получения образования, утвержденному постановлением Министерства образования Республики Беларусь 15.07.2013 № 48 РБ ст. № 150 Д/тип.
П Р И М Е Р Н Ы Й Т Е М АТ И Ч Е С К И Й П Л А Н
по учебной дисциплине «Испытания и контроль качества микроэлектронных
устройств»
Специальность 2-41 01 31 «Микроэлектроника»
Количество учебных часов
В том числе Раздел, тема на лабора- на прак- Всего торные тические занятия занятия Введение 2 Раздел 1 Основные показатели качества и 16 6 надежности 1.1 Основы теории вероятностей. Статистический ряд 4 и его характеристики Практическая работа №1 2 Статистическая обработка результатов контроля МЭУ 1.2 Законы распределения случайной величины 2 1.3 Показатели качества и надежности 4 Практическая работа №2 2 Оценка выхода годных изделий 1.4 Математическое представление показателей 2 надежности 1.5 Расчет надежности ГИС, микросборок, 4 полупроводниковых ИМС Практическая работа №3 Исследование надежности ГИС и микросборок 2 статистическим методом Раздел 2 Дефекты МЭУ и отказы, связанные с 12 2 ними 2.1 Классификация отказов 2 2.2 Отказы активной структуры ИМС 2 2.3 Дефекты и отказы оксидных слоев 4 Лабораторная работа №1 Контроль качества оксида 2 кремния 2.4 Дефекты и отказы металлизации 2 2.5 Дефекты и отказы сборочных операций 2 Радел 3 Методы контроля МЭУ 26 4 3.1 Виды операционного контроля 2 3.2 Оптические методы контроля 4 3.3 Электрические методы контроля 4 Лабораторная работа №2 2 Контроль качества p-n-переходов 3.4 Тепловые методы контроля 2 3.5 Радиационные методы контроля 4 3.6 Методы электронной микроскопии и масс- 2 спектрометрические методы 3.7 Электрохимические методы контроля 2 3.8 Контроль качества по тест-структурам и 2 контрольным картам 3.9 Анализ брака 4 Лабораторная работа №3 Контроль внешнего вида кристаллов ИМС на 2 кремниевой подложке Раздел 4 Испытания и контроль качества МЭУ 40 8 4.1 Классификация воздействий и воздействующих 2 факторов 4.2 Классификация испытаний 2 4.3 Программа и методика испытаний 2 4.4 Механические испытания 10 Практическая работа №4 Организация испытаний на вибропрочность и 2 виброустойчивость 4.5 Климатические испытания 8 Практическая работа №5 Организация испытаний МЭУ на воздействие 2 повышенной температуры среды 4.6 Отбраковочные испытания 2 4.7 Ускоренные испытания 5 Практическая работа № 6 2 Организация ускоренных испытаний на долговечность Обязательная контрольная работа 1 4.8 Испытания на надежность 4 Практическая работа №7 Оценка надежности интегральных микросхем по 2 результатам испытаний на безотказность 4.9 Электротермотренировка 2 4.10 Контрольные испытания готовой продукции 2 Итого 96 6 14
Разработчик Т.Ф.Деревянко, преподаватель филиала БНТУ «Минский Государственный
политехнический колледж».
Обсужден и одобрен бюро учебно-методического объединения в сфере среднего
специального образования на республиканском уровне по специальностям в области радиоэлектронной и вычислительной техники.