественница CST.
GdfidL – программа трехмерного моделирования ЭМ поля.
Gun – пушка зарядов.
PIV (Particle Tracking Velocimetry) – измерение скорости частиц.
PTV (Particle Tracking Velocimetry) – измерение скорости по трассам.
PEC (Perfirct Electrical Conductor ) – идеальный проводник без потерь.
TEM – Transite Electro-Magnetic – плоские электромагнитные волны.
Gauss - распределение Гаусса, нормальное распределение.
DC (Direct Current) – постоянный ток.
Fixed (TRK) – метод фиксированной эмиссии.
Child-Langmuir (Чайлд-Ленгмюр) – модель распределения пространственного
заряда.
SCL (Spice Charge Limited) – ограниченный пространственный заряд.
TD (Time Domain) - временной процесс.
WCS (working Coordinat System) – рабочая система координат.
ЛБВ – лампа бегущей волны.
ЛОВ – лампа обратной волны.
ЭЛТ – электронно-лучевая трубка.
МД – молекулярная динамика.

8
СГС – система единиц: сантиметр, грамм, секунда.
HFSS ANSYS (High frequency Structure Simulation) программа моделирования
СВЧ устройств фирмы ANSYS.
FEKO (Field Korpus) – программа моделирования СВЧ устройств фирмы
EMSS.
COMSOL Multiphisics – программа мультифического моделирования
(Швеция).
ЕМ – электромагнитное (поле и др.).
КПД – коэффициент полезного действия.

9
 1. Введение

Электромагнитный анализ является главной целью программ

электродинамического моделирования. Наличие статических
электрических и магнитных полей становится причиной вторичных
эффектов: наведений токов на токонесущих поверхностях, искривления
траекторий частиц в пространстве и пр. Потери в металлах и
диэлектриках вызывают прогрев или даже тепловое разрушение
структуры. Возникающие при этом силы могут деформировать
структуру и изменить ее электромагнитные характеристики, например,
расстроить объемный фильтр.

Многие СВЧ приборы – электронные лампы, магнетроны, клистроны

работают так, что переносчиком энергии в электромагнитное поле
становятся частицы. Частицы – носители энергии. Сумма частиц несет
суммарную энергию. Мощность есть производная энергии по времени.

Современные программы: HFSS ANSYS, CST STUDIO SUITE,

COMSOL и др. имеют набор вычислительных модулей,
предназначенных для анализа стационарных или переходных тепловых
процессов (в том числе и в биологических средах), а также
механических нагрузок. Все вычислители плотно интегрированы в
поток проектирования и обеспечивают достоверный мультифизический
анализ. Процесс проектирования радиотехнических устройств в
совокупности физических условий и свойств называется
мультифизическим анализом.

Решение мультифизической задачи тесно связано с методом

передачи данных от одной задачи к другой. Так в мультифизической
задаче нахождения теплового распределения в биологическом объекте
при облучении его радиотехническими средствами на первом этапе
рассчитывается мощность потерь в среде с потерями, и затем эта
мощность становится источником тепла и рассчитывается
распределение тепловых потоков.
Поток данных от одной решенной задачи (например нахождения
электромагнитного поля) передается к другой задаче (например задаче
распространения потоков частиц) через файл или посредством выбора
установки.
Например, при расчете ферритового циркулятора на первом шаге
рассчитывается свойства среды (феррита), и эти данные записываются в
10
файл с описанием анизотропной среды для последующего, на втором
шаге, решения задачи распространения ЭМ поля по каналам
циркулятора. При решении задачи падения частиц на объект,
который накапливает потери, это накопление осуществляется за период
заданного времени. Затем эта мощность потерь становится источником
тепла и решается задача распространения тепла на поверхности и в
материале.

Задача анализа возможного пробоя в СВЧ приборах (мультипакция)

решается с учетом связи полей и искривленного движения
распространяющихся частиц.

С помощью встроенных физических интерфейсов в современных

программах и полного описания свойств материалов, можно создать
модели, описываемые такими разнообразными физическими
величинами, как характеристики материалов - плотность, упругость;
нагрузки; граничные условия; источники тепла и тепловые потоки.
Можно применить переменные, выражения или заданные константы
непосредственно в областях твердых и жидких тел, на границах, ребрах
и точках, независимо от сетки разбиения. После этого
мультифизическая программа, такая как CST SUITE или Comsol
Multyphysics компилирует систему уравнений, представляющих всю
модель.
С помощью этих приложений пользователи, которые даже не имеют
достаточной технической подготовки, чтобы создавать модели, могут с
легкостью проводить виртуальные испытания при различных
изменениях проекта, исходя из их собственных задач.
В университетской среде применяется то же программное
обеспечение, чтобы знакомить студентов с мультифизическим
моделированием и разработкой приложений. Использование
приложений COMSOL дает студентам возможность познакомиться с
численным анализом и физическими системами перед тем, как они
приступят к разработке собственных моделей с нуля. После того, как
студенты в достаточной мере ознакомятся с принципами и методами
моделирования, они могут создавать в среде разработки приложений
собственные приложения, углубляя свои знания и расширяя
возможности совместного анализа.
Но теперь можно создавать интересные приложения для
моделирования именно с такими характеристиками, которые хотелось
бы предложить студентам для изучения. Только после того, как им
представится возможность первоначально ознакомиться с
11
приложениями для анализа происходящих физических процессов и для
понимания того, к чему приводят различные физические условия
работы устройств.
Революция в росте вычислительной мощности компьютеров и
суперкомпьютеров произвела революцию и в программах для
инженеров и исследователей. Большинство СВЧ электромагнитных
задач потенциально поддаются электродинамическому решению, как в
частотной, так и во временной области.

Важной ожидаемой целью проектирования является реализация

процесса оптимизации, используя методы электродинамического
моделирования.
Современные коммерческие пакеты начинают предлагать более
одного метода расчета в одном пользовательском интерфейсе. Выбирая
соответствующий метод под конкретную задачу, работа в едином
пользовательском интерфейсе будет намного проще для пользователей,
и использует всю мощь электродинамических методов расчета.

Современные программы: HFSS ANSYS, CST, FEKO, COMSOL и

др. имеют набор вычислительных модулей, предназначенных для
анализа и моделирования СВЧ структур, входящих в СВЧ систему. Это
задачи решения распространения электромагнитных волн, задачи
электромагнитной совместимости, тепловые задачи и задачи, связанные
с механическими нагрузками на системы.

Процесс проектирования радиотехнических устройств в

совокупности физических условий и свойств называется
мультифизическим анализом.

Решение мультифизических задач тесно связано с методами передачи

данных от одной задачи к другой. Это относится и к устройствам,
работающим с движущимися частицами, переносящими энергию в
пространстве. Тема эта новая для Российских технических ВУЗов,
поэтому она только сейчас становится важной и интересной для
специалистов по электронной технике. Все их замечания авторы примут
с благодарностью.

Авторы благодарят рецензентов проф. МЭИ Белова Л.А., проф.

Моругина С.Л., сотрудников ООО «Плутон» Вагина А.И., Ефремову
М.В., Скрипкина Н.И. за обсуждение рукописи книги, а также

12
 выпускника МФТИ Проникова А.И., который решил задачу,
описываемую в Гл. 13.

2. Обзор задач, решаемых CST Particle Studio

Имеется много практических задач, где важную роль играет

движение свободных зарядов в электромагнитном поле. Это относится
к проектированию магнетронов СВЧ, приборов ЛБВ, ЛОВ,
рентгеновских трубок, ЭЛТ, которые активно используются в радио и
телевидении, в гражданских или военных радиолокационных станциях.
Области применения включают проектирование электронные ламп,
устройств, в которых выполняется управление потоками электронов,
анализ явлений пробоя и анализ явления разрядов (мульти-пактинга),
лавинного умножения движущихся зарядов и нарушения работы
электронных приборов в условиях вакуума и больших мощностей.
Предсказание и расчет этих эффектов становятся сейчас одной из
важных задач в трехмерном EM моделировании. Выполним обзор
некоторых типовых задач, которые решаются с помощью CST
PARTICLE STUDIO (табл. 1).

Табл.1. Примеры задач, с учетом свободных частиц, которые можно

анализировать с помощью CST PARTICLE STUDIO.

2.1. Лампа бегущей

волны

2.2. Электронная
пушка
Пирса

13
2.3. Моделирование
выходного
резонатора
клистрона

2.4. Моделирование
двухполостного
монотрона частиц

2.5 Измеритель
характеристик
пучка электронов

2.6. Моделирование
коллектора
носителей зарядов

2.7. Моделирование
поля коллиматора
частиц

2.8. ЛБВ терагерцового

диапазона

Далее рассмотрим более подробно примеры, приведенные в таблице.

14
 2.1. Лампа бегущей волны ЛБВ

Лампы бегущей волны подразделяются на два класса: ЛБВ типа «О»

и ЛБВ типа «М»[1].
В приборах типа «О» происходит перекачивание кинетической
энергии электронов в энергию СВЧ поля в результате торможения
электронов этим полем. Магнитное поле в таких лампах направлено
вдоль направления распространения пучка и служит лишь для
фокусировки последнего. В приборах типа «М» в энергию СВЧ поля
переходит потенциальная энергия электронов, смещающихся в
результате многократного торможения и разгона от катода к аноду.
Средняя кинетическая энергия при этом остается постоянной.
Магнитное поле в таких приборах направлено перпендикулярно
направлению распространения пучка. Электронная пушка (Gun) –
часть ЛБВ, излучающая пучок зарядов. В ней энергия постоянного тока
преобразуется в энергию движущихся зарядов, которые затем
взаимодействуют с электромагнитными волнами в пространстве ЛБВ на
радиочастотах.

Принцип действия ЛБВ основан на механизме взаимодействия потока

электронов с полем бегущей электромагнитной волны. На рис. 2.1.
схематично представлено устройство ЛБВ. Электронная пушка
формирует пучок электронов с определенным сечением и
интенсивностью. Скорость электронов определяется ускоряющим
напряжением. С помощью фокусирующей системы, создающей
продольное магнитное поле, обеспечивается необходимое поперечное
сечение пучка на всем пути вдоль замедляющей системы. В ЛБВ
электронная пушка, спиральная замедляющая система и коллектор
размещаются в металлостеклянном или металлическом баллоне.
Спираль крепится между диэлектрическими стержнями, которые
должны обладать малыми потерями на СВЧ и хорошей
теплопроводностью. Последнее требование важно для ламп средней и
большой выходной мощности, когда спираль нагревается из-за оседания
электронов и нужно отводить это тепло, чтобы не было прогорания
спирали.

15
 На входе и выходе замедляющей системы есть специальные
устройства для согласования её с линиями передачи, которые могут
быть либо волноводными, либо коаксиальными. На вход поступает СВЧ
сигнал, который усиливается в приборе и с выхода передается в
нагрузку.
Трудно получить хорошее согласование во всей частотной полосе
усиления лампы. Поэтому есть опасность возникновения внутренней
обратной связи из-за отражения электромагнитной волны на концах
замедляющей системы, при этом ЛБВ может перестать выполнять свои
функции усилителя. Для устранения самовозбуждения вводится
поглотитель, который может быть выполнен в виде стержня из
поглощающей керамики или поглощающих плёнок.

Электроны, пролетая сквозь замедляющую систему, отдают часть

своей кинетической энергии СВЧ полю, что приводит к уменьшению
скорости электронов. Но при этом нарушается условие фазового
синхронизма Ve ˜ Vф.
Отсюда вытекает основное ограничение ЛБВ, связанное с
невозможностью отдачи всей кинетической энергии электронов СВЧ
полю: электронные сгустки смещаются из области тормозящего поля в
область ускоряющего.
Нижний предел скорости электронов определяется фазовой
скоростью замедленной волны. Поэтому величина КПД должна быть
тем больше, чем значительнее превышение начальной скорости
электронов над фазовой скоростью волны в замедляющей системе.
Однако при увеличении рассинхронизма ухудшается группирование на
входном участке замедляющей системы и резко уменьшается
коэффициент усиления. Таким образом, требования максимального
КПД и высокого коэффициента усиления в ЛБВ оказываются
противоречивыми. Современные серийные ЛБВ «О» для
спутниковых ретрансляторов с выходной мощностю 100 Вт имеют к.п.д
до 60%.

16
 Рис. 2.1. Принцип работы электронной лампы бегущей волны

Электронная пушка эмитирует пучок электронов, который

взаимодействует с электромагнитной волной, распространяющейся в
структуре и наконец поглощается в коллекторе. Чтобы
взаимодействовать с полем, частицы должны иметь скорость,
согласованную со скоростью ЭМ волны. Эта скорость зависит от
приложенного напряжения.
Электронный прожектор должен быть разработан так, чтобы ток
эмиссии был максимальный. Структура электронного прожектора
показывается на рис. 2.2.

Рис. 2.2. Структура электронного прожектора, его сечение (слева) и

полная модель (справа)

Электростатическое (Es) моделирование выполяется в структуре:

катод, фокусирующий электрод и анод (рис. 2.2). Магнитостатическое
моделирование (Ms) включает железный (Fe) сердечник и постоянные
17
магниты. Параметрами источников для программы расчета Es и Ms
служат потенциалы и поля постоянных магнитов (рис. 2.3). Железный
сердечник считается нелинейным материалом, в котором сила
магнитного поля задается как нелинейная зависимость H(B).

Рис. 2.3. Источники для электростатического (слева) и

магнитостатического (справа) моделирования
Потенциалы, приложенные к металлическим частям, создают
электростатическое поле, и поле электрического потенциала, векторы
которого показаны на рис. 2.4. Это электрическое поле ускоряет
частицы до определенной скорости. Во время эмиссии электронов перед
катодом появляется электронное облако. Пространственный заряд этого
облака учитывается при пошаговой эмиссии пушки электронов.

Рис. 2.4. Электростатические потенциалы (линии) и поля (стрелки)

Чтобы сфокусировать пучок, используется периодическая

структура с постоянными магнитами. Результирующее магнитное поле
показывается на рис. 2.5 (слева). На рис. 2.5 справа изображена
зависимость поля индукции B вдоль продольной оси.
18
 Рис. 2.5. Поле индукции B (слева) и изменение поля B от расстояния x
(справа)

После задания источника частиц, CST PS рассчитает траекторию их

движения (рис. 2.6 слева). Цвет показывает увеличение скорости во
время распространения частиц через E-поле. При входе пучка в область
магнита, начинается фокусирование, и это приводит к тому, что
траектория становится волнообразной. Скорость частиц в области
магнитов не изменяется, и поэтому цвет траектории частиц (рис. 2.6)
оставется красным.
Сходимость тока эмиссии показывается на рис. 2.6. Результирующий
ток прожектора сходится к расчетному значению 41 мA.

Рис. 2.6. Траектория частиц (слева) и ток, эмитируемый источником

(справа)

Такое моделирование можно выполнить в CST PS, используя

программы электростатического и магнитостатического моделирования
CST EMS.
19
 2.2. Моделирование электронной пушки

В CST Particle можно выполнить анализ электрически большой

пушки электронов (рис. 2.7). Ускорение электронов происходит только
в небольшой части рабочей области, а почти 90 % электронной пушки
состоит из направляющей трубы. Электрическое поле устанавливается
катодом, который выполняет роль источника частиц; направляющим
электродом и анодом, который представляет из себя трубу. Магнитное
поле создается большой катушкой, по которой течет постоянный ток по
цилиндру с высокой магнитной проницаемостью μ.

Рис.2.7. Конструкция электронной пушки

Структура электронной пушки (рис. 2.7) состоит из цилиндра,

формирующего направление для магнитного поля, излучающего катода
и фокусирующего второго катода. Конструкция создается, используя
операции слияния, скругления ребер и операции объединения.

20
 Рис. 2.8. Источник частиц с вогнутой поверхностью

Чтобы выполнить моделирование электронной пушки, нужно

использовать три решающих устройства: сначала расчет статического
электрического поля, затем расчет статического магнитного поля,
которые ускоряют и фокусируют частицы. Для электростатического
расчета, на катод подается потенциал 0 В, а на анод - потенциал 90 кВ.
В катушке электромагнита (соленоида) индукция магнитного поля
задается в ампер-витках на длину соленоида.
Затем выполняется расчет траекторий частиц. Источник частиц,
показанный на рис. 2.8, охватывает вогнутую лицевую поверхность
катода, с которой эммитируются частицы. Пространственный заряд
ограничивает модель эмиссии, т.е. частицы эмитируются, когда поле
вблизи поверхности излучения частиц больше нуля (рис. 2.9).

Рис. 2.9. Электрические и магнитные поля в плоскости сечения

через катод

21
 Рис. 2.10. График траектории зарядов; цвет показывает разные
скорости зарядов (в м/сек)

Характеристики электромагнитного поля и частиц можно вывести на

графики. На рис. 2.10 показывается типичная траектория и скорости
частиц в электронной пушке. Другие включенные импульсы задаются
энергией, параметрами β и γ. Их изменения можно видеть, используя
анимацию. Можно также вывести на график магнитную, электрическую
энергию, ток излучения и картину интерактивно движущихся частиц.

2.3. Выходной резонатор клистрона

В предыдущем примере поток частиц показывался в виде луча,

который меняет свое сечение и направление под действием
электромагнитного поля. В данном примере (рис. 2.11) показывается
моделирование частиц методом Particle-inCell (PIC) в клистроне,
который генерирует СВЧ колебания. В результате показываются
движущиеся заряды в комбинации с произвольными зависящими от
времени полями. В решении учитывается связь движения зарядов и
электромагнитного поля. Так как программа PIC внедрена в переходное
решающее устройство CST MWS, то все возможности, связанные с
волноводными портами, дискретными портами, дисперсионными и
гиротропными материалами, доступны в таких расчетах.
В процессе расчета в сечении порта находится мощность сигнала и
имеется возможность, таким образом рассчитать усиление прибора.

22
Рис. 2.11. Модель CST PS Рис. 2.12. Созданный источник
выходного резонатора клистрона частиц

Малый цилиндр в сечении круглого волновода используется для

эмиссии заряженных частиц (рис. 2.12). Задание источника частиц
аналогично расчету электронной пушки в CST PS: выбирается
поверхность эмиссии и свойства частиц - масса, заряд, начальная
энергия и т.д.
При моделировании распространения частиц можно задать
статические магнитные поля. Эти поля могут быть или однородные,
осесимметричные с произвольной продольной зависимостью, или ранее
были рассчитаны CST EM Studio для геометрии произвольной спирали.
На рис. 2.13 показано равномерное поле, компенсирующее
дивергенцию потока частиц из-за влияний пространственного заряда.

23
 Рис. 2.13. Добавленное статическое магнитное поле

На рис. 2.14 показывается траектория движения частиц. Цвет

указывает энергию распределения частиц внутри бухты. Распределение
амплитуды во времени прохождения потока частиц имеет
распределение Гаусса. Пространственное распределение заряженной
частицы задано однородным по поперечному сечению. Электрическое
поле, вызванное движущимися заряженными частицами, показывается
на рис. 2.15.

Рис. 2.14. Траектория частиц, Рис. 2.15. Электрическое поле,

проходящих через выходной вызванное движением заряженых
резонатор клистрона частиц в клистроне

Спектральная плотность мощности (электромагнитной волны)

рассчитывается в волноводном порту (рис. 2.15). В начале процесса
сигнала нет, так как поток частиц не проходит через полость. С
увеличением числа частиц в проходящем потоке, сигнал достигает
максимального значения.

Рис. 2.16. Выходной сигнал Рис. 2.17. Спектр частот

24
 в волноводном порту выходного сигнала клистрона

Используя дискретное преобразование Фурье временного сигнала

(рис. 2.16), получаем соответствующий спектр частот (рис. 2.17).
Итак, в этом примере учитывается взаимная связь между движением
частицы и электромагнитными полями. Это означает, что учитывается
влияние пространственного заряда. Решающее устройство PIC
позволяет получить информацию о выходной мощности, амплитуде
выходного сигнала, зависящего от времени и др.

2.4. Моделирование двухполостного монотрона

Лампы СВЧ-диапазона - устройства, которые преобразуют энергию

постоянного тока в энергию СВЧ с помощью электронного луча,
взаимодействующего в структуре с электромагнитными волнами.
Простейшая форма лампы СВЧ-диапазона – монотрон, более сложные
устройства - лампа бегущей волны или генератор на лампе обратной
волны, где пучок взаимодействует с медленной волной, чтобы усилить
электромагнитную волну СВЧ.
В случае монотрона (рис. 2.18) устройство возбуждается пучком
зарядов, и происходит его взаимодействие с ЭМ волной типа H010.

Рис. 2.18. Геометрия монотрона Рис.2.19. Зонд электрического поля в

пространстве монотрона

Монотрон состоит из 2 полостей, связанных щелью, которая

обеспечивает путь для пучка частиц (рис. 2.19). Красным цветом
показывается источник частиц. Частицы испускаются пушкой с

25
постоянным током 10 A, под действием приложенного напряжения 20
кэВ.
Имеется несколько подходов, чтобы выполнить анализ такой
структуры. Каждый раз рассчитывается электромагнитное поле, которое
анализируется пробника поля CST MWS. Пробник рассчитывает
электрическое и магнитное поле во времени в определенной точке.
Координаты пробника поля, используемого в этом случае, y = 0. 8 см и z
= 2.6 см (рис. 2.19). Сигнал, измеренный этим зондом, изображен на
рис. 2.20 (слева). Видим, что колебание возникает при t> 400 нсек и
устанавливается при t> 750 нсек, что согласуется с результатами
эксперимента.
Спектр частот (рис. 2.20, справа) имеет максимум на 4 ГГц.

Рис. 2.20. Переходный сигнал в зонде и его спектр

С помощью монитора частиц, можно видеть возникновение пучка.

На рис. 2.21 показывается пучок в начале процесса взаимодействия (100
нсек). Так как пока только очень малое электромагнитное поле было
создано, пучок распространяется почти неизменяемым через полость.
Энергия частиц остается равной входной энергии 20 кэВ.

26
Рис. 2.21. Траектории частиц в Рис. 2.22. Траектории частиц в момент
монотроне в момент 100 нсек 800 нсек

На рис. 2.22 показывается траектория частицы в режиме

насыщения. Очевидно, что траектория изменилась из-за взаимодействия
частиц с собственными резонансными модами резонансной полости.
График также показывает, с помощью цвета, что пучок передал энергию
к полю собственных волн, так как частицы показывают энергию,
меньшую 20 кэВ. Количественная оценка энергии частиц возможна
с графиками фазового пространства, где энергия каждой движущейся
частицы записывается относительно продольного направления. Для
примера слева на рис. 2.23 показывается график фазового пространства
в момент времени 800 нсек (режим насыщения). Этот график
подтверждает потерю частиц энергии. При эмиссии частиц (z = 0) все
частицы имеют энергии 20 кэВ, а в конечном сечении (z = 3. 8 см)
энергия частиц меньше 13.5 кэВ.
Распределение электронов в конечном сечении (z = 3.75 см - 3.8 см)
показывается справа на рис. 2.23б. При выходе из резонатора
большинство электронов имеет энергию 4. 5 кэВ.

27
Рис. 2.23. График фазового пространства в момент 800 нсек
(распределение энергий по длине резонатора (а) и по количеству частиц
(б) в конечном сечении (z = 3.75-3.8)

2.5. Монитор положения луча

В ускорителях частиц, для обнаружения фазового смещения пучка

используются монитор, включающий электроды захвата и усиления
(Pick-up/ Kicker). Принятый усиленный сигнал сравнивается с
рассчитанным по скорости распространения электромагнитного поля
(рис. 2.24).

28
 Рис. 2.24. Одна половина устройства ответвления Pick-up/Kicker

Такую структуру можно моделировать двумя различными

способами:

1) Электрод может быть возбужден и рассчитано движение

заряженной частицы под действием электрического поля. Это
эквивалентно действию электрода как возбудителя и может
моделироваться с помощью CST MWS.
2) Пучок заряженных частиц используется для возбуждения
электрического поля, которое действует на электрод, что ведет к
измерению выходного напряжения. Этот режим аналогичен работе
датчика.
В случае, если не имеется никаких возбужденных волноводных мод в
полости, эти подходы связаны теоремой взаимности.
Электрод Pic-up/Kicker, показанный на рис.2.24 – имеет длину в
четверть длины волны. Противоположный электрод можно учесть как
расположенный симметрично. Порт 1 и порт 2, показанные на рис. 2.24,
находятся на внешней стороне трубки пучка, которая скрыта для
просмотра. Синяя и красная линия на рис. 2.24 представляют оси пучка.
Луч имеет форму с нормальным распределением. Его
характеристики, как девиация, общий заряд и скорость можно видеть в
процессе расчета (рис. 2.25) в виде таблицы.

Рис. 2.25. Моделируемый датчик и характеристики пучка частиц

29
 Частотная характеристика электрода длиной в четверть длины
волны может быть получена, нормируя выходные напряжения спектра
пучка. Это нормализованное значение показывается на рис. 2.26. В
соответствии с теорией, частотная характеристика имеет вид
синусоиды. Кроме того, результаты моделирования датчика
показывают, что обеспечено подавление волноводных мод. Это видно
из рис. 2.26. Разница этих двух характеристик на верхних частотах
объясняется возникновением высших типов волн.

Рис. 2.26. Нормированный выходной сигнал на электроде

относительно частоты

На рис. 2.27, на котором монитор луча включен в структуру,

показывается абсолютное значение электрического поля,
пропорциональное заряду пучка электронов. Электрическое поле,
полученное на электродах, пропорционально мощности, поступающей
на волноводные порты 1 и 2.

Рис. 2.27. Абсолютное значение электрического поля

перемещающегося пучка заряженных частиц
30
 Таким образом, CST PS можно использовать для моделирований
датчика падающей и отраженной волны. Моделирование выделения
сигнала можно выполнить с помощью CST MWS. Учитывая
запредельные моды резонатора, результаты моделирования в обоих
случаев могут быть преобразованы друг в друга.

2.6. Моделирование коллектора частиц

Коллектор частиц работает в системе. Он служит для сбора

отработанного пучка частиц и одновременно обеспечивает подавление
вторичных электронов. Поэтому коллектор разработан так, что
вторичные электроны осаживаются на задней части электродов. На рис.
2.33 показываются рассчитанные потенциалы и распределение
напряженности электрического поля внутри коллектора.

Рис. 2.33. Распределение потенциала (слева) и электрическое поле

(справа) в коллекторе. Значение электрического поля соответствует
размеру и цвету стрелок. Направление стрелок указывает направление
поля

Как видно из графика траектории (рис. 2.34), входящий электронный

луч замедляется электрическим полем. Первичные частицы, падающие
на электроды, генерируют вторичные электроны. Однако эти вторичные
электроны возвращаются назад.

31
Рис. 2.34. Траектория пучка электронов в лампе, полученная расчетом в
CST
PS

Эмиссия вторичных электронов моделируется, используя

вероятностную модель, согласно [5]. Эта модель включает вторичную
эмиссию электронов в зависимости от кинетической энергии и
падающего угла первичных электронов. Вторичная эмиссия электронов
устанавливается выбором свойств материалов.

32
 Рис. 2.35. Траектории пучка для 4-х различных начальных энергий
частиц, эмитируемых из пушки

Сжатие электронного потока коллектором исследовалось для

четырех различных начальных энергий пучка. Траектории (рис. 2.35)
показывают работу коллектора: более высокоэнергетичные электроны
глубже проникают в коллектор и тогда демпфирование частиц
выполняется в следующем каскаде.

2.7. Моделирование коллиматора частиц

Коллиматор (от collimo, искажение правильного лат. collinco «направляю

по прямой линии») - устройство для получения пучков параллельных лучей
света или частиц. Простейший оптический коллиматор - это линза с
источником света (диафрагмой), расположенном в фокусе. Коллиматор
частиц формирует канал в передающем тракте частиц. В ускорительной
технике коллиматоры используются для поглощения частиц с большими
поперечными импульсами.

Рис. 2.36. Геометрия коллиматора частиц с волноводными портами и

сужением в центре, образующим щель
33
 Оптический коллиматор (рис. 2.37) входит в состав спектральных
приборов. Для разложения излучения в спектр в спектральном приборе
используется призма. Действие призмы основано на дисперсии, то есть
зависимости показателя преломления n вещества от длины волны света
λ.

Рис. 2.37. Разложение излучающей волны в спектр при помощи призмы

Щель S, на которую падает исследуемый поток света (рис. 2.38),

находится в фокальной плоскости коллиматорной линзы Л 1. Эта часть
прибора называется коллиматором. Выходящий из линзы параллельный
пучок света падает на призму P. Вследствие дисперсии свет разных
длин волн выходит из призмы под разными углами. В фокальной
плоскости линзы Л2 располагается экран или фотопластинка, на которой
фокусируется излучение. В результате в разных местах экрана
возникает изображение входной щели S в свете разных длин волн. У
всех прозрачных твердых веществ (стекло, кварц), из которых
изготовляются призмы, показатель преломления n в диапазоне видимого
света убывает с увеличением длины волны λ, поэтому призма наиболее
сильно отклоняет от первоначального направления синие и фиолетовые
лучи и наименее – красные. Монотонно убывающая зависимость n (λ)
называется нормальной дисперсией.
Коллиматор, показанный на рис. 2.36, имеет поперечные размеры 38 мм и
угол заострения 0.3 рад. Из-за симметрии при моделировании, структуру
можно свести к одной четверти, как показано на рис. 2.38. Продольные
границы охвачены волноводными портами. Волноводные порты служат для
поглощения волноводных мод, которые могут быть возбуждены в
неоднородности. Сам пучок частиц поглощается специальным граничными
условиями, реализованными в CST PS.

34
 Рис. 2.38. Границы симметрии, используемые в моделировании

Длина пучка электронов, полный заряд и скорость пучка обозначены

на рис. 2.39. Синяя строка в изображении указывает ось пучка. Чтобы
получить поля следа и рассчитать коэффициент потерь используется
прямой метод интегрирования. Соответствующая ось интегрирования
показывается линией на рис. 2.39.

Рис. 2.39. Определение пучка зарядов и их параметры

На рис. 2.40 показывается абсолютное значение электрического поля.

В начале оно состоит только из поля перемещающихся электрических
зарядов. При прохождении узкой щели это поле возбуждает

35
электромагнитные поля, которые могут преломлять проходящие
частицы.

Рис. 2.40. Абсолютное электрическое поле импульса (сгусток

частиц), движущегося через коллиматор

Коэффициент потерь рассчитывается по продольным потенциалам

следа. Расчеты (рис. 2.41) показывает увеличение потерь, вносимых
коллиматором с увеличение угла скоса коллиматора.

Рис. 2.41. Коэффициент потерь в зависимости от угла коллиматора

36
 Как показано в этом примере, CST PS может использоваться для
предсказания влияния поля следа в системах ускорителя. Можно
получить распределение напряженности электрического поля по оси
коллиматора, зависящее от времени. Возбуждаемый потенциал,
импеданс, спектр импульса и коэффициент потерь рассчитываются и
выводятся на графики.

2.8. Моделирование широкополосной лампы бегущей волны

Актуальность продвижения в терагерцовый диапазон

электромагнитных колебаний приводит к необходимости разработки
усилительных и генерирующих ламп в условиях миниатюризации
пространства взаимодействия (в силу уменьшения длины волны).
Периодическая замедляющая структура типа «петляющий волновод»
применена для создания широкополосной ЛБВ (210-240 ГГц) в работе
R. Zheng и X. Chen [8].

Рис. 2.42. Замедлящая система: Вход СВЧ; Структура; Выход СВЧ

Замедляющая система реализована в виде 25-ти пространственных

периодов петляющего волновода (рис. 2.42 сверху). СВЧ сигнал
подается через волноводный порт, полученная выходная
мощность выводится с помощью выходного волноводного
порта. Частицы перемещают перпендикулярно волноводу.

37
 Рис. 2.43. Дисперсионная характеристика одного элемента
периодической замедляющей
структуры.

Первоначальное «холодное» моделирование структуры петляющего

волновода с одной волной можно выполнить с помощью CST MWS
Eigenmode, в результате чего получаем дисперсионную характеристику
рис. 2.43. Нормированная фазовая скорость в этой полосе частот равна
приблизительно 0.255. Поэтому частицы эмитируются от поверхности,
показанной на рис. 2.59 с несколько более высокой постоянной
распространения β=0.2556, чтобы передать мощность от электронного
луча к ЭМ полю, распространяющемуся по СВЧ структуре. Ток
эмитируемого электронного пучка равен 50 мA. Входной сигнал –
одночастотный синусоидальный сигнал со входной мощностью 2.5 мВт
и частотой 230 ГГц. Амплитуда волны на порту равна корню
квадратному из мощности. Поэтому входной сигнал (красный),
показанный на рис. 2.46, имеет амплитуду 0.05. Выходной сигнал
насыщения при 480 псек имеет амплитуду 0.514, при котором усиление
уменьшается до 20.24 дБ. Это согласуется с усилением 20.9 дБ, данной
малосигнальной теорией Пирса.
Спектр частот выходного сигнала имеет пик на частоте 230 ГГц (рис.
2.44).

38
Рис. 2.44. Временной сигнал СВЧ на выходе (слева) и частотный спектр
выходного сигнала (справа)

Траектория частиц показывается на рис. 2.45. Выделенный фрагмент

в конце показывает модуляцию пучка по скорости, взаимодействие
пучка с электромагнитной волной и усиление входного сигнала.

Рис. 2.45. Траектория частиц и увеличение их энергии вдоль ЛБВ

Малосигнальный анализ был выполнен R. Zheng и X. Chen [8] для

всей полосы частот, представляющей интерес и сравнивается с
малосигнальной теорией Пирса. Сравнение показывает приемлемое
согласие с теорией Пирса (рис. 2.46), которая могла бы быть нарушена
влиянием пространственного заряда и группировки электронов.

39
Рис. 2.46. Зависимость усиления от частоты для малосигнальной теории Пирса; моделирование
PIC со входной мощностью 2.5 мВт; Напряжение пучка 16.7 кВ; Ток пучка 50 мА

В примере показывается «холодное» и «горячее» тестовое

моделирование структуры замедленной волны с помощи программ CST
MWS Eigenmode и CST PS PIC. Результаты находятся в хорошем
согласии с теорией. По сравнению с моделированием CST MWS
(первичным) объем модификаций для перехода к CST PS PIC невелик.
Выходная мощность непосредственно регистрируется волноводными
портами, установленными в CST MWS. По этим сигналам можно найти
усиление и спектр частот.

2.9. Моделирование генератора на лампе обратной волны

В этом разделе описано моделирование новых гребенчатых и

спиральных замедляющих систем терагерцового диапазона на лампе
обратной волны с помощью CST PARTICLE STUDIO. Взаимная связь
движения заряженной частицы и переходных электромагнитных полей
учитывается сложным адаптивным алгоритмом «Частица в ячейке».
Окончательная выходная мощность находится в хорошем согласии с
теоретическими значениями.

40
 Подобно лампам бегущей волны, генератор на лампе обратной волны
(ЛОВ) - устройство для преобразования мощности постоянного тока в
мощность ВЧ. Используется тот же самый рабочий принцип, а именно
взаимодействие прямолинейного электронного пучка с замедленной
электромагнитной волной.
В то время как обратная волна (волна, идущая во встречном
направлении к электронам) в лампе бегущей волны – ограничивает
коэффициент передачи, в лампе обратной волны она обеспечивает
обратную связь и генерацию СВЧ-мощности.
Напряженность обратной волны зависит от уровня токов электронного
пучка, геометрии замедляющей структуры и согласовании выходного
устройства прибора. Частота обратной волны определена временем
пролета или скоростью частиц (изменением рабочего напряжения
можно эффективно изменять частоту генерации в широком диапазоне).
Подробную информацию можно найти в [10].
Конструкция генераторов на лампе обратной волны была
исследована в [11]. Одно устройство (показанное на рис. 2.61 слева)
основано на двухплоскостной гребенчатой замедляющей системе, где
пучок перемещается между противостоящими полосками (зубцами
гребенки). Другое устройство (показанное на рис. 2.47) реализовано
в виде спиральной структуры, в которой пучок частиц перемещается
внутри спирали.

Рис. 2.47. Замедляющая система в виде гребенчатой ЛОВ и

спиральной ЛОВ

Генератор на лампе обратной волны был разработан, чтобы

обеспечить генерацию СВЧ мощности на частоте около 650 ГГц.
Конфигурации пучка новых конструкций представлены эмиссионными
поверхностями, показанными на рис. 2.48. Напряжение пучка находится
в обоих случаях 12 кВ. Ток равен 2 мА для гребенчатой и 10 мА в
спиральной структуры, соответственно.
41
Рис. 2. 48. Поверхность эмиссии гребенчатой ЛОВ и спиральной ЛОВ

Временной сигнал с выходной мощностью непосредственно

регистрируется в волноводном порту (рис. 2.49).

Рис. 2.49. Волноводный порт для приема выходной мощности

гребенчатой и спиральной ЛОВ

Рис. 2.50 показывает (слева) сигнал, полученный в волноводном

порте для гребенчатого ЛОВ, включая потери проводника. Очевидно,
что было достигнуто установившееся состояние. Так как сигнал записан
в значениях амплитуды СВЧ-поля, выходная мощность может быть
определена по квадрату этого значения. Спектр сигнала имеет пик на
частоте 650 ГГц, на которой ЛОВ генерирует.

Рис. 2.50. Временной сигнал, полученный в волноводном порту и

соответствующий ему спектр

42
 Чертеж фазового пространства для фиксированного времени, где
достигнуто условие установившегося состояния, показывается на
рис.2.51. Из рис. 2.51 видна модуляция частиц по энергии (скорости).
Кроме того, можно видеть передачу энергии между частицами и
радиоволной при уменьшении усредненной энергии частиц.

Рис. 2.51. Фазовая плоскость в момент 5.2 нсек

Соотношения мощностей для гребенчатой ЛОВ, включая потери в

проводниках, показаны в табл. 2.1. Временной сигнал и спектр
гребенчатой ЛОВ без потерь, в спиральной ЛОВ без потерь и в
спиральной ЛОВ с потерями в проводниках весьма близки.
Результаты CST PS показывают хорошее согласие с классическим
анализом. В CST PS реализованы многие возможности, первоначально
разработанные для CST MWS: волноводные порты, моделирование
металлов с потерями, границами с идеальным поглощением и др.

43
3. Методы расчета движения частиц, используемые в CST
Particle Studio

CST PARTICLE STUDIO - пакет программ для проектирования и

анализа электромагнитных приборов, в которых перемещаются,
ускоряются и направляются пучки заряженных частиц. После того, как
устройство начерчено, выполняется разбиение на ячейки, которое будут
использоваться для итерационного процесса расчета движения частиц и
изменения во времени электромагнитного поля. Перед запуском
программы моделирования движения частиц нужно выполнить расчет
электромагнитного поля. Так как базовый метод - трехмерный, CST
PARTICLE STUDIO может решить фактически любую задачу поля,
которая использует распространение потоков элементарных частиц.
Поток частиц изменяет свое направление, ускорение и торможение
под действием статического электрического поля, магнитного
статического поля, а также распространяющегося электромагнитного
поля.

3.1. Действие магнитного поля на заряженные частицы

Магнитное поле, создавая силу Лоренца, отклоняет частицу, не

изменяя её энергии, и задает орбиту, по которой движутся частицы (рис.
3.1-3.2).

Рис. 3.1. Правило левой руки, которое Рис. 3.2. Действие

показывает направление силы отклоне- силы Лоренца на
ния частиц (силы Лоренца), движу- частицу в магнитном
щихся в магнитном поле поле

44
 Сила Лоренца всегда перпендикулярна вектору скорости, поэтому
заряженная частица, влетевшая в однородное магнитное поле
перпендикулярно его магнитным линиям, движется равномерно по
окружности с ускорением:
aц =Fл/m = qvB/m (3.1)

aц = v2/R (3.2)

Приравняв эти два выражения qvB/m= v2/R, получаем радиус R

окружности, по которой искривляется траектория движения частицы. В
результате
R=mv/qB,

где m – масса частицы, q - заряд частицы, v – скорость частицы, B –

магнитное поле.
Для описания движения релятивистских частиц в однородном
магнитном поле используется математический аппарат релятивисткой
физики. Если заряженная частица влетает в магнитное поле под углом к
магнитным линиям, то она станет двигаться по винтовой линии.

3.2. Движение заряженных частиц в однородном магнитном поле

В ускорителях с бегущей волной в ускорительной камере

возбуждается высокочастотное электрическое поле бегущей волны,
скорость распространения которой в каждой точке пути равна скорости
частицы. Если электрическое поле волны имеет компоненту в
направлении движения, частицы будут получать или терять энергию в
зависимости от их мгновенного положения относительно гребня волны.
К ускорителям бегущей волны относятся получившие в последние
годы широкое распространение кильватерные ускорители. Принцип их
действия заключается в ускорении заряженных частиц в полях
кильватера, возбуждаемых интенсивными электронными сгустками в
различных средах: периодически диафрагмированной структуре,
плазме, диэлектрическом волноводе.
Кильватерное ускорение предполагает систему передачи энергии от
сильноточного электронного сгустка к слаботочному сгустку высоких

45
энергий. Сильноточные электронные сгустки малых энергий
возбуждают в волноводной среде черенковскую электромагнитную
волну с продольной компонентой электрического поля до 100 МВ/м,
которая используется для ускорения последующего слаботочного
сгустка.

CST PARTICLE STUDIO имеет шесть различных программ расчета

полей: электростатического, магнитостатического, решающие
устройства Eigenmode, Particle tracking, PIC и решающее устройство
Wakefield. Так как в качестве базового метода расчета используется
итерационный метод, все решающие устройства имеют подобный
итерационный алгоритм с заданной точностью до остановки. Точность
остановки важна для дальнейшей обработки данных, так как это
ограничивает точность вторичных результатов. С другой стороны есть
эмпирическое правило, что для получения большей точности нужно
затратить большее время решения.

3.3. Выбор метода расчета при анализе распространения частиц

В интерфейсе CST DESIGN ENVIRONMENT можно выбрать ряд

программ и методов расчета. Зададим команду File Change Problem
Type. В этом меню можно выбрать следующие программы:

Если один из этих пунктов выбран, интерфейс конфигурируется

так, что показываются только те средства управления, которые
необходимы для выбранного типа задачи.

3.2.1. Программа PIC

Программа PIC (Particle in Cell) позволяет моделировать поток

заряженных частиц в распространяющемся электромагнитном поле.
Кроме того, в пространство анализа могут быть добавлены
статические или аналитические распределения напряженности
46
электрического поля. Заряженные частицы могут эмиттироваться от
произвольных поверхностей или одиночных точек. Кроме того,
электромагнитные поля могут возбуждаться предварительно
заданными портами.
Пример распространения частиц под действием силы Лоренца
показывается на рис. 3.6.

Рис. 3.6. Электронно-лучевая трубка

Ме́тод части́ц в яче́йках (Particle-in-Cell, PiC) — метод численного

решения некоторых видов дифференциальных уравнений в частных
производных. Метод разработан F. H. Harlow в Лос-Аламосской
лаборатории (находится в Нью-Мексико, США) в середине 50-х
годов. Применяется для моделирования процессов газовой динамики
и гидродинамики, а также при моделировании плазмы.

47
 Рис. 3.7. Цикл моделирования частиц в ячейке

Рис. 3.8. Разбиение и дискретизация поверхности эмиссии и

генерация пучков для каждого пучка частиц

48
 Рис. 3.9. Итеративный временной алгоритм

Частицы эммитируются в моменты времени через шаг Δt, в

область задачи. Новые поля затем рассчитываются из распределения
заряда при Δt. Затем рассчитывается новый заряд во временной шаг
2Δt и переводится в область задачи. Можно видеть, как частицы
передвигаются на одну ячейку в каждый временной шаг.

Рис. 3.10. Сечение лампы бегущей волны

49
 Рис. 3.11. А) Эквипотенциальные линии внутри пушки электронов

Рис. 3.12. Представление векторного поля магнитного потока внутри

лампы бегущей волны

Модели эмиссии, представленные в CST, имеет много очевидных

преимуществ над, в настоящее время доступными, инструментами
моделирования. Главным из них является его способность моделировать
искривленную поверхность эмиссии, что очень важно для эмиссии
электронов в пространство задачи без каких-либо ошибок, которые
вытекают из граничных аппроксимаций. Большинство моделей эмиссии
на основе конечных элементов и граничных элементов сетки, которые
требуют много операций и вычислительно трудоемким, из-за большого
числа неизвестных, могут быть решены с помощью простой двойной
ортогональной сетки, используемой в методе конечного интегрирования

50
(FIT). Конформное поле решения повышают способность представить
модель, в точности обрабатывая поля на границе, что, в свою очередь,
приводит к расчету текущих и начальных скоростей частиц с
минимальной погрешностью.
Геометрическое моделирование излучателя является первым шагом
в обеспечении хорошего пространственного распределения образцов
излучателя, которые могут близко отражают реальной физической
системы.

Метод PIC (частица-в-ячейке) наряду с методом конечных

разностей (FIT) дает большое преимущество моделирования
электронно-полевого взаимодействия с хорошей точностью. Здесь
эмиссия моделируется путем инициализации частиц в конформно
фазовом пространстве. Модель может интерполировать поля на
положение частицы в граничных элементах с использованием
информации о сетке, что позволяет точный расчет параметров эмиссии.
На основании спецификации входного сигнала, модель может
имитировать тепловое поле, а также оптические и космические заряды.
Кроме того, традиционный метод виртуального катода в режиме
ограничения пространственного заряда, также может быть
смоделирован с помощью метода сохранения заряда, который
приобретает явные преимущества по сравнению со своим
предшественником. Моделирования были выполнены на плоских,
сферических и круговых цилиндрических диодов, чтобы убедиться, что
оба метода хорошо согласуются с аналитическими решениями.
В методе сохранения заряда (Charge Conservation), можно отметить
преимущество и простоту внедрения «теплового» ускорения
электронов. Электроны могут быть инициализированы с нулевой или
произвольной начальной скоростью с помощью функции теплового
распределения.

3.2.2. Работа и результаты расчета программы PIC

Программа PIC (Particle In Cell) вычисляет поля и частицы во

времени в дискретных отсчетах времени. Поля вычислены в дискретных
точках, учитывая, что частицы движутся в пространстве с
дисперсионной средой. Поля рассчитываются пошагово по
итерационной схеме ”Leap Frog” . Доказано, что этот метод остается
устойчивым, если ширина шага для интегрирования не превосходит
известный предел. Это значение шага для максимальной рабочей
51
частоты непосредственно связано с минимальной шириной шага сетки
разбиения структуры.
Поэтому чем более плотная выбранная сетка, тем меньшей может
быть величина шага времени. Это условие устойчивости не относится к
схеме модификации положения частиц. В методе PIC уравнение
Пуассона решается методом прогонки. При интегрировании уравнений
движения частиц применяется схема с „перешагиванием“ (leap-frog).

3.2. 3. Программа Wakefield

Программа Wakefield рассчитывает поле потенциалов заряженных

частиц. Поэтому электромагнитные поля рассчитываются р
программой во временной области и интегрируются на этапе
постобработки. Поле потенциалов является важной характеристикой для
проектирования ускорителей частиц.
Интенсивный пучок частиц, движущийся в вакуумной камере
ускорителя, наводит электромагнитные поля (wake-поля),
взаимодействие пучка с которыми приводит к различным коллективным
эффектам, зависящим от количества частиц в пучке. Коллективные
эффекты динамики пучка оказывают существенное влияние на
эффективность работы ускорителей, наиболее значительным их
следствием является неустойчивость движения пучка.
Знание импедансов связи необходимо для оценки условий
устойчивости движения пучка в проектируемом или уже работающем
ускорителе частиц. В настоящее время обязательным условием
проектирования вакуумной камеры ускорителя является минимизация
импедансов, требующая как можно более точных и надежных расчетов.
Импеданс ряда элементов вакуумной камеры может быть оценен с
помощью аналитических формул, давая таким образом приближение
первого порядка. Более точный расчет wake-полей и импедансов в
структурах со сложной геометрией производится с помощью программ
трехмерного моделирования wake-полей. Расчет и оптимизация wake-
потенциалов и импедансов, а также оценки влияния эффектов
взаимодействия частиц на движение пучка, являются актуальными для
проектируемых ускорителей.
При выполнении резонансных условий малые отклонения
положения или энергии пучка могут усиливаться из-за его
взаимодействия с wake-полями. Такая положительная обратная связь
52
приводит к нарастанию амплитуды колебаний и, как следствие, к потере
формы пучка или снижению его качества. Исследование механизмов
возбуждения и подавления неустойчивостей является актуальным
практически на любой ускорительной установке.

Характеристика программы Wakefield

Wake-функция – это функция отклика структуры на возбуждение

точечным зарядом, она определяется формой и электромагнитными
свойствам структуры и не зависит от распределения зарядов в пучке.
Для пучка с произвольным распределением плотности, взаимодействие
с wake-полями определяется wake-потенциалом, представляющим собой
свертку wake-функции с нормированной линейной плотностью пучка. В
большинстве практических случаев для анализа устойчивости движения
пучка достаточно рассмотреть только монопольную продольную Wk и
дипольную поперечную W функции, соотношение между которыми
задается теоремой Панофского-Венцеля.
В частотной области взаимодействие пучка с полями удобно
описывать, представляя компоненты вакуумной камеры в виде
частотнозависимых импедансов связи. Продольный Zk и поперечный Z
импедансы являются Фурье-образами соответствующих функций Wk
иW .
Важной характеристикой вакуумного прибора является
комплексный импеданс и его частотная характеристика. При отсутствии
интерференции полей, возбуждаемых пучком в разных компонентах
вакуумной камеры (удаленные друг от друга компоненты или
быстрозатухающие поля), импедансы аддитивны при любых частотах. В
этом случае импеданс всей вакуумной камеры может быть представлен
суммой импедансов ее составных частей.
Для более точного расчета wake-полей и импедансов в практически
важных структурах используются компьютерные программы
трехмерного моделирования wake-полей, такие как MAFIA и GdfidL [1.
С целью проверки надежности вычислений проведено сравнительное
исследование программ MAFIA и GdfidL [1] . Для расчета продольных и
поперечных wake-потенциалов использовались три простейшие
структуры: цилиндрическая вакуумная камера со скачкообразным
изменением сечения и сглаженные переходы сечения в цилиндрической
и прямоугольной камерах. Численные расчеты также сравнивались с
приближенными аналитическими формулами. Было выяснено, что обе
программы дают результаты, согласующиеся с точностью не хуже 10%.
53
 Программа Wakefield вычисляет потенциалы структуры,
которые рассчитываются аналитически, по рассчитанному численно
электромагнит-ному полю. Задача расчета поля, наведенных частицами
решается с помощью расчета потока заряженных частиц, которые
пролетают через наблюдаемую структуру, параллельно основной
координатной оси. Эти частицы наводят электромагнитные поля (рис.
3.13), которые рассчитываются с помощью решающего устройства во
временной области.

Рис. 3.13. Тестовый заряд q2 и заряд возбуждения q1 в пространстве

анализа

Wake-потенциал W(s) может использоваться для описания изменения

импульса тестового заряда q2, который находится на расстоянии s за
пучком возбуждения q1 (рис. 3.13):

Δp – изменение импульса тестового заряда,

q2 – тестовый заряд,
E и B - электрическое поле и магнитная индукция в пространстве
распространения зарядов.

Потенциал следа определяется из электромагнитных полей с помощью

расчета интеграла:

,
Где q1 – заряд пучка возбуждения.
54
 Для расчета электромагнитного поля, используется так называемая
пошаговая схема расчета ”Leap Frog” (прыжок лягушки). Доказано, что
этот метод устойчив, если шаг интегрирования не превышает
определенного значения. Это значение шага для максимальной частоты
непосредственно связано с минимальным шагом сетки. Так, чем более
плотная выбранная сетка, тем меньшим должен быть шаг.
Далее, потенциалы следа рассчитываются, объединяя
электромагнитные поля по оси аппликат (прямая схема
интегрирования). Другой метод вычисления интегрирует
электромагнитные поля только в неоднородностях. Это может быть
сделано более точно, но требует дополнительных условий от модели.
Программа Wakefield может запускаться из диалога Wakefield Solver
Parameters. Программа может быть запущена, если задан хотя бы один
источник частиц.

Результаты расчета
В результате расчета получаем следующие характеристики:
Wake Potential - потенциалы следа для каждой компоненты;
Wake Loss Factor - коэффициент потерь следа (k) для продольной
составляющей, рассчитываемый по формуле:

где λ(s) - нормализованная функция распределения заряда от расстояния

s (чтобы получить распределение заряда, нужно умножить эту функцию
на q1).
Wake Impedance - продольный импеданс следа, который вычисляется

преобразованием Фурье продольного потенциала следа, который делится на

Фурье-преобразование функции распределения заряда от длины волны.


 W ( s )e
is
|| ds
Z || ( )   
, где
  ( s )e
is
ds


W|| (s) - распределение потенциала следа по расстоянию s, λ(s) -

нормализованная функция распределения заряда по расстоянию s.

55
 3.3. Программа расчета трасс движения частиц

Программа Particle Tracking учитывает влияние электромагнитного

поля на движущиеся заряды. В расчете используется дискретные значения
электрического и магнитного поля в пространстве (элемента Yee со
сдвигом на половину размера):

Аналитическое Дискретное
Изменение
d mn1v n1  mn v n  qt ( E n1/ 2  v n1/ 2  Bn1/ 2 )
момента (mv)  q( E  v  B)
частицы dt
Изменение
положения
dr
v r n3 / 2  r n1/ 2  tvn1
частицы dt

Таким образом, можно построить процесс итерационного расчета и на

каждом шаге n получить скорость v и положение частиц r (рис. 3.14).

Рис. 3.14. График итерационного процесса в методе Particle Tracking

Как результат расчета на экране можно видеть следы движения частиц в

пространстве моделируемого прибора (рис. 3.15).

56
 Рис. 3.15. Следы движения частиц в пространстве электромагнитного
поля

3.3.1. Решение задачи трассировки частиц

Для расчета положения каждой частицы решается обыкновенное

дифференциальное уравнение. В трехмерной модели для каждой
частицы решается три обыкновенных дифференциальных уравнения, в
двумерной модели – два уравнения. На каждом шаге для текущего
положения частицы определяются создаваемые рассчитанными полями
силы, действующие на каждую частицу. Если в модель включены силы
взаимодействия между частицами, то они прибавляются к суммарной
силе. После этого обновляется положение частицы, и процесс
повторяется до достижения заданного времени моделирования.
Поскольку в модуле Particle Tracking (Трассировка частиц)
используются общие формулы для расчета траекторий частиц,
интерфейсы трассировки частиц можно использовать для
моделирования движения заряженных частиц в электромагнитных

57
полях, движения планет и галактик, а также движения частиц в
ламинарных, турбулентных и жидкостях.

3.3.3. Вычислительный блок Gun Iteration

Вычислительный блок Gun Iteration выполняет альтернативный

расчет электромагнитного влияния пространственного заряда и
частиц. На основании параметров движения на предыдущем шаге,
рассчитывается соответствующий электрический пространственный
заряд, вызванный частицами. Затем рассчитывается электрическое
поле, вызванное пространственным зарядом, которое учитывается для
следующей итерации движения частицы. Эта итерация повторяется,
пока не достигнута сходимость. Этот процесс показывается на рис.
3.16.

Рис. 3.16. Итеративный расчет движения частиц

В последние годы все большее распространение в

экспериментальной гидродинамике получают методы измерения полей
скорости по изображениям взвешенных в жидкости частиц. Это так

58
называемые методы PIV - Particle Image Velocimetry (измерение
скорости частиц по изображениям) и
PTV - Particle Tracking Velocimetry (измерение скорости по трассам
частиц).

Оба метода рассматривают визуализирующие частицы как точечные

объекты. Однако некоторые виды экспериментов по исследованию
полей скорости приводят к получению изображений, для которых
невозможно применить методы PIV и PTV, так как на них отсутствуют
трассеры, которые могут быть представлены как точки. В программе
реализованы два метода, предназначенные для восстановления полей
скорости по таким изображениям.
Характеристику сходимости можно найти в папке 1D Results (точность
программы Gun). Она равна:

Для просмотра в логарифмическом масштабе можно перевести

результат в вид:

Замечание. Во время каждого расчета трассы только одна установка

частиц имитируется и результирующая траектория возможна только как
установившийся луч и не может быть использована для моделирования
передачи.

Метод PIC

Для задач численного моделирования взаимодействия излучения с

плазмой в последнее время находит большое применение метод PIC
(Particle-in-Сell) или метод "частиц в ячейке". Он имеет существенное
преимущество в быстродействии по сравнению с методом численного
интегрирования уравнения Власова для функции распределения. В то же
время он позволяет моделировать макроскопический большой объем
исследуемой среды.

59
 Суть метода заключается в том, что некоторое множество
элементарных частиц, выбор которого зависит от конкретной
разновидности метода, заменяется одной квазичастицей, для которой в
дальнейшем решаются уравнения движения. Уравнение
электромагнитного поля решается численно на сетке. На той же сетке
производится интерполяция зарядов и токов, создаваемых
квазичастицами, попавшими в соответствующие ячейки
пространственной сетки.

Основным недостатком метода PIC является то, что с его помощью

достаточно трудно описать процессы столкновений частиц. Поэтому
область его применения ограничивается, как правило, задачами
взаимодействия лазерных импульсов высокой интенсивности с
идеальной плазмой, когда столкновения частиц не играют существенной
роли.
Весьма перспективным является объединение методов PIC и
молекулярной динамики (МД), в котором МД используется для
определения рассеяния энергии частиц в результате столкновений,
моделируемых в виде дополнительных ланжевеновских источников.
Таким образом, планируется изучать взаимодействие излучения с
неидеальной плазмой.

Метод МД является одним из доминирующих методов

компьютерного моделирования физических процессов в мировой науке.
Дополненный методами теоретической физики, теории устойчивости,
случайных процессов и др., метод МД является важным инструментом
исследований систем с большим числом степеней свободы. Метод МД
основан на численном решении классических уравнений движения
частиц в некотором выделенном объеме среды. Все частицы,
находящиеся в выделенном объеме (МД ячейке), взаимодействуют друг
с другом посредством заданного потенциала взаимодействия. Выбор
потенциала взаимодействия частиц является наиболее важным этапом
построения численной модели и, как правило, вызывает немало
дискуссий. Для определения микроскопических характеристик среды,
как правило, используется расчет корреляционных функций.

Алгоритм, известный как метод "частиц", характерной чертой

которого является техника дискретизации при появлении множества
дискретных объектов, которые являются моделью "частиц"
рассматривается как некоторые сетки движущиеся узлы, становятся все

60
более и более широкое распространение в математическом
моделировании. До недавнего времени метод частиц в основном
использовался в качестве альтернативы классическим численным
методам решения задач в некоторых прикладных областях физики и
математики.

Важно рассмотреть численный метод с комбинированной схемой

Лагранжа-Эйлера «частицы-в-ячейках». Метод основан на выделении из
первоначальной задачи, вспомогательной задачи с гиперболическим
оператором. После дискретизации по времени, можно прийти к хорошо
известным схемам метода "частицы-в-ячейках".

Установки на расчет методом Wakefield

Этот метод расчета вызывается командой Solve -> Particle Beam - >
Wakefields…
Для расчета потенциала следа можно выбрать либо прямой, или
косвенный метод интегрирования. Косвенный метод интегрирования более
точный. Если он не соответствует задаче (например, если пучок частиц не
релятивистский) программа автоматически переключается к прямой схеме
интегрирования.
На рис. 3.17 показан сдвиг тракта интегрирования X/Y/Z. Если поля
должны быть вычислены на оси, которая сдвинута поперечно к оси пучков
частиц, то выполняется сдвиг тракта интегрирования.

61
 Рис. 3.17. Линии, вдоль которых рассчитывается потенциал
кильватерного следа

Ось пучка частиц показывается синей линией, а оранжевым цветом

отмечен кильватерный след, который будет рассчитан. В этом случае
шаги пучка частиц по оси аппликат и пути интегрирования следа
сдвинуты в направлении X.

Спектр импеданса следа

Чтобы получить гладкий спектр для сильно резонансных структур,
можно использовать фильтрацию с помощью весовой функции cos2.
Тогда перед выполнением анализа Фурье, функция фильтра
умножается на функцию следа.
Коэффициент среза фильтра (Roll off factor) может быть выбран
между 0 и 1. Большое значение дает более плавную характеристику
фильтра, а малое значение дает крутой спад частотной характеристики
фильтра (рис. 3.18).

Рис. 3.18. Коэффициент среза фильтра

62
 Рис. 3.19. Выбор типа решения в расчете методом Wakefield

3.3.1. Параметры луча частиц

Пучки частиц, параметры которых устанавливаются по команде

Solve -> Particle Beam, это источники возбуждения для решения поля
кильватерного следа Wakefield.

Этот тип источника определяет пучок заряженных частиц, которая

вводит область вычисления в некоторую точку и распространяется с
постоянной скоростью по прямой линии, параллельно координатной оси
сквозь структуру. Для расчета следа движения частиц нужно задать, по
крайней мере, один источник частиц.

Распределение заряда в потоке луча, в зависимости от

пространственной координаты s, может быть записано следующим
образом:

(3.1).

Разбиение на сетку влияет на характеристики луча (дисперсию σ и

s). Рекомендуется выполнить анализ луча до уплотнения сетки
разбиения и вычислить максимальную частоту луча по параметрам
Sigma и Velocity.

63
 Sigma: дисперсия или среднеквадратичное отклонение плотности
зарядов по его радиусу.
Velocity (Beta): Скорость заряженных частиц в луче. Величина Beta
может быть выбрана между 0 и 1. Скорость V = C0 * Beta.
Charge: Полный связанный заряд.
Wakefields... Эта опция имеет два раздела:
Global Beam direction: направление глобального луча. Возможно
задать только лучи, параллельные или встречно-параллельные к
главной координате (X/Y/Z).
Use Pick: Можно выбрать точку, используя курсор, если точка
курсора выбирается в определенном направлении по оси, или если
используются поля редактирования X/Y/Z.
X/Y/Z: Направление оси луча, задаваемое по численным
координатам.

Поля кильватерного следа ...

В диалоге Wakefield calculation, можно задать метод расчета поля
кильватерного следа.
Отметим, что после просмотра данных расчета, можно на один график
вывести несколько 1D характеристик; выбрать различные опции
визуализации поля в 2D и 3D виде, для электрических полей, магнитных
полей, потоков мощности, токов на поверхности и т.д.

Источники ошибок / Источники неточностей

Каждый метод расчета вносит ошибки хотя бы потому, что модель

не идентична фактическому устройству или потому, что численные
расчеты выполняются с ошибками. Дадим краткий обзор источников
ошибок. Многие из них могут быть незначительными, но нужно
всегда знать их, чтобы убедиться, что Вы можете полагаться на
результаты расчета.

Несогласованности между моделью и реальным устройством

• Геометрические размеры могут быть неправильные, или

геометрическими подробностями, возможно, пренебрегли. Это
случается весьма часто и это можно только избежать, сравнивая
64
 модель тщательно с рисунком и реальной структурой. Влияние
малых подробностей может изучаться, выполняя то же самое
моделирование с и без подробностей.
• Параметры материалов могут быть неправильными или потому,
что они точно не известны или потому что значение
принималось, который является правильным для другой полосы
частот, но не для полосы, представляющей интерес. Это могло бы
быть необходимо, особенно при исследовании более широкой
полосы, вводить правильную частотную зависимость
характеристик материалов. Например, для некоторых
диэлектриков постоянная tanδ - более верный выбор, чем
проводимость.
• Источники возбуждения могут быть выбраны не корректно,
например идеально согласованный порт микрополосковой линии
вместо микрополосковой линии, запитываемой коаксиальной
линией с нормированным импедансом. Кроме того, для открытых
портов типа полосковых линий или компланарных линий, размер
порта должен быть выбран достаточно большой, чтобы
правильно фиксировать вид поля распространяемых типов волн.
Имейте в виду, что дискретные порты обычно идеально не
согласованы, даже когда они имеют тот же самый импеданс как
волновод.
• Те же самые соображения верны для портов, которые
должны быть согласованы с моделируемой структурой.
Волноводные порты основаны на использовании открытых
границ, в которой волны разделяются на их моды. В случаях
дискретных портов, например вводном мощнсти в
микрополосковые линии, рекомендуется установить достаточную
точность, чтобы получить ошибку менее -50 или -60 dB.

При учете этих потенциальных источников погрешностей, Вы можете

получить точные результаты моделирования, используя уплотнение сетки.
Кроме того CST STUDIO SUITE предлагает особенность
моделирования той же самой структуры с различными типами
дискретизации и решающими устройствами.

3.4. Расчет параметров потоков частиц

65
 Программа Wakefield предназначена для расчета параметров потоков
частиц в поле и в ней реализовано:

- Возбуждение пучка частиц для ультра-релятивистских и

нерелятивистских потоков частиц;
- Автоматическое вычисление функций-следов;
- Автоматическое вычисление импеданса по следам;
- однонаправленный и двунаправленный косвенные методы
интегрирования по доступным следам;
-Эффективное вычисление структур с потерями и без потерь;
- Вычисление распределений напряженности электрического поля
как временных функций или на одной или нескольких выбранных
частотах;
-Адаптивное измельчение сетки в трехмерном представлении;
- Параллелизация расчета при моделировании движения частиц;
- Описание изотропного и анизотропного материала;
- Частотные зависимые свойства материала;
- Гиротропные материалы (намагниченные ферриты);
- Модель поверхностного импеданса для хороших проводников;
- Расчет типов волн порта с помощью метода 2D Eigenmode в
частотной области;
- Автоматическая адаптация сетки волноводных портов;
- Многоштырьковые порты для портов ТЕМ-моды с расщепленными
проводами;
- Высокоэффективные поглощающие граничные условия, используемые
также для заряженных частиц;
- Граничные условия для проводящих стенок;
- Вычисление электрических, магнитных полей, поверхностные токи,
потоки энергии, плотности тока, плотности потерь мощности,
энергетические плотности, магнитные энергетические плотности,
напряжения во временной и частотной области;
- Дискретные порты на ребре и фаске;
- Сосредоточенные R, G, C, а также нелинейные диоды в любой точке
структуры;
- Автоматическая параметризация структуры;
- Распределенный расчет для параметрического анализа и
дистанционные расчеты;
- объединенные расчеты с использованием теплового решающего
устройства из CST EM STUDIO.

66
 В программе Wakefield можно провести расчеты поведения
пылевых наночастиц в трековой плазме, создаваемой пучком
ускоренных протонов и получении в ней упорядоченных пылевых
структур – плазменно-пылевого кристалла. Эксперименты проводились
в плазме инертного газа с монодисперсными частицами, в качестве
ионизатора использовался пучок протонов с энергией 2,5 МэВ и током
от 0,25 до 5,0 мкА. Результаты этих исследований позволили
обнаружить новые эффекты, связанные с коллективными явлениями в
плазменно-пылевых структурах. Впервые в ядерно-возбуждаемой
плазме при давлении буферного газа менее 10 Торр наблюдалось
образование пылевого кристалла.
Ускоритель на спутном лазерном поле находится в капиллярном
канале-волноводе. Внизу находятся фосфорные экраны.
Далее, импульс лазера мощностью 40 тераватт создает плотный и
мощный поток (wake) в плазме, захватывающий свободные электроны и
разгоняющий их до энергии свыше одного гигаэлектронвольта (энергия
электронного пучка измерялась при помощи отклоняющего магнита и
фосфорного экрана метровой длины). При этом длина дефазировки
составила 3.3 сантиметра – в 15 раз больше, чем в установке 2004 года.
Это был прорыв – впервые лазерный ускоритель достиг энергии порядка
той, что достигается на километровых ускорителях и синхрофазотронах.

3.5. Программа Particle-in-Cell

Моделирование в программе Particle-In-Cell дает больше

информации, чем расчет кинетического движения частиц. В этом случае
выполняется слежение за траекториями движения большого числа
отдельных частиц, учитывает информацию о скорости и начального
направления движения их. Плотности эл. заряда и тока определяются
путём суммирования частиц в ячейках, которые малы по сравнению с
рассматриваемой задачей, но тем не менее содержат большое число
частиц. Электрические и магнитные поля находятся из плотностей
зарядов и токов на границах ячеек. В качестве частиц могут быть
элементарные частицы, которые показываются в табл. на рис. 2.31.

67
 Рис. 3.20. Периодическая система элементарных частиц

Программа Particle-In-Cell (PIC) обладает следующими

возможностями:

- Источники частиц можно создать на поверхности произвольной

формы;
- Интерфейс используется для связи расчетов разными методами:
методом пучка, методом материальных точек и методом PIC (gun-,
tracking, и PIC);
- Статические и полученные методом Eigenmode распределения
68
напряженности электрического поля можно использовать как
информацию при моделировании движущихся частиц;
- Возможен интерактивный просмотр результатов до окончания времени
моделирования;
- Возможен мониторинг положения частиц и их моментов по времени;
- Мониторинг выходной мощности во временной области;
- Задание изотропного и анизотропного материалов;
- Частотно-зависимые свойства материала;
- Гиротропные материалы (намагниченные ферриты);
- Модель поверхностного импеданса для хороших проводников;
- Многоштырьковые порты для портов ТЕМ с расщепленными
проводами;
- Высокоэффективные граничные условия по излучению/поглощению;
- Граничные условия в виде проводящих стенок;
- Вычисление различных электромагнитных характеристик:
электрических полей, магнитных полей, поверхностных токов, потоков
энергии, текущих плотностей, плотностей потерь мощности,
электрических энергетических плотностей, магнитных энергетических
плотностей, напряжения во временной и частотной области
- Дискретные элементы на ребро или фаску (сосредоточенные
резисторы), аналогично сосредоточенным портам, компоненты G, R,
G, C, нелинейные диодные элементы в любом месте в структуре; -
Распределенная сеть для дистанционных вычислений;
- Совместное моделирование с программой расчета тепловых процессов
из CST EM STUDIO.

Все величины даны в Гауссовых СГС единицах за исключением

температуры, которая дана в eV, и массы ионов, которая дана в
единицах массы протона μ = mi / mp; Z — зарядовое число; k —
постоянная Больцмана; λ — длина волны; γ — адиабатический индекс;
ln Λ — Кулоновский логарифм.

69
 Рис. 3.21. Основные соотношения для сил, действующих на электрон в
магнитном поле

Материалы с частотно-зависимыми параметрами, такие, как плазма

описываются следующими характеристиками:

• Ларморова частота электрона - угловая частота кругового движения

электрона в плоскости перпендикулярной магнитному полю;

• Ларморова частота иона - угловая частота кругового движения иона в

плоскости перпендикулярной магнитному полю;

• плазменная частота (частота плазменных колебаний) - частота с которой

электроны колеблются около положения равновесия, будучи смещенными
относительно ионов;

• ионная плазменная частота;

• частота столкновений электронов;

• частота столкновений ионов;

70
Имеются также характеристики, связанные с длинами:

• Де-Бройлева длина волны электрона, длина волны электрона в квантовой

механике;

• минимальное расстояние сближения в классическом случае,

минимальное расстояние на которое могут сблизиться две заряженных
частицы при лобовом столкновении и начальной скорости, соответствующей
температуре частиц, в пренебрежении квантово-механическими эффектами;

• гиромагнитный радиус электрона, радиус кругового движения электрона в

плоскости перпендикулярной магнитному полю;

• гиромагнитный радиус иона, радиус кругового движения иона в плоскости

перпендикулярной магнитному полю;

• размер скин-слоя плазмы, расстояние, на которое электромагнитные волны

могут проникать в плазму;

• Радиус Дебая (длина Дебая), расстояние на котором электрические поля

экранируются за счёт перераспределения электронов.

Скорости

• тепловая скорость электрона, рассчитываемая с учетом распределения

Максвелла. Средняя скорость, наиболее вероятная скорость и
среднеквадратичная скорость отличаются лишь множителями;

• тепловая скорость иона, рассчитываемая с учетом распределения

Максвелла;
• скорость ионного звука (скорость продольных ионно-звуковых волн);

• Альфвеновская скорость - скорость Альфвеновских волн.

Безразмерные величины

• квадратный корень из отношения масс электрона и протона;

• число частиц в сфере Дебая;

• отношение Альфвеновской скорости к скорости света;

• отношение плазменной и ларморовской частот для электрона;

71
 • отношение плазменной и ларморовской частот для иона;

• отношение тепловой и магнитной энергий;

• отношение магнитной энергии к энергии покоя ионов.

К прочим характеристикам можно отнести:

• Бомовский коэффициент диффузии;

• Поперечное сопротивление Спитцера.

3.6. Моделирующее устройство Particle Tracking

Программа Particle Tracking используется для расчета траектории

заряженных частиц в электростатических, магнитостатических или
резонансных полях . Выполняемые итерации частиц позволяет
выполнить расчет самосогласованного электростатического поля,
которое рассматривает реакцию движения частицы в поле с
распределенным электростатическим потенциалом. В качестве
источников частиц могут быть заданы произвольные поверхности.
Эти поверхности эммитируют частицы, согласно заданной
эмиссионной модели. Основная задача для программы состоит в том,
чтобы вычислить траектории частиц, самосогласованное
электростатическое поле, распределение пространственного заряда и
ток частиц. Эти результаты появляются в дереве проекта сразу после
запуска на расчет.

Задание нескольких источников частиц

Программа расчета траекторий частиц выводит в результате

анализа пути движения различных типов частиц независимо из
нескольких различных источников. Таким образом, возможно
моделирование многолучевых электронных пушек или параллельное
моделирования пучков частиц. Источники частиц можно задать на
поверхности произвольной формы. Положение частиц моделируется на
каждом временном шаге.

72
 Основные характеристики программы:

- В пространстве описывается заряды, модель эмиссии которых зависят

от фиксированного и индуцированного поля;
- выполняется моделирование вторичной эмиссии электронов;
- Распространение частиц в самосогласованных полях (итерация
излучения пучка);
- Анализ извлеченного потока материальной точки и пространственного
заряда;
- Контроль сечения пучка, фазовый пространственный график и другие
статистические данные пучка зарядов;
- Выполняется учет тепловых процессов (экспорт распределения
тепловых потерь от расщепляемых частиц);
- Автоматическая параметризация структуры с помощью изменения
параметров;
- Автоматическая оптимизация структуры с заданной целевой
функцией, используя встроенный оптимизатор;
- Связанные расчеты с тепловым солвером из CST EM STUDIO.

3.7. Программа расчета собственных мод

В случае сильно резонансных структур без потерь, когда должны

быть рассчитаны резонансные типы волн (моды), можно эффективно
использовать решающее устройство Eigenmode. Этот вид анализа
часто полезен для определения полюсов высоко резонансных
фильтров. Eigenmode непосредственно вычисляет первые N
резонансные частоты и распределения поля передачи. В режиме JDM
Eigenmode целью расчета выбирается частота, так что собственные
моды рассчитаны по этим частотам, идущим в восходящем порядке.
Eigenmode не может использоваться с открытыми границами или
дискретными портами. Материалы с потерями могут быть
обработаны методом JDM Eigenmode, если комплексная
диэлектрическая постоянная частотно независима.

Основные возможности программы Eigenmode:

73
- Расчет распределения типов волн в структурах с малыми потерями и
структурах с потерями;
- Изотропные и анизотропные материалы;
- Использование периодических граничных условий, включая фазовый
сдвиг;
- Расчет потерь и внутренней/внешней добротности Q для каждой моды;
- Дискретные L,C можно использовать для расчета;
- Может быть установлена целевая частота (расчет в середине спектра);
- Расчет всех собственных мод в заданном интервале частот.

3.8. Программа расчета электростатического поля

Электростатическое решающее устройство (Electrostatics)

используется для решения электростатических задач. Источники
устанавливают фиксированные и плавающие потенциалы, потенциалы
на границах, заряды на PEC твердых частицах и заряды в объемах и
поверхностные заряды. Основная задача для решающего устройства
состоит в том, чтобы вычислить силу электрического поля и магнитную
индукцию. Эти результаты появляются автоматически в дереве проекта
после расчета.

Программа Electrostatics позволяет рассматривать:

-Изотропные и анизотропные материалы;
-Устанавливать источники потенциалов; заряды на проводниках;
задавать
однородную плотность заряда на поверхности;
-Выполнять расчет силы, действующих на частицы;
-Выполнить расчет емкостей.

3.9. Программа расчета магнитного поля

Программа расчета статического магнитного поля (Magnetostatics)

может использоваться для решения статических магнитных задач.
Имеющиеся источники - линии тока, токи, текущие по спирали,
постоянные магниты и источники однородного магнитного поля, а

74
также поле плотности тока, предварительно рассчитанные решающим
устройством стационарного тока.
Чтобы использовать J-статическое поле плотности тока как
магнитостатический источник, выберите Solve Stationary Current
Field... и введите коэффициент Factor > 0.
Основная задача этой программы состоит в том, чтобы вычислить
напряженность магнитного поля и магнитную индукцию. Эти
результаты появляются в дереве проекта.

Программа обрабатывает:

- Изотропные и анизотропные материалы;

- нелинейные материалы;
- источники магнитного поля: катушки, постоянные магниты, линии
токов, внешние поля;
- Расчет силы, действующей на частицы;
- Расчет индуктивности;
- Выполнить оптимизацию и параметрический анализ.

Как известно, большинство физических явлений нерелятивистской

разреженной плазмы могут быть адекватно представлены в рамках
безызлучательной модели Власова - Дарвина [1], по характеру
низкочастотной и длинноволновой. Одной из возможных областей ее
эффективного применения является описание процессов в
магнитоактивных системах, где типичное время изменения магнитного
поля может на несколько порядков превосходить и характерный период
ленгмюровских колебаний, и усредненный период циклотронных
вращений частиц (например, глобальные процессы магнитосферы Земли
[2]). Как правило, частицы в таких плазменных системах оказываются
замагниченными и их движение можно достоверно описать в дрейфовом
приближении [3].

При численной интерпретации подобных моделей по методу

макрочастиц в силу жесткого условия устойчивости явных схем
требуется априори неявная по времени разностная процедура расчета
траекторий заряженных частиц, которая наряду с достаточной
точностью в общем случае допускала бы различие шагов
интегрирования по времени динамических уравнений частиц и полей.

75
 Важно создать экономичный алгоритм расчета динамики
намагниченных частиц. Его построение базируется на адекватной
численной интерпретации дрейфого формализма с использованием
магнитного момента частицы как адиабатического инварианта.
Программа расчета статического магнитного поля также учитывают
нелинейные материалы. Когда они заданы, нужно рассчитать
распределение проницаемости внутри материала. Таким образом, больше
чем одно линейное выполненное решающее устройство должно
запускаться и так рассчитывается распределение проницаемости. В
результате распределение проницаемости также сохраняется.

3.10. Плазменные СВЧ источники

Низкотемпературная, неравновесная плазма позволяет выполнить
многие производственные процессы типа стерилизации, травления и
осаждения тонкой пленки. Плазменные источники – важнейший
инструмент на многих этапах производства, например во время
производства интегральных микросхем. Необходимость создания
плазмы с широким диапазоном давлений стимулировало разработку и
использование в последние несколько лет плазменных источников СВЧ.

Рис. 3.22a.Внешний вид СВЧ- Рис. 3.22б. Внутренний вид СВЧ-

плазмотрона плазмотрона

Метод конечного интегрирования (FIT), используемый в пакете 3D

ECAD программы MAFIA, позволяет моделировать сложные СВЧ
76
системы, например плазмотроны (рис. 3.22). CST MWS также способен
описывать плазму как дисперсионный материал.

Рис. 3.23. Сечение источника СВЧ плазмы

Распределение электрического поля в частотной области, для плазмы
с потерями с простыми параметрами, которые используются в
эксперименте, очень близки к измеренному распределению. Плазма O2
характеризуется вещественной частью диэлектрической постоянной -1.7
и проводимостью 0.017 S/м (параметры плазмы: ni = 2x10e11 cm-3, p =
60 Pa, Te = 2eV, n_en = 7.15x10e8 s-1). В результате плазмотрон
генерирует мощность СВЧ 2000 Вт на частоте f = 2.45 ГГц.

Рис. 3.24. Сдвиг фазы с Рис.3.25. Вращение поля в

помощью шлейфа для круговом резонаторе может
77
согласования импеданса. использоваться для согласования
плазменного источника с
импедансом питающей системы

Импеданс плазмотронов может быть согласован, изменяя связь

антенны и короткозамыкающего шлейфа. Изменение длины шлейфа
вызывает вращение поля в кольцевом резонаторе. Поля ведут себя
точно так же, как в эксперименте (рис. 3.25). Используя решающее
устройство Eigenmode, равномерность распределения напряженности
электрического поля в кольцевом резонаторе может быть улучшено
(рис. 3.26). Это отражается в измерении плотности плазмы (рис. 3.27).

Рис.3.26. Напряженность электрического поля (f=2.45 ГГц) в сечении

внутреннего цилиндра плазмотрона в базовой (слева) и
оптимизированной камере плазмотрона (справа)

Рис. 3.27. Распределение плотности зарядов в плазменной камере

78
 Относительное азимутальное распределение плотности электронов в
базовом (желтые звездочки) и в оптимизированном (зеленые звездочки)
плазмотроне. Параметры плазмы: Аргон, 50 Pa, мощность
электромагнитной СВЧ волны 550 Вт на частоте 2.45 ГГц.
Максимальная абсолютная концентрация равна ne = 6*1011 cm-3.
Моделирование плазмотрона с помощью MWS PS позволяет лучше
понять связь СВЧ-мод в плазменной камере; выполнить оптимизацию
плазменной гомогенности; выполнить согласование генератора с
нагрузкой.

79
 4. Источники частиц CST PARTICLE STUDIO

Программа CST PARTICLE STUDIO является одной из частей

комплекса CST SUITE и предназначена для решения мультифизических
задач, связанных с распространением частиц. Это класс
радиотехнических задач, которые решаются в комплексе с физическими
задачами моделирования СВЧ приборов, в которых распространяются
заряды – электроны, протоны, заряженные частицы.

Рис. 4.1. Интерфейс программы Particle с примером резонатора, в

котором распространяются электромагнитное поле и частицы

В программе можно задать как порты, через которые

распространяются электромагнитное поле, так и источники частиц.
Порты могут возбуждаться независимо от источника частиц.

80
 Источники частиц могут быть заданы на произвольной поверхности
твердого тела или в виде отдельных точек. Типы источников частиц:
Particle Area Source источник частиц на плоскости

Particle Circular Source источник части на окружности

Particle Point Source источник частиц в точке

4.1. Модели эмиссии

Выбор модели эмиссии зависит от класса задачи.

Tracking PIC

Fixed emission model Gauss emission

Space charge limited model DC emission
Thermionic model Field emission
Field-induced model Explosive emission

Модели источников частиц

Источники частиц и модели их эмиссии играют ключевую роль при
моделировании методом трассирования частиц или методом PIC в
CST PARTICLE STUDIO. Источник частиц задается на геометрии.
Геометрия определяет тип источника частиц, например, источник в одной
точке пространства называется точечным источником. Для различных типов
источников частиц можно задать различные модели эмиссии. Модели
эмиссии описывают условия, при которых частицы эмитируют из ранее
определенной поверхности или точки. Эти условия моделируют физические
законы или ограничения, которые относятся к эмиссии частиц.

Чтобы создать источник частиц, должна быть задана геометрия

источника: форма области излучения (рис. 4.2) или расположение точек
эмиссии. Источники частиц могут быть заданы либо на объекте идеального
электрического проводника PEC (идеальный электрический проводник), либо
на твердом объекте, отличном от идеального.

81
 Рис. 4.2. Выбор плоскости для задания Рис. 4.3. Разбиение
источника частиц поверхности источника
частиц

Связь между зарядом макрочастиц (dQ) и плотностью тока (J),

определяется начальным шагом по времени (Δt) для моделирования
трассирования и назначенной области (A) начальной точки.

Зная площадь треугольников источника, полный ток источника

может быть рассчитан путем интегрирования плотности тока по
плоскости эмиссии.

4.2. Источник частиц на плоскости

При выборе источника частиц нужно выполнить следующее:

1. Выбрать плоскость для источника эмиссии. Плоскость эмиссии

для источника Particle Area Source может быть выбрана на всех
материалах. В случае моделирования методом PIC, требуется, как
правило, задать источники частиц на заземленных электропроводящих
материалах. В противном случае может возникнуть не объяснимое
изменение заряда.

82
 2. Выполнить разбиение на треугольники выбранной поверхности.
Точки эмиссии частиц находятся в центрах треугольников. Размер
сетки треугольников может быть зависимым от модели
(достаточны ли треугольники для реконструкции фаски с
конечной точностью) или зависимой от сетки.
Выбор опции ” Adjust density to mesh ” приводит к плотности
эмиссии, которая гарантирует сходимость даже в случае плохой
плотности ячеек эмиссии. Поэтому выбор этой опции рекомендуется
для точного моделирования процесса физической эмиссии.

Рис. 4.4. Разбиение поверх- Рис. 4.5. Круглый источник эмиссии

ности источника частиц

3. Задать условия эмиссии.

4. Выбрать модель эмиссии, с учетом того, что программы Tracking
и PIC содержат различные установки моделей эмиссии.

Рис. 4.6. Выбор параметров модели эмиссии PIC

83
 4.3. Создание точечного источника частиц

1. Выбор точки излучения, используя инструмент выбора точки.

Перед активизацией источника точечной эмиссии, нужно задать
начальное положение командой Picks Pick Point.
2. Задание эмиссии в виде точечного источника.
Для связи моделей эмиссии необходимо задать виртуальную
область эмиссии, так что модель эмиссии может рассчитать
распределения заряда и плотности тока.

3. Определение условия эмиссии частиц. Программы Tracking и

программа PIC содержат различные наборы моделей эмиссии,
которые будут описаны ниже.

Рис. 4.7. Задание точечного источника частиц с моделью Gauss

84
 4.4. Создание источника частиц круглой формы

1. Выбор круглой поверхности эмиссии с помощью инструмента

выбора области или ребра
Нажмите на сторону или на ребро командой Picks Pick для
выделения круглой области эмиссии. Также можно задать
поверхность круга в диалоге источника частиц, после активизации
инструмента выбора; чтобы пропустить этот режим достаточно
нажать клавишу Enter. В диалоговом окне можно видеть точки
эмиссии и направления эмиссии, с помощью кнопки Preview.
Командой Invert picked normal, можно инвертировать направление
излучения.

2. Задание плотности эмиссии частиц на источник.

Количество эмитируемых частиц может быть
скорректировано с параметром Lines, который контролирует
количество точек выбросов на единицу площади. Нажав кнопку
Preview, можно видеть распределение точек эмиссии на круге.
Количество точек эмиссии отображается в диалоговом окне.

3. Задание радиальной зависимости излучаемого тока. Для круглых

источников можно предварительно установить радиальную
зависимость излучаемого тока. Радиальная функция
распределения может быть выбрана из соответствующего списка,
а его параметры могут быть скорректированы с учетом
потребностей моделирования для эмитируемого тока.
Зависимость от радиуса можно учесть только для источников
Gauss (PIC), DC (PIC) и Fixed (TRK).

4. Определение условий экстракции

Программы Tracking и PIC содержит различные установки

модели эмиссии, которые будет описаны ниже.

85
 Рис. 4.8. Задание источника частиц DC и Gauss

Пример круглого источника показан на рис.4.5. Здесь параметр

Lines = 3. Синие точки представляют собой точки излучения и
стрелка показывают направление излучения источника. Диалоги рис.
4.8 включают характеристики источников.

86
 Мощность и ток источника эмиссии
В методе моделирования PIC, мощность эмиссии и ток источника
частиц можно видеть как функцию времени. Эти результаты можно
найти в папке 1D Results Emission Information.

Рис. 4.9. Изменение тока во времени, рассчитываемого по сумме

зарядов всех частиц, иммитируемых источником

4.5. Модели эмиссии в программе Tracking

Для моделирования в программе Tracking, нужно задать ряд

параметров источника эмиссии. Модели эмиссии включают
установки кинетических параметров, т. е. энергии эмиссии. Эти
параметры описаны в разделе Kinetic settings.
Остальные параметры назначаются или рассчитываются как ток
эмиссии. Это порождает несколько моделей эмиссии:

• Fixed emission (с фиксированной эмиссией);

• Space charge limited (ограниченные
пространственным зарядом);
• Thermionic (термические);
• Field-induced (наведенные полем).

87
 4.5.1. Установка параметров эмиссии

Есть две модели, которые могут быть выбраны для определения

кинетических параметров. Одним из возможных вариантов является
модель равномерного распределения, в котором выбранные
физические характеристики частицы, например, энергия, следуют
равномерному распределению. Вторая возможность - это
распределение Максвелла-Больцмана, где статистические
характеристики частиц зависят от заданной температуры (рис. 4.10).

Рис. 4.10. Установка кинетических параметров.

Установка равномерного распределения зарядов

В модели равномерного распределения зарядов частиц имеются

следующие параметры, характеризующие скорости движения
зарядов:

Скорость движения частиц и единицы

измерения

Скорость по отношению к скорости

света

Коэффициент Лоренца

88
Нормализованный момент движения

Энергия частицы и единицы измерения

Температура

Параметр energy spread представляет энергетический разброс в

процентах от заданного среднего значения. Если ток эмиссии назначается
(либо как абсолютная величина или как плотность тока), заряд частиц
находится адекватно. Тип кинетической эмиссии (например, энергии
импульса) рассчитывается, считая равномерное распределение в
диапазоне:

(4.8)

Кинетическая скорость (kinetic spread) относится к выбранному

кинетическому типу. Это означает, что разброс кинетической
скорости 10% по отношению к величине Beta приводит к другому
распределению энергии, как если бы он применялся к
эквивалентному импульсу.
Например: Beta = 0.9 с 20% распределением приводит к ряду от
Beta
=0,81 до Beta = 0.99. Это эквивалентно тому, что нормализованный
момент с амплитудой 2.065 (value в формуле 2.8) может меняться в
диапазоне от 1.381 до 7.018. Обратим внимание, что равномерное
распределение Beta не эквивалентно равномерному распределению
момента.

Случайное распределение термальных скоростей

Случайное (Максвелловское) распределение термальных

скоростей характеризует нормальное распределение скоростей частиц
при заданной температуре. Её математическое описание имеет вид:

89
 (4.9),

где f(v) - вероятность нахождения частицы с заданной скоростью в

среде. Интеграл от функции f(v) от 0 до бесконечности дает 1.
На рис. 4.11 показано распределение скорости частиц для двух
температур 300К и 900К. Чтобы видеть начальное распределение
скоростей эммитируемой частицы, заданы так называемые окна
определенных скоростей. Количество частиц в каждом окне
одинаково и их скорость равна средней скорости в каждом окне.
Выборки распределения термальных скоростей по Максвеллу,
таким образом, дают более физичное представление начальных
условий эмиссии.

Рис. 4.11. Вероятность распределения скоростей частиц для двух

температур

Замечание: Величина эмитируемых частиц в каждом секторе не

изменяется, но начальная скорость для каждой частицы выбирается
случайно от ширины выборки (окна). Количество эмитируемых
частиц не меняется, но скорость эмиссии для каждой частицы
случайным образом выбирается из одного из окон.

Угол распределения частиц

Когда этот параметр равен нулю, частицы эмитируется вдоль

нормали к поверхности источника, т. е. угол Θ между направлением
90
эмиссии и нормали к поверхности в точке излучения равен нулю.
Однако эксперименты показали, что в реальности угол Θ распределен
случайно.
Чтобы показать усредненный угол распространения излучаемой
эммитируемой частицы, нужно считать, что углы распределены по
нормальному закону. Максимальное угловое отклонение от
нормального направления задается пользователем. Таким образом,
возможные направления эмиссии частиц лежат в области конуса. Ось
это конуса определяется нормалью, а максимальный угол между
образующей поверхности (боковая поверхность конуса) и осью
определяют угол распространения (рис. 4.12).
В сферической системе координат частицы, где ось OZ
определяется нормалью к поверхности, угол Θ (или полярный угол)
имеет равномерное распределение в интервале [0,delta], где delta -
угол распространения. При изменении азимутального угла phi видим
равномерное распределение в интервале [0, 360] градусов.

Рис. 4.12. Распределение Рис. 4.13. Задание

частиц под углом фиксированного тока

Примечание: при эмиссии под углом, когда активен режим oblique

emission, угол распространения имеет несколько иной смысл. В этом
случае нужно задать характеристики в разделе наклонной эмиссии, в
котором будет описано влияние угла распространения.

Фиксированная эмиссия

91
 В модели фиксированной эмиссии ток, несущий частицы,
постоянный. Нажимая «Edit» можно в появившемся диалоге рис. 4.13
задать фиксированное значение либо для тока (в Амперах) или
плотности тока (в А/м2). Если конечное угловое расхождение задано в
кинетических параметрах, или включена модель эмиссии под углом,
частицы эмитируются при начальной скорости в направлении
нормали к поверхности. Для цилиндрического источника, свойство
oblique emission возможно как часть модели фиксированной эмиссии.
Нажимая More>>, можно отредактировать эти установки.

Эмиссия ограниченная пространственным зарядом

Предположим, что напряжение подается на два электрода, один из

которых, катод, может излучать заряженные частицы. При отсутствии
частиц, потенциал является линейной функцией расстояния от
излучающего электрода (зеленая кривая распределения потенциала на
рис. 4.14). Когда частицы присутствуют, образуя так называемое облако
пространственного заряда, потенциал уменьшается. Это снижение
потенциала может быть заметными. Линия изменения потенциала
обозначена пунктирной красной линией. Так как скорость эмиссии
электронов увеличивается (например за счет увеличения температуры
излучающей электрода), потенциал продолжает уменьшаться.

Рис. 4.14. Зависимость потенциала от расстояния

Когда электрическое поля на поверхности эмитирующего

электрода установлено равным нулю (=0), облако частиц вблизи
92
излучающей поверхности, излучение называется ограниченным
пространственным зарядом.
Когда имеется определенное количество электронов, которые
ограничивают эмиссию пространственным зарядом, то температура
катода, состояния поверхности и т. д. не имеют никакого влияние на
эмиссию.
Таким образом, если источник частиц пространственного заряда
имеет ограничение, это ограничение доминирует над всеми другими
механизмами эмиссии. Если разность потенциалов перед
поверхностью больше нуля (красная линия), эмитируются
дополнительные частицы, так что будет достигнуто состояние
равновесия (зеленая линия).
Уменьшение потенциала, например, приводит к потенциальным
барьером перед источником частиц (случай b, синяя линия), который
подавляет дальнейшее выделение частиц, так что через некоторое
время будет достигнуто равновесие.

Рис. 4.15. Изменение потенциала от дистанции для трех

источников частиц

Численная модель, описывающая эмиссию, ограниченную

пространственным зарядом, основана на модели Child-Langmuir. Эта
модель эмиссии вводит виртуальный электрод на определенном
расстоянии D к излучающей поверхности и измеряет разность
потенциалов между электродом и виртуальным электродом.

93
 Рис. 4.16. Модель Чайлд-Ленгмюра иммитирования частиц от катода

(4.10)

В соответствии с законом Чайлд-Ленгмюра для плотности тока J,

эмитируемая на виртуальном электроде и свободная область объемного
заряда заполняется искусственными зарядами. Сходимость модели
оценивается дивергенцией Q от каждой излучающей ячейки сетки
поверхности и частицы эмитируются, пока сходимость результатов
приближается к нулю.
Начальная скорость частиц на поверхности равна нулю, а на
виртуальном катоде она может быть рассчитана по формуле

. (4.11).

Параметры этой модели ограниченного пространственного заряда

доступны в диалоговом окне ”Define SCL Emission” (рис. 4.17).

94
 Рис. 4.17. Выбор параметров характеристик виртуального катода

Термоэмиссия

Нагретая поверхность эмитирует электроны. Известный пример

такого источника – световая лампа. Максимальное количество
эмитируемых частиц сильно зависит от температуры поверхности.
Модель термоэлектронной эмиссии – принципиально основана на
модели ограничения пространственного заряда в сочетании с
максимальным эмитируемым током.

Рис. 4.18. Зависимость эмитируемого тока от приложенного

напряжения

95
 Соотношение между плотностью эмитируемого тока J, рабочей
функции W и температурой T дается уравнением Richardson-
Dushman (Ричардсона-Душмана):

( 4.12 )

Здесь q и m обозначают заряд и массу частицы, k – постоянная

Больцмана и h - постоянная Планка. В соответствии с моделью
термической эмиссией (thermionic emission), частицы эмитируются от
поверхности благодаря термальной энергии. Когда температура
увеличилась, число электронов со значительной энергией возросло.
По мере того как температура увеличивается, число электронов с
достаточной энергией, увеличивается. Начальная скорость
иммитируемых частиц рассчитывается по формуле:

( 4.13)

Помимо температуры, работа выхода с поверхности катода имеет

чрезвычайно сильное влияние на скорость, с которой частица
покидает поверхность. Эти параметры доступны в разделе
”Thermionic Emission” – диалогового окна (рис. 4.19).

Рис. 4.19. Установка температуры и работы выхода катода

Эмиссия, индуцированная полем

96
 Когда электрическое поле, которое приложено к поверхности
катода увеличивается до 10e9 - 10e10 В/м, экспериментально
установлено, что эмиссия электронов очень быстро увеличивается.
Кроме того, увеличение эмиссии практически не зависит от
температуры катода. Основной эффект эмиссии основан на
туннелировании электронов через потенциальный барьер, и это
является следствием квантово-механической природы электронов.
Плотность тока через эмитируемую поверхность описывается по
формуле Фаулера-Нордхайма:

(4.14 ),

где a и b - константы, которые отражают работу выхода

материала и форму поверхности, Е - абсолютная величина
электрического поля.
Этот вид излучения обычно начинает происходить в
присутствии очень высоких электрических полей в диапазоне от 10e9
- 10e10 В/м. Связь между напряженностью электрического поля и
излучаемой плотности тока приведена на следующем графике:

Рис. 4.20. Зависимость тока Рис. 4.21. Выбор

эмиссии от электрического характеристик эмиссии
поля

97
 В следующем разделе ”Define Field-Induced Emission” (определение
эмиссии, индуцированной полем) дает возможность установить величины
параметров, эмиссии индуцированного поля.

4.6. Обзор моделей эмиссии в программе PIC (Particle in Cell)

Модель эмиссии Gauss

Модель эмиссии Гаусса состоит в импульсной эмиссии частиц.

Частицы вылетают с начальной скоростью, которая определяется
кинетическими параметрами. Импульсы являются импульсами Гаусса в
том смысле, что эмитируемый заряд каждого импульса является
функцией Гаусса как функцией времени. Пользователь может задать
различные параметры Гауссовых импульсов (или пучков), таких как
суммарный заряд каждого импульса, длительность импульса или
временной интервал между двумя последовательными импульсами. В
отсутствие поля, и когда частицы имеют одинаковую начальную
скорость, импульсы, которые определены для Гауссова во времени
имеют в пространстве также форму импульса Гаусса. Затем
вышеуказанные параметры импульса Гаусса могут быть также заданы в
пространстве. Отметим, что эмиссия остается по-прежнему в виде
временного импульса Гаусса, а пространственные параметры,
преобразуются в эквивалентные временные аналоги, с использованием
указанных пользователем кинетических параметров, т. е. начальной
скорости.
Возможность задания импульсов Гаусса удобно в тех случаях, когда
параметры импульса Гаусса известны в пространстве, например, в
случае пучков в ускорителях частиц. Пользователь может выбрать
между установкой параметров импульса Гауссова в пространстве и во
времени путем выбора режима "Time " или " Length " (рис. 4.22).

98
 Рис. 4.22. Задание эмиссии с Гауссовой пульсацией

Заряд равномерно распределен по поверхности излучения. Заряд с

Гауссовым распределением заряда в зависимости от времени
отрывается от области источника частиц:

4.7. Модель эмиссии постоянного тока DC

99
Рис. 4.23. На каждом временном шаге создаются новые частицы как
часть общего заряда и иммитируются от поверхности

В диалоге " Define DC Emission Model" могут быть введены

установки кинетической энергии и фиксированного тока для
эмитируемого пучка частиц. Чтобы избежать проблемы с высокой
частотой, которая будет вызвана функцией Хевисайда, нужно задать
конечное время нарастания для тока (рис. 4.24).

Рис. 4.24. Установка кинетической энергии и его распределения

График на рис. 4.25 показывает нарастание тока с увеличением

времени Trise. После Trise источник иммитирует фиксированный ток,
указанный в группе " Current Settings".

100
 Рис. 4.25. Нарастание тока в Рис. 4.26. Диалог для введения
модели эмиссии DC параметров эмиссии

Для круглых источников, имеет место свойство эмиссии под углом как
части модели эмиссии постоянного тока DC. Нажимая кнопку More>>,
пользователь может редактировать установки эмиссии под углом.

4.8. Поле эмиссии

В диалоговом окне поле излучения, могут быть введены

кинетические параметры и параметры для этой модели эмиссии.
Модель полевой эмиссии для частицы в программе решения по
ячейкам основана на уравнении Фаулера-Нордхайма.
, (4.15)
где a и b являются постоянными, зависящими от материала и формы
поверхности, Е - абсолютная величина электрического поля,
зависящая от времени.
Этот вид излучения обычно возникает при очень высоких
электрических полях, обычно в диапазоне 109 - 1010 В/м. Зависимость
плотности тока эмиссии от напряженности электрического поля
показана на графике рис. 4.25.
На каждом временном шаге, эмитируемые частицы уменьшают
электрическое поле в непосредственной близости от катода. Таким
образом, если облако заряда эмитируемых частиц становится
слишком большим, процесс эмиссии прекратится.

101