Вы находитесь на странице: 1из 122

Федеральное агентство по образованию

Дальневосточный государственный технический университет


(ДВПИ им. В.В. Куйбышева)

И.Н. Каневский
Е.Н. Сальникова

НЕРАЗРУШАЮЩИЕ
МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ

Рекомендовано Дальневосточным региональным учебно-


методическим центром в качестве учебного пособия
для студентов технических специальностей вузов региона

Владивосток • 2007

1
УДК 620.179 ВВЕДЕНИЕ
К 19
Улучшение качества промышленной продукции, повышение
Каневский, И.Н. Неразрушающие методы контроля: учеб. надежности и долговечности оборудования и изделий возможно
пособие / И.Н. Каневский, Е.Н. Сальникова. – Владивосток: Изд-во
при условии совершенствования производства и внедрения сис-
ДВГТУ, 2007. – 243 с.
ISBN
темы управления качеством.
В стандарте ИСО – 8402 «Управление качеством и обеспече-
Учебное пособие подготовлено на основе курса лекций, ние качества. Словарь» качество определяется как «совокупность
читаемых авторами на протяжении ряда лет студентам направле- характеристик объекта, относящихся к его способности удовлетво-
ния «Приборостроение» и специальности «Акустические при- рять обусловленные или предполагаемые потребности» [1]. При
боры и системы». В содержание пособия вошли общие вопросы этом под «объектом» в этом определении понимается все, что мо-
неразрушающего контроля, понятие о дефектах и их видах, рас- жет быть индивидуально описано и рассмотрено. В практической
смотрены визуально-оптический, капиллярный, магнитный, деятельности термин «объект» обычно заменяют термином «про-
токовихревой и радиационный методы контроля. дукция».
Пособие предназначено для самостоятельной работы студен-
Система контроля качества продукции является одной из
тов. В конце каждого раздела приведены вопросы для само-
проверки. В приложения вынесены краткие сведения о физичес-
существеннейших частей системы управления качеством. На каж-
ких явлениях, лежащих в основе рассматриваемых неразрушаю- дом этапе развития общественного производства существовали
щих методов контроля, словарь терминов и перечень основных специфические требования к качеству продукции. На ранних ста-
единиц измерения. диях становления промышленности основными требованиями к
качеству являлись точность и прочность. Масштабы производства
позволяли проводить проверку каждого и отбраковку дефектных
Рецензенты: Б.Н. Грудин, д-р техн. наук, проф. каф. компью- изделий.
терных систем ДВГУ; Б.И. Друзь, д-р техн. наук, проф. МГУ им. По мере развития промышленного производства продукция
Г.И. Невельского; С.В. Горовой, начальник сектора ОАО «НИИ становилась все более сложной, число ее характеристик постоянно
«Берег».
росло. Встал вопрос проверки не отдельных свойств изделий, а
его функциональной способности в целом. Начала складываться
система контроля качества продукции, суть которой заключалась
в обнаружении дефектной продукции и изъятии ее из произ-
водственного процесса. Контроль качества продукции состоит в
проверке соответствия показателей её качества установленным
требованиям.
До недавнего времени на металлургических предприятиях,
выпускающих трубы, на контроле было занято до 18-20% рабочих,
при этом разрушению подвергались до 10-12% труб от партии. На
машиностроительных заводах количество разрушенных деталей
ISBN © ДВГТУ, 2007 порой достигает 15-20% от партии, поскольку после каждой

2 3
основной технологической операции из деталей выполняются 1. ПОНЯТИЕ О НЕРАЗРУШАЮЩИХ
образцы для механических и металлографических испытаний. МЕТОДАХ КОНТРОЛЯ
Важными критериями высокого качества деталей машин,
механизмов, приборов являются физические, геометрические и Неразрушающие методы контроля (НМК), или дефекто-
функциональные показатели, а также технологические признаки скопия, – это обобщающее название методов контроля материалов
качества, например, отсутствие недопустимых дефектов; соот- (изделий), используемых для обнаружения нарушения сплошности
ветствие физико-механических свойств и структуры основного или однородности макроструктуры, отклонений химического сос-
материала и покрытия; соответствие геометрических размеров и тава и других целей, не требующих разрушения образцов мате-
чистоты обработки поверхности требуемым нормативам и т.п. риала и/или изделия в целом.
Широкое применение неразрушающих методов контроля, Основные требования, предъявляемые к неразрушающим
не требующих вырезки образцов или разрушения готовых изделий, методам контроля, или дефектоскопии:
позволяет избежать больших потерь времени и материальных - возможность осуществления контроля на всех стадиях
затрат, обеспечить частичную или полную автоматизацию опера- изготовления, при эксплуатации и при ремонте изделий;
ций контроля при одновременном значительном повышении ка- - возможность контроля качества продукции по большинству
чества и надежности изделий. В настоящее время ни один техно- заданных параметров;
логический процесс получения ответственной продукции не внед- - согласованность времени, затрачиваемого на контроль, со
ряется в промышленность без соответствующей системы нераз- временем работы другого технологического оборудования;
рушающего контроля. - высокая достоверность результатов контроля;
- возможность механизации и автоматизации контроля техно-
логических процессов, а также управления ими с использованием
сигналов, выдаваемых средствами контроля;
- высокая надёжность дефектоскопической аппаратуры и
возможность использования её в различных условиях;
- простота методик контроля, техническая доступность
средств контроля в условиях производства, ремонта и эксплуатации.
Основными областями применения НМК являются дефекто-
скопия особенно ответственных деталей и устройств (атомные
реакторы, летательные аппараты, подводные и надводные плава-
тельные средства, космические корабли и т.п.); дефектоскопия
деталей и устройств длительной эксплуатации (портовые сооруже-
ния, мосты, краны, атомные электростанции, котлы, искусственные
спутники Земли); непрерывная дефектоскопия особо ответствен-
ных агрегатов и устройств (котлы атомных, тепло- и электро-
станций), контроль подземных выработок; проведение исследова-
ний структуры материалов и дефектов в изделиях с целью усовер-
шенствования технологии.

4 5
1.1. Основные виды НМК Эти методы позволяют обнаружить дефекты типа несплош-
ности материала (трещины, волосовины, закаты), а также опреде-
В зависимости от принципа работы все НМК делятся на
лить механические характеристики ферромагнитных сталей и
акустические (ультразвуковые); капиллярные; магнитные (или
магнитопорошковые); оптические (визуально оптические); чугунов по изменению их магнитных характеристик.
радиационные; радиоволновые; тепловые; контроль течеисканием; Визуально оптические методы контроля основаны на
электрические; электромагнитные, или токовихревые (методы взаимодействии светового излучения с контролируемым объектом
вихревых токов). (КО). По характеру взаимодействия различают методы прошед-
Акустические методы основаны на регистрации колебаний, шего, отражённого, рассеянного и индуцированного излучений
возбуждаемых или возникающих в контролируемом объекте. Их (под последним имеется в виду оптическое излучение предмета
применяют для обнаружения поверхностных и внутренних дефек- под действием внешнего воздействия, например люминесценцию).
тов (нарушений сплошности, неоднородности структуры, меж- Информативными параметрами этих методов являются
кристаллитной коррозии, дефектов склейки, пайки, сварки и т.п.) амплитуда, фаза, степень поляризации, частота или частотный
в деталях и изделиях, изготовленных из различных материалов. спектр, время прохождения света через объект, геометрия прелом-
Они позволяют контролировать геометрические параметры при ления или отражения излучения. Оптические методы широко
одностороннем допуске к изделию, а также физико-механические применяют из-за большого разнообразия способов получения пер-
свойства металлов и металлоизделий без их разрушения. В настоя- вичной информации о наличии наружных дефектов независимо
щее время разработаны и успешно применяются теневой, резо- от материала контролируемого изделия.
нансный, эхоимпульсный, эмиссионный, велосимметрический, Радиационные методы контроля основаны на регистрации
импедансный и метод свободных колебаний. Эти методы называют и анализе проникающего ионизирующего излучения. Используется
также ультразвуковыми. рентгеновское, гамма-излучение, потоки нейтрино и т.д. Проходя
Капиллярные методы основаны на капиллярном проникнове- через толщу изделия, проникающие излучения по-разному ослаб-
нии капель индикаторных жидкостей в полости поверхностных ляются в дефектном и бездефектном сечениях и несут информацию
дефектов. При контроле этими методами на очищенную поверх- о внутреннем строении вещества и наличии дефектов внутри
ность детали наносят проникающую жидкость, которая заполняет изделия. Эти методы используются для контроля сварных и паяных
полости поверхностных дефектов. Затем жидкость удаляют, а швов, отливок, проката и т.п.
оставшуюся в полостях дефектов часть обнаруживают с помощью Радиоволновые методы основаны на регистрации пара-
проявителя, который образует индикаторный рисунок. Капилляр- метров электромагнитных волн радиодиапазона, взаимодействую-
ные методы используются в полевых, цеховых и лабораторных щих с КО. Обычно используются волны сверхвысокочастотного
условиях, в широком диапазоне положительных и отрицательных (СВЧ) диапазона длиной 1-100 мм для контроля изделий из
температур. Они позволяют обнаруживать термические и шли- материалов, где радиоволны затухают не очень сильно: диэлект-
фовочные трещины, волосовины, закаты и пр. Капиллярные ме- рики (пластмасса, керамика, стекловолокно), магнитодиэлектрики
тоды могут быть применены для обнаружения дефектов в деталях (ферриты), полупроводники, тонкостенные металлические объекты.
из металлов и неметаллов простой и сложной формы. Так же, как оптические и акустические, различают методы про-
Магнитные методы контроля основаны на регистрации шедшего, отраженного, рассеянного излучения и резонансный метод.
магнитных полей рассеяния, возникающих над дефектами, или Тепловые методы основаны на регистрации изменений
на определении магнитных свойств контролируемых изделий. тепловых или температурных полей КО. Они применимы к любым

6 7
материалам. Различают пассивный (на объекты не воздействуют Первичными информативными параметрами является
внешним источником тепла) и активный (объект нагревают или электрическая емкость или потенциал. Ёмкостный метод исполь-
охлаждают) методы. Измеряемым информативным параметром зуется для контроля диэлектрических или полупроводниковых
является температура или тепловой поток. материалов. По изменению проводимости, в частности её реактив-
При пассивном методе измеряют температурное поле рабо- ной части, контролируют химический состав пластмасс, полу-
тающего объекта. Дефект определяется появлением мест повы- проводников, наличие в них несплошностей; влажность сыпучих
шенной (пониженной) температуры. Таким методом определяют материалов и другие свойства.
места утечки теплоты в зданиях; трещины в двигателях и т.д. При Для контроля проводников применяют метод электрического
контроле активным методом объект нагревают контактным или потенциала. Толщину проводящего слоя, наличие несплошностей
бесконтактным методом и измеряют температуру с той или другой вблизи поверхностей проводника контролируют, измеряя падение
стороны объекта. Это позволяет обнаруживать несплошности (тре- потенциала на некотором участке. Электрический ток огибает
щины, пористость, инородные включения) в объектах, изменения поверхностный дефект, по увеличению падения потенциала на
в структуре физико-механических свойствах материала по измене- участке с дефектом определяют глубину несплошности с погреш-
нию теплопроводности, теплоёмкости, коэффициенту тепло- ностью в несколько процентов.
передачи. Измерение температуры или тепловых потоков выпол- Термоэлектрический метод применяют для контроля хими-
няют контактным или бесконтактным способом. Наиболее ческого состава материала. Например, нагретый до постоянной
эффективное средство бесконтактного наблюдения – сканирую- температуры медный электрод прижимают к поверхности изделия
щий тепловизор. Его используют для определения дефектов пайки и по возникающей разности потенциалов определяют марку стали,
многослойных изделий из металлов и неметаллов, клеевых сое- титана, алюминия или другого материала.
динений и т.п. Разновидностью электрического метода является метод
Методы контроля течеисканием основаны на регистрации электронной эмиссии, то есть измерение эмиссии ионов с поверх-
индикаторных жидкостей и газов, проникающих в сквозные де- ности изделия под влиянием внутренних напряжений. Этот метод
фекты КО. Их применяют для контроля герметичности работаю- используется для определения растрескиваний в эмалевых
щих под давлением сварных сосудов, баллонов, трубопроводов, покрытиях, для сортировки деталей, измерения толщины пленоч-
топливной и гидроаппаратуры, масляных систем силовых ных покрытий и определения степени закалки изделия.
установок и т.п. Электромагнитный метод (вихревых токов) основан на
К методам течеискания относят гидравлическую опрессовку, регистрации изменений взаимодействия электромагнитного поля
аммиачно-индикаторный метод, контроль с помощью гелиевого и катушки с электромагнитным полем вихревых токов, наводимых
галоидного течеискателей и т.д. Проводят течеискание и с помо-
этой катушкой в КО. Его применяют для обнаружения поверхност-
щью радиоактивных веществ, что значительно повышает чувстви-
ных дефектов в магнитных и немагнитных деталях и полуфабрика-
тельность метода.
тах. Метод позволяет обнаруживать нарушения сплошности
Электрические методы основаны на регистрации параметров
(в основном трещины) на различных по конфигурации деталях.
электрического поля, взаимодействующего с КО (собственно
электрический метод), или поля, возникающего в КО в результате
внешнего воздействия (термоэлектрический или трибоэлектри-
ческий методы).

8 9
1.2. Эффективность НМК О к о н ч а н и е т а б л. 1.1
Эффективность НМК определяется большим числом факто- Аку-
Вид НМК
Ка-
ров, главными из которых являются выявляемость дефектов, Объект контроля
Радиа-
цион-
сти-
Токо-
вих-
Маг-
нит-
пил- Тепло-
Опти- Радио-
чес- волно-
чес- ляр- вой
производительность, оперативность, безопасность и стоимость. ный
кий
ревой ный
ный
кий вой
Визуальные и капиллярные методы контроля изделий из Ферромагнитные материалы
ферромагнитных материалов позволяют обнаруживать дефекты Проволока 4 5 5 5 0 3 4 0
Прутки диаметром, мм
только на поверхности изделия. Магнитными и токовихревыми 3-4 5 5 5 5 0 0 4 0
методами можно обнаружить как поверхностные, так и подповерх- 30-10 5 5 5 5 0 0 4 0
Трубы сварные диа-
ностные дефекты. Радиационными и акустическими методами метром, мм
можно обнаружить поверхностные, подповерхностные и внутрен- 30-40 4 5 5 5 4 0 4 0
ние дефекты. В табл. 1.1 приведены примерные оценки различных 50-150 3 5 5 5 4 0 4 0
150-1000 4 5 5 5 4 0 4 0
методов контроля по выявляемости дефектов в изделиях из различ- Листы, плиты толщи-
ных материалов различного назначения [1]. ной, мм
0,1-1 3 5 5 5 4 3 4 3
С точки зрения опасности для обслуживающего персонала 0,1-3,9 3 5 5 5 4 0 4 0
выделяются радиационные методы. Определённой токсичностью 4-10 и более 3 5 4 4 4 0 4 0
Сортовой прокат
обладают методы капиллярные и течеисканием при использовании Отливки
3
3
5
4
3
3
3
3
4
4
0
0
4
4
0
0
определённых типов пробных веществ и ультрафиолетовых осве- Диэлектрики
тителей. Остальные методы НК не оказывают заметного влияния Резина 5 4 0 0 4 0 4 5
Керамика, металло-
на здоровье обслуживающего персонала. керамика
5 4 0 0 4 3 4 5
Бетон, железобетон 3 5 0 0 4 0 4 5
Т а б л и ц а 1.1 Монокристаллы 3 4 0 0 0 5 4 5
Оценка выявляемости дефектов различными видами НМК Многослойные
4 5 0 0 0 3 0 5
материалы
Вид НМК Стекло 3 4 0 0 0 3 5 3
Аку- Ка- Стеклопластики 3 4 0 0 5 5 5 5
Радиа- Токо- Маг- Опти- Радио-
Объект контроля сти- пил- Тепло- Соединения
цион- вих- нит- чес- волно-
чес- ляр- вой Сварные 3 5 3 3 4 3 0 0
ный ревой ный кий вой
кий ный Клеевые 3 5 0 0 4 4 4 5
Неферромагнитные материалы Паяные 3 5 3 0 3 3 0 0
Проволока диаметром, Резьбовые 0 0 3 5 4 0 0 0
мм Детали к изделиям
0,01-1 0 5 5 0 0 3 4 0 Многослойные
1-14 4 5 5 0 0 0 4 0 Конструкции 3 4 3 0 0 3 0 4
Прутки диаметром, мм из стеклопластиков
3-40 5 5 5 0 0 0 4 0 Радиоэлектронные
3 0 0 0 0 5 3 4
30-100 5 5 5 0 0 0 4 0 схемы и детали
156-1000 5 5 5 0 0 0 4 0 Электровакуумные
Листы, плиты толщи- 4 0 0 0 0 3 3 3
приборы
ной, мм
0,1-1 4 5 5 0 4 3 4 3 П р и м е ч а н и е. Оценка НМК: 5 – отличная, 4 – хорошая,
0,1-3,9 5 5 5 0 4 0 4 0
4-10 и более 5 5 5 0 4 0 4 0 3 – удовлетворительная, 0 – неудовлетворительная.
Сортовой прокат 5 5 4 0 4 0 4 0
Отливки 5 4 0 0 5 3 4 0

10 11
Т а б л и ц а 1.2
Возможности и области применения МНК
Типы обнаруживаемых Минимальные размеры Требования к объекту
Метод Объекты контроля Достоинства Недостатки
дефектов обнаруживаемых дефектов контроля
Слитки и фасон- Внутренние трещины, Эквивалентная площадь Простая форма, мелкозернистая Выявление дефектов с Необходимость созда-
ные отливки раковины, неметалл- дефекта ≥ 5мм2 структура, обработка поверхности малым раскрытием, ния акустического кон-
лические включения, RZ10 характерных для де- такта через жидкую
флокеноподобные де- формированного ме- среду и ограничения по
фекты талла чистоте обработки поверх-
ности
Простая форма, обработка поверх- Возможность конт-
Поковки, штамм- Внутренние трещины, Эквивалентная площадь ности RZ10 роля больших толщин
повки, сортовой расслоения, флокены, дефекта ≥ 3мм2 (в от- (до 2-5 м в зависи- Малая чувствительность
прокат толщиной неметаллические вклю- дельных случаях ≥ 0,5мм2) мости от структуры при контроле крупно-
≥ 10мм чения, а также (при металла) зернистых материалов,
Акустический контроль

малых толщинах и
для сплошных ци- например литых изде-
линдров малого диа- лий и сварных сое-
метра) поверхностные динений из аустенитных
заковы, закаты, вклю- сталей
чения

Листовой прокат Внутренние расслое- Эквивалентная площадь Очистка поверхности от грязи, Высокая производи-
Отсутствие наглядности
толщиной ≥ 0,5мм ния и другие дефекты, дефекта ≥ 1мм2 или отслаивающейся окалины тельность и малая
и сложность расшиф-
ориентированные в условная площадь ≥ 5см2 стоимость контроля
ровки результатов конт-
плоскости прокатки роля, оценка размеров и
Трубы диаметром Внутренние поверх- Эквивалентная глубина формы дефектов с боль-
≥ 4мм и толщи- ностные трещины, дефекта ≥ 3% от шими погрешностями
ной ≥ 1мм риски, закаты, вклю- толщины стенки трубы
чения

Сварные соедине- Внутренние трещины, Эквивалентная площадь Мелкозернистая структура наплав- Возможность автома-
ния стыковые, тав- непровары, газовые дефекта ≥ 3мм2 ленного металла тизации (при простой
ровые, угловые, поры, включения, не- геометрической фор-
крестообразные сплавления, утяжки ме изделия)
толщиной ≥6мм
Сварные и резь- Непровары, трещины, Локальные дефекты раз-
Радиографический

бовые соединения поры, шлаковые вклю- мером ≥ 1,5-2 % от Двусторонний доступ, отсутствие Высокая чувствитель- Радиационная опасность
чения, непропаи контролируемой толщи- наружных дефектов, превышающих ность контроля Большая длительность
контроль

ны чувствительность контроля Наглядность резуль- технологического цикла


Литые изделия Трещины, раковины, Локальные дефекты раз- татов контроля контроля
рыхлоты, пористость мером ≥ 2-4 % от конт- Наличие документа о Расход дорогостоящей
ролируемой толщины результатах контроля радиографической
пленки

12 13
О к о н ч а н и е т а б л. 1.2
Типы обнаруживаемых Минимальные размеры Требования к объекту
Метод Объекты контроля Достоинства Недостатки
дефектов обнаруживаемых дефектов контроля
Металлические Поверхностные и под- Раскрытие дефекта ≥ Ферромагнитные металлы, Простота и нагляд-ность Загрязнение поверх-ности
изделия, полуфаб- поверхностные (на глу- 2мм, глубина ≥ 20мкм, чистота обработки контроля Необходимость размаг-
Магнитный рикаты и свар- бине до 2-3мм) тре- протяженность ≥ 0,5мм поверхности RZ2,5 Возможность приме- ничивания изделий после
ные соединения щины, волосовины, нения метода для контроля
заковы, закаты, вклю- изделий любой формы Возможность образова-ния
чения, флокены, не- прижогов на поверхности
провары
Чистота обработки поверх- Бесконтактное возбуж- Трудность выделения полез-
Металлические То же Ширина дефекта ≥ 0,5мкм, ности RZ2,5 дение вихревых токов ного сигнала на фоне помех,
изделия и полу- глубина ≥ 100-200мкм, Возможность автома- обусловленных его зависи-
фабрикаты протяженность ≥ 0,5-1 мм тизации при больших мостью от многих парамет-
Токовихревой

скоростях контроля с ров контролируемого изде-


записью результатов лия
Возможность контроля Отсутствие наглядности ре-
внутренних поверхнос- зультатов контроля
тей
Возможность контроля
через неметаллические
покрытия
Металлические Поверхностные откры- Раскрытие дефекта ≥ Чистота обработки поверх- Простота и наглядность Необходимость удаления с
изделия, полуфаб- тые трещины, поры,, 1мкм, протяженность ≥ ности RZ20 контроля поверхности защитных пок-
лярный
Капил-

рикаты и сварные коррозионные пораже- 3-5 мм Возможность контроля рытий, смазок, окалины и
соединения ния изделий различной формы других загрязнений
Большой арсенал спосо- Необходимость осушки изде-
Изделия, которые могут быть
Конструкции и Сквозные дефекты в Дефекты, дающие бов контроля различных лия нагревом до 150-400 0С
помещены в вакуумную ка-
искания

изделия энергети- сварных соединениях натекание > 6,7 • 10-11, классов изделий или применения различных
Тече-

меру или воду; замкнутые и


ческих узлов и основном металле м3·Па/с индикаторных составов
разомкнутые корпусные конст-
рукции

С точки зрения автоматизации контроля наиболее благо- По стоимости выполнения контроля к наиболее дорогим
приятны методы вихревого тока, магнитные методы с феррозон- относятся методы радиографические и течеискания. Это связано
довыми, индукционными и подобными типами преобразователей, с длительностью операций контроля, а также с необходимостью
радиационный и некоторые виды тепловых методов. капитальных затрат на помещения и оборудование. Если сравни-
Главные преимущества этих методов заключаются в отсутст- вать, например, затраты на проведение радиационного и ультра-
вии прямого контакта преобразователя с изделием и в предоставле- звукового контроля сварных соединений толщиной 10-20 мм, то
нии информации о дефектах в виде показаний приборов. для ультразвукового контроля они будут в 3-5 раз меньше, чем для
Ультразвуковой метод с этой точки зрения требует контакта радиационного. Это преимущество возрастает с увеличением тол-
преобразователя с изделием, например, через слой воды. Трудность щины сварных соединений.
автоматизации других методов контроля заключается в необходи- В табл. 1.2 приведены краткие сведения о возможностях,
мости визуальной обработки информации о дефектах. достоинствах и недостатках основных НМК сплошности металлов.

14 15
При этом в таблице приведены не принципиальные возмож- Для контроля внутренних поверхностей используются токо-
ности методов, а лишь те из них, которые могут быть реализованы вихревые методы и перископический осмотр (визуально-оптичес-
с помощью серийной аппаратуры и имеют техническую доку- кий метод контроля) или перископический осмотр и акустический
ментацию. В столбце 4 для ультразвукового контроля даны изме- контроль.
ряемые параметры дефектов. В столбце 5 для поверхностных мето-
дов даны требования к чистоте контролируемой поверхности, при 1.3. Критерии оценки качества изделий
которых могут быть выявлены дефекты, указанные в столбце 4 для
Для выработки критериев, которые могут служить для
соответствующего метода. При более грубых поверхностях
забраковывания изделия после контроля, проводятся работы по
чувствительность методов снижается.
изучению влияния дефектов на эксплуатационную надежность
Часто необходимо контролировать изделие двумя или более
изделий, а также исследование корреляции размеров дефектов с
методами: обычно сочетают методы, способные обнаруживать
теми параметрами, которые могут быть оценены при НМК.
внутренние и поверхностные дефекты (акустический и магнитный
Браковочные нормы, обычно выражающиеся в значениях
контроль; магнитопорошковый метод контроля, акустический и минимальных размеров недопустимых дефектов, приводятся в
токовихревой контроль и т.д.) или плоские и объёмные дефекты технических условиях на продукцию. Иногда эти нормы имеют
(например, ультразвуковой контроль и радиография). также ограничения по количеству дефектов, их взаимному
Комплексная система контроля несколькими методами расположению, форме, ориентации.
может строиться на основе 100%-го контроля всего объёма продук- Если существует корреляция между реальными размерами
ции каждым методом или на основе выборочного контроля тем дефектов и их параметрами, оцениваемыми при неразрушающем
или иным (или всеми) методом контроля. Иногда дополнительный контроле, и в нормативной документации указаны размеры недо-
контроль осуществляется только в тех участках, где основной ме- пустимых дефектов, то дефектоскопист может безошибочно выб-
тод не обеспечивает заданных требований, или назначается для рать средства и методы контроля. Если же корреляция между реаль-
повышения информативности. ными размерами дефектов и измеряемыми НМК параметрами
Приведём несколько примеров применения комплексных слаба, то браковочные нормы должны быть выражены в значениях,
систем НМК в судостроении [2]. В особо ответственных случаях измеряемых данным методом параметров. Например, при ультра-
для повышения надежности выявления дефектов различных типов звуковом методе контроля о размере дефекта судят по амплитуде
проводят контроль сварных соединений методами радиационного отраженного сигнала и оценивают не реальный, а «эквивалентный»
просвечивания и акустическим. Контроль отливок, как правило, размер дефекта, т.е. размер модели дефекта простой формы, даю-
выполняют методом радиационного просвечивания, а акустичес- щий сигнал, равный по амплитуде сигналу от реального дефекта,
кий метод используют для определения местоположения выявлен- или оценивают «условный» размер, весьма приближенно харак-
ных дефектов. Контроль гребных винтов предусматривает сочета- теризующий проекцию дефекта на поверхность, со стороны кото-
ние акустических методов с поверхностными методами, такими рой проводится контроль. Эти параметры коррелируют с реаль-
как капиллярный, магнитный и токовихревой. ными размерами дефектов только в простых случаях (акустический
Контроль поковок, если заготовки не имеют припуска на контроль труб, листов), а при контроле литья, сварных швов,
«мертвую» зону ультразвукового искателя, также использует поковок корреляция настолько слаба (вследствие различной
сочетание акустического и поверхностных методов дефекто- ориентации и формы дефектов), что оценить реальные размеры
скопии. дефектов невозможно. В этом случае браковочные нормы задаются

16 17
значениями эквивалентных и условных размеров недопустимых ные дефекты в контролируемом изделии. Во-вторых, необходимо
дефектов. При этом установление браковочных норм требует задаться требуемой степенью достоверности обнаружения дефек-
серьезных предварительных исследований. тов, опасных для эксплуатации контролируемого изделия. В треть-
Какой бы параметр дефекта не был положен в основу бра- их, контролирующую аппаратуру необходимо настроить, подобрав
ковочных норм, оценка дефекта в любом случае связана с опре- чувствительность и разрешающую способность таким образом,
деленными погрешностями, которые необходимо учитывать при чтобы удовлетворить второму требованию.
выработке критериев годности изделий. Очевидно, что браковоч- Определение средних размеров дефектов и дисперсии разме-
ные нормы, отличающиеся друг от друга меньше, чем на ошибку ров. Рассмотрим процесс обработки результатов измерений на при-
оценки дефекта, обеспечивают фактически одинаковое качество мере контроля сплошности материалов, деталей и изделий.
изделий. Однако за годы внедрения МНК в отраслях промышлен- Предположим, что производится контроль наличия раковин,
ности накопилось большое количество различных технических непроплавов, газовых пузырьков и посторонних включений в
условий на продукцию, составленных без единой системы; тре- металлическом слитке.
бования этих условий, зачастую близкие по смыслу, приводят к Прежде всего необходимо определить средний размер де-
необходимости применения различных средств контроля, в конеч- фекта х . Для этого измеряется максимальный размер дефектов хi
ном счете неоправданно увеличивая затраты. не менее чем у 20 различных дефектов (n ≥ 20). Средний размер
Для унификации средств контроля, стандартизации уровней дефекта равен:
нормативных требований, а также облегчения понимания между
х1 + х 2 + ... + х1 1 n
дефектоскопистами и специалистами других профилей разрабо- х= = ∑ xi . (1.1)
тана система классов чувствительности и групп качества по отрас- n n i =1
лям промышленности. Эта система позволяет устанавливать нор-
мы браковки исходя из степени ответственности изделий с учетом Эта величина в математической статистике называется мате-
сложившейся практики разработки браковочных норм для конкрет- матическим ожиданием.
ных видов продукции. Классу или группе с меньшим номером соот- Затем находятся отклонения размеров дефектов е от среднего
ветствуют более высокие требования. Разница уровней чувстви- значения:
тельности двух соседних классов превышает не менее чем в два е1 = х – х1, е 2 = х – х 2 , е n = x – x n ,
раза погрешность оценки дефектов, что обеспечивает однознач-
ность результатов контроля. Уровень чувствительности первого и вычисляется дисперсия
класса или группы обеспечивает по возможности самый жесткий
контроль изделий. е12 + е22 + ... + е 2n 1 n
2
у = = ∑ еi2 . (1.2)
n(n – 1) n(n – 1) i =1
1.4. Понятие о статистической обработке результатов
неразрушающего контроля Величина σ называется среднеквадратичным отклонением:
Для проведения неразрушающего контроля необходимо, во- n
первых, выбрать аппаратуру, соответствующую поставленной ∑ ε i2 n
i =1 1
задаче, то есть такую аппаратуру, которая с достаточной степенью σ= ≈ ∑ ε i2 . (1.3)
достоверности позволит обнаружить наиболее опасные и характер- n ( n − 1) n i =1

18 19
Приближенное равенство получается, когда число измерений Из последнего равенства виден физический смысл функции
n велико, так что n >>1 и n (n-1) ≈ n2. f (x ) . Это плотность вероятности нахождения дефектов с размером
м
Распределение дефектов по размерам. Рассмотрим ось Х, x в интервале dx :
на которой укажем размеры xi обнаруженных дефектов и их сред- dP ( x )
нюю величину х (рис.1.1). f (x) = .
dx
Выделим на оси Х произвольно интервал dx и определим
Вычисление вероятности обнаружения дефекта заданного
количество дефектов dn, попадающих в этот интервал. Чем больше
размера х0. Исходя из физических представлений о возможном
интервал dx, тем больше будет в нем дефектов dn. В то же время
распре-делении дефектов по размерам (о распределении дефектов
величина dn будет тем больше, чем больше общее количество
на оси X – рис. 1.1), определим свойства, которыми должна
дефектов n, так что dn ~ n d x.
обладать функция распределения .
1. Наибольшее количество дефектов должны иметь размеры
xi , близкие к средней величине х , причем при значении х функ-
ция распределения должна иметь максимальное значение:
f ( x ) = f max .
2. Естественно предположить, что с одинаковой вероятно-
Рис. 1.1. Распределение дефектов по размерам стью можно обнаружить дефекты с размерами xi больше и меньше
средней величины х . Следовательно, функция распределения
должна быть четной относительно значения в точке х :
Величина dn зависит также от координаты (места выбора) f ( x − x ) = f (x + x ) .
интервала dx, т.к. дефекты по оси X распределены не равномерно, 3. Количество дефектов тем меньше, чем больше размеры
а по некоторому закону dn~f(x) dx. В результате получим, что дефектов xi отличаются от среднего значения х . Дефекты беско-
о-
количество дефектов dn, содержащихся в интервале размеров dx,
равно: нечно больших размеров отсутствуют, так что lim f (x ) = 0 .
x →∞
dn = n f(x) dx. (1.4) Одной из функций, удовлетворяющей всем этим свойствам,
Из выражения (1.4) следует, что является функция Гаусса:

1 (x − x) 2
dn
= f ( x )dx . f ( x) = exp( − ). (1.6)
n 2πσ 2σ 2
Из теории вероятности известно, что выражение (1.4) описы- Графики функции Гаусса (1.6) приведены на рис.1.2. Из гра-
вает вероятность события dP(x), при котором в интервале dx будет фиков видно, что максимум функции Гаусса достигается при значе-
обнаружено dn дефектов. Следовательно, нии х . Этот максимум тем больше и тем острее, чем меньше
dn дисперсия σ . С ростом дисперсии максимум понижается, график
= dP ( x ) и dP( x ) = f ( x )dx . (1.5) функции Гаусса расширяется. В нашем случае увеличение говорит
n
о росте разброса значений xi . Согласно формуле (1.5) вероятность

20 21
того, что дефект с размером х попадет в интервал dx, равна:
dP( x ) = f ( x )dx.

Рис. 1.3. К численному определению интеграла (1.7)


Рис. 1.2. Функция Гаусса для различных значений у
x–х
Тогда вероятность обнаружения дефекта с размером x > x 0
Введем новую переменную t = . Тогда dx = σdt , при
у
равна: x0 − x
x = x величина t=0, при x = x 0 t = . При этих условиях
∞ σ
P( x > x 0 ) = ∫ f ( x )dx . (1.7) интеграл (1.8) примет вид
x0
x0 –х
На рис. 1.3 показан график функции (1.6), на котором заштри-
1 ∞ 1 у
хованная часть численно равна значению интеграла (1.7). Из гра- P(x > x ) = ∫ exp( –t 2
/2) dt – ∫exp(–t 2 / 2)dx . (1.9)
фика следует, что интеграл (1.7) можно представить в виде раз- 0 2р 0 2р 0
ности двух интегралов:

∞ π Тогда выражение (1.9)
Интеграл
∫ exp(− t / 2)dt = 2 .
x0 2
P( x > x 0 ) = ∫ f ( x )dx − ∫ f ( x )dx . 0
x x
Подставив в это выражение функцию Гаусса (1.6), получим можно представить в виде
(x 0 −x )
1 ∞ (x – x)2 x0
(х – x)2 1 2 σ
P(x > x 0 ) = ( ∫exp(– )dx – ∫exp(– )dx) .(1.8) P( x > x 0 ) = (1 −
π
∫ exp(− t 2 / 2)dt) ,
2ру x 2у 2 x 2у 2 2 0

22 23
или К отказам системы можно отнести неправильное причисле-
1 x –x ние в годную партию изделий, содержащих недопустимые
P(x > x 0 ) = (1 – Ф( 0 )) . дефекты. Это так называемая недобраковка. Другим отказом
2 у
2z системы является перебраковка, т.е. ложное забракование изделия.
Здесь Ф ( z ) = ∫exp(– t 2 /2)dt – интеграл ошибок, который Вероятность недобраковки обозначают F, а перебраковки – β. Эти
р0 вероятности часто используют для оценки работоспособности
системы контроля, ее надежности, достоверности, эффективности.
табулирован.
Показатели надежности характеризуют способность продукции к
Для нахождения интеграла ошибок достаточно найти мате- сохранению работоспособности при соблюдении определенных
матическое ожидание х , вычислить дисперсию σ , задать макси- условий эксплуатации и технического обслуживания. Одним из
мально допустимые размеры дефекта x0. После этого можно опре- количественных показателей надежности является вероятность
делить z и по таблицам найти значение интеграла ошибок Ф(z). безотказной работы, которая для системы контроля выражается
Далее определяется вероятность нахождения дефектов с разме- формулой
рами, превышающими x0:
G = 1 − ( F + β) . (1.10)
1 x0 – x Последствия недобраковки и перебраковки различны, поэ-
P(x > x 0 ) = (1 – Ф(z)), z= .
2 у тому различны и критерии решения задач оптимизации системы
В дефектоскопии обычно предполагается, что контроля. Наиболее часто критерием оптимальной системы
считается минимум среднего риска, оцениваемый функцией R:
P( x > x 0 ) = 0,99 . Это означает, что приборы должны быть наст-
роены так, чтобы из 100 дефектов с размерами х > х0 были обнару- R = c1β + c 2 F,
жены 99 дефектов; пропущенным может быть только один дефект. где с1 и с2 – стоимость перебраковки и недобраковки, р.
Для критерия «идеального наблюдателя» стоимости с1 и с2
1.5. Надежность системы контроля качества изделий считаются равными, тогда оптимальная система контроля обеспе-
Система контроля – это совокупность средств контроля и чивает и минимум среднего риска, и максимум вероятностного пока-
исполнителей, взаимодействующих с объектом контроля по прави- зателя надежности G, вычисленного по формуле (1.10).
лам, установленным соответствующей документацией (ГОСТ В качестве параметра функции R обычно выбирают уровень
16504 – 81). Функцией такой системы является обнаружение и браковки X0. Расчет и эксперимент показывают, что функция R(X0)
правильная оценка каждого дефекта, измеряемый параметр кото- при прочих равных условиях имеет четкий минимум, который
рого X равен или превышает значение X0, установленное норма- используют для установления браковочного уровня, в равной мере
тивно-технической документацией. В результате контроля в устраивающего поставщика (он заинтересован в минимуме пере-
изделиях, признанных годными, не должно быть недопустимых браковки), и заказчика (он заинтересован в минимуме недобра-
дефектов (с параметрами X ≥ X0), но при этом должны быть забра- ковки).
кованы только те изделия, в которых имеются недопустимые При контроле особо ответственных изделий, последствия
дефекты. Невыполнение системой контроля своей функции выхода из строя которых несоизмеримы ни с какими затратами на
правильной оценки годности изделия называется отказом системы. перебраковку, выбирают другой критерий решения задачи опти-

24 25
мизации системы контроля. Например, в судостроении для ответст- нагрузкой, имитирующей рабочие условия) обычно прямая. Следо-
венных изделий принят критерий достижения заданного уровня вательно, исключаются споры по результатам испытания и их зна-
надежности, оцениваемый показателем G 0 = 1 − F (вероятность чению для эксплуатационной надежности материала или детали.
отсутствия недобраковки). Недостатки разрушающих методов контроля
Одним из путей повышения надежности НМК является
1. Испытания не проводят на объектах, фактически приме-
уменьшение погрешностей оценки параметра X. Другим путем
няемых в эксплуатационных условиях. Следовательно, соответст-
является временное (на момент контроля) снижение границ допуска,
вие между испытываемыми объектами и объектами, применяе-
т.е. фиксация более мелких дефектов с последующим дополнитель-
мыми в эксплуатации (особенно в иных условиях), должно быть
ным анализом брака. При акустическом и токовихревом методах
доказано иным способом.
контроля это выражается в повышении поисковой чувствитель-
2. Испытания могут проводиться только на части изделий
ности, но при контроле изделий на уровне X ≤ X0 возрастает пере-
из партии. Они, возможно, будут иметь небольшую ценность, когда
браковка. Для ее уменьшения повторно проверяют забракованную
свойства изменяются от детали к детали.
партию или дополнительно оценивают зафиксированные дефекты.
Таким образом удается добиться достаточно высокого уровня 3. Часто испытания невозможно проводить на целой детали.
показателя надежности G 0 = 0,997 при незначительном (до 5%) Испытания в этом случае ограничиваются образцом, вырезанным
увеличении дополнительных затрат, связанных с повышением из детали или специального материала, обладающих свойствами
надежности системы контроля. материала детали, который будет применяться в рабочих условиях.
4. Единичное испытание с разрушением может определить
1.6. Сравнение разрушающих и неразрушающих только одно или несколько свойств, которые могут влиять на
методов контроля надежность изделия в рабочих условиях.
5. Разрушающие методы контроля затруднительно при-
Ниже приводятся перечни преимуществ и недостатков менять к детали в условиях эксплуатации. Обычно для этого работа
неразрушающих и разрушающих методов контроля. Перечень был прекращается и данная деталь удаляется из рабочих условий.
впервые составлен Мак-Мастером [3]. 6. Кумулятивные изменения в течение периода времени нельзя
измерить на одной отдельной детали. Если несколько деталей из
Преимущества разрушающих методов контроля одной и той же партии испытывается последовательно в течение
1. Испытания обычно имитируют одно или несколько рабо- какого-то времени, то нужно доказать, что детали были одина-
чих условий. Следовательно, они непосредственно направлены на ковыми. Если детали применяются в рабочих условиях и удаляются
измерение эксплуатационной надежности. после различных периодов времени, необходимо доказать, что
2. Испытания обычно представляют собой количественные
каждая была подвержена воздействию аналогичных рабочих
измерения разрушающих нагрузок или срока службы до разруше-
условий, прежде чем могут быть получены обоснованные результаты.
ния при данном нагружении и условиях. Таким образом, они поз-
7. Когда детали изготовлены из дорогостоящего материала,
воляют получить числовые данные, полезные для конструирования
стоимость замены вышедших из строя деталей может быть очень
или для разработки стандартов или спецификаций.
высока. При этом невозможно выполнить соответствующее
3. Связь между большинством измерений разрушающим
количество и разновидности разрушающих методов испытаний.
контролем и измеряемыми свойствами материалов (особенно под

26 27
8. Многие разрушающие методы испытаний требуют меха- плуатации, если ее можно обнаружить, и ее связь с разрушением
нической или другой предварительной обработки испытываемого в процессе эксплуатации могут быть точно установлены.
образца. Часто требуются крупногабаритные, дающие очень 7. При неразрушающих методах испытаний детали, изго-
точные результаты, машины. В итоге стоимость испытаний может товленные из дорогостоящего материала, не выходят из строя при
быть очень высокой, а число образцов для испытаний ограничен- контроле. Возможны повторные испытания во время производства
ным. Кроме того, эти испытания весьма трудоемки и могут прово- или эксплуатации, когда они экономически и практически оправданы.
диться только работниками высокой квалификации. 8. При неразрушающих методах испытаний требуется
9. Разрушающие испытания требуют большой затраты небольшая (или совсем не требуется) предварительная обработка
человекочасов. Производство деталей стоит чрезвычайно дорого, образцов. Некоторые устройства для испытаний являются портатив-
если соответствующие длительные испытания применяются как ными, обладают высоким быстродействием, в ряде случаях конт-
основной метод контроля качества продукции. роль может быть полностью автоматизированным. Стоимость НМК
ниже, чем соответствующая стоимость разрушающих методов
Преимущества неразрушающих методов контроля контроля.
1. Испытания проводятся непосредственно на изделиях, 9. Большинство неразрушающих методов испытания
которые будут применяться в рабочих условиях. кратковременны и требуют меньшей затраты человекочасов, чем
2. Испытания можно проводить на любой детали, пред- типичные разрушающие методы испытаний. Эти методы можно
назначенной для работы в реальных условиях, если это эконо- использовать для контроля всех деталей при меньшей стоимости
мически обосновано. Эти испытания можно проводить даже тогда, или стоимости, сопоставимой со стоимостью разрушающих мето-
когда в партии имеется большое различие между деталями. дов испытаний лишь небольшого процента деталей в целой партии.
3. Испытания можно проводить на целой детали или на всех
ее опасных участках. Многие опасные с точки зрения эксплуата- Недостатки неразрушающих методов контроля
ционной надежности участки детали могут быть исследованы 1. Испытания обычно включают в себя косвенные измерения
одновременно или последовательно, в зависимости от удобства и свойств, не имеющих непосредственного значения при эксплуата-
целесообразности. ции. Связь между этими измерениями и эксплуатационной надеж-
4. Могут быть проведены испытания многими НМК, каждый ностью должна быть доказана другими способами.
из которых чувствителен к различным свойствам или частям 2. Испытания обычно качественные и редко – количествен-
материала или детали. Таким образом, имеется возможность изме- ные. Обычно они не дают возможности измерения разрушающих
рить столько различных свойств, связанных с рабочими условиями, нагрузок и срока службы до разрушения даже косвенно. Они могут,
сколько необходимо. однако, обнаружить дефект или проследить процесс разрушения.
5. Неразрушающие методы контроля часто можно применять 3. Обычно требуются исследования на специальных образ-
к детали в рабочих условиях, без прекращения работы, кроме обыч- цах и исследование рабочих условий для интерпретации результа-
ного ремонта или периодов простоя. Они не нарушают и не изме- тов испытания. Там, где соответствующая связь не была доказана,
няют характеристик рабочих деталей. и в случаях, когда возможности методики ограничены, наблюда-
6. Неразрушающие методы контроля позволяют применить тели могут не согласиться в оценке результатов испытаний.
повторный контроль данных деталей в течение любого периода
времени. Таким образом, степень повреждений в процессе экс-

28 29
Вопросы для самопроверки 2. ВИДЫ ДЕФЕКТОВ ПРОДУКЦИИ
1. В каких случаях необходимо применение НМК?
2.1. Классификация дефектов
2. Назовите основные виды НМК.
3. Каковы требования, предъявляемые к НМК? Дефектом называют каждое отдельное несоответствие про-
4. В чем, на ваш взгляд, состоит основная задача системы дукции требованиям, установленным нормативной документацией
контроля качества продукции? (ГОСТ, ОСТ, ТУ и т.д.). К несоответствиям относятся нарушение
5. Дайте определения основных критериев эффектив- сплошности материалов и деталей, неоднородность состава мате-
ности НМК. риала: наличие включений, изменение химического состава, нали-
6. Чем определяется надежность системы контроля ка- чие других фаз материала, отличных от основной фазы, и др.
чества? Дефектами являются также любые отклонения параметров мате-
7. Какие виды отказов системы контроля качества вы риалов, деталей и изделий от заданных, таких, как размеры, ка-
можете назвать? чество обработки поверхности, влаго- и теплостойкость и ряд дру-
8. С какой целью введена система классов чувствитель- гих физических величин.
ности и групп качества? Дефекты подразделяются на явные (те, что выявляются гла-
9. Перечислите основные недостатки НМК. зами) и скрытые (внутренние, подповерхностные, неразличимые
10. Каковы основные недостатки разрушающих методов глазом).
контроля? В зависимости от возможного влияния дефекта на служеб-
ные свойства детали дефекты могут быть:
- критическими (дефекты, при наличии которых использова-
ние продукции по назначению невозможно или исключается по
соображениям безопасности и надёжности);
- значительными (дефекты, существенно влияющие на
использование продукции и/или на её долговечность, но не являю-
щиеся критическими);
- малозначительными (не оказывают влияния на работо-
способность продукции).
По происхождению дефекты изделий подразделяют на
производственно-технологические (металлургические, возникаю-
щие при отливке и прокатке, технологические, возникающие при
изготовлении, сварке, резке, пайке, клепке, склеивании, механи-
ческой, термической или химической обработке и т.п.); экс-
плуатационные (возникающие после некоторой наработки изделия
в результате усталости материала, коррозии металла, изнашивания
трущихся частей, а также неправильной эксплуатации и техни-
ческого обслуживания) и конструктивные дефекты, являющиеся
следствием несовершенства конструкции из-за ошибок конструктора.

30 31
С целью выбора оптимальных методов и параметров конт-
роля производится классификация дефектов по различным
признакам: по размерам дефектов, по их количеству и форме, по
месту расположения дефектов в контролируемом объекте и т.д.
Размеры дефектов a могут изменяться от долей миллиметров а) б) в)
до сколь угодно большой величины. Практически размеры дефек-
тов лежат в пределах 0,01 мм ≤ a ≤ 1 см. Рис. 2.2. Классификация дефектов по форме: а – правильная форма;
б – чечевицеобразная форма с острыми краями; в – произвольная,
В ультразвуковой дефектоскопии, например, величина а
неопределённая форма с острыми краями
влияет на выбор рабочей частоты.
При количественной классификации дефектов различают
три случая (рис. 2.1): а – одиночные дефекты, б – групповые (мно- При классификации дефектов по положению различают
жественные) дефекты, в – сплошные дефекты (обычно в виде газо- четыре случая (рис. 2.3): а – поверхностные дефекты, расположен-
вых пузырей и шлаковых включений в металлах). ные на поверхности материала, полуфабриката или изделия, – это
трещины, вмятины, посторонние включения; б – подповерхност-
ные дефекты – это дефекты, расположенные под поверхностью
контролируемого изделия, но вблизи самой поверхности; в –
объёмные дефекты – это дефекты, расположенные внутри изделия.
Наличие фосфовидных и нитридных включений и прослоек может
а) б) в) привести к образованию дефектов четвертого вида – сквозных.
Рис. 2.1. Количественная классификация дефектов: По форме поперечного сечения сквозные дефекты бывают
а – одиночные; б – групповые; в – сплошные круглые (поры, свищи, шлаковые включения) и щелевидные
(трещины, непровары, дефекты структуры, несплошности в местах
расположения оксидных и других включений и прослоек).
При классификации дефектов по форме различают три основ-
ных случая (рис. 2.2): а – дефекты правильной формы, овальные, По величине эффективного диаметра (для дефектов округ-
близкие к цилиндрической или сферической форме, без острых лого сечения) или ширине раскрытия (для щелей, трещин) сквоз-
краёв; б – дефекты чечевицеобразной формы, с острыми краями; ные дефекты подразделяются на обыкновенные (>0,5мм), макро-
в – дефекты произвольной, неопределённой формы, с острыми капиллярные (0,5…2·10-4 мм) и микрокапиллярные (<2·10-4 мм).
краями – трещины, разрывы, посторонние включения.
Форма дефекта определяет его опасность с точки зрения раз-
рушения конструкции. Дефекты правильной формы, без острых
краёв, наименее опасны, т.к. вокруг них не происходит концентра-
ции напряжений. Дефекты с острыми краями, как на рис. 2.2, б и
в, являются концентраторами напряжений. Эти дефекты увеличи-
ваются в процессе эксплуатации изделия по линиям концентрации а) б) в)
механических напряжений, что, в свою очередь, приводит к разру- Рис. 2.3. Классификация дефектов по положению в контролируемом
шению изделия. объекте: а – поверхностные; б – подповерхностные; в – объёмные

32 33
По характеру внутренней поверхности сквозные дефекты
подразделяются на гладкие и шероховатые. Относительно гладкой
является внутренняя поверхность шлаковых каналов. Внутренняя
поверхность трещин, непроваров и вторичных поровых каналов,
как правило, шероховатая.
Положение дефекта влияет как на выбор метода контроля,
так и на его параметры. Например, при ультразвуковом контроле
положение дефекта влияет на выбор типа волн: поверхностные
дефекты лучше всего определяются рэлеевскими волнами, под-
поверхностные – головными волнами, а объёмные – объёмными
(продольными) волнами.
Опасность влияния дефектов на работоспособность зависит
от их вида, типа и количества. Классификация возможных дефектов
в изделии позволяет правильно выбрать метод и средства контроля. Рис. 2.4. Структурные неоднородности в слитках

2.2. Дефекты металлических заготовок


Дефекты в металлах образуются главным образом при
плавлении, при обработке металла давлением (ковка, штамповка
и прокат) и при шлифовании.
Дефекты плавки и литья. Одним из основных дефектов
плавки является несоответствие металла заданному химическому
составу, которое обусловливается ошибками при расчёте шихты,
неправильным ведением плавления или выгоранием отдельных
компонентов сплава (рис. 2.4).
Из-за неправильного питания отливки в процессе кристал-
лизации образуются усадочные раковины и рыхлоты (рис. 2.5).
Усадочные раковины – это сравнительно большие открытые или
закрытые полости произвольной формы с грубой шероховатой,
иногда окисленной, поверхностью, находящиеся в теле отливки.
Усадочные раковины расположены обычно в утолщенных местах
отливки, где металл затвердевает в последнюю очередь. Рыхлота Рис. 2.5. Усадочные раковины в слитках
– местное скопление мелких усадочных раковин при крупно-
зернистой структуре металла. Эти дефекты уверенно обнаружи-
ваются акустическими и радиационными методами контроля.

34 35
Некоторые сорта металлов, например, кипящую сталь, варят Общими дефектами для слитка и отливки являются неметал-
так, чтобы растворённые в металле газы выделялись не полностью. лические включения. Это могут быть песчаные или шлаковые рако-
Это уменьшает размеры усадочной раковины, но может привести вины, включения частиц окислов, сульфидов, силикатов, нитридов,
к образованию газовой пористости (рис. 2.6). образующихся внутри металла вследствие взаимодействия
Пористость – местное скопление газовых пузырей или уса- компонентов при расплавлении и заливке сплава, как правило,
дочных раковин. расположенные в виде цепочки или сетки. При превышении опре-
Если поры и газовые пузыри в слитке имеют неокисленную делённых размеров перечисленные дефекты недопустимы. При
поверхность, то она заваривается в процессе обработки давлением. обработке давлением они лишь деформируются (расплющиваются,
В высококачественной отливке пузыри и поры недопустимы, для раскатываются), но не устраняются.
их обнаружения используются методы радиационного контроля. Неметаллические включения обнаруживаются радиацион-
Специфическим дефектом литого металла является ликвация
ными и акустическими методами, а в случае выхода включений
– неоднородность химического состава по скелету дендрита и
на поверхность – методами поверхностной дефектоскопии.
объёму зерна.
Наружные дефекты в виде пленов, неслитин и неспаев обна-
Ликвация по плотности металла проявляется в обогащении
нижней части слитка или отливки компонентами с большей руживаются поверхностными методами дефектоскопии, внутрен-
плотностью в результате плохого перемешивания жидкого металла. ние – акустическим контролем. При обработке слитка давлением
Зональная ликвация проявляется в обогащении легкоплав- эти дефекты не устраняются, а удаляются зачисткой поверхности
кими составляющими центральной части слитка. или вырубанием.
Наиболее опасным дефектом отливок являются горячие и
холодные трещины. Характерными признаками горячих трещин
являются их неровные (рваные) края и значительная ширина (рис. 2.7).

Рис. 2.6. Газовые поры в слитках Рис. 2.7. Трещины в сутунках

36 37
Внутренние трещины выявляются радиационным и акусти- разрушению в зонах, не поражённых дефектами. Разрывы, возник-
ческим контролем. Трещины исправляются вырубкой и подваркой шие в начальной стадии прокатки, волочения, при дальнейшей
металла с обязательным последующим контролем на отсутствие деформации могут образовать расслоения (рис. 2.8).
трещин в местах ремонта. При холодной объёмной штамповке из-за малой пластич-
Наличие графитных включений затрудняет дефектоскопию ности исходных материалов на поверхности деталей возникают
всех типов чугуна (кроме белого, который применяют сравни- скалывающие трещины, распространяющиеся под углом 450 к
тельно редко). При радиационном методе контроля скопления направлению действующего усилия.
графитных включений могут быть ошибочно классифицированы В результате попадания мелких частиц возникают риски на
как дефекты. Акустический контроль в этом случае проводится поверхности проката в виде открытых царапин глубиной 0,2-0,5 мм.
при пониженных частотах и также затруднён наличием ложных При избытке металла в валках возникают закаты в виде зау-
сигналов от графитных включений. Для контроля и формы графит- сенцев глубиной более 1 мм, закатанных в противоположных на-
ных включений измеряют скорость и затухание ультразвука. Чем правлениях. На кромках листов, профилей образуются рванины –
меньше средний размер графитных включений и больше их форма, разрывы или подрывы металла разнообразных очертаний с
тем выше скорость ультразвука и меньше его затухание. рваными краями.
Алюминиевым отливкам свойственны те же дефекты, что и Волосовины являются результатом деформации малых
стальным. Труднообнаруживаемыми дефектами являются оксид- неметаллических включений и газовых пузырей. Эти дефекты
ные плёны, поскольку по плотности и акустическим свойствам имеют вид тонких прямых линий размерами от долей миллиметров
они близки к алюминию. В то же время алюминий обладает малой до нескольких сантиметров. Волосовины встречаются во всех
анизотропией, поэтому мало рассеяние ультразвука и в три раза видах конструкционных сталей.
меньше поглощение рентгеновского излучения. На рентгенограмме
плёны видны как светлые полосы, потому что они сильнее погло-
щают рентгеновское излучение, чем алюминий.
Дефекты обработки давлением. Существуют различные
способы обработки металлов давлением: свободная ковка (ударное
воздействие), прессование (статическое воздействие), штамповка
(ковка или прессование в штамп-форму), высадка (продавливание
через отверстие), волочение (протяжка металла через отверстие
для получения прутка или проволоки), прокатка и др. При этом
возникают следующие специфические виды дефектов.
Из-за значительных напряжений при деформации разви-
ваются трещины и разрывы. При обработке давлением материал
неоднократно подвергают нагреву и охлаждению, создающиеся при
этом внутренние напряжения способствуют образованию внутрен-
них разрывов и трещин.
Растягивающие напряжения могут привести к появлению Рис. 2.8. Дефект прутка: расслоение.
разрывов в зонах, ослабленных дефектами слитков, а иногда и к (Увеличение в 100 раз)

38 39
Флокены появляются наиболее часто в среднеуглеродистых поверхности. Такой дефект обычно определяют механическими
и среднелегированных сталях при повышенном содержании в них измерительными средствами и оптическими методами контроля.
водорода, обычно в центральной зоне кованых или катаных загото- Дефекты типа несплошностей при механической обработке возни-
вок крупных сечений, имеют вид тонких извилистых трещин, кают сравнительно редко; например, при обработке резанием в
представляющих в изломе пятна с поверхностью характерного металле, имеющем большие поверхностные напряжения, могут
серебристого цвета округлой формы. Поковки, отштампованные возникнуть трещины.
из металла, пораженного флокенами, иногда растрескиваются с
отделением куска металла. Соединение металла с водородом – гид-
рид вызывает повышенную хрупкость металла.
Дефекты термообработки. Перегрев или пережог возни-
кают при термической обработке из-за несоблюдения температур-
ного режима, времени выдержки, скорости нагрева и охлаждения
детали. Перегрев приводит к образованию крупнозернистой
структуры оксидных и сульфидных выделений по границам зёрен,
пережог вызывает образование крупного зерна и оплавление гра-
ниц зёрен, что способствует в дальнейшем разрушению металла.
При нагреве стальных изделий в среде, содержащей избыток
паров воды, водорода, углекислого газа наблюдается обезугле-
роживание. Происходит выгорание углерода в приповерхностных
слоях, что снижает прочность стали; возникают трещины глубиной
1-2,0 мм. Эти трещины – следствие растягивающих напряжений,
вызванных тем, что в обезуглероженном слое при закалке обра-
зуется низкоуглеродистый мартенсит с меньшим объемом, чем в Рис. 2.9. Трещины в кованых заготовках
сердцевине.
При нагреве стальных изделий в среде с избыточным содер-
жанием оксида углерода наблюдается науглероживание – насы- При шлифовании происходит резкий нагрев поверхности, в
щение поверхностных слоёв углеродом, повышающим хрупкость результате может появиться сетка мелких трещин и прижоги (ло-
и склонность к трещинообразованию. К образованию трещин кальные перезакаленные участки). Поверхностные трещины
приводит также насыщение поверхностного слоя водородом под обнаруживают капиллярным, магнитным и ТВ контролем, прижоги
воздействием щелочей, кислот и специальных растворов при – магнитным и термоэлектрическим методами.
травлении и электрохимической обработке. Дефекты соединения материалов. Неразъёмные соедине-
Для обнаружения дефектов термообработки чаще всего при- ния деталей выполняют сваркой, пайкой, склейкой, клёпкой. Разли-
меняют вихретоковый, магнитный и реже ультразвуковой методы чают сварку плавлением и сварку давлением. Для сварки плавле-
контроля. нием (ГОСТ 2601-84) характерны дефекты литого металла – уса-
Наиболее частый дефект механической обработки – несо- дочная раковина, включения, а также специфические дефекты сварки
блюдение геометрических размеров детали и требований качества – поры, шлаковые включения, непровары, несплавления и трещины.

40 41
Поры в виде полости округлой формы, содержащей газ, Основным дефектом пайки является непропай. Он обычно
образуются обычно при нарушениях технологии режима сварки возникает при недостаточно тщательной зачистке припаевыемых
(увеличенная скорость сварки, завышенная длина дуги, исполь- поверхностей или из-за нарушения температурного режима.
зование влажного флюса, загрязненность основного металла по Дефекты клеевого соединения – непроклеи, возникающие в
свариваемым поверхностям маслом, ржавчиной и т.п.). При сварке результате некачественной очистки склеиваемых поверхностей или
в среде углекислого газа, а в некоторых случаях и под флюсом, на нарушения режима склейки. Дефекты клёпаного соединения – тре-
больших токах образуются большие поры, так называемые свищи; щины в заклёпках и соединяемых деталях – выявляются ультра-
размеры внутренних пор колеблются от 0,1 до 2-3 мм в диаметре, звуковыми методами.
а иногда и больше. Поры, выходящие на поверхность, могут иметь Паяные, клеевые, клёпаные изделия контролируют ультра-
и большие размеры. Так называемые червеобразованные поры звуковыми методами; герметичные сварные, паяные и клеевые
имеют длину до нескольких сантиметров. соединения проверяют методом течеискания.
Шлаковые включения в металле сварного шва – это неболь-
шие объемы, заполненные неметаллическими веществами (шла-
ками, оксидами). При использовании качественных электродов
расплавленный металл дольше находится в жидком состоянии,
неметаллические включения успевают всплыть на его поверх-
ность, и в теле шва дефекты в виде шлаковых включений отсутст-
вуют. При всех видах сварки могут возникать оксидные плёнки.
Причины их образования такие же, как и шлаковых включений:
загрязненность поверхностей свариваемых элементов, низкое
качество электродного покрытия или флюса, низкая квалификация
сварщика и т.д.
Другие характерные дефекты сварки – это непровары, тре-
щины, слипания. Непровар – это дефект в виде местного несплав-
ления в сварном соединении из-за неполного расплавления кромок
или поверхностей ранее выполненных валиков шва. Непровары,
как правило, возникают из-за нарушения режима сварки или
технологии подготовки поверхностей. Трещины – частичные мест- Рис.2.10. Усталостные трещины
ные разрушения сварного соединения в виде разрыва – возникают
из-за повышенных механических напряжений (как вследствие Эксплуатационные дефекты. К этому виду дефектов отно-
чрезмерного нагромождения швов для усиления конструкции, так сят механические повреждения, изнашивание, коррозию. Наиболее
и вследствие наличия в сварном соединении других дефектов, распространенными дефектами этого типа являются усталостные
являющихся концентраторами напряжений). трещины (рис.2.10). Основная причина усталостных разрушений
Сварные соединения проверяют ультразвуковыми и рент- деталей – действие высоких переменных напряжений. Трещины
геновскими методами контроля. усталости возникают, как правило, при конструктивной недора-

42 43
ботке деталей и узлов: по галтелям, в местах с резкими переходами Для дефектоскопии используются визуально-оптические,
сечений и наличием подрезов, у основания резьбы и зубьев шесте- капиллярные, магнитные методы. Для обнаружения внутренних
рен, в углах шпоночных канавок, у отверстий для смазки или в трещин любого происхождения используют ультразвуковые
местах других конструктивных или технологических концентра- методы контроля.
торах напряжений. Трещины усталости появляются также в местах
дефектов металлургического или технологического происхожде- 2.3. Дефекты в неметаллических деталях
ния или следов грубой механической обработки поверхности Дефекты стекла – нарушения физической однородности и
(глубоких рисок, следов резцов и т.п.). сплошности стекла – могут быть структурными, технологичес-
Трещины усталости различаются по внешнему виду. Попе- кими, эксплуатационными. Это могут быть разрывы, субмикротре-
речные или кольцевые трещины развиваются на цилиндрических щины и микротрещины, технологические пузыри размерами от
деталях по окружности в сечении, перпендикулярном к оси детали. 0,8 до 3 мм, газовые включения до 0,8 мм, инородные включения,
Часто встречаются также трещины, расположенные под углом к неровности поверхности. В процессе эксплуатации возможны
оси детали. В зоне усталостного разрушения отсутствуют какие- физико-механические повреждения, коррозия, помутнения, точеч-
либо признаки пластической деформации даже у самых пластич- ные каверны, микротрещины, царапины, сколы.
ных материалов. Ширина раскрытия усталостных трещин у выхода Дефекты керамики возникают вследствие нарушения техно-
их на поверхность в начальной стадии разрушения не превышает логии изготовления изделий из керамической массы. Различают
нескольких микрон. дефекты, связанные с искажением размеров и формы изделия
Коррозионные поражения встречаются на различных деталях. (коробление, деформации); с изменением структуры материала
Степень коррозионного поражения зависит от наличия агрессив- (трещины, прыщи, посечки и свищи); дефекты поверхности
ных сред, качества защитных покрытий, неблагоприятного сочета- (пузыри, мушки, выплавки, вскипы, наколы, металлический блеск).
ния материалов в узле и др. В эксплуатации коррозией часто пора- Трещины возникают из-за недостаточной обработки кера-
мической массы, неодинаковой плотности различных мест полу-
жены внутренние полости, труднодоступные для контроля.
фабриката, резкого изменения температуры во время наибольшей
При резких сменах температур, а также недостаточной
усадки или в процессе охлаждения, неправильной укладки изделий
смазке трущихся деталей возможно появление термических тре-
и т.п.
щин. Эти трещины часто наблюдаются на поверхности азотирован- Дефекты керамики, полученной методом спекания и горя-
ных, цементированных или поверхностно закаленных деталей, чего прессования, – пористость, коррозионное растрескивание,
работающих при высоких удельных давлениях. поверхностные и приповерхностные трещины. Возможно наруше-
Трещины и надрывы в поверхностном слое возникают в ре- ние связей между кристаллитами, инородные включения, анома-
зультате одноразово приложенных напряжений (растяжение, изгиб, лии в размерах кристаллов, оксидные фазы, наличие зон аномаль-
кручение), когда нагрузка превышает прочность детали, например, ных механических деформаций и напряжений в связях между
при монтаже или демонтаже деталей с хрупкими поверхностями кристаллитами, зон, свободных от твердых фаз (пор), а также зон
или при перегрузке детали (работа в нерасчетном режиме). предельных механических напряжений, переходящих в разрыв
Механические повреждения поверхности – забоины, вмя- связей композиционной структуры (трещины); аномалии в разме-
тины, надиры, риски, местный наклеп – могут возникать по самым рах указанных зон и неравномерность распределения структурных
разным причинам. элементов.

44 45
Существенным дефектом в структуре керамики является су- Вопросы для самопроверки
ществование больших аномальных зон с минимальной энергией связи. 1. Что такое дефект продукции?
Возникновение дефектов в полимерных композиционных 2. Назовите основные дефекты типа нарушения сплошности.
материалах во многом определяется вязкостью связующего, Дайте их основные качественные характеристики.
степенью пропитки армирующего материала, температурой техно- Что, на ваш взгляд, является основной причиной возникнове-
логического оборудования, температурой входящего армирующего ния дефектов?
материала, скоростью протягивания арматуры, ее напряжением, 3. Какие виды НМК позволяют обнаружить подповерхност-
давлением обжатия армирующего материала, сушкой армирую- ные дефекты?
щего материала, липкостью, содержанием летучих и растворимых 4. Какими видами НМК возможно обнаружение объемных
веществ, плотностью полуфабриката, скоплением связующего дефектов?
армирующего наполнителя и способом его укладки. 5. Каким образом материал изделия определяет возможный
Характерными дефектами для методов открытого форми- вид НМК?
рования являются пористость, расслоения, участки неполного 6. Что такое «волосовины», «свищи», «раковины»?
отвердения, изменение толщины, низкое значение физико-меха- 7. В каких материалах могут возникать трещины? Назовите
нических свойств, неравномерное распределение связующего основные причины возникновения различного вида трещин.
наполнителя, складки. Для закрытого формирования характер- Какие виды НМК обнаруживают усталостные трещины?
ными дефектами являются трещины, расслоения, локальная порис- 8. Каковы причины возникновения непроваров?
тость, неравномерное распределение связующего наполнителя и 9. Какие виды НМК позволяют уверенно обнаруживать де-
участки его локальной ориентации, нарушения ориентации фекты в клеевых соединениях?
наполнителя, внутренние остаточные напряжения, обрывы нитей
и волокон.
Дефектами полупроводниковых материалов являются
изменение параметров зонной структуры и основных параметров
примесных центров, нарушения кристаллической структуры,
изменение чистоты материала, наличие электрически активных и
неактивных примесей, неоднородность распределения примесей
по объему материала и устройства, механические напряжения,
изменение параметров переходных областей в p − n гомо- и
гетеропереходах.
К дефектам изделий из любых материалов относятся откло-
нения размеров и геометрических форм основных и свободных
поверхностей (непрямолинейность, непараллельность, несоос-
ность, неперпендикулярность, эксцентричность, шероховатость),
изменение толщины покрытия, влажность.

46 47
3. ВИЗУАЛЬНО-ОПТИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ (ВОК) К недостаткам следует отнести низкую достоверность и
чувствительность, поэтому такой метод контроля применяют в
3.1. Задачи, решаемые ВОК следующих случаях: для поиска поверхностных дефектов (трещин,
Глаз человека исторически являлся основным контрольным пор, открытых раковин и т.п.) при визуально-оптическом контроле
прибором в дефектоскопии. Глазом контролируют исходные мате- деталей, доступных для непосредственного осмотра, а также более
риалы, полуфабрикаты, готовую продукцию, обнаруживают откло- мелких трещин при цветном, капиллярном, люминесцентном,
нения формы и размеров, изъяны поверхности и другие дефекты магнитопорошковом и рентгенографическом контроле; для
в процессе производства и эксплуатации: остаточную деформацию, обнаружения крупных трещин, мест разрушения конструкций,
пористость поверхности, крупные трещины, подрезы, риски, течей, загрязнений, посторонних предметов внутри закрытых
надиры, следы наклёпа, раковины и т.д. конструкций; для анализа характера и определения типа поверх-
Однако возможности глаза ограничены, например, при ностных дефектов, обнаруженных при контроле каким-либо дру-
осмотре быстро перемещающихся объектов или удалённых объек- гим методом дефектоскопии (акустическим, токовихревым, и т.д.).
тов, находящихся в условиях малой освещённости. Даже при Следует помнить, что дефекты даже относительно больших
осмотре предметов, находящихся в покое на расстоянии наилуч- размеров, невидимые невооружённым глазом из-за малого
шего зрения в условиях нормальной освещённости, человек может контраста с фоном, при использовании оптических приборов, как
испытывать трудности из-за ограниченной разрешающей способ- правило, не обнаруживаются.
ности и контрастной чувствительности зрения. Современные методы оптического контроля основаны на
Для расширения возможностей глаза используют оптические взаимодействии светового излучения с поверхностью контроли-
приборы. Они увеличивают угловой размер объекта, при этом руемого объекта. При этом рассматриваются такие спектральные
острота зрения и разрешающая способность глаза увеличиваются характеристики, как коэффициент спектрального излучения и
примерно во столько же раз, во сколько увеличивает оптический
поглощения, спектральный коэффициент пропускания, отражения
прибор. Это позволяет увидеть мелкие дефекты, невидимые
и показатель преломления. Спектральный коэффициент поглоще-
невооружённым взглядом, или их детали. Однако при этом
существенно сокращается поле зрения и глубина резкости, поэтому ния α (λ) является отношением потока излучения, поглощенногоо
обычно используются оптические приборы с увеличением не более внутри оптически прозрачной среды, к падающему потоку излуче-
20-30Х. ния. Спектральный коэффициент пропускания τ(λ) представляет
Оптические приборы эндоскопы позволяют осматривать собой отношение потока излучения, прошедшего через среду, к
детали и поверхности элементов конструкции, скрытые близлежа- потоку энергии, упавшему на ее поверхность.
щими деталями и недоступные прямому наблюдению. Спектральный коэффициент отражения ρ(λ) определяютт
Визуальный контроль с использованием оптических прибо- для составляющих светового потока с параллельными и перпенди-
ров называют визуально-оптическим. кулярными колебаниями по отношению к плоскости падения. При
Визуально-оптический контроль и визуальный осмотр – наи- нормальном падении светового потока при переходе из одного
более доступный и простой метод обнаружения поверхностных материала с показателем преломления n1 в другой с показателем
дефектов деталей. преломления n2 спектральный коэффициент отражения опреде-
Основные преимущества этого метода – простота контроля,
ляется как ρ(λ) = [(n 2 − n1 ) / (n 2 + n1 )] . Спектральный коэффи-
2
несложное оборудование, сравнительно малая трудоёмкость.

48 49
циент отражения, спектральный коэффициент пропускания и 2) приборы для контроля удалённых объектов (l>250мм) –
спектральный коэффициент поглощения связаны соотношением телескопические лупы, бинокли, зрительные трубы;
3) приборы для контроля скрытых объектов (эндоскопы,
ρ(λ ) + α(λ ) + τ(λ ) = 1. бороскопы, перископические дефектоскопы).
Показатель преломления является отношением скорости Различают также приборы цехового назначения и приборы
распространения монохроматического электромагнитного излуче- полевого использования.
ния в вакууме к зависимой от длины волны скорости распростра- Приборы цехового назначения применяются при постоянной
нения его в какой-либо среде: температуре от +15о до +20о С, нормальном атмосферном давлении,
невысокой влажности.
n ( λ ) = C / v( λ ) . Приборы полевого назначения должны работать в условиях
При переходе из среды 1 с показателем преломления n1 в температуры от –55о до +60о С, при тряске, вибрациях, при осадках
среду 2 с показателем преломления n2 справедлив закон Снеллиуса: и т.д. В защитном корпусе (ящике) должны быть предусмотрены
n1 sin θ1 = n 2 sin θ 2 . Показатель преломления для воздухаа устройства для прочного крепления всех деталей приборов ВОК,
полости приборов должны быть надёжно защищены от проник-
n=1,0003.
новения влаги, выполнены из коррозионно-стойких материалов и
Рефрактометрия, интерферометрия, лазерные и голографи-
иметь атмосферостойкие защитные покрытия. Приборы должны
ческие методы контроля также называются оптическими методами
иметь малую массу, быть пригодными к переноске, иметь удобно
контроля.
расположенные ручки панели управления. Должны быть пре-
дусмотрены устройства для уменьшения отрицательного влияния
3.2. Классификация и общие требования
рассеянного света (бленды, диафрагмы, светопоглощающая
к оптическим приборам для ВОК
отделка деталей). Применяют наглазники (налобники), защищаю-
По виду приёмника лучистой энергии различают три группы щие глаза от попадания постороннего света и снижающие утомляе-
оптических приборов: визуальные, детекторные и комбинированные. мость глаз.
У визуальных приборов приёмник – глаз (сведения о некото- Важное значение имеют внешний вид и форма прибора, осо-
рых характеристиках зрения, которые следует учитывать при ВОК, бенно эндоскопа. Он не должен иметь выступающих элементов и
приведены в приложении Б). Это обзорные эндоскопы, лупы, резких переходов в сечении погружаемой части, затрудняющих
микроскопы и т.п. К детекторным приборам относятся приборы, ввод в проверяемый механизм и вывод его оттуда.
в которых приёмником служат различные детекторы: химические Достоверность визуально-оптического контроля опреде-
реагенты (фотоэмульсии), люминесцирующие вещества, спектро- ляется многими факторами, среди которых большое значение
метры и т.д. имеют условия труда. Рабочее место должно быть рассчитано, как
Комбинированные приборы пригодны для обзора объекта правило, на работу сидя. Вентиляция, отопление, освещение должны
визуально и с помощью детектора. обеспечивать комфортные условия труда. Освещенность на рабо-
По назначению приборы ВОК делятся на три группы: чем месте для контроля и система искусственного освещения
1) приборы для контроля мелких близкорасположенных выбираются в зависимости от цвета и яркости проверяемых дета-
объектов, находящихся от глаз контролёра в пределах расстояния лей, размеров отыскиваемых дефектов и их контраста с фоном.
наилучшего зрения l<=250 мм (лупы, микроскопы); Лампы для местного освещения необходимо размещать так, чтобы

50 51
прямые лучи не попадали в глаза контролера. Край плафона или изображения и большего рабочего расстояния. Так, при увеличении
отражателя должен размещаться несколько ниже уровня глаз 20х рабочее расстояние лупы 10 мм, а микроскопа МБС-2 – 64 мм
контролера. Материал и цвет покрытия рабочего стола выбирают при любом увеличении.
так, чтобы уменьшить яркостные контрасты в поле зрения контро- Для контроля удалённых объектов используются теле-
лера и ускорить переадаптацию при чередовании наблюдения скопические приборы прямого зрения – телескопические лупы,
деталей и фона, а также не допустить слепящего действия света, зрительные трубы, бинокли. Такие приборы применяют для конт-
отраженного от покрытия. Поверхность стола не должна быть бе- роля деталей сложной формы (с глубокими выемками, отверс-
лой, ее нельзя покрывать стеклом. тиями, пазами), а также деталей и силовых элементов конструкций,
Цвет основных поверхностей рабочего помещения должен находящихся в пределах прямой видимости, но расположенных
обеспечивать оптимальные условия труда контролера. Для глаза
на расстоянии, превышающем расстояние наилучшего зрения.
наиболее приятны светлые тона желтой, зеленой и частично голу-
Обычно используется увеличение от 1 до 20-30х. Если необходимо
бой зон спектра при слабой и средней их насыщенности. Потолки
большое поле зрения, используют ся приборы, дающие
и верхнюю часть стен можно окрашивать в белый цвет.
уменьшенное изображение (от 0,5 до 1х).
3.3. Приборы ВОК Простейший эндоскоп состоит из телескопической системы
и плоского зеркала или призмы, размещаемой перед объективом
Для контроля близко расположенных деталей (находящихся и отклоняющей лучи на определённый угол. При наклоне зеркала
на расстоянии не более 250 мм от глаз контролера) используют (призмы) на угол б лучи света отклоняются на угол 2б. Эндоскопы
лупы и микроскопы различного типа. с подвижным зеркалом позволяют производить практически пол-
Лупы и микроскопы позволяют обнаруживать трещины ный осмотр закрытых конструкций. Зеркало может быть разме-
различного происхождения, поверхностные коррозионные повреж- щено также в средней части прибора, между объективом и окуля-
дения, забоины, открытые раковины, поры, надиры, риски и де-
ром. Такие коленчатые приборы используют, когда каналы для
фекты лакокрасочных и гальванических покрытий. При анализе
ввода оптического прибора внутрь осматриваемой закрытой конст-
характера дефектов эти приборы позволяют отличать усталостные
рукции искривлены.
трещины от горячих, трещины – от рисок, заусенцев, сколов окис-
ной пленки и т.д. Бинокли и телескопические лупы применяют для осмотра
Лупы и микроскопы, используемые при капиллярном и удаленных деталей механизмов и машин в полевых и цеховых
магнитопорошковом контроле, позволяют обнаруживать более условиях. Бинокли наиболее эффективны при осмотре объектов,
мелкие, чем без применения оптических средств, трещины, непро- находящихся в зоне прямой видимости на расстоянии более 3-5 м.
вары, волосовины, расслоения и другие дефекты. Бинокли имеют устройство для изменения фокусировки, которое
Обычно осмотр деталей проводят с помощью луп с фокус- позволяет получать отчетливое изображение объектов, находя-
ным расстоянием от 125 до 12,5 мм и увеличением от 2 до 20х. щихся на различных расстояниях от контролера. Биноклями можно
Микроскопы существенно снижают поле зрения и используются пользоваться при температуре от –40 до +45оС.
с увеличением от 8 до 40-50х. Увеличение микроскопов, исполь- Некоторые бинокли применяют для осмотра деталей с
зуемых при осмотре деталей, несущественно превышает увеличе- относительно близкого расстояния (1-1,5м). В этом случае между
ние луп. Но даже при одинаковом увеличении эффективность при- объективом и окуляром бинокля вставляют промежуточные
менения микроскопа выше лупы из-за хорошего качества удлинительные кольца шириной 5-10 мм.

52 53
Для осмотра внутренних поверхностей сравнительно корот- В осветительных жгутах оптические волокна расположены
ких полых деталей используются оптические трубки цитоскопов, беспорядочно; в жгутах для передачи информации волокна рас-
бронхоскопов и т.п. полагаются идентично на обоих концах жгута. На выходном конце
Цитоскоп – тонкая трубка с оптической системой – имеет получается мозаичное изображение.
устройство, позволяющее изменять положение объектива и Коэффициент светопропускания жгута длиной 1500-500 мм
направление осмотра полостей диаметром более 8 мм и глубиной составляет для белого света 25-50%. Разрешающая способность
до 200 мм при увеличении 1,1-1,8х. жгута длиной около 1 м составляет 12-15 линий на 1 мм; коротких
Оптическая система, как правило, состоит из сменных окуля- жгутов – около 20 линий на 1 мм. Диаметр волокон для жгутов
ров, объективов и оборачивающих систем. Может быть предусмот-
обычно составляет 20-50 мкм, в ряде случаев 12 мкм; диаметр
рена подсветка на конце трубки.
жгута обычно лежит в пределах от 5 до 40 мм.
Гибкие телескопические приборы включают в себя наборы
стекловолокон. Основным элементом волоконной оптики является На рис. 3.1 представлена схема интроскопа с раздельными
световод, представляющий собой сердечник из оптического стекла информационным и осветительным каналами [7]. Такая конструк-
с высоким показателем преломления nc с оболочкой также из опти- ция способствует расширению доступности в зоны ограниченных
ческого стекла, но с меньшим показателем преломления nn. Лучи габаритов, однако усложняет пользование интроскопом необходи-
света, падающие на один торец такого световода, благодаря пол- мостью синхронного управления осветительным и информацион-
ному внутреннему отражению распространяются вдоль волокна ным жгутами. На схеме оптическое излучение создается источни-
до другого торца. Важным преимуществом волоконной оптики ком 1, передается по гибкому световоду 2, отражается от объекта
является возможность передачи световой энергии по криволиней- 3 и воспринимается жгутом 4. Изображение считывается через
ным каналам, свободно ориентированным в пространстве. окуляр наблюдателем 5 или отображается, например, на транспо-
Предельно допускаемый радиус изгиба световода при прохожде- ранте 6.
нии лучей без вытекания мод зависит от показателей преломления
сердечника и оболочки.
За единицу измерения радиуса изгиба световода условно
принят радиус самого световода. Чем больше разница в показате-
лях преломления сердечника nc и оболочки nn, тем меньше пре-
дельно допустимый радиус изгиба световода.
Одной из особенностей волоконной оптики является разло-
жение изображения на элементарные площадки размером, равным
диаметру световода (от единиц до десятков микрон), и передача
их по отдельным световодам, изменяющим форму и положение в
пространстве, на значительные расстояния (до сотен метров). Это Рис. 3.1. Схема интроскопа с раздельными информационным
расстояние зависит от светопропускания световодов, определяе- и осветительным каналами: 1 – источник; 2 – световод;
мого коэффициентом светопропускания τ . 3 – объект отражения; 4 – жгут; 5 – окуляр наблюдателя;
6 – транспорант
Единичный световод передает только световую энергию, а
для передачи изображения применяются жгуты из регулярно
уложенных и склееных или спеченных световодов.

54 55
В оптико-электронных системах контроля глаз заменяет Остальные системы просты, надежны и обеспечивают чет-
фотоэлемент. В общем случае оптико-электронная система состоит кость изображения. Сканирование осуществляется по изменяю-
из устройства восприятия (сканер), устройства изображения, щейся траектории электронным способом.
логической схемы анализа изображения и механизма разбраковки Лазерные методы контроля. Принцип действия приборов
продукции. По принципу сканирования обзорно-поисковые лазерной оптической дефектоскопии основан на использовании
устройства разделяются на устройства поэлементного, последова- различных эффектов взаимодействия электромагнитного излуче-
тельно-зонального, параллельно-зонального и зонально-поэле- ния с веществом. Приборы регистрируют изменения оптических
ментного сканирования. характеристик объектов контроля. Лазерная дефектоскопия бази-
В первой из систем сканирование КО осуществляется в лю- руется на использовании основных свойств лазерного излучения
бой последовательности по каждому элементу поля зрения. Возмо- – монохроматичности, когерентности и направленности.
жен полный просмотр контролируемого поля и воспроизведение Принцип определения поверхностных дефектов с помощью
полного изображения поля. В устройстве последовательно-зональ- лазерных дефектоскопов заключается в следующем. Поверхность,
ного сканирования сканирование носит не дискретный, а непре- свободная от дефектов, дает определенную плотность распределе-
рывный характер. К таким системам относятся, например, телеви- ния рассеяния, причем вид этого рассеяния примерно одинаков
для каждой точки поверхности. Дефекты поверхности изменяют
зионные системы. Устройство позволяет воспроизводить полное
вид распределения рассеяния излучения. Различные виды дефек-
изображение сканируемого объекта. В устройствах параллельно-
тов приводят к различному изменению плотности распределения
зонального сканирования сканирование осуществляется одно-
пучка рассеянного излучения. Для определения поверхностных
временно с помощью двух взаимно перпендикулярных щелей; каж-
дефектов протяженных объектов применяют сканирование его
дая щель имеет свой светочувствительный элемент и свой канал
поверхности лазерным лучом, изменение положения которого в
передачи информации; полное изображение сканируемого объекта пространстве может осуществляться, например, с помощью
не воспроизводится. Устройство зонально-поэлементного скани- вращающихся или вибрирующих зеркал. В типовой схеме конт-
рования работает в два этапа: сначала осуществляется сканирова- роля протяженных объектов (лента бумаги, полимерная пленка,
ние по зонам и выясняется, в какой зоне находится дефект, после листы стального проката) с помощью зеркального барабана произ-
этого выполняется поэлементное сканирование конкретной зоны. водится сканирование изделия по строкам в направлении, перпен-
По принципу действия сканирующие устройства могут быть дикулярном к его перемещению. Сканирование по длине изделия
оптико-механические, оптико-электрические, полупроводниковые, происходит за счет его собственного движения. Частота строчного
фотоэлектронные вакуумные, волоконно-оптические. сканирования определяется минимально обнаруживаемыми дефек-
В оптико-механических системах используются подвижные тами. Излучение лазера после отражения от объекта направляется
сканирующие элементы отражательной и преломляющей оптики оптической системой на фотоумножитель, преобразуется в
– зеркальные элементы различной формы, клинья, многогранные электрический сигнал и поступает на блок электронной обработки
барабаны, линзы, призмы, совершающие вращательное, колеба- сигнала [8].
тельное или возвратно-поступательное движение. Наличие под- Схему лазерного сканирующего микроскопа – зонда можно
вижных механических систем, повышенная сложность и малая использовать для регистрации не отраженного от объекта излуче-
надежность при длительной эксплуатации являются недостатками ния лазера, а возбужденного им в полупроводнике фотоэлектричес-
этих устройств. кого эффекта (фотоответ). На экране кинескопа в этом случае наб-

56 57
людают изображение отдельных точек, яркость которых про- Голографическая интерференция служит для определения
порциональна величине фотоответов полупроводника на световое величин деформаций, вибраций, отклонений от эталона, соизмери-
воздействие в соответствующих зонах. Такой метод перспективен мых с длиной волны используемого лазера. Бесконтактность, высо-
для контроля интегральных схем. кая чувствительность, возможность обследования сравнительно
Физические основы голографических методов контроля. больших поверхностей, дискретная или аналоговая регистрация
Голограмма получается в результате интерференции разделенного быстрых или медленных процессов изменения состояния КО –
на две части монохроматического потока излучения лазера: характерные черты голографической интерферометрии.
рассеянного контролируемым объектом и прямого (опорного) Принцип голографической интерферометрии состоит в
пучка, попадающего на фотопластинку, минуя объект. При вос- следующем. После экспонирования и фотообработки голограмму
становлении записанного на фотопластинке изображения устанавливают на место съемки, освещают лазерным пучком и
голограмма подсвечивается опорным лучом. В результате возни- наблюдают сквозь нее объект, получивший какие-либо деформа-
кают два видимых объемных изображения объекта. Принципиаль- ции. При этом объект наблюдается с возникающей на нем сетью
ные схемы голографической записи и воспроизведения показаны интерферометрических полос. Такая картина возникает за счет
на рис. 3.2. интерференции фронтов световых волн, отраженных от объекта в
момент наблюдения и восстановленных с голограммы опорным
пучком. Интерферометрические полосы являются геометрическим
местом точек равных перемещений. Часто метод голографической
интерферометрии реализуется таким образом, что на одну и ту же
пластинку двумя экспозициями записываются последовательно
голограммы от объекта, находящегося в исходном и исследуемом
состоянии. При этом суммарная экспозиция должна находиться в
пределах линейного участка характеристической кривой фото-
эмульсии [9].
Рис. 3.2. Схема записи (а) и воспроизведения (б) Практическое применение голографических методов не-
голографических изображений: 1 – лазер; 2 – микрообъектив; разрушающего контроля требует поддержание механической ста-
3 – коллиматор; 4 – зеркало опорного луча; 5 – контролируемый объект;
бильности объекта контроля с высокой точностью во время экс-
5' и 5'' – мнимое и действительное изображение объекта;
6 – голограмма; 7 – лучи дифракции нулевого порядка понирования голограммы, поэтому голографические установки
должны иметь высокую степень виброзащиты. Для сокращения
времени экспозиции целесообразно применение лазеров большой
Голограмма регистрирует как амплитудную, так и фазовую мощности.
информацию, содержащуюся в волновом фронте. При ее помощи Регистрирующие среды, применяемые для фиксации голо-
можно рассматривать объект с различных точек зрения, фото- грамм, должны иметь высокую пространственную разрешающую
графировать изображения отдельных частей объекта. Голограммы способность (порядка 3000-4000 линий на 1мм). Данное требова-
позволяют проводить прямые измерения размеров объектов, ние противоречит условию высокой энергетической чувствитель-
находить координаты отдельных точек на поверхности, изучать ности фотоэмульсии, поэтому материалы, используемые в голо-
его рельеф, форму и т.д. графии, отличаются низкой светочувствительностью (порядка 0,01

58 59
единиц светочувствительности по сравнению с 35-250 единицами, 9. От каких факторов зависит достоверность ВОК?
используемыми в обычной фотографии). 10. В чем заключается принцип определения дефектов с помо-
В последнее время появились термопластичные материалы, щью лазерного дефектоскопа?
чувствительные к излучению лазеров. Для них характерен тепло- 11. Какова область применения голографической интерферо-
вой механизм визуализации скрытого изображения, не требующий метрии?
фотохимической обработки. Голограмма проявляется после прос- 12. С какой целью применяется виброзащита голографичес-
того нагрева термопластинки непосредственно на месте экспони- ких установок? Какие системы виброзащиты вам известны?
рования, что существенно повышает производительность конт- 13. Приведите примеры приборов ВОК, используемых в судо-
роля. Применение таких термопластиков требует использования строении.
лазеров большой мощности (порядка 1 Вт). Наблюдение голограмм
может производиться визуально или с помощью телевизионных
установок.
Методы голографической интерферометрии позволяют
давать количественную оценку параметров дефектов как в статике,
так и в динамике с точностью до 0,1 мм. Голографические уста-
новки применяют для контроля качества швов в процессе изго-
товления крыльев самолета, тепловыделяющих элементов ядерных
реакторов, многослойных печатных плат, интегральных схем и т.п.

Вопросы для самопроверки


1. Назовите основные преимущества и недостатки методов
ВОК.
2. Что понимается под видимостью объекта и от каких факто-
ров она зависит?
3. Что такое острота зрения? Какие факторы влияют на остроту
зрения?
4. От чего зависит разрешающая способность глаза?
5. Как классифицируются приборы ВОК?
6. Чем ограничивается минимальный размер дефекта, обна-
руживаемого невооруженным глазом в качестве единичного?
7. Дефекты какого цвета выявляются в первую очередь?
В последнюю очередь?
8. Назовите основные элементы оптико-электронных систем
контроля.

60 61
4. КАПИЛЛЯРНЫЙ МЕТОД НЕРАЗРУШАЮЩЕГО б – по направлению дефектов:
КОНТРОЛЯ (КНК) ∥ –дефекты, параллельные направлению изделия;
⊥ – дефекты, перпендикулярные направлению изделия;
Этот метод пригоден только для выявления дефектов, прояв-
ляющихся на поверхности контролируемого объекта. Он основан
∠ –дефекты, расположенные под углом к направлению изделия.
Основными объектами КНК являются неферромагнитные
на проникновении специальной жидкости – пенетранта – в полости материалы: лопатки турбин из никелевых сплавов, в том числе
поверхностных и сквозных несплошностей объекта контроля, в авиационных турбин; титановый крепеж для летательных и косми-
извлечении пенетранта из дефектов с помощью проявляющего
ческих аппаратов; литые детали из цветных металлов для электро-
покрытия и фиксировании пенетранта. Глубина дефектов, обна-
ники и систем автоматического управления; детали приборов и
руживаемых КНК, должна значительно превышать их ширину.
аппаратов нефтяной и химической промышленности.
Если ширина поверхностного повреждения больше его глубины
КНК позволяет диагностировать объекты контроля любых
(риска, царапина), то оно легко заполняется пенетрантом и так же
размеров и форм, изготовленных из чёрных и цветных металлов и
легко удаляется из повреждений. Такие дефекты, как правило, КНК
сплавов, пластмасс, стекла, керамики, а также других твёрдых не-
не выявляются.
ферромагнитных материалов. При этом выявляются такие де-
КНК обычно используют для обнаружения дефектов, не
фекты, как трещины, пористость, рыхлоты.
видимых невооруженным глазом. Его абсолютную чувствитель-
ность определяют средним раскрытием дефекта типа трещин дли- При КНК применяют следующие материалы:
ной 3-5 мм, выявляемого с заданной вероятностью. 1. В качестве пенетранта – различные жидкие растворы,
Индикаторные рисунки, образующиеся при контроле, либо чаще всего на основе керосина, в который добавляются красители
обладают способностью люминесцировать в ультрафиолетовых или люминофоры, светящиеся под действием ультрафиолетового
лучах, либо имеют окраску, вызываемую избирательным погло- излучения. Например, пенетрант «А» состоит из 700 мл керосина,
щением (отражением) части падающих на них световых лучей. 300 мл бензина Б-70, 30 г тёмно-красного красителя. Пенетрант
Линии индикаторного рисунка имеют ширину от 0,05 до 0,3 мм «Е» состоит из керосина (800 мл), бензола (200 мл) и тёмно-
(на расстоянии наилучшего зрения это соответствует угловой ши- красного красителя. Существуют пенетранты, у которых в керосин
рине от 15'' до 1'30''), яркостный контраст 30-60% и более, а также добавлены ацетон, бензин и краситель, или трансформаторное
высокий цветовой контраст. Это значительно выше соответствую- масло, скипидар и краситель, и ряд других.
щих параметров поверхностных дефектов, обнаруживаемых Люминесцирующие пенетранты представляют собой смеси
визуально (угловой размер от 1' до 10'', яркостный контраст 0-5%, органических растворителей, масел, керосина с добавками поверх-
цветовой контраст отсутствует). ностно-активных веществ (ПАВ) и люминесцирующих веществ:
При КНК ставятся следующие задачи: обнаружение дефекта, масел, нефти, нориола, эмульсола и др.
определение направления дефекта относительно конфигурации де- 2. Очищающую жидкость, которая предназначена для
тали, определение размеров и формы дефекта. удаления пенетранта с поверхности контролируемого объекта.
В процессе КНК осуществляется следующая маркировка В качестве очищающих жидкостей используются вода, вода с
дефектов: добавлением ПАВ, органические растворители, смесь масла с
а – по количеству дефектов: А – одиночные дефекты, Б – мно- керосином и другие жидкости. Например, масло МК-8-65%
жественные дефекты, В – сплошные дефекты; объема, толуол – 30%, эмульгатор ОП-7-5%.

62 63
3. Гаситель, который представляет собой состав для устра- Т а б л и ц а 4.1
нения окраски или люминесцентных остатков пенетранта без Особенности заполнения полостей дефектов
удаления его с контролируемой поверхности. В качестве гасителей проникающей жидкостью разными способами
используется, например, вода с кальцинированной содой (гаситель
Название способа Технологическая характеристика
О201), спирт с поверхностно активным веществом ОП-7 (гаситель Капиллярный Самопроизвольное заполнение полостей дефектов прони-
О300) и другие вещества. кающей жидкостью, наносимой на контролируемую по-
4. В качестве проявляющих веществ – агар-агар, крахмал, верхность смазыванием, погружением, струйно, распыле-
порошок окиси магния, суспензия каолина в ацетоне и многие дру- нием с помощью сжатого газа
гие материалы, которые адсорбируют пенетрант, проникший в Вакуумный Заполнение полостей дефектов проникающей жидкостью
дефекты, и тем самым позволяют фиксировать их на поверхности при пониженном давлении в полостях
Компрессионный Заполнение полостей дефектов проникающей жидкостью
контролируемого объекта.
при воздействии на нее повышенного давления
Для выполнения КНК применяется следующая аппаратура: Ультразвуковой Заполнение полостей дефектов проникающей жидкостью
1 - ванны для мойки и насыщения изделия пенетрантом; при воздействии на нее ультразвуковых колебаний
2 - шкафы для сушки изделий; Деформационный Заполнение полостей дефектов проникающей жидкостью
3 - устройства для нанесения пенетранта; при воздействии на объект контроля упругих колебаний
4 - оптические устройства для фиксации дефектов визуально, звуковой частоты или статической нагрузки, увеличиваю-
щей ширину раскрытия трещин
с помощью фотосъёмок и для облучения пенетранта ультрафиоле-
товыми лучами в случае применения люминесцирующих веществ.
Проникающую жидкость наносят на предварительно очи- При компрессионном способе жидкость быстро заполняет
щенную поверхность деталей, чтобы заполнить полости возмож- полости дефектов под действием капиллярного и внешнего избы-
ных поверхностных дефектов. Продолжительность контакта точного давлений. При этом достигается более полное заполнение
жидкости с поверхностью детали зависит от физических свойств полостей дефектов, однако многие пенетранты изменяют свои
жидкости, характера обнаруживаемых дефектов и способа запол- свойства при увеличении давления – увеличивается вязкость,
нения жидкостью полостей дефектов. В табл. 4.1 приведены спо- ухудшается смачиваемость твердых тел, в результате эффектив-
собы заполнения полостей дефектов пенетрантом. Наиболее прос- ность способа невелика.
тым и распространенным в производственных условиях является При ультразвуковом способе ускоряется процесс заполнения
полостей дефектов, особенно загрязненных. Высокой эффектив-
капиллярный способ. При этом для улучшения проникновения
ности способ достигает при использовании пенетрантов средней
жидкости в полости может подогреваться проникающая жидкость
и высокой вязкости (нориола, шубикола, смесей масла с кероси-
или проверяемая деталь.
ном), когда направление колебаний совпадает с плоскостью по-
При вакуумном способе деталь помещают в герметичную
лости дефекта.
камеру, из которой откачивают воздух. После подачи проникающей Под воздействием статических сил увеличивается ширина
жидкости камеру разгерметизируют. Жидкость заполняет полости раскрытия полости дефектов, улучшаются условия заполнения
дефектов под действием капиллярного и атмосферного давлений. этих полостей и выявления дефектов низковязкими жидкостями.
При разрежении около 1 Па выявляются трещины шириной на При обычных условиях, например, заполнение поверхност-
порядок меньше, чем при капиллярной пропитке. ных трещин раскрытием 0,002 мм и глубиной 1,5 мм в стекле

64 65
происходит за 20 с; такая же трещина глубиной 3 мм полностью Если фон обнаружен, для повторной очистки используют
заполняется примерно за 40 с. очиститель типа О-1 или О-2. При температуре окружающего воз-
Скорость заполнения сквозных дефектов зависит от их раз- духа ниже 8оС индикаторный пенетрант с поверхности КО сни-
меров и конфигурации, время заполнения измеряется секундами. мают бязью, смоченной в спирте. Влагу с поверхности изделия
Индикаторные пенетранты для красок и люминофоров, удаляют влажной бязью до полного исчезновения с нее капель
приготовленные на основе растворителей (керосин, бензин и т.п.), воды, после чего поверхность считается подготовленной к следую-
достаточно быстро испаряются. Длительная выдержка пенетранта щей операции. Проявитель чаще всего наносят кистью. При этом
на контролируемой поверхности может привести к его высыханию расход проявителя значительно меньше, чем при нанесении его
и выпадению в виде осадка из частиц красителя или люминофора. краскораспылителем, окружающий воздух меньше насыщается
Эти частицы, являясь сорбентом, могут привести к извлечению вредными для человека парами растворителей и аэрозолей.
пенетранта из устья дефекта; в результате выявление дефектов при В цеховых условиях применяют также способ посыпания и способ
контроле ухудшается. Для предотвращения высыхания можно наложения липких пленок. После нанесения проявителя детали
периодически наносить дополнительно пенетрант, однако это выдерживают при заданной температуре до окончания процесса
процесс трудоемкий, особенно при контроле больших площадей, проявления, то есть образования индикаторного рисунка. Извле-
поэтому время нахождения пенетранта на контролируемой
чение пенетранта из поверхностной трещины происходит по мере
поверхности обычно ограничено 3-5 мин. После этого индикатор-
испарения жидкой основы проявителя и возрастания сорбции с
ный пенетрант необходимо удалить с поверхности КО.
помощью частиц проявителя. Наблюдения показали, что за 2-4 мин
Способы удаления проникающей жидкости с поверхности
по всей протяженности поверхностной трещины образуется
выбирают с учетом необходимости сохранения ее в полостях де-
мениск. За это время размер индикаторного следа практически
фектов, а также типа пенетранта, шероховатости поверхности,
условий контроля, объема работ и требуемой производительности стабилизируется (рис.4.1).
труда. При локальном контроле деталей в полевых, цеховых усло-
виях в случае использования невысыхающих жидкостей детали
протирают ветошью или бумагой. При большом объеме работ или
при контроле шероховатых деталей (с чистотой обработки поверх-
ности ниже пятого класса) этот способ непригоден. В этих случаях
применяют промывку органическими растворителями, водой и пр.
Для удаления невысыхающих жидкостей применяют обдувку
струей песка, дроби, косточковой крошки, опилок и т.п. Гашением
устраняется люминесценция или окраска при использовании
специальных проникающих жидкостей. При контроле массовых
деталей в цеховых условиях применяют комбинированный способ
удаления проникающей жидкости с поверхности деталей.
Полноту удаления пенетранта определяют визуально или Рис. 4.1. Зависимость ширины индикаторного следа b на
(при люминисцентном методе) в ультрафиолетовом свете. Оценку металлических образцах с единичными трещинами от времени
считают удовлетворительной, если отсутствует светящийся или испытания t. Величина раскрытия трещины: 1 – 0,005 мм;
окрашенный фон. 2 – 0,01 мм; 3 – 0,015 мм; 4 – 0,02 мм

66 67
Затем происходит медленное перемещение мениска в глубь 315-400 нм. Освещенность исследуемой поверхности должна быть
трещины (рис. 4.2) и незначительное увеличение индикаторного не ниже 50 лк. Контроль проводят в затененном помещении, а в
следа. Размер индикаторного следа определяется объемом пенет- полевых условиях – при местном затемнении. При цветном конт-
ранта, извлеченного из устья трещины, после образования мениска роле естественное или искусственное освещение на контролируе-
по всей ее протяженности. Средняя ширина индикаторного следа мом участке должно быть не менее 3000 лк. С поверхностей дета-
определяется в основном раскрытием поверхностной единичной лей, прошедших контроль и признанных годными, удаляют
трещины. Следовательно, для надежного выявления поверхност- проявитель и следы других дефектоскопических материалов одним
ных дефектов при проведении технологических операций конт- из перечисленных способов: протиркой, промывкой, анодной
роля необходимо обеспечить сохранение пенетранта в устье де- обработкой, выжиганием, органическими растворителями.
фекта от момента нанесения до момента его извлечения из дефекта, В некоторых случаях в условиях производства возникает
поэтому операции по нанесению и удалению проникающей жид- необходимость многократного контроля. Перед повторным контро-
кости и нанесению проявителя должны проводиться непосредст- лем проводят полный цикл подготовки изделий, тщательно
венно одна за другой с минимальным интервалом времени, не промывая КО ацетоном, бензином или другими растворителями
следует допускать длительной сушки поверхности после удаления для удаления остатков дефектоскопических материалов из поверх-
пенетранта, длительной промывки КО и т.п. ностных дефектов. Небольшие изделия перед повторным конт-
ролем рекомендуется помещать на несколько часов в растворители
индикаторного красителя. В качестве иллюстрации влияния пер-
вичного контроля на последующие проверки на рис. 4.3 приведены
результаты двух серий (каждая по пять раз) контроля образцов из
стали, на которых при первичном осмотре было обнаружено 11
единичных трещин.

Рис. 4.2. Зависимость от времени испытания расстояния H


между поверхностью образца и мениском индикаторного пенетранта
(при извлечении пенетранта из имитатора поверхностной трещины
раскрытием 0,015 мм)

Осмотр контролируемой поверхности, как правило, проводят


дважды: через 5-6 мин для обнаружения крупных дефектов и через Рис. 4.3. Зависимость суммы площадей индикаторных следов
25-60 мин для обнаружения мелких. При люминесцентном методе единичных трещин S от повторных испытаний при многократном
контроля используют ультрафиолетовое излучение с длиной волны контроле цветным методом с применением набора материалов ДК-7

68 69
Сумма площадей индикаторных следов, обнаруженных на 20 м2. Участок должен быть оборудован приспособлениями для
образцах, изменяется в зависимости от числа проведенных ранее перемещения контролируемых деталей, подводом горячей и
испытаний [2]. холодной воды, сжатого воздуха. Стены и пол помещения должны
Между сериями испытаний образцы помещали на 8-10 ч в быть покрыты легко моющимися материалами. На участке
растворители индикаторного красителя. Из рис. 4.3 видно, что такая контроля необходимо обеспечить циркуляцию воздуха, концентра-
обработка образцов почти полностью исключает влияние загрязне- ция паров применяемых веществ в рабочей зоне не должна превы-
ний дефектов остатками дефектоскопических материалов, исполь- шать ПДК.
зуемых на предыдущих стадиях контроля.
КНК подразделяется на четыре уровня, как указано в табл. 4.2.

Т а б л и ц а 4.2
Характеристики уровней капиллярного метода контроля

Максимальные размеры дефекта в мкм (10-6м)


Уровень
Ширина Глубина Длина
I 1 10 0,1
II 10 100 1
III 100 1000 10
IV Свыше 100 Свыше 1000 Свыше 10

У КНК есть верхний и нижний пределы чувствительности.


Рис. 4.4. К определению чувствительности КНК
Верхний предел определяется наибольшей шириной дефекта, при
которой пенетрант полностью вытекает из него, образуя размытое
облако. Нижний предел определяется настолько малым дефектом, Приборы для КНК выпускаются серийно. В качестве приме-
что проникшего в него пенетранта недостаточно для обнаружения. ров приведём отечественный прибор ЛДА-3 и прибор США «Тин-
Чувствительность КНК определяется геометрическим kг и кер АФБ». Последний позволяет контролировать в течение часа
оптическим kо факторами: KКНК=f(kг, kо), где f – знак функции. до 500 лопаток турбин.
Геометрический фактор определяется как kг=1-y/b, где y – Основные положения, которые необходимо знать при КНК,
ширина устья дефекта, а b – ширина выделившегося пенетранта, следующие.
как показано на рис. 4.4. 1. Подготовку изделий к контролю (удаление жидкостей из
Здесь 1 – контролируемое изделие, 2 – проявитель, 3 – дефект, поверхностных дефектов) можно проводить путем их нагрева или
Bф и Bп – интенсивности света, отражённого от проявителя (фон) нанося на их поверхность проявитель. При нагреве изделий выше
и от выделившегося из дефекта пенетранта. Оптический фактор температуры кипения жидкостей происходит удаление жидкости
определяется отношением интенсивностей света: kо= Bф/ Bп . из дефектов за счет образования пузырьков пара. Температура, при
Капиллярный контроль следует проводить, как правило, на которой происходит выброс жидкости из дефекта, зависит от вели-
специально оборудованном участке контроля площадью не менее чины раскрытия дефекта. При широких трещинах жидкость уда-

70 71
ляется практически мгновенно. При нагреве изделий ниже темпе- поры, язвенная коррозия, выкрашивание материала, эрозион-
ратуры кипения жидкости очистка дефектов происходит за счет ные повреждения поверхности выявляются отдельными точками,
испарения жидкостей и пленочного массопереноса ее по стенкам звездочками (рис.4.7, а).
дефекта. Нанесение проявителя на контролируемую поверхность
обеспечивает удаление жидкости из устья дефектов приблизи-
тельно за 20 мин.
2. Размер индикаторного следа от поверхности единичной
трещины определяется в основном объемом индикаторного пенет-
ранта, находящегося в устье трещины, поэтому надежное выявле-
ние поверхностных дефектов обеспечивается при условии сохране-
ния пенетранта в устье дефекта от момента его нанесения до мо-
мента извлечения его из дефекта.
3. Осмотру с целью обнаружения дефекта не подвергаются
детали, состояние проявителя в зонах контроля которых затрудняет
видимость индикаторных рисунков. Например, при цветовом
варианте КНК осмотру не подвергаются детали, если в слое проя-
вителя имеются пятна не удаленной красной проникающей Рис. 4.5. Трещины на детали, выявленные КНК
жидкости, пятна и потеки масляно-керосиновой смеси, непокры-
тые проявляющей краской участки зоны контроля, частицы пыли,
ветоши, следы каких-либо посторонних материалов (из-за приме-
нения загрязненных инструментов, приспособлений – краско-
распылителей, кистей, захватов и др.).
Общий осмотр проводят невооруженным глазом или с
применением луп малого увеличения с большим полем зрения.
При осмотре отыскивают окрашенный или люминесцирующий
индикаторный рисунок, обращая внимание на основные признаки:
трещины любого происхождения, волосовины, закаты,
неслитины, непровары, неспаи, плены выявляются в виде четких,
иногда прерывистых окрашенных линий различной конфигурации
(рис.4.5, 4.6);
растрескивание материала, межкристаллитная коррозия
участков поверхности крупнозернистых сплавов проявляются в
виде группы отдельных коротких линий или сетки (рис.4.7, б);
межкристаллитная коррозия участков поверхности мелко- Рис. 4.6. Трещина на образце, обнаруженная КНК в процессе
зернистых сплавов выявляется в виде пятен, размытых полос; испытаний на усталость

72 73
Вопросы для самопроверки
1. Чем определяется верхний и нижний порог чувствитель-
ности КНК? Какие дефекты выявляются наиболее полно
методами КНК?
2. Назовите основные этапы КНК.
3. Перечислите основные достоинства и недостатки КНК.
4. От каких факторов зависит размер индикаторного следа?
5. Каковы требования, предъявляемые к проникающей жид-
кости?
6. Какие вещества применяют в качестве проявителя?
7. Перечислите основные приборы, приспособления и мате-
риалы, используемые при КНК.
Рис. 4.7. Дефекты, выявленные методами капиллярной дефектоскопии:
а – язвенная коррозия; б – растрескивание материала

Обнаружение рисунка, соответствующего указанным выше


основным признакам, служит основанием для анализа допусти-
мости дефекта по его размеру, положению, характеру.
К недостаткам КНК следует отнести высокую трудоемкость
контроля при отсутствии механизации; сложность механизации и
автоматизации процесса контроля; большую длительность про-
цесса (от 0,5 до 1,5 ч); снижение достоверности результатов при
отрицательных температурах, необходимость удаления лако-
красочных покрытий и тщательной предварительной очистки
контролируемых деталей; низкую вероятность обнаружения де-
фектов, перекрытых окисными пленками или сжатых значитель-
ными остаточными или рабочими напряжениями в детали;
громоздкость стационарного оборудования; вредность некоторых
дефектоскопических материалов для персонала и необходимость
использования защитных приспособлений и вентиляции; субъек-
тивность контроля, зависимость достоверности результатов от
умения и состояния контролера; ограниченный срок хранения
дефектоскопических материалов, зависимость их свойств от про-
должительности хранения и температуры среды.

74 75
5. МАГНИТНЫЕ МЕТОДЫ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО После намагничивания изделия осуществляется проявление
КОНТРОЛЯ (МНК) дефектов, состоящее в фиксировании магнитного поля над дефек-
том каким-либо методом: порошковым, феррозондовым, магнито-
МНК применяются только для контроля деталей и изделий, графическим и другими методами, которые будут рассмотрены в
изготовленных из ферромагнитных материалов, находящихся в дальнейшем. При этом контроль (выявление) дефектов осуществ-
намагниченном состоянии. МНК основаны на регистрации магнит- ляется двумя способами:
ных полей рассеяния, возникающих над дефектами, поэтому эти 1. Контроль дефектов на остаточной намагниченности
методы позволяют определять только поверхностные и подповерх- контролируемого изделия, пригодный только для магнитотвёрдых
ностные дефекты, залегающие в ферромагнетиках на глубинах, материалов с коэрцитивной силой НС больше 800 А/м (больше 10 Э).
не превосходящих 15 мм. В этом случае проявление дефектов осуществляется после
Дефекты наиболее легко обнаруживаются, когда направле- намагничивания контролируемого изделия и удаления его из
ние намагничивания контролируемой детали перпендикулярно намагничивающего поля.
направлению дефекта. Для оптимального выявления дефектов при 2. Контроль дефектов в приложенном магнитном поле,
МНК намагничивание контролируемых изделий производят в двух применяемый для магнитомягких материалов, у которых коэр-
направлениях, а деталей сложной формы – в нескольких направле- цитивная сила Hс<800 А/м (10 Э). В этом случае проявление дефек-
ниях. тов осуществляется после намагничивания контролируемого изде-
На рис. 5.1 приведена схема образования магнитного поля лия без его удаления из намагничивающего поля, т.к. без приложен-
над дефектом. Контролируемая деталь 1 с трещиной 2 помещена ного внешнего магнитного поля над дефектами образуются слабые
между полюсами NS постоянного магнита (электромагнита). Над магнитные поля рассеяния, не позволяющие выявить дефект. Этим
трещиной возникает магнитное поле рассеяния 3, эквивалентное способом контролируют детали сложной формы, а также в том
маленькому магниту с полюсами NS. случае, когда мощности источника питания недостаточно для
намагничивания всей детали вследствие ее больших размеров; в
приложенном магнитном поле рабочая индукция поля достигается
при почти в четыре раза меньшей напряженности магнитного поля.
После МНК обязательно проводится размагничивание
проконтролированного изделия.

5.1. Способы намагничивания


контролируемых изделий
Качество МНК существенно зависит от способа намагни-
чивания контролируемого изделия. С целью получения максималь-
ной чувствительности и разрешающей способности магнитного
метода неразрушающего контроля применяются различные виды
намагничивания материалов, среди которых пять основных:
продольное (полюсное), циркулярное, комбинированное, парал-
Рис. 5.1. Схема образования магнитного поля над дефектом лельное, способом магнитного контакта.

76 77
Продольным (полюсным) намагничиванием называется При полюсном методе различают продольное
r намагничива-
такое намагничивание, при котором магнитные силовые линии ние, при котором направление вектора H внешнего магнитногоо
часть пути проходят по изделию, а часть – по воздуху. Это намагни- поля совпадает с направлением продольной оси детали (рис. 5.4, а),
чивание осуществляется путём помещения контролируемого и поперечное намагничивание, при котором вектор перпендикуля-
протяжённого изделия правильной формы (цилиндрического, рен продольной оси детали (рис. 5.4, б). Поперечное намагничива-
прямоугольного и т.п.) либо между полюсами постоянного магнита ние в другом направлении прямоугольной детали, как показано
(электромагнита), либо в соленоид. После удаления изделия из на рис. 5.4, в, иногда называют нормальным намагничиванием.
намагничивающего поля за счёт остаточной намагниченности в Циркулярным называется намагничивание, при котором
изделии возникают два магнитных полюса, N и S, как показано на магнитные силовые линии имеют вид концентрических окруж-
рис. 5.2, поэтому такой метод намагничивания назван полюсным. ностей, расположенных в плоскости, перпендикулярной направле-
нию тока. При отсутствии дефектов магнитные силовые линии
замыкаются внутри детали, магнитные полюса не образуются. При
наличии дефекта магнитное поле выходит из детали, как показано
на рис. 5.5.

а) б) в)

Рис. 5.2. Схема спектра магнитного поля вокруг


полюсно намагниченной детали

На рис. 5.3. схематично изображены приемы полюсного


намагничивания. Намагничивание полем стационарного электро-
магнита (рис. 5.3, а) или полем ручного электромагнита (рис. 5.3, б)
позволяет выявлять линейные дефекты, перпендикулярные оси
изделия, а намагничивание полем соленоида (рис. 5.3, в, г) выяв- г) д)
ляет дефекты, перпендикулярные оси изделия. Намагничивание Рис. 5.3. Способы создания полюсного намагничивания:
внешним полем соленоида позволяет выявлять дефекты на внут- а – с помощью стационарного электромагнита; б – с помощью ручного
ренней поверхности отверстия, перпендикулярные оси отверстия (переносного) электромагнита; в, г, д – полем соленоида
(рис. 5.3, д).

78 79
электромагните создает продольное намагничивание детали с
r
напряжённостью магнитного поля Н пр , а переменный ток i ц ,
пропускаемый через деталь, создаёт циркулярное намагничивание
r
детали с амплитудой напряжённости магнитного поля Нц .

Рис. 5.4. Виды полюсного намагничивания:


а – продольное; б – поперечное; в – нормальное;
1 – намагничиваемая деталь; 2 – трещина

Циркулярный метод намагничивания осуществляется либо


пропусканием тока по толстому медному стержню или проводу,
протянутому через деталь (рис. 5.5), либо пропусканием тока не-
посредственно через деталь (рис.5.6). Последний способ приме-
няется для контроля сплошных протяжённых деталей, цилиндри-
ческих полых толстостенных деталей при выявлении дефектов на
внешней поверхности цилиндра, при контроле сварных швов
путём пропускания тока через шов. Прижимные контакты для про-
пускания тока через деталь называются электрокарандашами. Рис. 5.5. Схема циркулярного намагничивания детали
Комбинированным называется намагничивание, при котором пропусканием тока по стержню: 1 – трещина; 2 – поле рассеяния
над трещиной; 3 – стержень; 4 – магнитные линии; 5 – деталь; I – ток
магнитное поле возбуждается одновременно действием двух или
трёх источников полей, например, продольным полем электро-
магнита и одного или двух циркулярных полей прямого тока. При
r r r
этом векторы напряжённостей магнитного поля H1 , H 2 и H 3
складываются векторно, так что результирующий вектор
r r r r
H = H1 + H 2 + H 3 направлен по винтовой линии.
Комбинированное намагничивание обеспечивает максималь-
ную выявляемость дефектов, особенно в деталях сложной формы.
На рис. 5.7 приведены два примера схем комбинированного
Рис. 5.6. Намагничивание полем тока,
намагничивания цилиндрической детали. Постоянный ток i пр в пропускаемого через деталь

80 81
r
При этом вектор результирующего поля Н р колеблется в пределах

Рис. 5.7. Способы комбинированного намагничивания: а – схема намагничивания; б – кривая тока


угла б, как показано на рисунках справа. На первой схеме
циркулярное магнитное поле изменяется с частотой f, а продольное
r r
магнитное поле постоянно. Если Н пр = Нц max , то вектор

намагничивания; в – схема расположения векторов напряженности намагничивающих полей


в)
напряжённости магнитного поля изменяет своё направление в
пределах 900. На рис. 5.7 – угол поворота вектора результирующего
поля.
На второй схеме намагничивание осуществляется выпрям-
ленными однополупериодными токами, сдвинутыми по фазе на
1800. При этом вектор напряженности результирующего магнит-
r
ного поля совпадает либо с вектором продольного поля Н пр , либо
r
с вектором напряжённости циркулярного поля Н ц . Угол б между
r r
векторами Н пр и Н ц равен 900.

б)
На рис. 5.8 приведены другие приемы комбинированного
намагничивания – полем двух или более токов, пропускаемых
через изделие во взаимно перпендикулярных направлениях (а),
полем тока, пропускаемого через стержень, помещенный в
отверстие изделия, и полем тока, индуцированного в изделии (б).
Параллельным называется намагничивание, при котором
провод с намагничивающим потоком расположен параллельно
поверхности контролируемой детали, как показано на рис. 5.9, а,
где 1 – кабель с током, 2 – контролируемое изделие со щелью 3.
Для увеличения намагничивания изделия применяются
дополнительные магнитопроводы 4 в виде полуколец, закреплён-
ных на токоведущем кабеле 1 на расстоянии 3-5 мм друг от друга
и плотно прижатых к изделию 2 (рис 5.9, б).

а)
Полукольца изготавливаются из магнитомягкой стали Ст-3,
стали 10, 20 и др, ширина полуколец обычно составляет 15-40 мм,
диаметр зависит от величины наибольшего тока, протекающего
по кабелю. При пропускании тока через кабель возникает замкну-
тая магнитная цепь: полукольцо – участок детали – следующее
полукольцо. При параллельном намагничивании в стали типа

82 83
а) б)
Рис. 5.8. Некоторые приемы комбинированного намагничивания:
а – полем двух и более токов, пропускаемых через изделие во взаимно Рис. 5.9. Схема параллельного намагничивания детали
перпендикулярных направлениях; б – полем тока, пропускаемого с применением: а – обычного кабеля; б – кабеля с полукольцом;
через стержень, помещенный в отверстие изделия, и полем тока, 1 – кабель с током; 2 – контролируемое изделие; 3 – щель;
индуцированного в изделии 4 – дополнительные магнитопроводы

30ХГСНА удаётся выявить шлифовочные трещины глубиной 0,05- Полюс магнита перемещают по поверхности детали в на-
0,07 мм, скрытые слоем хрома толщиной 50-70 мкм. Такой способ правлении, перпендикулярном направлению распространения
намагничивания целесообразен, если к детали ограничен подход предполагаемых трещин. Ширина эффективно намагниченной
и по ней не разрешается пропускать ток. зоны практически равна ширине зоны контакта детали с полюсным
Способом магнитного контакта называется намагничивание
контролируемого изделия прямолинейным или подковообразным
постоянным магнитом (электромагнитом) путём перемещения
одного из полюсов магнита по поверхности изделия. Между конт-
ролируемой поверхностью и прижимаемым к ней полюсом маг-
нита следует обеспечить хороший магнитный контакт. Второй полюс
магнита должен быть удалён на возможно большее расстояние от
контролируемой поверхности, чтобы уменьшить его размагни-
чивающее действие.
На рис. 5.10 показан пример применения способа магнитного
контакта при намагничивании цилиндрической детали 1. К её боко-
вой поверхности 2 прижат полюсный наконечник 3 полюса N пря-
мого постоянного магнита. Наконечник 3 перемещается вокруг
Рис. 5.10. Схема намагничивания участка детали
цилиндра из начального положения НН в конечное положение КК. способом магнитного контакта

84 85
наконечником, а длина равна расстоянию между начальным и В соответствии с указанными требованиями применяются
конечным положениями полюса магнита. четыре основных способа регистрации дефектов при МНК: 1) по-
Для контроля деталей цилиндрической формы магнит рошковый способ; 2) магнитографический способ; 3) феррозондо-
перемещают по винтовой линии. Путь перемещения не должен вый способ; 4) способ преобразователей Холла и магниторезисторов.
быть замкнут. Расстояние l между начальным и конечным Порошковый способ регистрации дефектов состоит в нане-
положениями должно составлять не менее 1/3 части окружности сении порошка ферромагнитного материала на намагниченное
цилиндра, если его диаметр d менее 30 мм. При d>30 мм величина контролируемое изделие и в регистрации скоплений этого порошка
l≈20÷30 мм. В противном случае может произойти размагничива- а- вблизи дефектов. Над дефектом образуются локальные магнитные
ние или даже перемагничивание детали. поля рассеяния. На попавшие в поле частицы действуют пондеро-
При контроле плоских поверхностей полюс магнита переме- моторные силы, стремящиеся затянуть их в места наибольших
щают на расстояния, превышающие контролируемый участок в концентраций магнитных силовых линий. Частицы накапливаются
обе стороны на 20-30 мм. вблизи дефекта и одновременно намагничиваются полем рассеяния
Для хорошего намагничивания и, следовательно, хорошего дефекта. Притягиваясь друг к другу, эти частицы образуют цепо-
выявления трещин напряженность магнитного поля у полюса маг- чечные структуры, ориентированные по магнитным силовым
нита должна быть не менее 70-80 тыс. А/м (900÷1000 Э). линиям поля дефекта. В результате происходит накопление частиц
Выбор способа намагничивания зависит, в частности, от осевшего порошка в виде полосок (валиков, жилок, шнуров) над
направления распространения дефектов по детали. Выбирают дефектом. Ширина полоски из осевшего порошка значительно
такой способ намагничивания, при котором угол б между векто- больше ширины трещины, волосовины, поэтому магнитопорошко-
рами напряженности магнитного поля и направлением распростра- вым способом могут быть выявлены мельчайшие трещины и
нения дефектов близок к 90є, при этом достигается наибольшая другие поверхностные дефекты, невидимые при визуальном осмотре.
чувствительность метода. При углах б < 20ч30є чувствительность В качестве ферромагнитного материала наиболее часто
значительно снижается, а при б ≈ 0є не обнаруживаются дажее используются черные порошки окислов магнетита Fe3O4, пред-
очень крупные дефекты. Если неизвестно направление распростра- ставляющего смесь закиси железа FeO и окиси железа Fe2O3. Нес-
нения трещин или деталь имеет сложную форму, намагничивание колько реже используется ферромагнитная окись железа Fe2O3. Для
проводят в двух и более направлениях, нанося суспензию и осмат- получения буровато-красных порошков используется красная
ривая деталь после каждого намагничивания. гамма окись железа γ – Fe2O3. Для изготовления светлых порошков
Для выявления различно ориентированных дефектов одной используются специально приготовленные смеси железного и
операцией намагничивания рекомендуется применять комбини- никелевого порошков и алюминиевой пудры.
рованное намагничивание. Применяются два способа нанесения ферромагнитного
порошка на контролируемое изделие.
5.2. Способы регистрации дефектов при МНК “Сухой” способ состоит в нанесении на изделие высоко-
дисперсного порошка с размерами частиц 0,1-10 мкм в воздушной
При магнитном контроле применяются различные способы
взвеси, получаемой распылением порошка в специальных уста-
регистрации дефектов. Их выбор обусловлен следующими факто-
новках. Этот способ применяют для обнаружения подповерхност-
рами: 1) геометрией контролируемого изделия; 2) необходимой
ных дефектов, а также дефектов под слоем немагнитного покрытия
чувствительностью контроля; 3) заданной разрешающей способ-
толщиной до 200 мкм.
ностью контроля; 4) производительностью контроля.

86 87
Другой способ нанесения сухого порошка на изделие В этой суспензии иногда хромпик заменяется химически
применяется для грубодисперсионных порошков с размером час- чистым нитритом натрия в количестве 15 г. В других составах
тиц от 0,05 до 2 мм. В этом случае порошок наносится с помощью вместо хромпика и эмульгатора применяется мыло хозяйственное
пульверизатора, резиновой груши или качающегося сита. Этот в количестве всего 1 г.
способ применяется для обнаружения относительно крупных Для облегчения обнаружения дефектов вместо черного
поверхностных и подповерхностных дефектов, а также для конт- магнитного порошка в указанные суспензии вводят магнитно-
роля деталей с грубо обработанной поверхностью. люминесцентный порошок в количестве 4 г. Люминофорами в
“Мокрый” способ нанесения магнитного порошка на поверх- порошке служат флюоресцентные смолы, растворители смол, такие
ность намагниченного контролируемого изделия осуществляют как хлористый метилен, люминоген светло-желтый (15 г на 100 г
путем полива изделия суспензией магнитного порошка или путем магнитного порошка). При облучении ультрафиолетовым светом
погружения изделия в ванну, наполненную суспензией. Магнитная кварцевых ламп со светофильтрами магнитные порошки с люмино-
суспензия должна стечь с поверхности, т.е. изделие располагают форами ярко светятся. Светофильтры применяют для исключения
с наклоном. Возможен контроль без извлечения деталей из суспен- видимого света.
зии для осмотра. Такой способ, например, рекомендуется для В зависимости от способа магнитного контроля – в прило-
обнаружения шлифовочных трещин под слоем хрома толщиной
женном магнитном поле или на остаточной намагниченности, от
до 0,2 мм. Схема контроля представлена на рис. 5.11. Через деталь 2,
формы контролируемой поверхности, от чистоты ее обработки
погруженную в ванну 1 с суспензией 5, по токопроводящим шинам
применяются разнообразные суспензии, жидкой фазой которых
6 пропускают ток I = (10…15)D, где D-диаметр детали, мм. При
кроме воды являются керосин, масла и их смеси.
этом происходит осаждение порошка над дефектами.
Контролируемую деталь осматривают, не извлекая ее из Результаты контроля оценивают по наличию на КО валика
ванны, применяя экран 3 с прозрачным дном 4, профилированным магнитного порошка, видимого глазом или через лупу с 2-4 – крат-
по форме детали. Наиболее часто применяются водные суспензии, ным увеличением, воспроизводимого каждый раз при повторном
в одном литре которых содержится черный магнитный порошок – нанесении суспензии или порошка. Четкий, нерасплывшийся валик
20 г, хромпик калиевый K2Cr2O7 – 4 г, сода кальцинированная – 10 г, свидетельствует о дефекте, выходящем на поверхность, расплыв-
эмульгатор ОП-7 или ОП-10 – 5 г. шийся валик – о подповерхностном дефекте. Длина валика равна
протяженности дефекта ± погрешность, равная ширине валика.
Магнитопорошковый метод позволяет выявлять трещины с шири-
ной раскрытия 0,001 мм, глубиной 0,01 мм и более.
Для определения дефектов под толстым слоем немагнитного
покрытия, для контроля участков деталей с ограниченными подхо-
дами, для выявления дефектов в шаровых соединениях без
разборки и дефектов на внутренних поверхностях глубоких отверс-
тий в качестве эмульсий применяют каучуковую смесь с ферро-
магнитным порошком. Эту смесь наносят на контролируемое
изделие путем полива, а дефекты обнаруживают по распределению
Рис. 5.11. Схема контроля детали магнитного порошка в отпечатке (реплике) – в затвердевшей каучу-
с осмотром ее под слоем жидкости ковой смеси. Каучуковая смесь фактически представляет собой

88 89
дефектограмму – запись распределения дефектов. Разработано может происходить, например, при структурной неоднородности,
несколько способов изготовления съемных дефектограмм, которые по границе раздела участков с резко отличающимися структурами.
могут подлежать архивированию. Осаждение порошка при этом неплотное, в виде широкой полосы
Один из них использует бумажную кальку толщиной до 30 мкм. с размытыми границами. При одном и том же способе намагни-
Калька плотно накладывается на поверхность контролируемой чивания осаждение порошка происходит на всех деталях и в одних
детали, образец намагничивают, и на поверхность кальки наносят и тех же местах. Знание конструктивных особенностей деталей и
клеевую суспензию на основе легко высыхающего клея. Жидкий технологии изготовления позволяет распознать такой мнимый
клей быстро высыхает, и осевший над дефектами порошок остается дефект. Осаждение порошка в местах резкого уменьшения сечения
прочно приклеенным к подложке. Подкладка снимается с детали детали можно избежать, дополнив сечение детали ферромагнит-
и может храниться длительное время. При других способах получе- ным предметом, например, вставив болт. При повторном намагни-
ния дефектограмм применяют целлофан и резиновый клей; чивании и нанесении суспензии осаждение порошка обычно не
закрепляющий лак, наносимый на магнитный порошок после происходит, если в этом месте нет дефекта типа нарушения сплош-
контроля; липкую прозрачную ленту, которую наклеивают на ности металла.
закрепленный лаком магнитный порошок. Также дефектограммы Возможно также осаждение порошка на следе соприкос-
получают фотографированием распределения магнитного порошка новения намагниченной детали с каким-либо острым ферромаг-
по поверхности контролируемой детали. Основная трудность пос- нитным предметом (рис. 5.12). Для расшифровки такого дефекта
леднего способа состоит в устранении световых бликов. деталь необходимо повторно намагнитить.
Для магнитопорошкового способа регистрации контроль на После повторного намагничивания осаждения магнитного
остаточной намагниченности имеет некоторые преимущества порошка в месте соприкосновения детали с ферромагнитным пред-
перед контролем в приложенном магнитном поле: возможность метом не будет. Чтобы отличить дефекты, выходящие на поверх-
установки детали в любое требуемое положение для хорошего ность, от ложных, в качестве контрольных можно применять капил-
освещения поверхности и осмотра; возможность нанесения лярные методы контроля.
суспензии как путем полива, так и путем погружения в ванну с Магнитопорошковую дефектоскопию проводят при темпера-
суспензией одновременно нескольких изделий; простота туре не ниже 100С и не выше 400С на специально оборудованном
расшифровки результатов контроля, т.к. при контроле порошок в
меньшей степени оседает по рискам, наклепу, местам грубой обра-
ботки поверхности и т.п.; меньшая возможность прижога деталей
в местах их контакта с электрокарандашами, так как для остаточ-
ного намагничивания ток пропускают по детали кратковременно
(0,01-1с). При контроле в приложенном магнитном поле сначала
наносят порошок или суспензию на деталь, помещают ее, напри-
мер, в соленоид и включают ток в обмотках. Медленно вытаскивая
деталь из соленоида, наблюдают за распределением магнитного
порошка на детали у выходного окна катушки.
Осаждение магнитного порошка не всегда указывает на Рис. 5.12. Осаждение магнитного порошка в месте касания
наличие дефекта. Образование поля рассеяния мнимого дефекта намагниченной детали ферромагнитным предметом

90 91
участке. Контроль осуществляют с помощью универсальных или 6 с роликами 5. Последние служат для облегчения перемещения
специализированных дефектоскопов, позволяющих получать электромагнита вдоль сварного шва.
необходимые поля и создавать оптимальные условия контроля. Магнитная лента, применяемая для регистрации полей
В комплект дефектоскопа входят намагничивающие устройства, рассеяния, аналогична применяемой в звукозаписи и, как правило,
устройства для перемещения деталей на позиции контроля, при- состоит из слоя магнитного порошка оксида железа, взвешенного
способления для обработки деталей индикаторными составами, в лаке, и немагнитной основы из ацетилцеллюлозы, полиэфиров
осветительные и измерительные устройства. Современные де- или лавсана. Разработаны также специально для магнитографичес-
фектоскопы комплектуются также устройствами для размагничи- кого контроля металлические ленты.
вания суспензий и изделий. Размагничивание изделий контроли- Считывание записи на магнитной ленте осуществляют с по-
руют с помощью приборов типа ФП-1. мощью кольцевой воспроизводящей головки, схема которой пока-
При проведении контроля оператору необходимо соблюдать зана на рис. 5.14.
определенные требования безопасности, так как для намагничива- Магнитная головка состоит из двух полуколец 1, набранных
ния деталей, например, циркулярным способом через них про- из пластин магнитомягкого материала (50НХС, 80 НХС, 79НМА
пускаются большие токи. Основные требования при этом следую- и др.) толщиной 0,1-0,2 мм. Обмотка головки состоит из двух иден-
щие: обязательное заземление дефектоскопа, использование тичных катушек 2, имеющих по 2000-3000 витков.
педальных и кнопочных переключателей, соблюдение общих пра- При воспроизведении записи лента 3 перемещается относи-
вил использования электроустановок потребителями. тельно головки 1, часть поля рассеяния замыкается через головку,
Магнитографический способ регистрации дефектов заклю-
чается в записи магнитных полей рассеяния над дефектом на
магнитную ленту путем намагничивания контролируемого участка
изделия вместе с прижатой к его поверхности магнитной лентой
и в последующем воспроизведении и расшифровке полученной
магнитной записи. При магнитографическом контроле изделия 5
намагничивают с помощью электромагнитов, реже применяют
циркулярное намагничивание. Для обнаружения внутренних де-
фектов намагничивание производят постоянным током, а для обна-
ружения поверхностных и подповерхностных дефектов – пере-
менным током.
Для примера на рис. 5.13 показана схема регистрации де-
фектов сварных швов магнитографическим методом: сварной шов
1 с дефектом 2 находится в детали 3; поле рассеяния от дефекта 2
Рис. 5.13.Схема намагничивания Рис. 5.14. Схема кольцевой
фиксируется магнитной лентой 4, наложенной на сварной шов 1 и
сварного шва вместе с магнитной воспроизводящей головки:
прижатой к нему резиновым поясом (на рисунке не показан). лентой: 1 – сварной шов; 2 – дефект; 1 – магнитная головка; 2 – две
Намагничивающее поле создается постоянным электромагнитом 3 – деталь; 4 – магнитная лента; катушки; 3 – магнитная лента
5 – ролики; 6 – электромагнит

92 93
как показано на рис. 5.14, и наводит в катушках 2 ЭДС индукции Е. минимально допустимых размеров. Затем регистрируются все де-
Для регистрации сигналов Е применяется осциллографическая фекты, амплитуда импульса от которых превышает амплитуду
трубка с электронными блоками, такими же, как в магнитофонах. импульса от эталонного дефекта.
На рис. 5.15 показана структурная схема магнитографичес- Чувствительность магнитографического метода контроля опре-
кого дефектоскопа. Здесь 1 – лентопротяжный механизм, 2 – усили- деляется как отношение вертикального размера (глубины) ∆S мини-
тель, 3 – генератор развертки, 4 – электронно-лучевая трубка, мально выявляемого дефекта к толщине S основного металла КО:
5 – стирающее устройство, 6 – блок питания, 7 – магнитная лента,
МГ – воспроизводящая головка. K = ∆S / S.
Магнитографией уверенно выявляются плоскостные де-
фекты (трещины, непровары), а также протяженные дефекты в
виде цепочки шлака, ориентированные поперек направления
магнитного потока. Чувствительность магнитографического
метода к поверхностным дефектам такая же или несколько хуже,
чем у магнитопорошкового. С увеличением глубины залегания де-
фекта его выявляемость ухудшается (практически возможно
обнаружение дефекта с вертикальным размером не менее 10-15%
толщины изделия на глубине залегания до 20-25 мм). Округлые
внутренние дефекты выявляются значительно хуже. Уверенно
обнаруживаются внутренние плоскостные дефекты, когда их
вертикальный размер составляет ∆S ≈ 8 ÷ 10% толщины сварногоо
Рис. 5.15. Блок-схема магнитографического дефектоскопа: шва; внутренние округлые дефекты возможно обнаружить только
1 – лентопротяжный механизм; 2 – усилитель; 3 – генератор развертки;
4 – электронно-лучевая трубка; 5 – стирающее устройство; при ∆S ≈ 20% .
6 – блок питания; 7 – магнитная лента Феррозондовый способ регистрации дефектов в намагничен-
ных материалах осуществляется с помощью магниточувствитель-
ных приемников – феррозондов, состоящих из одинаковых магнит-
Для индикации сигналов применяются магнитографические
ных сердечников с четырьмя обмотками, в которых наводится ЭДС
дефектоскопы МД-9, МД-11, МДУ-2У, МД-10ИМ и др. МДУ-2У
магнитным полем, рассеянным дефектами в контролируемом
имеет двойную индикацию (импульсная индикация и видеоиндика-
изделии.
ция сигналов от дефекта), линейную скорость воспроизведения
Сердечники феррозондов изготавливаются из магнито-
12500 мм/с, время одноразовой разверстки кадров 3 с, коэф-
мягких материалов, которые обладают малой коэрцитивной силой;
фициенты усиления каналов импульсной индикации 12 ⋅ 10 4 ,
обычно это пермоллой.
видеоиндикации - 9⋅104, число строк в кадре 300 при ширине зоны
воспроизведения на ленте не менее 28 мм. Некоторые данные по Схема феррозонда показана на рис. 5.16. Феррозонд состоит
приборам МНК приведены в приложении. из двух параллельных сердечников С1 и С2 – полузондов, каждый
Перед воспроизведением дефектоскоп настраивают по из которых имеет по две обмотки: одну – возбуждающую перемен-
эталонной магнитограмме с записью магнитного поля дефекта ное магнитное поле (обмотки n1′ и n1′′ ), которым намагничиваются
ся

94 95
сердечники, и другую – индикаторную (обмотки n ′2 и n ′2′), для
регистрации ЭДС, наведенной магнитным полем, рассеянным
дефектом.
В зависимости от схемы соединения обмоток феррозонда
последним можно производить измерения либо напряженности
r rr
H магнитного поля, либо градиента этого поля ∆H . В первом
ом
случае феррозонд называется полемером, а во втором случае –
градиентомером. На рис. 5.17 показаны схемы соединения обмоток
феррозондов.
У полемера (рис. 5.17, а) одинаковые первичные обмотки
включены встречно, их магнитные поля компенсируют друг друга,
индукции В1 и В2 в полузондах одинаковы, поэтому ЭДС во вто-о-
ричных обмотках равны нулю.
При воздействии на феррозонд рассеянного дефектом
r Рис. 5.17. Схема феррозонда-полемера (а)
постоянного магнитного поля Н симметрия в намагниченности и феррозонда-градиентомера (б)
сердечников С1 и С2 нарушается, индукции В1 и В2 различны, и в
d циональная рассеянному полю. Так как индикаторные обмотки
обмотках n ′2 и n ′2′ наводится ЭДС е2 = ( B1 + B2 ) , пропор-
dt n ′2 и n ′2′ соединены последовательно, то их ЭДС складываются и
на выходе феррозонда появляется ЭДС , частота которой в два
раза выше частоты возбуждающего поля. Эта ЭДС пропор-
циональна сумме полей Н 1 + Н 2 , действующих на сердечники
полузондов: е2 = kµ ( H 1 + H 2 ) .
У феррозонда-градиентомера (рис.5.17, б) намагничиваю-
щие обмотки n1′ и n1′′ включены последовательно. Наводимое ими
переменное поле намагничивает сердечники С1 и С2 полузондов,
возбуждая ЭДС в индикаторных обмотках n ′2 и n ′2′. Однако послед-
д-
ние включены встречно, поэтому ЭДС на выходе феррозонда равна
нулю. При воздействии постоянного магнитного поля рассеяния
r
Н индукцииВ1 и В2 становятся различными, на выходе ферро-
Рис. 5.16. Схема феррозонда для измерения
напряженности магнитного поля
зонда появляется ЭДС e =
2
d
dt 1
( )
B – B . Эта ЭДС пропор-
2

96 97
r r мера около 20 мВ/(А/см), градиентомера – 3,5 мВ/(А/см); рабочая
циональна разности магнитных полей Н1 и Н 2 , действующих на
частота 100 или 130 кГц, длина сердечника 2 мм, диаметр сердеч-
r r r r
сердечники полузондов, и поэтому е 2 = kµ ( H 1 − H 2 ) ≈ kµ ∇ H . ника 0,1 мм, диаметр рабочей части феррозонда 5 мм. Градиенто-
меры обладают более высокой чувствительностью и большей
Здесь и выше µ – магнитная проницаемость материала сердеч- помехозащищенностью, чем полемеры. Для автоматического конт-
ников, k – коэффициент пропорциональности, зависящий отт роля и сортировки стальных деталей по твердости применяется,
взаимоиндукции обмоток. По сравнению с феррозондом – поле- например, установка УФСТ-61. Технические характеристики неко-
мером на показания градиентомера не влияют посторонние торых приборов МНК приведены в приложении.
магнитные поля, имеющие гораздо меньший градиент, чем поле Способ регистрации дефектов с помощью преобразова-
дефекта. телей Холла и магниторезисторов. Принцип действия преобра-
На рис 5.18 приведена структурная схема феррозондового зователя Холла основан на возникновении ЭДС Uу между гранями
прибора с выходом по второй гармонике. Сигнал с феррозонда 1 А и В прямоугольной пластины из полупроводникового материала
после резонансного усилителя 2 подается на детектор 3. Феррозонд (рис. 5.19), по которому протекает ток I в направлении, перпенди-
возбуждается генератором 4, работающим на частоте f. кулярном АВ, когда плоскость пластины пересекается постоянным
Так как на выходе феррозонда появляется сигнал с частотой магнитным полем с индукцией BZ .
2f, то усилитель 2 настроен на эту частоту. Сигнал с генератора 4
через удвоитель частоты 5 подается также на детектор 3, где
создает опорное напряжение. С детектора 3 сигнал поступает на
индикатор И, показания которого пропорциональны либо
напряженности магнитного поля, рассеянного дефектом, либо
градиенту этого поля – в зависимости от схемы включения обмоток
феррозонда (рис. 5.17, а, б).
Феррозонды, применяемые в промышленности, имеют дос-
таточно малые размеры – диаметром от 2 до 6 мм.
Серийно выпускаются феррозонды типов ФП, ФГ и ФГК.
Они имеют следующие характеристики: чувствительность поле-

Рис. 5.18. Структурная схема феррозондового прибора


с выходом по второй гармонике Рис. 5.19. Схема работы датчика Холла

98 99
Магнитное поле B Z представляет поле рассеяния на дефек- деталей притягивают ферромагнитные продукты износа, что вызы-
тах. Величина ЭДС Холла Uу связана с индукцией B Z формулой вает ускоренный выход деталей из строя. При быстром вращении
намагниченных деталей в соседних массивных деталях могут
Uy= –ВВZ, где постоянная в = R I / h , RH – постоянная Холла
H возбуждаться значительные вихревые токи. Неразмагниченные
для данного материала в ОмМм/Тл; h – толщина в м; I – про- детали могут нарушить ход часов и тому подобных механизмов.
текающий через пластину ток в А. Если магнитная индукция B Z Любое размагничивание (кроме нагревания КО выше темпе-
измеряется в теслах, то значение Uу получается в вольтах. Так как ратуры Кюри) сводится к периодическому изменению величины
выходное напряжение датчика пропорционально составляющей и направления магнитного поля, в котором находится КО, с посте-
поля, нормальной к его плоскости, возможно измерение экстре- пенным уменьшением этого поля до нуля. На рис. 5.20 представлен
мальных значений напряженности. Преобразователь имеет линей- график изменения индукции в детали при размагничивании.
ную зависимость выходного напряжения от напряженности поля Когда напряженность размагничивающего поля достигнет
в широких пределах. нулевого значения, остаточная индукция в детали будет также
Основными полупроводниковыми материалами, исполь- близка к нулю.
зуемыми при промышленном изготовлении преобразователей Обычно применяют следующие способы размагничивания:
Холла, являются кремний Si, германий Ge, арсенид галлия GaAs. - медленное протаскивание намагниченного КО через
Кремниевые датчики (преобразователи) Холла обозначаются отверстие катушки, питаемой переменным током частоты 50 Гц.
буквами ДХК, германиевые – ДХГ, арсенид-галиевые – ХАГ. Токи I, Деталь удаляют на расстояние не менее 1 м от катушки. В этом
протекающие через преобразователи разных типов, лежат в случае переменное поле, обладая ограниченной глубиной проник-
пределах от 4 до 25 мА; пределы измеряемых магнитных полей новения, эффективно размагничивает только поверхностный слой
составляют 10-4 Тл; габаритные размеры колеблются в следующих детали;
пределах: толщина от 0,02 до 0,7 мм; длина от 2 до 11 мм, ширина
от 2 до 7 мм. Такие размеры датчиков Холла позволяют проводить
измерения в узких зазорах, отверстиях небольшого диаметра.
При измерении рассеянных дефектами сильных магнитных
полей с индукцией больше 0,2 Тл применяются полупроводни-
ковые преобразователи – магниторезисторы из антимонида индия
InSb и арсенида индия InAs. Принцип действия этих преобразова-
телей основан на возрастании омического сопротивления полу-
проводникового материала при внесении его в магнитное поле.

5.3. Размагничивание изделий


После контроля изделие необходимо размагнитить, так как
остаточная намагниченность может вызвать нежелательные
последствия. Например, поверхности плохо размагниченных под- Рис. 5.20. График изменения индукции в детали
шипников, других вращающихся и соприкасающихся при работе при размагничивании

100 101
- пропускание переменного тока, равного намагничиваю-
щему, непосредственно через деталь с постепенным уменьшением
его до нуля;
- коммутацию постоянного тока в соленоиде или в обмотках
электромагнита с постепенным снижением тока до нуля;
- использование электромагнита, питаемого переменным то-
ком, постепенно снижаемым до нуля.
Лучший результат достигается с использованием тех же
средств, что применялись при намагничивании. Начальное поле Рис.5.21. Принципиальная схема
размагничивания должно быть не меньше поля, действовавшего дефектоскопа У-604-68
при намагничивании. Ток не должен выключаться, когда деталь
находится в сфере влияния поля; направления намагничивающего В комплект дефектоскопа входят ванночка, соленоиды диа-
и размагничивающего полей должны совпадать. метром 110 и 210 мм, намагничивающий кабель сечением 70 мм2
Для качественного контроля размагничивания можно и длиной 3 м, а также стержни для намагничивания.
использовать притяжение малых магнитных масс. С этой целью Наибольший ток, потребляемый от однофазной сети с напря-
подводят нижний конец цепочки из 6-10 канцелярских скрепок к жением 220В, составляет 500А, наибольший выпрямленный одно-
детали и по отклонению цепочки от вертикального положения полупериодный ток – 10000А, переменный – 7500 А. Наименьший
(вследствие ее притяжения к детали) судят о размагниченности ток при намагничивании – 40...60А. Наибольшая напряженность
детали. поля в соленоиде диаметром 110 мм равна 64000А/м (800 Э), в
соленоиде диаметром 210 мм – 48000 А/м (600 Э).
5.4. Приборы и установки для МНК Дефектоскоп снабжен гидравлической системой с насосом
Основным прибором МНК является магнитный дефектоскоп. для перемешивания суспензии во избежание оседания магнитного
Универсальный магнитный дефектоскоп У-604-68 порошка на дно бачка и подачи суспензии по шлангу на проверяе-
мые детали. Габариты универсального магнитного дефектоскопа
(рис. 5.21). Контролируемая деталь помещается в зажимное уст-
У-604-68: длина 2800 мм, ширина 950 мм, высота с приборным
ройство ЗУ, подсоединенное ко вторичной обмотке силового
щитком 1775 мм.
трансформатора Тр. Блок германиевых вентилей ВП обеспечивает
Универсальный магнитный дефектоскоп УМД – 9000.
намагничивание контролируемой детали выпрямленным одно-
Схема дефектоскопа показана на рис. 5.22.
полупериодным током. Если вентили ВП шунтируются контактами
К4, намагничивание осуществляется переменным током.
Первичная обмотка понижающего трансформатора Тр под-
ключена к сети переменного тока 380/220В через магнитные усили-
тели МУ1 и МУ2. С помощью потенциометра R изменяется ток
от нуля до максимальной величины.
При размагничивании детали выключают ток управления
усилителей, в результате чего возникает переходный процесс в виде Рис. 5.22. Принципиальная схема
затухающей синусоиды и деталь размагничивается в течение 5 -6 с. универсального магнитного дефектоскопа УМД-9000

102 103
Силовой трансформатор ТР питается от сети переменного Вопросы для самопроверки
тока через автотрансформатор АТ, который позволяет регулировать
1. Для изделий из каких материалов можно применять МНК?
ток во вторичной обмотке Тр. К последней с помощью переключа-
Какие дефекты можно обнаружить этими видами конт-
теля П подключается либо зажимное устройство ЗУ, либо соленоид
роля?
С. Контактор К служит для выключения тока при остаточном
2. Назовите основные способы и приемы намагничивания.
намагничивании. Наибольший намагничивающий ток 9000 А при
Чем определяется выбор способа намагничивания?
питании от сети напряжением 380 В, максимальная длина
3. Изобразите направление силовых линий магнитного поля
контролируемых деталей до 1700 мм, диаметр – до 900 мм.
при полюсном и циркулярном намагничивании.
Габаритные размеры: 2500х910х570 мм.
4. Что такое электрокарандаш? Каково его назначение? Какие
Передвижной магнитный дефектоскоп ДМП-2. Схема
требования, на ваш взгляд, должны предъявляться к мате-
дефектоскопа показана на рис. 5.23.
риалу для него?
Силовой понижающий трансформатор Тр подключен к сети
5. Почему полюс магнита при параллельном намагничива-
через регулирующий силу тока автотрансформатор АТ. Со вторич-
нии перемещают в направлении, перпендикулярном пред-
ной обмотки трансформатора Тр через двухполупериодный выпря-
полагаемому направлению дефектов?
митель В1 на клеммы 1 подается постоянный ток силой до 350А
6. Какой способ намагничивания предпочтительнее, на ваш
для циркулярного намагничивания при помощи электрокаранда-
взгляд, для контроля продольных трещин на цилиндри-
шей. На клеммы 2 подается переменный ток силой до 1300А для
ческих и конических поверхностях? Для выявления тре-
циркулярного намагничивания при помощи магнитных присосок.
щин на торцевой, боковой внутренней и внешней поверх-
Клеммы 3 служат для питания постоянным током электро-
ностях тонкостенных колец? Поперечных трещин на внут-
магнита, в приложенном поле которого осуществляется контроль.
ренней поверхности толстостенного стакана? Обоснуйте
В комплект дефектоскопа входит переносной бачок с насо-
свой ответ, нарисуйте выбранный способ намагничивания,
сом для подачи суспензии по шлангу к контролируемым деталям.
схему расположения детали и направление трещины.
Габариты дефектоскопа: 720х490х910 мм, вес – 265 кг.
7. От каких факторов зависит глубина проникновения маг-
Дополнительные сведения по аппаратуре магнитного конт-
нитного поля?
роля приведены также в приложении И.
8. Нарисуйте направления результирующего магнитного поля
для комбинированного намагничивания, представленного
схемами на рис. 5.8, а, б.
9. Перечислите основные операции, необходимые для про-
ведения МНК.
10. Назовите основные виды регистрации дефектов при МНК.
Каким образом можно сохранить результаты контроля
для последующего анализа?
11. Поясните, почему при порошковой дефектоскопии над
Рис. 5.23. Принципиальная схема передвижного дефектоскопа ДМП-2:
дефектом возникает валик из частиц магнитного порошка.
1, 2 – клеммы питания для циркулярного намагничивания; 12. Принцип работы феррозонда. В чем отличие феррозонда
3 – клеммы питания для намагничивания приложенным полем – полемера от феррозонда – градиентомера?

104 105
13. Известно, что в детали цилиндрической формы из аусте- 6. ТОКОВИХРЕВОЙ КОНТРОЛЬ (ТВК)
нитной стали имеется подповерхностный дефект, ориенти-
рованный вдоль оси детали. Какой способ намагничива- Токовихревой контроль основан на анализе изменения
ния вы выберете? В каком поле будете проводить контроль? электромагнитного поля вихревых токов под действием тех или
Что изменится, если деталь выполнена из конструкцион- иных неоднородностей КО. Так как вихревые токи могу возбуж-
ной стали? даться в электропроводящих материалах, этот метод контроля
14. От каких факторов зависит чувствительность магнито- может быть использован для любых металлов.
порошкового вида МНК? Магнитографического МНК? Возбудителем вихревых токов может быть поле движу-
щегося магнита, переменное поле тока в проводе, волна радио-
излучения. Чаще всего вблизи поверхности контролируемого изде-
лия помещается возбуждающая вихревые токи катушка индук-
тивности с переменным током или комбинация нескольких
катушек. В свою очередь, электромагнитное поле вихревых токов
воздействует на катушки преобразователя, наводя в них электро-
движущую силу или изменяя их полное сопротивление. Сигнал
может формироваться в той же обмотке, по которой идет возбуж-
дающий ток, или же используется дополнительная катушка или
катушки.
Для контроля все изделие или его часть помещают в поле
датчика (рис. 6.1).

Рис. 6.1. Линии напряженности магнитных полей Н0, Нв


и плотности вихревых токов д при контроле накладным (а)
и проходным (б) датчиком

106 107
Вихревые токи возбуждают переменным магнитным пото- 6.1. Преобразователи для ТВК
ком Ф0. Информацию о свойствах изделия датчик получает через Токовихревой дефектоскоп состоит из генератора, преоб-
магнитный поток Фв, созданный вихревыми токами с плотностью д. разователя, усилителя, анализатора изменения поля (амплитудный
Векторы напряженности возбуждающего поля Н0 и поля вихре- или частотный детектор, фазочувствительный элемент) и индикатора.
вых токов Нв направлены навстречу друг другу; электродвижущая В зависимости от заданного параметра контроля существуют
сила в обмотке датчика пропорциональна разности потоков Ф0 - Фв. различные схемные решения приборов и различные преобразова-
Регистрируя напряжение на катушке или ее сопротивление, тели. Преобразователи ТВК по рабочему положению относительно
можно получить сведения о контролируемом изделии. Напряжение КО делят на накладные и проходные.
и сопротивление катушки зависят от многих параметров, что Накладные преобразователи представляют собой одну или
обусловливает широкие возможности ТВК (дефектоскопия, несколько катушек, подводимых торцом к поверхности объекта
толщинометрия, структурометрия, сортировка металла по маркам, (рис. 6.2, а). Их выполняют с ферритными сердечниками, повы-
контроль состояния поверхности и т.д.). С другой стороны, это шающими чувствительность и локализирующими зону контроля,
обстоятельство затрудняет разделение информации о различных или без них. Электромагнитная волна от полезадающей системы
параметрах объекта и требует использования специальных спо- распространяется в направлении КО (рис. 6.1, а). Накладные пре-
собов фильтрации шумов. образователи применяют для контроля плоских поверхностей или
Для анализа изменения электромагнитного поля обычно для деталей сложной формы, а также в тех случаях, когда требуется
используют активное и индуктивное сопротивление катушки, обеспечить локальность контроля и высокую чувствительность.
амплитуду напряжения, сдвиг фаз измеряемого и опорного напря- Проходные преобразователи бывают наружные и внутрен-
жений. Глубина проникновения вихревых токов зависит от частоты ние (рис. 6.2, б). Электромагнитная волна от полезадающей
электромагнитных колебаний, электрических и магнитных харак- системы в этом случае распространяется вдоль поверхности КО
теристик металла, формы катушки и поверхности изделия. Обычно (рис. 6.1, б).
она колеблется от долей миллиметра до 1-3 мм.
Чувствительность метода зависит от многих факторов; при
благоприятных условиях удается выявить трещины глубиной
0,1-0,2 мм протяженностью 1-2 мм, расположенные на глубине до
1 мм.
ТВК можно проводить без контакта между катушкой и а)
металлом, зазор может составлять от долей миллиметра до нес-
кольких миллиметров. Это позволяет свободно перемещать пре-
образователь, что существенно для автоматизации процесса конт- б)
роля. Выходной величиной ТВК является электрический сигнал,
что позволяет автоматически регистрировать результаты контроля. Рис. 6.2. Расположение накладных (а) и проходных (б)
Еще одно преимущество метода – возможность осуществления преобразователей: 1 – возбуждающая катушка; 2 – измерительная катушка
контроля с большой скоростью, соизмеримой со скоростью меха-
нической обработки КО.

108 109
Проходные преобразователи применяются для линейно- Каждую обмотку датчика принято заменять эквивалентным
протяженных изделий и охватывают КО, движущийся внутри ка- витком, а вихревые токи – эквивалентным контуром тока
тушки, либо движутся сами внутри объекта (например, трубы). диаметром Dэ. Для проходного датчика Dэ = Dп или Dэ = Dв (рис. 6.4).
Проходные преобразователи менее чувствительны к локальным Для накладного датчика значение D э зависит от расстояния
изменениям свойств КО. В зависимости от способа соединения эквивалентного витка возбуждающей обмотки датчика до изделия
обмоток преобразователя различают абсолютные (выходной сигнал h и определяется приближенно по формуле Dэ = Dq+1,5h. Для
определяется абсолютными параметрами КО и их изменением) и характеристики, учитывающей свойства материала изделия
дифференциальные (выходной сигнал определяется разницей
(электропроводность у, магнитная проницаемость м), частоту воз-
свойств двух рядом расположенных участков) датчики. Абсолют-
буждающего поля f = ω / 2π f и размер контура вихревых токов
ные датчики используют для контроля электропроводности и
Dэ, вводится понятие обобщенного параметра
проницаемости материала, размеров, сплошности. Дифференциаль-
ные преобразователи более чувствительны, но для протяженных ущм0
дефектов позволяют определить только начало и конец дефекта. в = Dэ
По электрическим свойствам сигнала различают параметри- мr .
ческие и трансформаторные преобразователи. В первых сигналом
служит приращение комплексного сопротивления, во вторых – Для немагнитных материалов мr = 1, в = в 0 = D э ущм0 .
приращение комплексного напряжения, возникающего в одной или В качестве Dэ на практике принимают средний диаметр кату-
нескольких измерительных обмотках. В первых датчиках сигнал шки Dср. Обобщенный параметр в по физическому смыслу является
формируется в той же обмотке, по которой идет возбуждающий ток. отношением индуктивного сопротивления эквивалентного контура
В трансформаторных датчиках измерительная обмотка может быть вихревых токов к активному сопротивлению контура в прове-
размещена на той же катушке (рис. 6.3) или на другой. Такие дат- ряемом изделии.
чики имеют более высокую температурную стабильность. Пара-
метрические датчики более просты конструктивно, частотный диа-
6.2. Распределение вихревых токов
пазон работы у них шире. Если измерительные датчики выполнены
отдельно от полезадающих, то обычно они располагаются вблизи Вихревые токи протекают непосредственно под датчиком,
поверхности КО. в небольшом объеме изделия. Их амплитуда различна в каждой
точке на поверхности изделия и в глубине (рис. 6.4). Анализ прост-
ранственной картины вихревых токов необходим для понимания
основ метода и его эффективного практического использования.
Плоскости, в которых расположены траектории вихревых
токов, перпендикулярны линиям напряженности возбуждающего
поля. Возбуждаемые цилиндрическими датчиками вихревые токи
протекают по окружностям, соосным с датчиком. В случае одно-
родного изотропного материала значения плотности тока д и их
Рис. 6.3. Двухкатушечный датчик: фазы ш от угловой координаты ц не зависят.
1- возбуждающая обмотка; 2 – измерительная обмотка

110 111
А

112
Б

113

а) б) в)
Рис. 6.4. Распределение плотности д/д01 и фазы ш вихревых токов, возбуждаемых витком
в плоском изделии (а), в прутке (б), вокруг отверстия (в): А – по поверхности; Б – по глубине; 1 – при высокой
частоте; 2 – при низкой частоте; 3 – при наличии зазора между витком и изделием для высокой частоты
На рис. 6.4 датчик заменен эквивалентным витком, коорди- Например, на частоте 1,5 МГц для немагнитных материалов
наты с и z выражены через радиус эквивалентного контура при у = 0,65 • 106 См/м z0= 0,53 мм; при у = 106 См/м z0= 0,14 мм;
вихревых токов. Плотность тока выражена через максимальное при у = 25 •106 См/м z0= 0,08 мм. На частоте 150 Гц z0 увеличивается
ее значение д01 на поверхности. в 100 раз по сравнению с указанными значениями для тех же мате-
При контроле накладным датчиком (рис. 6.4,а) на его оси д риалов.
= 0, с увеличением с увеличивается д, достигая максимума при В местах дефектов сплошности материала вихревые токи,
с=Rq (при h = 0). При удалении датчика от поверхности макси- подтекая под дефект, могут проникать на глубину больше чем z0.
мальное значение д(с) уменьшается, а при использовании наклад- На силу вихревых токов оказывает влияние не только
ного датчика увеличивается также радиус эквивалентного контура наличие дефекта, но также площадь изделия, электропроводность
(кривая 3). Фазы токов, находящихся внутри эквивалентного кон- материала у и его магнитная проницаемость м. Уменьшение м и у
тура, одинаковы. будет ослаблять вихревые токи так же, как и появление дефекта.
При контроле короткими проходными датчиками (рис. 6.4, Для использования токовихревого метода в дефектоскопии необхо-
б, в, А) максимум д(z) расположен под эквивалентным витком. димо иметь способы отстройки от влияния изменения других
Фаза вихревых токов изменяется вдоль оси z в обе стороны от параметров.
максимума. Сигнал датчика представляет собой комплексную величину
По мере углубления в металл – увеличения z, уменьшения вносимого активного и индуктивного сопротивлений Zвн= Rвн +
с < Rп (рис. 6.4, б, Б) или увеличения с > Rп (рис. 6.4, в, Б) – наблю- + jщLвн или активной и реактивной составляющих вносимого
дается резкое уменьшение плотности и запаздывание вихревых токов. напряжения Uвн = Uавн + jUрвн для трансформаторного датчика.
Из анализа графиков д(с), д(z) следует, что вихревые токи Поскольку параметры вихревых токов зависят от электро-
сосредоточиваются в том месте изделия, в котором проникающее проводности у, проницаемости мr , сплошности металла, от этих
в него поле имеет максимальное значение. же величин зависит и сигнал. Чаще принято рассматривать измене-
Затухание вихревых токов по глубине происходит по закону, ние сигнала датчика совместно на комплексной плоскости сопро-
близкому к экспоненциальному. Плотность тока на глубине Z равна тивлений или напряжений. Зависимость сигнала от обобщенного
параметра в, положения датчика относительно изделия, его формы,
δ / δ 01 = exp(−z πfµ 0 σ ), размеров, сплошности материала представляет собой сложную
комплексную функцию. Влияние каждой переменной на сигнал
где δ 01 − плотность тока на поверхности контролируемого изде-
изображается графически на комплексной плоскости Rвн, jщLвн или
лия, когда Z=0. Uавн, jUрвн.
Для сравнения распределения вихревых токов по глубине в В подавляющем большинстве случаев основой при анализе
различных металлах на разных частотах введено понятие – услов- этих зависимостей служит годограф сигнала F(в0) витка, плотно
ная глубина проникновения ВТ z0. Это расстояние от поверхности прилегающего к немагнитному изделию. На рис. 6.5 представлен
до слоя, в котором плотность вихревых токов меньше, чем на годограф, отображающий влияние на датчик электропроводности
поверхности, в e раз. и частоты возбуждения. Влияние этих величин на сигнал одина-
ково, что следует из выражения для обобщенного параметра
z0 = 1
πfµ 0 µ r σ . в 0 = Dэ ущм0 . Сигнал для каждого значения в0 является макси-

114 115
мальным. Из рис. 6.5 видно, что при увеличении β 0 → ∞
L вн → –1, а R вн → 0 .
Анализируя годографы, выбирают оптимальную рабочую
частоту, конструкцию датчика, измерительную схему, приемы
контроля, обеспечивающие необходимую чувствительность
прибора к проверяемому параметру и полное или частичное снятие

Рис. 6.6. Годографы сигналов накладных (а) и проходных (б, в) датчиков


влияния изменений неконтролируемых свойств.

щ ,
щ

Lo – собственная индуктивность датчика


,
щ
при изменении параметра в:
Рис. 6.5. Годограф накладного датчика: изменение в комплексной
плоскости нормированных вносимых активного
и индуктивного сопротивлений витка

Основное влияние на вид годографов оказывает та часть


вихревых токов, которая протекает в слоях, ближе всего располо-
женных к измерительной обмотке датчика. Фазы вихревых токов
вблизи обмотки для накладных и проходных датчиков на одной и
той же частоте могут значительно отличаться, поэтому годографы
для различных групп датчиков различаются между собой. В пре-
делах каждой группы датчиков годографы F(у), F(м), близки по
форме.

116 117
На рис. 6.6 приведены зависимости (сплошные годографы) бины проникновения вихревых токов), то эквивалентный контур,
сигнала накладных и проходных датчиков от электропроводности представлявший собой окружность при отсутствии трещины,
для детали с плоской поверхностью и относительно большими по разделится ею на две части (рис. 6.7). Вихревые токи вдоль тре-
сравнению с датчиком размерами, которую можно заменить полу- щины идут в противоположных направлениях, образуя дополни-
пространством (а), цилиндрического прута (б), толстостенной тельное магнитное поле дефекта, которое и обусловливает прира-
трубы (в). Показаны также зависимости (штриховые годографы) щение сигнала датчика. Нормальная составляющая поля макси-
сигнала от расстояния между поверхностью изделия и расстояния мальна над трещиной. Тангенциальная составляющая поля де-
между средними витками обмотки датчика. С увеличением зазора фекта имеет по одному максимуму противоположного направле-
между витком и изделием сигнал уменьшается. ния с каждой стороны трещины. Дефекты типа нарушения сплош-
В случае контроля прутка, трубы проходным датчиком ности являются препятствиями для вихревых токов и проявляются
штриховые годографы показывают влияние на сигнал диаметра в увеличении сопротивления поверхностного слоя металла.
изделия, при контроле накладным датчиком они отображают
зависимость сигнала от толщины неметаллического покрытия КО Фо Фо
или зазора между датчиком и изделием.
Максимальная чувствительность к изменению электро-
проводности наблюдается при таких значениях в0, при которых
максимально Rвн на годографе F(в). Исходя из этих значений в0
следует выбирать частоту контроля и диаметр датчика. Так, для
поверхностного дефекта глубиной 0,5 мм в листе из алюминиевого
сплава с электропроводностью у = 20·106 См/м рабочая частота а) б)
около 380 кГц. Рис. 6.7. Схемы формирования поля вихревых токов
С увеличением глубины залегания дефекта заданных разме- при наличии трещины: 1 – трещина
ров рабочая частота контроля существенно уменьшается.
Распределенные дефекты, размеры которых значительно
меньше диаметра эквивалентного контура Dэ – скопления пор, рас- На приведенных ниже графиках представлено изменение
трескивание в виде сетки или «паучков», воздействуют на вихревые сигнала накладного датчика (Dэ от 6 до 24 мм) от поверхностной
токи как уменьшение электропроводности металла. Сигнал дат- трещины при изменении параметра β 0 путем вариации частоты в
чика, вызываемый распределенными дефектами в немагнитном пределах от 5 до 20 кГц (рис. 6.8). Изменения сигнала от трещин
материале, также изменяется по годографу F(в) (рис. 6.6). различной длины, глубины, расположенных на различных
Влияние дефектов в виде крупных пустот (раковин), включе- расстояниях от поверхности, происходят в пределах, отмеченных
ний, размеры которых соизмеримы с Dэ, близко к увеличению за- на рис. 6.8 темными областями, и зависят от β 0 . Наибольшие изме-
зора между датчиком и изделием h. нения сигнала от длинной глубокой трещины наблюдаются при
Дефекты, лежащие в плоскости, параллельной поверхности β 0 = 6 . На рис. 6.9 представлен график изменения модуля сопро-
изделия, не изменяют траектории вихревых токов, но влияют на тивления датчика Z при изменении длины трещины l = l ′ Dq в
их распространение по глубине. зависимости от расстояния от оси датчика до середины поперечной
Если под накладным цилиндрическим датчиком окажется (относительно направления перемещения датчика) и продольной
глубокая длинная трещина (длина больше Dэ, глубина больше глу- трещин y = y ′ / Dq , x = x ′ / Dq .

118 119
При перемещении датчика над продольной трещиной любой
длины будут наблюдаться два максимума. Чем короче трещина,
тем четче выражены максимумы Z . При размещении оси датчикаа
над серединой трещины длиной 0,47 и менее значение Z близкоо
к нулю. Для короткой трещины максимум Z наступает, когда
проекция эквивалентного витка датчика пересекает ее в центре.
Вид зависимостей Z (x,y) объясняется неравномерным распре-
делением вихревых токов по радиусу (рис. 6.4) и показывает, что
даже при использовании осесимметричного датчика форма его
сигнала определяется направлением перемещения относительно
направления трещины.
Диаметр применяемых для контроля нарушения сплошности
датчиков составляет от нескольких единиц до нескольких десятков
миллиметров. Производительность контроля мелких деталей мо-
жет достигать 50 м/с (для проволоки) или нескольких тысяч мелких
деталей в час. Производительность контроля труб, прутков ограни-
чивается инерционностью устройств транспортирования и обычно
не превышает 3 м/с.
Рис. 6.8. Приращения сигнала накладного датчика,
вызванные поверхностными трещинами
6.3. Приборы для ТВК
Простейшая схема прибора для ТВК приведена на рис. 6.10.
Одинаковые датчики Д1 и Д2 включены в мостовую схему с
регистрирующим микроамперметром мА. На датчики подается от
генератора переменное напряжение ~.

Рис. 6.9. Зависимость сигнала Z от расстояний x (сплошные кривые), Рис. 6.10. Схема измерительного моста
y (пунктирные кривые) для глубоких трещин с двумя датчиками

120 121
В поле датчика Д1 расположен контрольный образец 1, а в вается и смещается влево. Напряжение сначала растет, а затем
поле датчика Д2 – контролируемое изделие 2. Если изделие и уменьшается до значения U ≈ U∞, изменяясь по сплошной кривой.
образец одинакового качества, то мост сбалансирован, через инди- При размещении датчика Д1 на металле с покрытием известной
катор мА ток не течет. Если изделие отличается от образца, напри- толщины резистором R3 индикатор прибора градуируют,
мер из-за дефекта, то мост разбалансируется и прибор мА зафикси- устанавливая соответствующее этой толщине значение.
рует протекающий ток.
Если датчики Д1 и Д2 неодинаковы, то при помещении в их
поле идентичных изделий будет наблюдаться остаточное напряже-
ние, для устранения которого схема моста усложняется.
Более совершенная схема дифференциального включения
датчиков показана на рис. 6.11. В этой схеме обмотки датчиков Д1
и Д2 входят в резонансные контуры с переменными емкостями С1
и С2. Эти емкости, а также переменное сопротивление R3 служат
для балансировки схемы и установки мА на нуль, когда магнитные
поля датчиков Д1 Д2 одинаковы. При этом в контурах наступает
резонанс с одинаковыми максимальными напряжениями V1=V2.
Резонансные кривые контуров показаны на рис. 6.11, б. Если дат-
чик Д1 проходит над дефектным участком изделия, его
индуктивность изменится на величину ДL и станет равной L1, а
сопротивление изменится на величину ДR. Добротность первого
контура понизится, и резонансная кривая 1 заменится кривой 1ґ, а
рабочая точка займет положение Lґ 1. Напряжение на первом
контуре упадет и станет равным Vґ1 < V2. Тогда между контурами
возникнет разность потенциалов V2 - Vґ 1 и стрелка индикатора
отклонится в одну сторону. Если дефект появится под датчиком
Д2, то стрелка отклонится в другую сторону.
Эту же схему можно использовать в измерителях толщины Рис. 6.11. Дифференциальная
диэлектрических покрытий. В этом случае датчик Д2 размещается схема с двумя параллельными
внутри прибора. Рабочая точка измерительного контура выби- резонансными контурами
рается на левой ветви резонансной кривой U(C), когда датчик Д1 (пояснение в тексте)
размещен на материале без покрытия (кривая 1, рис. 6.11, в).
Конденсатором С2 схема уравновешивается, и индикатор показы-
вает нулевое значение, если датчик размещен на металле без
покрытия или удален от металла на большое расстояние. Чтобы в процессе обнаружения дефектов показания индика-
С увеличением толщины покрытия растет индуктивность в тора не зависели от расстояния датчика до контролируемого изде-
измерительном контуре, максимум резонансной кривой увеличи- лия, необходимо использовать более сложные схемы.

122 123
При контроле электромагнитными индукционными дефекто- 7. Поясните работу мостовой схемы прибора ТВК. Какую
скопами типа ЭМИД используют два дифференциально включен- схему могли бы предложить вы для устранения остаточ-
ных датчика, один из которых присоединен к эталонному образцу, ного напряжения, наблюдаемого при помещении идентич-
а другой – контролируемому изделию. При этом на выходе двух ных изделий в поле неидентичных датчиков?
трансформаторных датчиков возникает напряжение, амплитуда и 8. Какие свойства материалов учитываются обобщенным
фаза которого определяется разницей свойств и эталонного образца, параметром в? Как определить значение диаметра экви-
и контролируемого изделия. Это напряжение наблюдается на валентного витка для проходного датчика? Для накладного?
экране электронно-лучевой трубки (ЭЛТ) в виде кривой, позволяю-
щей оценить свойства изделия несколькими способами: 1) по форме
кривой; 2) по фазе (положению нулей и максимумов) кривой;
3) по отклонению кривой от горизонтальной развертки луча
(по амплитуде); 4) по сочетанию нескольких параметров кривой.
Характеристики некоторых приборов ВТК приведены в
приложении. Преимущества метода ТВК по сравнению с другими
методами выявления поверхностных дефектов (например,
капиллярным методом) наиболее значительны при контроле сталей
с защитными покрытиями; при контроле деталей в процессе
эксплуатации машин; при контроле проката в технологическом
процессе; при массовом контроле однотипных деталей, например,
шаров, роликов, втулок, обойм шарикоподшипников и т.п. деталей,
в процессе их изготовления.

Вопросы для самопроверки


1. Для каких материалов возможно использование методов
ТВК?
2. От чего зависит плотность вихревых токов? Как изменяется
плотность вихревых токов с глубиной? Как изменяется
фаза вихревых токов по угловой координате?
3. Как влияет на распределение вихревых токов наличие мелких
дефектов? Крупных раковин?
4. Какие виды дефектов нельзя обнаружить методами ТВК?
5. Какие виды датчиков ТВК вам известны?
6. Что такое годограф? Какие разновидности годографов
используются при ТВК? Какие факторы влияют на вид
годографа и каким образом?

124 125
7. РАДИАЦИОННЫЙ КОНТРОЛЬ (РК) Средства расшифровки и оценки результатов контроля
обусловлены квалификацией и опытом дефектоскописта и совер-
Радиационный контроль – это вид НМК, основанный на шенством технической документации. К параметрам системы РК
взаимодействии проникающего ионизирующего излучения (ИИ) относятся также величины, характеризующие взаимное располо-
с контролируемым объектом (КО). Система радиационного конт- жение элементов системы контроля в пространстве и во времени,
роля (РК) состоит из четырех основных элементов (рис. 7.1): источ- например, расстояние от источника излучения до детектора, время
ника излучения, объекта контроля, детектора излучения, средства экспозиции и т.п.
расшифровки и оценки результатов контроля. Свойства элементов Система РК в целом также характеризуется величиной де-
системы контроля, которые влияют на результаты, называют фектов, выявляемых с заданной вероятностью и производитель-
характеристиками системы контроля или её параметрами. ностью контроля. Требования к этим основным характеристикам
зависят от требований к качеству контролируемых изделий.
Классификация радиационных НМК. По используемым
видам ионизирующего излучения РК подразделяется: 1) на рент-
геновский контроль; 2) контроль моноэнергетическим в-излуче-
нием; 3) контроль тормозным излучением ускорителей электронов;
4) контроль потоком тепловых нейтронов; 5) г-контроль; 6) конт-
роль потоком протонов; 7) контроль немоноэнергетическим
в-излучением радиоактивных изотопов; 8) контроль потоком
позитронов.
В зависимости от задач, стоящих перед контролем, и вида
изделия, наиболее эффективен тот или другой вид излучения. Так,
для контроля сварных и паяных соединений эффективно исполь-
зование 1-7-го видов излучений, для контроля слитков и отливок
и обнаружения в них трещин, пор, рыхлот, ликваций – 1,3,5-й виды;
неправильности формы внутренних закрытых полостей также
уверенно обнаруживаются этими видами излучения. Микродетали,
элементы электронной техники – дефекты пайки, обрывы и
Рис. 7.1. Система радиационного контроля: оплавление проводов обнаруживаются при применении 1,2,4,6-го
1 – источник излучения; 2 – объект контроля; 3 – детектор излучения;
4 – средства расшифровки и оценки результатов контроля
видов, а усталость материала (контроль деталей и узлов, бывших
в эксплуатации) – 8-м видом.
Способы регистрации радиационных изображений подраз-
К характеристикам источника излучения относятся энергия деляются на три группы: радиографические (фотографический,
и интенсивность излучения, размер активной части излучателя; ксерорадиографический, строборадиографический и т.п.); радио-
объект контроля характеризуется толщиной и плотностью мате- скопические (способы радиационной интроскопии: визуальные
риала; характеристики детектора излучения – контрастность, радиационные, т.е. видение радиационных изображений на экране
чувствительность, эффективность и т.п. преобразователя, радиотелевизионные, стереорадиоинтроскопи-

126 127
ческие); радиометрические (ионизационный; спектрометричес-
кий; сцинцилляторный).
Наибольшее распространение получили рентгенография,
рентгеноскопия и г-контроль.
Для создания ИИ используются рентгеновские аппараты
(рентгеновские трубки); ускорители заряженных частиц; радио-
активные изотопы.
Рентгеновские трубки служат источниками характеристичес-
кого и тормозного излучений в широком диапазоне энергий (от
0,5 до 1000 кэВ). Их используют для просвечивания стальных
листов, деталей до 120-160 мм. Рис. 7.2. Принципиальная схема (а) и блок-схема (б) рентгеновского
Ускорители электронов являются источниками высоко- аппарата-моноблока: 1 – трансформатор; 2 – рентгеновская трубка;
3 – стеклянная колба; 4 – катод; 5 – анод с мишенью;
энергетического тормозного излучения (до 35 МэВ). Исполь- 6 – рентгеновское излучение; 7 – кожух
зуются для просвечивания стальных листов большой толщины
(>450 мм). Они служат также источниками в-излучения большой
энергии и генераторами нейтронного потока. Проходящий через трубку ток измеряется миллиампермет-
Радиоактивные изотопы являются источником рентгеновс- ром на пульте управления. Ток трубки регулируетcя изменением
кого б-, в- и г-излучений, потоков нейтронов и позитронов, и степени накала нити катода. Электроны, попадающие на мишень
используются для просвечивания стальных изделий толщиной до анода, тормозятся в ней и теряют скорость, а следовательно, и кине-
200 мм. тическую энергию. Частично кинетическая энергия электронов
превращается в лучистую энергию, которая выделяется в виде
фотонов тормозного излучения, используемого при дефектоскопии
7.1. Источники и свойства ионизирующего излучения
изделий, а часть переходит в тепловую.
Для получения рентгеновского излучения используют Доля кинетической энергии R (%), превращенной в рент-
рентгеновскую трубку, представляющую собой стеклянную колбу, геновское излучение, зависит от анодного напряжения U и поряд-
из которой откачан воздух до 10-4 – 10-6 Па (рис. 7.2). В сосуд впаяны кового номера материала мишени Z:
два электрода – катод 4 в виде спирали из толстой вольфрамовой
проволоки и анод 5 из медного полого цилиндра («антикатод») с R =1,4 ⋅ 10 −7 ZU .
приваренной к нему мишенью из вольфрама. Для вольфрамовой мишени (Z = 74) при напряжении менее
К спирали катода подается низковольтное напряжение 100 кВ R ≈ 0,01%, при U=100 кВ R = 1%, а при U=2 МВ – более
(2-12 В), а к электродам – высокое напряжение (более 10 кВ). 20%. Большая часть энергии превращается в тепло, которое
При накале спирали вследствие термоэлектронной эмиссии необходимо отводить от анода охлаждающей средой (масло, вода,
из неё вылетают электроны, которые специальным устройством газ). В некоторых случаях для уменьшения разогрева анода его
фокусируются в узкий пучок и под действием электрического поля выполняют вращающимся.
с большой скоростью движутся к аноду. Участок мишени анода, на котором фокусируется рент-
геновское излучение, называется действительным фокусным пят-

128 129
ном трубки. Проекция его в направлении выхода лучей – эффектив-
ным фокусным пятном.
Фокусные пятна могут быть линейными с соотношением
сторон 1:1,25 или круглыми. Трубки с фокусным пятном от 100
мкм до 1 мм – острофокусные, с пятном менее 100 мкм – микро-
фокусные.
Интенсивность излучения рентгеновской трубки можно
регулировать анодным током и напряжением. При изменении тока
(т.е. нагрева катода) меняется только интенсивность, а при измене-
нии напряжения меняется и энергия излучения. Минимальная
длина волны образующегося рентгеновского излучения соответст-
вует максимальной энергии кванта. Энергия кванта тем больше,
чем выше скорость электронов, которая определяется напряжением
на трубке: eU = hν = h (c / λ 0 ), где e – заряд электрона, равный
1,6·10-19, Кл, U – напряжение на трубке, В, с – скорость света; л0 – Рис. 7.3. Сплошной (1) Рис. 7.4. Спектры тормозного
наименьшая длина волны излучения в спектре рентгеновского и линейчатый (2) спектры рентгеновского излучения при
излучения трубки. Из формулы видно, что энергетический спектр рентгеновского излучения различных напряжениях
тормозного излучения определяется величиной напряжения на для мишени из молибдена
трубке. Чем выше напряжение, тем больше скорость электронов, при U=35кВ
тем больше энергия излучения, тем меньше длина волны и тем
больше проникающая способность излучения. Ниже λ 0 излучения не существует. Как видно из формул, энергия
Поскольку электроны, испускаемые катодом, имеют непре- излучения зависит только от напряжения, от величины анодного
рывное распределение скоростей, энергетический спектр тормоз- тока она не зависит.
ного излучения имеет непрерывный характер, т.е. в нем присутст- Существуют различные модификации конструкции рент-
вуют кванты со всевозможными значениями энергий – от нуля до геновской трубки. Двухэлектродные трубки (с напряжением
некоторого максимального значения, отвечающего максимальной U ≤ 200 – 300кВ) имеют электрическую фокусировку электронов,
кинетической энергии тормозящихся электронов. при которой размер фокусного пятна не изменяется во всем диа-
Если энергия электрона настолько велика, что он выбивает пазоне регулировки анодного тока и напряжения. Трубки с выне-
электроны с внутренних оболочек атомов вещества мишени, на фоне сенным анодом, используемые для панорамного просвечивания,
непрерывного спектра тормозного излучения возникает линейча- имеют дополнительную магнитную фокусировку. При напряже-
тый спектр характеристического излучения (рис. 7.3). Подбирая ниях от 300кВ до 2МВ применяют секционированные (каскадные)
материалы мишени, можно получать различные спектры. трубки, которые имеют дополнительные промежуточные коль-
На рис. 7.4 представлена спектральная интенсивность излу- цевые электроды, обеспечивающие выравнивание электрического
чения трубки при различных напряжениях. Установлено, что длина поля по длине трубки. Магнитная фокусировка позволяет регули-
3 ровать размер фокусного пятна. Современные рентгеновские
волны излучения максимальной интенсивности λ max = λ0 .
2 трубки делают разборными; антикатоды съёмные.

130 131
На рис. 7.5 представлено принципиальное устройство
двухэлектродной рентгеновской трубки.

Рис. 7.5. Принципиальное устройство двухэлектродной


рентгеновской трубки: 1 – катод; 2 – фокусирующее устройство; Рис. 7.6. Схема работы бетатрона: 1-катушка возбуждения;
3 – анод; 4 – вольфрамовая мишень; 5 – чехол анода; 6 – патрубок для ввода 2 – инжектор; 3 – мишень; Ф – магнитный поток
охлаждающей жидкости

Рентгеновский аппарат состоит из электронной рентгеновской


трубки, помещенной в защитный кожух, катодного и анодного генера-
торных устройств, штатива, масляного насоса, пульта управления.
Бак генераторного устройства, кожух с трубкой и бак насоса
заполнены трансформаторным маслом, служащим изолятором.
Масло, прокачиваемое через защитный кожух, охлаждает анод
трубки (это могут быть и вода или сжиженные газы). Защитный
кожух выполняют из свинцового листа, объём заполняется маслом.
Масло от насоса поступает сначала на полый анод трубки, а затем
в защитный кожух. Для выхода излучения в кожухе имеется
специальное окно, застеклённое материалом, слабо поглощающим
излучение. В трубках, рассчитанных на мягкое излучение
o
λ0 > 2А, U < 30 кВ, окна застеклены бериллием, хорошо про-
пускающим такое излучение.
Бетатроны. Бетатрон – индукционный ускоритель электро-
нов (рис. 7.6, 7.7) – состоит из электромагнита, рентгеновской бета-
тронной камеры, блока питания и пульта управления. От остальных
Рис. 7.7. Схема бетатрона: 1- магнитопровод; 2 – камера;
применяемых в дефектоскопии ускорителей он отличается порта- 3 – блок питания; 4 – пульт управления; 5 – катушка электромагнита;
тивностью [10]. 6 – блок питания инжектора; 7 – инжектор

132 133
В один из патрубков бетатронной камеры вставлен инжектор радиусом камеры. Эффективная энергия излучения составляет
(электронная пушка). Система инжекции смонтирована в отдель- (0,3 – 0,5) Еmax.
ном блоке или под облицовочным кожухом электромагнита. Фокусировка пучка электронов происходит в процессе их
Электромагнит предназначен для индуцирования в вакуумной ускорения, в результате чего фокусное пятно бетатрона имеет
камере бетатрона электрического поля, необходимого для ускоре- маленькие размеры (0,1-0,01мм). Из него выходит интенсивный и
ния и управления движением электронов. очень узкий пучок с углом раствора 5-6о, благодаря чему обеспе-
Стеклянная кольцевая камера расположена между полюсами чивается высокая резкость снимков, что дает высокую чувстви-
электромагнита и является источником тормозного излучения. тельность методам просвечивания.
Блок питания подаёт на катушки переменный ток. Возникающий Серийно выпускаются бетатроны для дефектоскопии изде-
синусоидально-изменяющийся магнитный поток индуцирует в лий из стали (до 450 мм толщины), алюминия (до 1800 мм), титана
камере вихревое электрическое поле. Под действием этого поля (до 880 мм). Бетатрон Б5М-25 применяется в медицинской прак-
электроны, введённые в камеру инжектором, движутся с ускоре- тике. Разработаны бетатроны как в стационарном исполнении, так
нием по окружности. и передвижные. Размеры электромагнита от 400, 520 мм до 1500,
За каждый оборот электроны получают относительно не- 1700 мм для больших камер (соответственно и вес от 100 кг до
большое приращение энергии, примерно 15-20 эВ, что объясняется 5000 кг).
небольшой напряжённостью электрического поля. Магнитное поле Линейные ускорители и микротроны. В линейных ускори-
возрастает от нуля до максимального значения за четверть периода; телях частицы однократно проходят электрическое поле с большой
направление вихревого электрического поля за этот промежуток разницей потенциалов, т.е. ускоряются по прямому методу.
времени не меняется. За этот промежуток времени электрон успе- На рис. 7.8 представлена схема линейного ускорителя с бегу-
вает сделать огромное (до нескольких миллионов) число оборотов. щей волной.
При этом электроны ускоряются до энергии нескольких десятков
мегаэлектрон-вольт. Ускоренные электроны смещаются с равно-
весной орбиты и направляются на мишень из платины или воль-
фрама. В результате торможения электронов в материале мишени
o
возникает жесткое тормозное излучение ( λ < λ 0 , обычно 0,2-2 А).
Выход излучения сильно зависит от энергии ускоренных
электронов. Максимальная энергия тормозного излучения лишь
ненамного меньше максимальной энергии ускоренных электронов,
рассчитанной по формуле E = 3 ⋅ 10 2 H 0 r0 − 0,511 , где Е-энергия
электронов, МэВ; Н0– напряжённость магнитного поля, Гс; r0 – радиус
камеры, см.
В бетатронах с большим радиусом вакуумной камеры, в Рис. 7.8. Схема линейного ускорителя: 1 – камера; 2 – электромагнит;
которых электроны приобретают большую энергию, получается 3 – генератор; 4 – волновод; 5 – электронная пушка; 6 – мишень;
более интенсивное тормозное излучение, чем в бетатронах с малым 7 – вакуумный насос

134 135
Электроны, генерируемые пушкой 5 импульсно с энергией умная камера находится под непрерывной откачкой с помощью
30-100 кэВ, ускоряются электрическим полем бегущей электро- насоса 7. Ускоренные электроны на последней орбите либо попа-
магнитной волны, создаваемой высокочастотным генератором 3 в дают на мишень 5, в которой возникает рентгеновское излучение,
цилиндрическом волноводе 4 (на каждые 30 см пути в волноводе либо с помощью специального устройства выводятся из камеры.
электронам сообщается энергия примерно 1 МэВ). Электрическое Электронный пучок микротрона в отличие других типов ускори-
поле бегущей волны направлено по оси цилиндра. Ускоренные телей обладает высокой моноэнергетичностью. Микротрон позво-
электроны попадают на мишень 6, в которой возникает тормозное ляет ускорить электроны до энергии в несколько сотен МэВ.
излучение большой интенсивности. Так, линейные ускорители с Эффективное фокусное пятно микротрона невелико (порядка 2-3 мм).
энергией 10-25 МэВ создают тормозное излучение, мощность Микротрон МД10 даёт излучение экспозиционной дозы на рас-
экспозиционной дозы которого на расстоянии 1м от мишени состав- стоянии 1м от мишени и позволяет просвечивать детали толщиной
ляет 2000-25000 Р/мин, что позволяет использовать их для конт- до 500 мм. Время просвечивания детали толщиной 200 мм состав-
роля сварных швов толщиной 400-500 мм. ляет около 10 c.
Линейный ускоритель с секционированной ускоряющей
трубкой состоит из большого числа промежуточных электродов.
На каждый электрод подаётся увеличивающееся вдвое постоянное
напряжение. Наибольшее напряжение достигает 1-2 МэВ и более
при токе 0,2 мА. Диаметр фокусного пятна ~1 мм. Используется
для контроля деталей толщиной 125-250 мм.
Линейный ускоритель со стоячей волной состоит из инжек-
тора электронов, источника переменного напряжения и метал-
лического резонатора, внутри которого расположены пролетные
металлические трубки. Электроны из инжектора попадают в
полость резонатора и проходят вдоль пролетных трубок. Под дейст-
вием электрического поля в промежутках между трубками элект-
роны ускоряются и в конце пути тормозятся на мишени, где и
генерируется тормозное излучение.
Микротрон (рис. 7.9) – циклический резонансный ускори-
тель электронов с постоянным по времени и однородным магнит-
ным полем. Электроны, запущенные в вакуумную камеру 1, дви-
жутся по окружностям разного радиуса, имеющим общую точку
касания в месте расположения резонатора, сверхвысокочастотное Рис. 7.9. Схема микротрона: 1 – камера; 2 – электромагнит;
поле которого ускоряет электроны. Резонанс ускорения создается 3 – волновод; 4 – электронная пушка; 5 – мишень; 6 – резонатор;
в результате кратного увеличения периода высокочастотного 7 – вакуумный насос
напряжения при каждом пересечении электронами ускоряющего
зазора резонатора. Резонатор возбуждается через волновод 3
посредством мощной импульсной электронной пушки 4. Ваку-

136 137
Радиоизотопные источники г- и в-излучения. Источник ционным перемещением ампул, выпуском и перекрытием гамма-
излучения представляет собой закрытую ампулу (заваренную или излучения; штатив для крепления радиационной головки относи-
завальцованную) из коррозионно-стойкой стали или сплавов тельно объекта контроля.
алюминия и для герметичности сверху покрытую эпоксидным
клеем. Внутри ампулы помещаются искусственные радионуклиды, Т а б л и ц а 7.1
получаемые в ядерных реакторах при облучении веществ в Основные характеристики некоторых радионуклидов,
нейтронных потоках или при обработке продуктов распада, применяемых в дефектоскопии
образующихся в реакторах.
К радиационно-физическим характеристикам радиоактив-
Выход
ных источников излучения относятся период полураспада, спектр Радионуклид
Период
г -квантов
Энергия Энергия
полураспада г –кванта, МэВ б -частиц
излучения, удельная активность, мощность экспозиционной дозы на распад, %
на расстоянии 1м от источника и геометрические размеры излучателя. 1,0 1,33
Внутренние размеры ампулы определяют размеры активной 60
27 Co 5,25 года 1,0 1,17 0,318 МэВ
<10-3 2,5
части источника. Проекция активной части ампулы в направлении
просвечивания образует фокусное пятно источника. 137 1,17 МэВ – 8%
Cs 11000 дней 100 0,661
55 0,52 МэВ – 92%
Для гамма-дефектоскопии применяют изотопы с высокой
1,1 0,066
удельной активностью, такие как кобальт 60Co = 100 − 200 (Ки/г), 3,9 0,0967
20 0,121
цезий 137 Cs − 25 (Ки/г), селен 75 Se, иридий 192 Ir, тулий 170 Tm, 61 0,136
152 75 1,8 0,199
европий Eu+154 Eu и другие (наибольшая удельная активность 75 34 Se 120,4 дня
71 0,264
29 0,279
составляет у марганца 54 Mn = 2000 Ки/г). 1,5 0,304
Энергетические спектры излучения применяемых источни- 10 0,400
0,13 0,572
ков состоят из отдельных групп г-квантов и тормозного спектра,
возникающего при торможении в-частиц. В спектрах большинства
радионуклидов, используемых при дефектоскопии, интенсивность
тормозного излучения пренебрежимо мала. Интенсивность отдель- Радиационные головки имеют свинцовую или вольфра-
ных линий дискретного спектра и соотношение между ними опре- мовую защиту, обеспечивающую снижение мощности дозы излуче-
деляются числом выхода г-квантов различных энергий на акт ния на расстоянии 1м от источника, находящегося в положении
распада (в процентах). хранения, до предельно допустимой дозы 2,8 мР/час
В радиационной дефектоскопии применяют радионуклиды ( 2,01 • 10 10
А/кг ) и менее, а на расстоянии 0,1м – до 100 мР/час
с периодом полураспада от нескольких дней до десятков лет.
В табл. 7.1 приведены некоторые сведения о наиболее распростра- ( 7,17 • 10 9 А/кг ) и менее. Конструктивно головки выполняют с
ненных радионуклидах. перемещаемым и неподвижным источником излучения.
Гамма-дефектоскоп состоит из следующих основных блоков: Конструктивно все дефектоскопы радиационного контроля
радиационная головка с источником излучения; устройство для делятся на универсальные шланговые дефектоскопы и дефекто-
безопасной зарядки прибора ампулами, пульт управления дистан- скопы затворного типа.

138 139
В универсальных шланговых дефектоскопах (рис. 7.10)
источник излучения помещается в криволинейный канал –
лабиринт и фиксируется в положении хранения специальным
замком. После открытия замка источник может быть перемещён к
выходному окну головки (фронтальное просвечивание конусным
пучком излучения) или может подаваться в зону контроля из
радиационной головки по гибкому ампулопроводу 6. В этом случае
панорамный пучок излучения формируется с помощью сменных
коллимирующих головок 7. Перемещение источника осуществ-
ляется ручным или электроприводом с пульта управления 1.
Расстояние между пультом и головкой у переносных приборов от
3,5 до 12 м; у передвижных – до 50 м.

Рис. 7.11. Схемы дефектоскопа затворного типа:


а – гамма-дефектоскоп с открыванием затвора; б – гамма-дефектоскоп
с перемещением источника; в – гамма-дефектоскоп с выемным стаканом

В приложении К приведены технические характеристики


некоторых современных рентгеновских установок.
Рис. 7.10. Схема гамма-дефектоскопа шлангового типа:
1 – привод управления; 2 – подающий трос; 3 – соединительный шланг;
7.2. Чувствительность радиационного контроля
4 – радиационная головка; 5 – держатель источника излучения; На рис. 7.12 приведена схема радиационного контроля изде-
6 – ампулопровод; 7 – коллимирующая головка
лия 1, внутри которого имеется дефект 2. Для определенности
предположим, что 1 – металлическая деталь, а 2 – шлаковое вклю-
На рис. 7.11 представлена схема дефектоскопа затворного чение или непроплав в ней.
типа, предназначенного для работы в полевых, цеховых, монтаж-
ных условиях. Существует несколько модификаций таких дефекто-
скопов.

140 141
щей дефект, интенсивность радиационного излучения равна J1, то
контрастность К изображения дефекта на фотопленке будет равна:

К=J – J . (7.1)
1
Для вычисления величины контрастности предположим, что
коэффициент поглощения радиационного излучения в материале
изделия равен α1, а в материале дефекта – б2. Толщина изделия и
дефекты равны соответственно x и y (рис. 7.12). Пусть интенсив-
ность источника излучения равна Jо. После прохождения безде-
фектной части изделия интенсивность прошедшего излучения J
будет равна
J = J 0 exp(−α1x ) . (7.2)
Под местом расположения дефекта интенсивность
излучения

Рис. 7.12. К определению чувствительности методов РК


J = J 0 exp(−α1 ( x − y) − α 2 y) . (7.3)
В этом выражении первое слагаемое в показателе степени
Источник радиационного излучения 3 (рентгеновская трубка, экспоненты учитывает ослабление интенсивности излучения в
радиоактивный изотоп, источник β-частиц и т.п.) расположен в материале изделия, а второе слагаемое – в материале дефекта.
защитном экране 4. Регистратором дефектов является рентгеновс- Подставив выражения (7.3) и (7.2) в формулу (7.1), получим
кая пленка 5, расположенная под контролируемым изделием 1. контрастность изображения дефекта
Радиационное излучение, пройдя через контролируемое изделие K = J{1 − exp[(α1 − α 2 ) y]} . (7.4)
1 с дефектом 2, вызовет различное потемнение фотопленки 5: более
Размеры дефекта у всегда ничтожно малы по сравнению с
сильное 6, соответствующее изображению дефекта 2, и более сла-
размерами х контролируемого материала, а коэффициент поглоще-
бое 7, соответствующее изображению части детали 1 без дефектов.
ния α2 в материале дефекта во много раз меньше коэффициента
Это обстоятельство объясняется тем, что дефекты в металлических
поглощения α1 в контролируемом материале. Разлагая экспонен-
деталях, как правило, имеют плотность во много раз меньше, чем
плотность самой детали. Эти дефекты – раковины, шлак, газовые циальную функцию в степенной ряд, из выражения (7.4) получим
полости и т.п. Такие неметаллические включения во много раз K = J{1 – 1+ (б – б )у – ...} = J(б б )y . (7.5)
1 2 1 2
слабее поглощают радиационное излучение, чем бездефектный
металл. Из выражения (7.5) следует, что контрастность изображения
Далее предположим, что плотность почернения фотомате- дефектов при РК, во-первых, пропорциональна толщине дефекта
риала пропорциональна интенсивности излучения J, падающего у и, во-вторых, пропорциональна разности коэффициентов погло-
на фотопленку (область 7 на рис. 7.12). Если в области 6, изображаю- щения излучения в материалах изделия и дефекта α-α1.

142 143
Эти результаты естественно было ожидать исходя из пред-
ставлений о физических процессах при радиационном контроле.
Более интересный вывод из формулы (7.5) можно получить,
если ее упростить, учитывая, что всегда α2<< α1. Тогда
K = J α1y. (7.6)
Из выражения (7.6) следует, что контрастность изображения
дефектов тем больше, чем больше коэффициент поглощения излу-
чения в контролируемом материале. Этот вывод прямо противо-
положен выводу, например, при контроле с помощью излучения
ультразвуковых волн, когда четкость контроля понижается с ростом
коэффициента поглощения волн.
Выражение (7.6) позволяет сделать практически важный
вывод: контроль с помощью радиационного излучения наиболее
эффективен для материалов с большими коэффициентами погло- Рис. 7.13. Схема радиографического контроля с использованием:
щения. Это в основном металлы. а – радиографической пленки; б – флюорографической пленки;
1 – источник излучения; 2 – контролируемый объект;
3 – радиографическая пленка; 4 – монокристаллический экран;
7.3. Способы регистрации радиационных изображений 5 – зеркало с поверхностным отражением; 6 – оптическая система;
Наибольшее распространение в радиационной дефекто- 7 – кассета с флюорографической пленкой
скопии получил радиографический контроль с использованием в
качестве детектора излучения радиографической пленки. В ка-
честве источников излучения при этом контроле используются все 2
три типа источников излучения. 3
Разновидностью радиографического контроля является
флюорографический метод, при котором распределение интенсив-
ности ионизирующего излучения преобразуется в видимый свет 4
на сцинцилляторном экране и затем регистрируется с помощью
оптической системы на флюорографической плёнке (рис. 7.13, а, б). 1
Наибольшее распространение в качестве детектора при
радиографическом методе контроля получили радиографические Рис. 7.14. Схема строения радиографической пленки
плёнки. Радиографические пленки подразделяют на две группы:
безэкранные для использования без флуоресцентных экранов или ность, контрастность и разрешающая способность. На рис. 7.14
с металлическими усиливающими экранами, и экранные пленки, представлена схема строения радиографической пленки. Основой
применяемые совместно с флуоресцентными экранами. Основными пленки служит гибкая прозрачная подложка 4 из негорючей пласт-
характеристиками пленок являются спектральная чувствитель- массы – ацетилцеллюлозы. На подложку с двух сторон наносят

144 145
чувствительную к излучению эмульсию 2, представляющую собой При длительном хранении D 01 увеличивается. Участок кри-
слой желатины толщиной 10-30 мкм, в которой равномерно вой АБ называют областью недодержек. В этой области почернение
распределены микрокристаллы бромистого серебра. Размеры пленки с увеличением экспозиции незначительно. На участке БВ
микрокристаллов не превышают 3 мкм. Для увеличения прочности плотность почернения пропорциональна экспозиции. Эта область
соединения между эмульсией и подложкой лежит слой специаль- соответствует области рабочих экспозиций в радиографии. Тангенс
ного клея 3, называемый подслоем. Снаружи на эмульсию наносят угла наклона рабочего участка называют коэффициентом контраст-
защитный слой 1 из задубленной желатины толщиной до 1 мкм ности плёнки. Участок ВГ соответствует области передержек.
для предохранения эмульсии от механических повреждений. Чувствительность пленки измеряют величинами, обратными
Под воздействием излучения бромистое и хромистое серебро величине дозы излучения, необходимой для получения плотности,
разлагаются и выделяют серебро чёрного цвета. Двойной слой превышающей на 0,85 плотность вуали.
фотоэмульсии увеличивает чувствительность в два раза. Случайно возникающие скопления и разряжения зерен
Чувствительность плёнки определяется оптической плот- серебра создают впечатление зернистости изображения и ухудшают
ностью почернения D 0 = lg(F0 / F) , где F0 / F – непрозрачность выявляемость мелких дефектов при радиографическом контроле.
пленки, F0, F – интенсивность светового потока, падающего на пленку Зернистость называют также гранулярностью G. С увеличе-
и проходящего через нее. Плотность почернения совершенно проз- нием энергии излучения гранулярность возрастает. Большую
рачного снимка ( F0 = F ) равна нулю. Плотность почернения гранулярность имеют изображения, полученные с применением
пропорциональна экспозиции HЭ, которая равна произведению усиливающих флуоресцентных экранов. Гранулярность радио-
времени выдержки на интенсивность падающих лучей. На рис. графических снимков, а также рассеяние излучения в эмульсии
7.15 представлен примерный вид характеристической кривой радиографических пленок приводит к тому, что скачкообразное
пленки, являющийся зависимостью плотности почернения от изменение интенсивности излучения на границах дефекта
логарифма экспозиции. регистрируется как плавное изменение плотности почернения
Начальный участок характеристической кривой соответст- радиографической пленки. Количественную характеристику
вует отсутствию излучения. Он характеризует плотность вуали величины размытия называют собственной нерезкостью радио-
D 01 – величину плотности обработанной плёнки, не подвергнутой графических детекторов излучения uп. Величина собственной
облучению. Её величина лежит в пределах 0,1 ≤ D 01 ≤ 0,3 . нерезкости безэкранных радиографических пленок зависит от
спектрального состава излучения и равна 0,4 мм при использова-
нии в качестве источника излучения 60Co, 0,28 мм при использова-
нии 192 Ir и 0,1мм для 170 Tm. При использовании тормозного
излучения с максимальной энергией в спектре от 150 до 250 КэВ
величина собственной нерезкости изменяется от 0,1 до 0,17 мм.
Радиографические плёнки можно использовать в комбина-
ции с экранами (металлическими или флуоресцентными).
Экранные радиографические пленки предназначены для
регистрации излучения оптического диапазона, возникающего при
воздействии ионизирующего излучения на флуоресцентные экраны.
Рис. 7.15. Характеристическая кривая радиографической пленки Они сенсибилизированы в оптическом диапазоне излучения, их

146 147
спектральная чувствительность согласована со спектром излуче- Т а б л и ц а 7.2
ния флуоресцентных экранов. Характеристики металлических экранов
По сравнению с безэкранными пленками экранные имеют
большую чувствительность и меньший коэффициент контраст- Источник Толщина экрана, мм
Материал экрана
ности. Собственная нерезкость экранных пленок при использова- излучения переднего заднего
нии тормозного излучения с максимальной энергией в спектре 150 Рентген
Pb 0,05 0,1
– 250 кэВ составляет 0,6 мм. 100-200 кВ
Рентген
Усиливающие металлические экраны применяют для сокра- Pb 0,1 0,2
200-300 кВ
щения времени просвечивания. Усиливающее действие метал- 60
Co Pb, Cu 0,4 0,5
лических экранов основано на выбивании из них вторичных 170
электронов под действием ионизирующего излучения. Выбитые Tm Pb 0,2 0,4
электроны действуют на эмульсию пленки и вызывают дополни- Ускоритель
Pb, Cu 0,5 1-2
3-12 МэВ
тельную фотохимическую реакцию, усиливающую действие пер-
вичного излучения.
Металлические экраны выполняют из тяжёлых элементов – венной нерезкости. Коэффициент усиления – отношение времени
свинца, меди, реже – из вольфрама и титана. Экраны устанавли- экспозиции при использовании флуоресцирующих экранов,
вают позади и впереди радиографической плёнки. Применение необходимого для получения снимка с заданной оптической плот-
экранов приводит к сокращению экспозиции. Задний экран защи- ностью, к времени экспозиции на той же пленке без усиливающих
щает плёнку от рассеянного излучения. Толщина экрана для раз- экранов. Величина коэффициента усиления зависит от энергии
личных источников излучения приведена в табл. 7.2. излучения.
Флуоресцентные экраны изготовляют на основе люмино- Собственная нерезкость флуоресцентных экранов связана с
форов. Усиливающее действие флуоресцентных экранов связано рассеянием света в экранах и зависит от плотности упаковки зерен
с дополнительным воздействием на пленку свечения, возникаю- флуоресцентного вещества в экране. Величина собственной нерез-
щего в люминофоре под действием ионизирующего излучения. кости флуоресцентных экранов значительно превышает величину
В качестве люминофоров используют смесь мелких кристаллов собственной нерезкости радиографической пленки и составляет
сульфида цинка и сульфида кадмия, активированных серебром от 0,4 до 0,6 мм.
ZnS(Ag); CdS(Ag), а такжее CaWO4 ; (Ba, Pb)SO4 ; Gd2 O2S(Tb) . Флуоресцентные экраны выпускают серийно. Некоторые
Люминофор со связующим наносят на бумагу или картон. сведения о флуоресцентных экранах приведены в табл. 7.3.
Радиографическую плёнку располагают между двумя флуоре- Коэффициент контрастности флуоресцентных экранов kп =1.
сцентными экранами, в случае использования односторонних Коэффициент контрастности экранных радиографических пленок
радиографических пленок – один экран, расположенный с той значительно ниже, чем коэффициент контрастности безэкранных
стороны пленки, на которую нанесена эмульсия. При высоких пленок. Следовательно, при одинаковом радиационном контрасте
энергиях излучения перед передним экраном или вместо него общий контраст изображения на снимках, полученных с использо-
устанавливают металлический экран. ванием флуоресцентных экранов, значительно ниже, чем на сним-
Основными характеристиками усиливающих флуоресцент- ках, полученных при использовании безэкранных пленок с метал-
ных экранов являются коэффициент усиления и величина собст- лическими экранами.

148 149
Т а б л и ц а 7.3 ложкой передвигают над проволочным электродом, находящимся
Характеристики флуоресцентных экранов под напряжением 5-10 кВ относительно заземлённой подложки.
В результате возникает коронный разряд, и поверхность селенового
Количество люминофор слоя, обращённая к электроду, заряжается до потенциала 600 В
Тип экрана Люминофор 2 относительно подложки.
на экране, мг/см Операция сенсибилизации и последующего экспонирования
переднего заднего пластины проводится в темноте. Сенсибилизированную пластину
«Стандарт» CaWO 4 60 60 помещают в светонепроницаемую кассету и располагают за КО.
«УС» ZnS(Ag) 30 110 Под действием ионизирующего излучения электропроводность
«Р-9» Cd 2 O 2S(Tb ) 120 120 пластины возрастает и потенциал селенового покрытия снижается
пропорционально дозе излучения, поглощённого в слое селена под
заряженным участком. На следующей стадии ксерорадиографи-
Радиационный контраст, создаваемый источниками излуче- ческого процесса образовавшийся на селеновом слое потенциаль-
ния, не зависит от детектора излучения, следовательно, примене- ный рельеф проявляют, для чего на поверхность пластины со
ние флуоресцентных экранов приводит к ухудшению выявляе- стороны селенового слоя напыляют предварительно заряженные
мости дефектов. Однако радиационный контраст может быть уве- частицы мелкодисперсионного порошка красителя. В результате
личен при использовании флуоресцентных экранов на основе электростатического взаимодействия заряженных частиц с
редкоземельных элементов с большим коэффициентом усиления, потенциальным рельефом селенового слоя пластины получают
так как их применение позволяет снизить напряжение на рент- пространственное распределение слоя красителя, отображающее
геновской трубке. Это, в свою очередь, увеличивает коэффициент распределение интенсивности излучения за КО.
ослабления излучения и позволяет получить контраст изображе- После проявления изображения на ксерографической
ния, превышающий контраст изображения, получаемый при пластине его переносят на бумагу и закрепляют.
использовании безэкранных пленок. Бумагу с липким слоем резиновым валиком прикатывают к
Разновидностью радиографического контроля является пластине, затем бумагу выдерживают в парах органического раст-
ксерорадиография. Ксерорадиография – способ получения изоб- ворителя или нагревают. При этом липкий слой бумаги размяг-
ражения на поверхности тонкого слоя полупроводящего материала, чается и образует с красителем прочное изображение.
электропроводность которого зависит от интенсивности ионизи- Ксерографическая установка позволяет эффективно конт-
рующего излучения. ролировать изделия из стали толщиной 25-30 мм. Это перспектив-
Ксерорадиографическая пластина – тонкий слой селена ный вид контроля, разрешающая способность теоретически
высокой чистоты (99,992%), напылённый в вакууме на полирован- составляет 50 линий/мм. В настоящее время качество выпускаемых
ную проводящую подложку. В качестве материала подложки чаще пластин позволяет получить разрешающую способность около 10
всего используется алюминий, возможно использование латуни, линий/мм и более (у рентгенографических плёнок разрешающая
стекла или бумаги с проводящими слоями. Толщина слоя селена способность пока выше). При низких энергиях излучения чувст-
составляет 100-400 мкм. Чувствительность пластин К определяют вительность ксерографических пластин превышает чувствитель-
величиной, обратной дозе излучения, при которой достигается ность радиографических плёнок, поэтому их применение перспек-
заданная плотность почернения. Перед проведением экспонирова- тивно при контроле тонких стальных изделий и изделий из лёгких
ния пластину сенсибилизируют, для чего её с заземлённой под- сплавов.

150 151
При радиографическом методе контроля важен правильный Производительность радиографического контроля принято изме-
выбор расстояний между источником, контролируемым объектом рять линейным размером или площадью участка детали, контроли-
и детектором. Фокусное расстояние F – расстояние от источника руемого за единицу времени. При росте F возрастает размер конт-
излучения до детектора, линейный размер фокусного пятна Ф, рас- ролируемого участка, уменьшается нерезкость. Однако чрезмерное
стояние от источника до дефекта a и от дефекта до пленки b увеличение фокусного расстояния ведет к значителному увеличе-
связаны соотношением Uг = bФ / а = bФ /( F – b ) , где Uг – гео- нию времени экспозиции, что снижает производительность контроля.
При регистрации изображения дефектов геометрическая
метрическая нерезкость (рис. 7.16).
нерезкость суммируется с собственной нерезкостью радиографи-
ческой пленки Uп. Нерезкость изображения на радиографической
пленке ухудшает их выявляемость, особенно когда величина нерез-
кости соизмерима с размерами дефекта. Для контроля сварных и
стыковых соединений, литых изделий рекомендуется соблюдать
некоторые оптимальные геометрические соотношения между
источником, контролируемым объектом и детектором.
При просвечивании деталей, имеющих резкие перепады
толщин, получаются очень контрастные негативы. Изображение
тонких частей получается слишком тёмным, а толстых – слишком
светлым (оптические плотности почернений выходят за пределы
оптимальных значений). В этих случаях принимают следующие меры:
Рис. 7.16. Основные геометрические соотношения при 1) проводят просвечивание при больших значениях напряже-
радиографическом контроле: А – точечное пятно; Б – линейное пятно;
ния по сравнению с оптимальными;
В, Г – изменение нерезкости при изменении расстояния
между дефектом и детектором 2) у окна защитного кожуха устанавливают фильтры (они
отфильтровывают мягкое излучение и создают пучок жесткого
излучения – с увеличением жёсткости излучения контрастность
Из формулы видно, что геометрическая нерезкость может уменьшается);
быть уменьшена применением источника с возможно малым ли- 3) используются менее контрастные плёнки без усиливаю-
нейным размером фокусного пятна, установкой кассеты с пленкой щего флуоресцирующего экрана;
вплотную к просвечиваемому участку и увеличением фокусного 4) применяют две плёнки с различной чувствительностью;
расстояния. 5) применяют специальные компенсаторы – твёрдые (прок-
Если расстояние от дефекта до пленки велико (КО велик ладки из материала детали), сыпучие (мелкая дробь, металличес-
или пленку нельзя приложить вплотную к поверхности объекта), кие или пластичные мастики, сурик, парафин) или жидкие – вод-
изображение дефекта получается увеличенным, с размытыми ные растворы хлористого или йодистого бария.
краями, сниженным радиационным контрастом. Величина гео- Приведем основные правила просвечивания, обеспечиваю-
метрической нерезкости имеет максимальную величину для де- щие высокую чувствительность радиографического метода:
фектов, расположенных на поверхности изделия, обращенной к ИИ. - фокусное пятно должно быть возможно меньшим;
От выбора фокусного расстояния F зависят производитель- - фокусное расстояние должно быть по возможности макси-
ность контроля и минимальные размеры выявляемых дефектов. мальным;

152 153
- плёнка должна быть мелкозернистой (высококонтрастной);
- размер поля облучения должен быть как можно меньше;
- плёнка должна быть расположена как можно ближе к КО;
- ось рабочего пучка излучения должна быть направлена
перпендикулярно плёнке;
- следует уменьшать действие рассеянного излучения на плёнку.
Для расшифровки результатов контроля широко используют
негатоскопы. К наиболее удачным относят те, в которых в качестве
источника использованы галогенные лампы. Их отличают неболь-
шие габариты, мощный световой поток, хорошая равномерность
освещения выходного окна.
Радиоскопический метод основан на представлении оконча-
тельной информации об ионизированном излучении на флуоре-
сцентном экране с помощью электронно-оптических преобразова-
телей, оптических усилителей и телевизионных систем. В качестве
источника ионизирующего излучения используют рентгеновские
аппараты, а также мощные источники излучения высокой энергии Рис. 7.17. Схема радиоскопического контроля с использованием
– линейные ускорители микротронов. При радиоскопическом монокристаллического экрана: 1 – источник; 2 – контролируемый объект;
3 – монокристаллический экран; 4 – зеркало с поверхностным отражением;
контроле в качестве детекторов используются флуоресцентные или
5 – оптическая система; 6 – передающая телевизионная трубка;
монокристаллические экраны. Изображение с этих экранов через 7 – усилитель; 8 – видеоконтрольное устройство
оптическую систему передают на приёмную трубку телевизионной
системы и наблюдают с нужным усилением (рис. 7.17). В качестве
детекторов излучения могут быть также использованы рентген-
видиконы, которые одновременно являются и детектором излу-
чения, и передающей телевизионной трубкой. Изображение,
усиленное телевизионной системой, наблюдают на экране видео-
контрольного устройства (рис. 7.18). Источниками излучения в
таких случаях служат рентгеновские аппараты.
Обязательным элементом любой схемы является входной
экран – преобразователь теневого радиационного изображения в
изображение, представленное другой формой энергии.
В качестве преобразователей при радиоскопическом методе
контроля используют: рентгенооптические преобразователи, пре-
образующие радиационное изображение в видимое; фоторезистив- Рис. 7.18. Схема радиоскопического контроля с использованием
ные преобразователи, переводящие радиационное изображение в рентгенотелевизионной установки с рентген-видиконом: 1 – источник;
рельеф проводимости на полупроводниковом экране; рентгено- 2 – контролируемый объект; 3 – рентген-видикон; 4 – усилитель

154 155
электронные преобразователи, преобразующие радиационное изо- Флуороскопические экраны представляют собой слой люмино-
бражение в поток электронов. фора, смешанного со связующим веществом, нанесённый на под-
В последних двух случаях необходимо дальнейшее преоб- ложку. Флуороскопические экраны не прозрачны для собственного
разование потенциального рельефа или потока электронов в опти- излучения, толщина слоя люминофора невелика. При увеличении
ческое изображение. излучения эффективность флуороскопических экранов снижается.
Радиоскопия позволяет наблюдать как непосредственное Разрешающая способность не превышает 2-3 линий/мм.
изображение объекта контроля на экране, так и дистанционную Монокристаллические экраны выполнены из монокристал-
передачу изображения телевизионной системой. лов йодистого цезия или натрия, активированного таллием.
К основным характеристикам элементов схем радиоскопи- CsJ (Tl) более чувствителен, чем NaJ(Tl) . Они обладают мень-
ческого контроля относятся: шим квантовым уровнем, но большей поглощающей способ-
- квантовый выход – число носителей информации, генери- ностью; спектр излучения лучше соответствует чувствительности
руемое в приёмнике на один поглощённый квант; фотокатодов передающих телевизионный трубок. Разрешающая
- эффективность выхода, или КПД съёма информации – доля способность около 10 линий/мм. Экраны прозрачны для собствен-
носителей информации, которые могут быть использованы для ного излучения, толщина применяемого экрана зависит от энергии
дальнейшего формирования изображения; излучения. Чем больше энергия излучения, тем более эффективно
- чувствительность преобразователя, характеризуемая отно- применение монокристаллических экранов.
шением светового потока или тока электронов на выходе преоб- Флуороскопические и монокристаллические экраны
разователя к мощности экспозиционной дозы; безынерционны. Серийно выпускаются экраны различной формы:
- инерционность преобразователя, характеризуемая инер- диски (до 200 мм в диаметре), пластины (до 1500Ч1000Ч20 мм),
ционной постоянной τ реакции преобразователя на включение или блоки, пленки толщиной 0,05-0,5 мм.
выключение излучения; К другому виду преобразователей – фоторезисторные преоб-
- контрастность преобразователя kп , характеризуемая изме- разователи – относятся рентген-видиконы. Это передающая теле-
нением радиационного изображения после преобразования; для визионная трубка, чувствительная к ионизирующему излучению.
большинства преобразователей k п ≤ 1 , т.е. в лучшем случае преоб- Преобразование радиационного изображения в потенциальный
разователь не ухудшает контраста первичного изображения; рельеф происходит в тонком слое полупроводника, нанесённого с
- разрешающая способность rп , измеряемая числом линий внутренней стороны входного окна рентген – видикона. Малая
толщина слоя полупроводника позволяет получить хорошую
на миллиметр при 100% -м контрасте радиационного изображения
разрешающую способность, превышающую разрешающую спо-
( kп = 1 ); 1,5 собность радиографического снимка. Преобразование изображе-
- собственная нерезкость U п преобразователя, U п =
rп ; ния на входном окне трубки имеет преимущества перед передачей
- частотно-контрастная характеристика – функциональная оптического изображения с экрана, так как устраняются два этапа
связь между разрешающей способностью преобразователя и преобразования: рентген – свет и оптическая передача, ликвиди-
контрастом получаемого изображения. руются потери в оптической системе. Недостаток – система обла-
Чаще всего в качестве экранов используют рентгенооптичес- дает значительной инерционностью, не позволяющей наблюдать
кие преобразователи, флуороскопические и монокристаллические изображение в динамике, поле рентгеновского контроля ограни-
экраны. чено полем фотопроводящей мишени.

156 157
Рентгеноэлектронное преобразование используют в рент- КО (рис. 7.20). В качестве источников обычно используют радио-
геновских электронно-оптических преобразователях (РЭОП). активные источники излучения или ускорители электронов. В ка-
Электроны, выбиваемые ионизирующим излучением из честве детекторов чаще всего применяются сцинцилляторный де-
входного окна РЭОП, ускоряются высоким напряжением и фокуси- тектор, полупроводниковый детектор, реже – ионизационные
руются на выходном окне, на которое нанесён слой люминофора камеры и газоразрядные счётчики.
(рис. 7.19). Под действием ускоренных электронов на выходном
окне возникает уменьшенное оптическое изображение. Разрешаю-
щая способность до 50 линий/мм.

Рис. 7.19. Схема рентгеновского электронно-оптического


преобразователя: 1 – источник излучения; 2 – контролируемое изделие; Рис. 7.20. Схема радиометрического контроля: 1 – источник излучения;
3 – фотокатод; 4 – фокусирующие катушки; 5 – выходной экран 2 – контролируемый объект; 3 – механическое устройство для перемещения
контролируемого изделия; 4 – коллиматор; 5 – детектор излучения;
6 – усилитель, самописец
Радиоскопический метод контроля позволяет исследовать
КО непосредственно в момент просвечивания. Малая инерцион- Узкий (коллимированный) пучок ионизирующего излучения
ность позволяет контролировать объект под различными углами, перемещается по КО, последовательно просвечивая все его участки.
это облегчает расшифровку результатов контроля, позволяет отде- Излучение, прошедшее через объект, регистрируется ионизацион-
лить изображение КО от шума, возникающего в тракте форми- ным детектором излучения, на выходе которого образуется
рования изображений. электрический сигнал с величиной, пропорциональной интенсив-
Обычно максимальная толщина КО из стали не превышает ности поступающего излучения. Электрический сигнал, прошед-
10-45 мм (реже 80-150 мм). В этом случае необходимо применение ший усилитель, регистрируется индикаторным устройством –
мощных источников ионизирующего излучения (микротронов или самописцем, осциллографом, миллиамперметром и т.п. При нали-
линейных ускорителей). Основной недостаток радиоскопического чии дефекта регистрирующее устройство отмечает возрастание
метода контроля – некачественная документальная запись резуль- интенсивности.
татов контроля; сложная электронная аппаратура; большие габа- Для увеличения разрешающей способности нужен очень
риты и масса блока преобразователя. узкий пучок. Однако если пучок очень узок, то снижается число
При радиометрическом контроле интенсивность ионизирую- фотонов, попадающих на детектор. Обычно площадь окна кол-
щего излучения измеряют последовательно в разных точках за лиматора составляет около 1 см2.

158 159
Радиометрические методы позволяют определить протя- На рис. 7.21 приведен график зависимости импульса тока
женность дефекта и его лучевой размер. Длина дефекта от напряжения на электродах, на котором выделены рабочие участки
v0 различных ионизационных детекторов излучения. В зависимости
L деф = lи a , где lи – протяжённость импульса на диаграм- от величины напряжения U, подаваемого на электроды, сущест-
v вуют различные режимы работы трубки: U1 ≤ U ≤ U2 – режим насы-
1
щения, U3 < U < U4 – режим пропорциональности, U4 < U < U5 –
мной ленте, v 0 − скорость контроля, v 1 − скорость записи, a − раз-
режим газового разряда.
мер окна коллиматора в направлении КО. Объёмные дефекты опре-
деляются с точностью до 3-5%.
Преимущества радиометрии – высокая чувствительность
(0,3-3%), возможность бесконтактного контроля, высокая (по срав-
нению с радиографией) производительность.
К недостаткам следует отнести необходимость одновремен-
ного перемещения на одинаковом расстоянии источника ионизи-
рующего излучения и дефекта; невозможность определения формы
и глубины расположения дефекта, устранения влияния рассеянного
излучения. В промышленности используется для контроля сталь-
ных изделий от 20 до 1000 мм.
Принцип работы ионизационных детекторов основан на Рис. 7.22. Схема пропорционального счетчика: 1 – нить анода;
ионизирующем действии излучений на газы. Выходным сигналом 2 – катод в виде металлического цилиндра; 3 – стеклянный баллон
является ионизационный ток или импульсы тока, возникающие
при действии на газовую среду излучений.
Ионизационные камеры работают в режиме насыщения
ионизационного тока при сравнительно небольших напряжениях,
подаваемых на электроды U (100-220 В).
эл
Детектирование б- и в – частиц происходит за счет непос-
редственной ионизации этими частицами газа в камере; детекти-
рование г – квантов обусловлено в основном вторичными электро-
нами, освобождаемыми при взаимодействии этого излучения со
стенками камеры. Для детектирования потока тепловых нейтронов,
которые не ионизируют газ непосредственно, в материал камеры
или газ вводят добавки (кадмий, бор), обеспечивающие ядерную
реакцию, в процессе которой образуются заряженные частицы.
Рис. 7.21. Зависимость импульса тока выходного сигнала Пропорциональные счетчики (рис. 7.22) работают в режиме
от напряжения на электродах газоразрядного счетчика газового усиления (область 2 рис. 7.21), где импульс тока пропор-
при различных режимах работы ционален первичной ионизации. На электроды подаётся

160 161
U ≥ 300 ч 400В, электроны, созданные излучением внутри лей электрического тока. Полупроводниковые счетчики работают
счётчика, приобретают энергию, достаточную для ионизации газа. по принципу ионизационной камеры.
Возникающие при этом вторичные электроны движутся к нити Если на полупроводниковый детектор, обладающий n-p –
анода с ускорением и создают на своём пути новые электроны и т.д. переходом, падает б – излучение (или г – кванты), то в его чувстви-
Возникает лавинообразный процесс, называемый газовым усиле- тельной области возникают пары «электрон – дырка» подобно
нием. Коэффициент газового усиления составляет 10-104 и пропор- парам «электрон – ион» в камере. Число образованных пар «элект-
ционален приложенному напряжению. Выходной сигнал ПС рон – дырка» пропорционально энергии, потерянной в чувстви-
значительно больше сигнала ионизационной камеры. По величине тельной области детектора ( ~ 3⋅ 105 пар на 1 МэВ энергии, поте-
импульса можно судить о виде излучения или его энергии. рянной в процессе ионизации).
Счетчики Гейгера-Мюллера также являются пропорциональ-
ными, но работают в режиме самостоятельного разряда (область
3 рис. 7.21), когда амплитуда импульса не зависит от вида и энергии
регистрируемого излучения. Напряжение U в этом случае сос-
эл
тавляет ~ 700 – 1000 В.
При этом напряжении происходит возбуждение молекул газа
(испускание ультрафиолетовых фотонов и интенсивное выбивание
ионами свободных электронов из катода), что приводит к разряду
по всей длине нити анода. Воздействие даже одной частицы вызы-
вает непрерывный разряд по всему объёму счетчика, как это проис- Рис. 7.23. Схема полупроводникового счетчика
ходит в неоновых трубках. Для регистрации следующей частицы
необходимо автоматически прервать разряд в трубке.
В случае приложения запорного напряжения (n-слой
В самогасящихся счётчиках в газ, наполняющий счётчик,
подключается к положительному полюсу батареи, а p-слой – к
вводят гасящую добавку – газы органических соединений, кисло-
отрицательному) в цепи счетчика протекает ток, аналогичный
род или галогенные соединения.
ионизационному. Этот ток значительно больше тока камеры, т.к.
Самогасящиеся галогенные счётчики работают при меньших
тормозящая способность твёрдого вещества в сотни раз больше
напряжениях U ≈ 400 – 450 В и обладают высокой чувстви- тормозящей способности газа, а на образование пары «электрон –
эл
тельностью. Выходной сигнал этих счётчиков не зависит от типа дырка» затрачивается энергии меньше, чем на образование пары
излучения и имеет большую амплитуду (от 1 до 50 В). «электрон – ион». Чувствительная область W может достигать 10 мм;
Счетчики Гейгера-Мюллера используются для измерения такие счетчики успешно работают при низких температурах, в
плотности потока частиц или мощности дозы различных видов вакууме, они не чувствительны к магнитным полям, компактны.
излучения. Сцинцилляторные, или радиолюминесцентные, детек-
Полупроводниковые детекторы (ППД) работают по прин- торы. Работа их основана на световозбуждающем действии излу-
чения на вещество. Такими веществами являются люминофоры,
ципу фотопроводимости, т.е. под действием падающего излучения
или сцинцилляторы, преобразующие поглощенную энергию
в детекторе из полупроводника ( Ge; Si ) возникает поток носите-
ионизирующего излучения в видимый свет.

162 163
Под действием рентгеновского или г-излучения флуоро- электроны, которые электрическим полем направляются на диноды.
скопические экраны на основе сульфидов цинка и кадмия Здесь они в результате вторичной эмиссии электронов усили-
ZnS(Ag); CdS( Ag) дают желто-зеленоватое свечение, соответст- ваются. Общий коэффициент усиления ФЭУ 105 – 109. Амплитуда
импульса тока пропорциональна интенсивности излучения,
вующее максимальной чувствительности глаза. Люминофоры на
попадающего на сцинциллятор. Сцинцилляторные счетчики можно
основе CaWO 4 ; (Ba, Pb)SO 4 дают интенсивное свечение в синей, применять для измерения числа заряженных частиц, г-квантов,
фиолетовой и ультрафиолетовой областях спектра, к которому быстрых и медленных нейтронов; для измерений мощности дозы
чувствительна фотоэмульсия рентгеновских пленок. Применяются ИИ. Для регистрации г-квантов эти счетчики более эффективны,
также органические сцинцилляторы – антрацен, стилбен, n-тер- чем газоразрядные, и равноценны полупроводниковым.
фелин. Томография. Сущность метода заключается в получении
Сцинцилляторный счетчик (рис. 7.24) состоит из сцинцил- резкого изображения только тех частей объекта, которые находятся
лятора 1, фотоэлектронного умножителя (ФЭУ) 2 и электронной в тонком (не более 2 мм) слое на определенной глубине или в нес-
регистрирующей аппаратуры. кольких тонких слоях, разделенных интервалами заданной тол-
щины (шагом томографии). Этого добиваются, например, синхрон-
ным перемещением (рис. 7. 25) рентгеновской трубки (А1 → А3)
и кассеты с экранами и пленкой (О1 → О3) относительно прост-
ранственного центра качения О. В результате получают изображе-
ние выделенного слоя MN, расположенного в плоскости, проходя-
щей через центр качения.

Рис. 7.24. Схема сцинцилляторного счетчика: 1 сцинциллятор;


2 – фотоэлектронный умножитель; 3 – фотокатод; 4 – диноды;
5 – фотоны; 6 – фотоэлектроны

ФЭУ представляет собой стеклянный баллон, на части внут-


ренней поверхности которого нанесено сурьмяноцезиевое покры-
тие, служащее фотокатодом 3. Внутри трубки имеется несколько
электродов – умножителей (динодов), подключенных к делителю
напряжения. Для питания ФЭУ используют стабилизированные
высоковольтные источники напряжения в 1000-2000 В.
При попадании ионизирующего излучения сцинциллятор
испускает фотоны видимого света в виде отдельных вспышек. Под Рис. 7.25. Схема образования томографического изображения:
воздействием этих фотонов с катода ФЭУ 3 вырываются фото- I – рентгеновская трубка; II – объект контроля; III – кассета с пленкой

164 165
Это изображение представляет собой геометрическое место персонала, не вызывающий при равномерном накоплении дозы в
точек выделенного слоя, тени которых неподвижны по отношению течение 50 лет неблагоприятных изменений в состоянии здоровья
к пленке. Таким образом, в томографии используют эффект дина- самого облучаемого и его потомства.
мической нерезкости изображения. Синхронное движение источ- Установлены 3 категории облучаемых лиц: А – персонал
ника излучения и пленки относительно объекта позволяет размыть (профессиональные работники, непосредственно работающие с
изображения неанализируемых дефектов или слоя, изображения источниками ионизирующего излучения); Б – отдельные лица из
которых в обычно принятом методе радиографии накладываются населения; В – население в целом.
друг на друга, и более резко выделить изображение требуемого для К категории Б относятся лица, работающие в помещениях,
обнаружения дефекта или слоя. Минимальная толщина выделяе- смежных с теми, где работает персонал А, а также лица, проживаю-
мого слоя составляет 1,5 мм. щие в пределах санитарно-защитной зоны предприятия, и т.п.
В настоящее время широко используют компьютерную Для персонала установлены предельно-допустимые дозы
томографию. По сравнению с обычным рентгеновским изображе- (ПДД), а для отдельных лиц из населения – пределы доз. ПДД
нием томограммы имеют гораздо более высокую информатив- установлены для четырех групп критических органов или тканей
ность, поскольку детально показывают внутреннюю геометричес- тела. Так, для всего организма ПДД облучения лиц категории А
кую структуру, распределение плотности и элементного состава
равна 0,05 Зв/год, В – 0,005 Зв/год.
материала. Повышенный объем информации в рентгеновской
Для проведения РК могут привлекаться лица, достигшие
компьютерной томографии получается за счет большого числа
18-летнего возраста, прошедшие предварительно медицинское
первичных преобразователей (от 250-500 до 2000), непрерывного
освидетельствование, изучившие инструкции и методики просве-
вращения системы «преобразователь – детектор» вокруг объекта
чивания и правила технической эксплуатации установок. Все лица,
на 360о.
проводящие радиационный контроль, должны проходить меди-
Томографы дают возможность решения многих задач
цинский осмотр не реже 1 раза в год.
неразрушающего контроля. Их применяют для контроля объектов
с небольшим затуханием излучения, например, композитов, Доза облучения всего организма, гонад или красного кост-
углепластиков, резины толщиной до 20 мм и размером до 1,5 м ного мозга представителя персонала не должна превышать дозу
при разрешении по плотности 0,2%. С помощью томографов уве- облучения, определяемую по формуле D ≤ 0,05( N − 18), где D – доза,
ренно обнаруживаются трещины с раскрытием 0,01-0,02 мм, что Зв; N – возраст, годы; 18 лет – возраст начала профессионального
на порядок выше обычной радиографии. облучения.
В любом случае доза, накопленная в возрасте до 30 лет, не
7.4. Меры безопасности при РК должна превышать 0,6 Зв. Наибольшая доза за квартал для мужчин
– не более 0,03 Зв, для женщин – не более 0,013 Зв.
При проведении радиационной дефектоскопии должны быть Дозу облучения измеряют с помощью индивидуальных дози-
приняты меры по защите от ионизирующего излучения. Разра- метров, которые следует носить в нагрудном кармане.
ботаны «Основные санитарные правила работы с радиоактивными Снижение уровня радиации достигается направлением
веществами и источниками ионизирующих излучений» ОСП-72, излучения в сторону земли, уменьшением времени облучения,
а также «Нормы радиационной безопасности» НРБ-69. В соот- увеличением расстояния от источника до работающего.
ветствии с НРБ-69 установлены предельно допустимые дозы и Наиболее распространенный способ защиты от ионизирую-
пределы излучений. ПДД называют годовой уровень облучения щего излучения – экранирование – ослабление излучения слоем

166 167
тяжелого материала. Стены помещений, перекрытия полов защи- 12. В чем преимущества и недостатки ксерографии и флюоро-
щают тяжелыми металлами, такими как свинец, свинцовое стекло, графии?
вольфрам, барит, используется также бетон, кирпич. Защита должна 13. Назовите основные схемы радиоскопического контроля.
обеспечивать снижение дозы на рабочих местах до 2,8•10-5 Зв/ч; в 14. Опишите принцип действия полупроводникового датчика
смежных помещениях доза облучения не должна превышать ИИ.
2,8•10-6 Зв/ч. 15. Какие источники ИИ применяются при радиометрии?
В зависимости от времени работы источника ионизирую- 16. Назовите основные характеристики радиометрического
щего излучения в течение недели, силы тока в рентгеновской трубке, контроля.
напряжения на трубке, расстояния от источника до защитного 17. Каково назначение и принцип действия рентген-видикона?
ограждения толщина стенки из свинца может составлять от 0,5 18. Назовите основные преимущества и недостатки каждого
мм до 25 мм и, соответственно, до 620 мм из бетона (с=2,35 кг/м3). из известных вам способов регистрации при РНК.
19. В чем заключается принцип действия счетчика Гейгера-
Мюллера?
Вопросы для самопроверки

1. Что собой представляет система радиационного контроля?


2. Классификация РНК. Назовите способы регистрации радиа-
ционных изображений. Перечислите основные характе-
ристики детекторов.
3. Какие виды источников ИИ позволяют получить тормоз-
ное излучение?
4. Объясните процесс получения рентгеновского и гамма-
излучения.
5. Поясните принцип работы бетатрона. Назовите основные
характеристики линейного ускорителя с бегущей волной.
Опишите особенности конструкции микротрона.
6. Назовите основные характеристики радиоизотопных источ-
ников излучения.
7. Какие конструкции гамма – дефектоскопов вам известны?
Перечислите основные особенности конструкции.
8. Запишите схему распада радиоактивного изотопа 60Со.
9. Какие факторы влияют на чувствительность при радио-
графии?
10. Назовите типы рентгеновских пленок и их основные харак-
теристики.
11. Каково назначение экранов? На чем основан принцип
усиления?

168 169
ЗАКЛЮЧЕНИЕ академии наук «Дефектоскопия», являющийся авторитетным
изданием по вопросам теории и практики неразрушающего конт-
Развитие современной техники и новейших технологий роля. С 1998 г. выпускается ежеквартальный журнал “В мире нераз-
приводит к созданию все более сложных приборов, машин и рушающего контроля” специально для дефектоскопистов-практи-
аппаратов, у которых должна быть высокая эксплуатационная ков, работающих во всех отраслях промышленности, и работников
надежность. Все транспортные средства – самолеты, водные суда, служб снабжения, обеспечивающих лаборатории и подразделения
автомобили и др. – представляют собой устройства повышенной оборудованием и материалами НМК. Ежегодно проводятся спе-
опасности, авария на которых может привести к человеческим циализированные выставки современных приборов неразрушаю-
жертвам. Не менее опасными являются энергетические системы, щего контроля. Ниже приведены адреса наиболее известных
особенно с атомными реакторами. Большой урон окружающей Интернет-ресурсов, отражающих современное состояние данной
среде приносят порывы многочисленных нефте- и газопроводов. области науки и последние технические достижения в области
Для предотвращения аварий в перечисленных системах и дефектоскопии.
агрегатах необходима высокая степень надежности работы, кото- http://www.ndtworld.com, http://www.avek.ru,
рая подтверждается тщательным контролем материалов, деталей, http://www.mikcakustika.ru.
узлов и элементов изделий, из которых созданы указанные
устройства. При усовершенствовании технологических процессов
также возникает необходимость непрерывного контроля качества
производимых изделий. Во всех этих случаях незаменимы методы
дефектоскопии.
Среди методов дефектоскопии особое место занимают
неразрушающие методы, которые позволяют определить качество
изделия без нарушения его эксплуатационных свойств. Ценность
этих методов состоит в том, что они позволяют обнаруживать как
явные, так и скрытые дефекты в материалах, предотвращая появле-
ние брака в процессе производства, а также установку бракованных
изделий в выпускаемую готовую продукцию.
В настоящее время неразрушающие методы контроля мате-
риалов, деталей и изделий представляют особую быстроразвиваю-
щуюся отрасль машиностроения: разработкой приборов и методик
неразрушающего контроля занимаются научно-исследовательские
институты, а производством – специализированные предприятия
и заводы.
Современный инженер должен быть знаком с основными
принципами и методами неразрушающего контроля. В программы
технических вузов нашей страны включены соответствующие
курсы. С февраля 1965 г. выходит ежемесячный журнал Российской

170 171
ПРИЛОЖЕНИЯ Дефект – каждое отдельное несоответствие продукции тре-
Приложение А бованиям, установленным нормативной документацией (ГОСТ,
ОСТ, ТУ и т.д.). К несоответствиям относятся нарушение сплош-
Словарь терминов и определений ности материалов и деталей, неоднородность состава материала:
наличие включений, изменение химического состава, наличие
Абсорбция – поглощение какого-либо вещества из окружаю- других фаз материала, отличных от основной фазы, и др. Дефек-
щей среды всей массой поглощающего тела. тами являются также любые отклонения параметров материалов,
Адсорбция – поглощение вещества из газовой или жидкой деталей и изделий от заданных, таких как размеры, качество
среды поверхностным слоем адсорбента. обработки поверхности, влаго- и теплостойкость и ряд других
Аустенит (от имени нем. металлурга Roberts-Austen) – струк- физических величин.
турная составляющая железоуглеродистых сплавов, твёрдый Закаты – дефекты проката в виде заусенцев глубиной более
раствор углерода (до 2%). 1 мм, закатанных в противоположных направлениях, возникающие
Волосовины – результат деформации малых неметалличес- при избытке металла в валках.
ких включений и газовых пузырей. Эти дефекты имеют вид тонких Ковка – способ обработки металла ударным воздействием.
прямых линий размерами от долей миллиметров до нескольких Ликвация – специфический дефект литого металла, неодно-
сантиметров. Волосовины встречаются во всех видах конструк- родность химического состава по скелету дендрита и объёму зерна.
ционных сталей.
Люкс – единица освещенности в СИ.
Волочение – протяжка металла через отверстие для получе-
Науглероживание – насыщение поверхностных слоёв угле-
ния прутка или проволоки.
родом, повышающим хрупкость и склонность к трещинообразова-
Высадка – способ обработки металла, продавливание его
нию, наблюдается при нагреве стальных изделий в среде с избыточ-
через отверстие.
Гомогенизация – придание однородности строения и сос- ным содержанием оксида углерода.
тава металлам, сплавам, эмульсиям и т.п. Недобраковка – неправильное отнесение в годную партию
Горячие трещины – трещины, которые возникают в резуль- изделий, содержащих недопустимые дефекты (F – вероятность
тате разрушения закристаллизовавшегося скелета сплава под недобраковки).
действием термических и усадочных напряжений, особенно при Непровары – это дефект в виде местного несплавления в
быстром твердении сплава, когда термическому сжатию металла сварном соединении из-за неполного расплавления кромок или
препятствует линейная форма. Поверхность таких трещин сильно поверхностей ранее выполненных валиков шва. Как правило, воз-
окислена, в изломе имеет тёмный вид. При деформации слитка никают из-за нарушения режима сварки или технологии подго-
они не завариваются, а, наоборот, развиваются. Характерными товки поверхностей.
признаками горячих трещин являются их неровные (рваные) края Непроклей – дефект клеевого соединения, возникающий в
и значительная ширина. результате некачественной очистки склеиваемых поверхностей или
Дендриты – минеральные агрегаты (иногда кристаллы) древо- нарушения режима склейки.
видной формы. Образуются в результате быстрой кристаллизации Непропай – основной дефект пайки, обычно возникает при
по тонким трещинам или в вязкой среде. Характерны для самород- недостаточно тщательной зачистке припаевыемых поверхностей
ных элементов (золото, серебро, медь), окислов марганца, льда и пр. или из-за нарушения температурного режима.

172 173
Неслитины и неспаи – дефекты, возникающие в результате Прыщи – мелкие вздутия в материале на глубине 1-2 мм,
перерывов в течении струи расплава, имеют вид тонких прослоек которые образуются при сгорании органических примесей в конце
несоединившегося металла. обжига и начале охлаждения.
Обезуглероживание – процесс, который наблюдается при Пузыри – мелкие и крупные вздутия на поверхности кера-
нагреве стальных изделий в среде, содержащей избыток паров воды, мики, возникающие под действием газообразных продуктов раз-
водорода, углекислого газа, вследствие чего происходит выгорание ложения оксида железа или сульфидов при температуре, когда в
углерода в приповерхностных слоях, что снижает прочность стали; материале уже образовалась вязкая стекловидная фаза, препятст-
возникают трещины глубиной 1-2,0 мм. вующая выделению газов.
Оптическая сила – величина, характеризующая пре- Риски – дефекты в виде открытых царапин глубиной 0,2-
ломляющую способность линз. 0,5 мм, возникающие в результате попадания мелких частиц на
Перебраковка – ложное забраковывание изделия поверхность проката.
Песчаные раковины – полости в теле отливки, полностью Рыхлоты – местное скопление мелких усадочных раковин
или частично заполненные формовочным материалом. при крупнозернистой структуре металла.
Плены – плёнки на поверхности или внутри отливки, состоя- Свищи – большие поры, образующиеся при сварке в среде
щие из окислов. углекислого газа, а в некоторых случаях и под флюсом, на больших
Полный излучатель – первичный световой эталон, вос- токах. Размеры внутренних пор колеблются от 0,1 до 2-3 мм в
производящий единицы световых величин – силы света (кандела), диаметре, а иногда и больше. Поры, выходящие на поверхность,
яркости (нит), светового потока (люмен) и т.д. Представляет собой могут иметь и большие размеры. Так называемые червеобразован-
трубку заданного сечения из окиси тория, погруженную в сосуд с ные поры имеют длину до нескольких сантиметров.
затвердевающей платиной. Излучение, выходящее из отверстия Скалывающие трещины – трещины, которые возникают
трубки при 2042о К, принимают за излучение абсолютно черного на поверхности деталей из-за малой пластичности исходных мате-
тела яркостью 6·105 кд/м2. риалов при холодной объёмной штамповке и распространяются
Пористость – местное скопление газовых пузырей или уса- под углом 450 к направлению действующего усилия.
дочных раковин. Термические трещины – обычно хорошо видимые
Прессование – способ обработки металла статическим воз- глубокие разрывы поверхности отливки. Причина возникновения
действием. – высокие температурные растягивающие напряжения,
Пережоги или перегревы возникают при термической совпадающие по знаку с остаточными напряжениями. Поверхность
обработке из-за несоблюдения температурного режима, времени излома раскры-той трещины – мелкозернистая, окисленная или
выдержки, скорости нагрева и охлаждения детали. Перегрев приво- цвета побежа-лости.
дит к образованию крупнозернистой структуры оксидных и суль- Усадочные раковины – это сравнительно большие откры-
фидных выделений по границам зёрен, пережог вызывает обра- тые или закрытые полости произвольной формы с грубой шеро-
зование крупного зерна и оплавление границ зёрен, что способст- ховатой, иногда окисленной поверхностью, находящиеся в теле
вует в дальнейшем разрушению металла. отливки. Усадочные раковины расположены обычно в утолщенных
Прижоги – локальные перезакаленные участки. местах отливки, где металл затвердевает в последнюю очередь.
Посечки – мелкие трещины, возникающие из-за неравно- Флокеноподобные дефекты появляются наиболее часто в
мерности усадки при сушке и обжиге изделия. среднеуглеродистых и среднелегированных сталях при повышен-

174 175
ном содержании в них водорода, обычно в центральной зоне кова- Приложение Б
ных или катаных заготовок крупных сечений. Флокены имеют вид
тонких извилистых трещин, представляющих собой в изломе пятна Величины и единицы измерения
с поверхностью характерного серебристого цвета, округлой формы. Активность источника – это число актов распада нуклида
Холодные трещины возникают под действием термических в единицу времени. Единице активности в СИ – беккерелю (Бк)
и усадочных напряжений, в результате разной скорости охлажде- соответствует 1 распад в секунду. На практике часто активность источника
ния различных участков отливки. Эти трещины имеют светлую, выражают в кюри или грамм-эквиваленте радия (г·экв Ra).
неокислившуюся поверхность и могут завариваться при деформа-
ции слитка. 1Ки = 3,7·1010 Бк.
Цвет – световой тон. Разные длины волн света возбуждают Для радия активность в кюри совпадает с его весом в грам-
разные цветовые ощущения. Длина волны 380 нм воспринимается мах, т.к. в 1г радия, находящегося в платиновом фильтре толщиной
как фиолетовый цвет, 470 нм – синий, 480 нм – голубой, 520 нм – 0,5 мм в равновесном состоянии, ежесекундно распадается 3,7·1010
зеленый, 580 нм – желтый, 600 нм – оранжевый, 640 нм – красный, атомов. Активность источника определяет экспозиционную дозу
700 нм – пурпурный. излучения.
Шлаковые раковины – полости, заполненные шлаком. С течением времени активность уменьшается по закону
Штамповка – ковка или прессование в штамп-форму.
N t = N 0e lt , где N t , N 0 – число радиоактивных атомов в моменты
времени t и 0, ℓ – постоянная распада. Постоянная распада опре-
деляет долю распавшихся атомных ядер данного элемента за еди-
ницу времени, она не зависит от физических или химических усло-
вий и различна для различных элементов.
Диоптрия (дп, D) – единица измерения оптической силы
линзы или системы линз. Оптическая сила, выраженная в дп, равна
обратной величине главного фокусного расстояния линзы, выра-
женной в метрах. 1 дп равна оптической силе линзы или сфери-
ческого зеркала с фокусным расстоянием 1 м.
Доза излучения – энергия ионизирующего излучения,
поглощенная облучаемым веществом и рассчитанная на единицу
его массы (поглощенная доза Dп). Единица поглощенной дозы в
СИ – грей (Гр). 1 Гр – доза излучения, при которой облученному
веществу массой 1кг передается энергия ИИ 1 Дж. Широко
распространена внесистемная единица рад: 1Гр = 102 рад.
Мощность поглощенной дозы – доза, поглощенная в единицу
времени:
Гр рад
1 = 102 .
с с

176 177
Ионизационная постоянная K γ служит для сравнения Эквивалентная доза излучения характеризует биологи-
ческое воздействие излучения на человека. При облучении живых
источников по их ионизирующему действию. Численно K γ равна организмов, в частности человека, возникают биологические
мощности дозы излучения в рентгенах за 1 ч, создаваемый эффекты, величина которых при одной и той же поглощенной дозе
точечным источником активностью в 1мКи на расстоянии 1 см. различна для разных видов излучения. Таким образом, знание
Р см 2 поглощенной дозы недостаточно для оценки радиационной опас-
Так, K γ = 8, 4 ; K γ Co = 12,9 ; K γ = 3,1 . ности. Коэффициент, показывающий, во сколько раз радиационная
Ra Cs ч мКи
опасность хронического облучения человека (в сравнительно малых
Кандела (кд) – единица силы света СИ. Это сила света,
дозах) для данного вида излучения выше, чем в случае рент-
испускаемого с площади 1/600000 м2 сечения полного излучателя
геновского излучения при одинаковой поглощенной дозе, назы-
в перпендикулярном к этому сечению направлении при темпера- вается коэффициентом качества излучения К: K=1 для β -, рент-
туре затвердевания платины 2042є К и давлении 101325 Па
· с- энергией
геновского и г-излучения; К=10 для потока нейтронов
(то же, что и свеча). до 10 МэВ; К=20 для альфа-излучения с энергией до
Нит (нт) – прежнее наименование единицы яркости – кан- 10 МэВ. Эквивалентная доза определяется как произведение погло-
дела на квадратный метр.
щенной дозы на коэффициент качества излучения: Dэкв = KDп .
Период полураспада Т – время, в течение которого число
радиоактивных элементов уменьшается в два раза: Эквивалентная доза может измеряться в тех же единицах, что и
поглощенная. Существует специальная единица эквивалентной
0,693t дозы – бэр (биологический эквивалент рентгена) – количество
2 0,693 −
T = ln = , откуда N t = N 0 e T . Период полураспада энергии, поглощенное в 1г ткани, при котором наблюдается экви-
l l валентный биологический эффект от поглощенной дозы излучения
не зависит от количества, формы и геометрических размеров 1гр рентгеновского и г-излучения. Эквивалентная доза в 1 бэр
источника излучения и у различных радиоактивных изотопов, соответствует поглощенной дозе в 1 рад при К=1. Единица измере-
применяемых в дефектоскопии, колеблется от нескольких дней ния эквивалентной дозы СИ – Зиверт (Зв): 1 Зв=102 бэр.
до десятков лет. Экспозиционная доза – характеристика, основанная на
По этой формуле строят графики в логарифмическом масш- ионизирующем действии излучения в сухом атмосферном воздухе.
табе, с помощью которых определяют активность источника после Кл
определённого промежутка времени для внесения поправок в 1 соответствует экспозиционной дозе рентгеновского или
экспозицию. кг
Чувствительность радиографической пленки – величина, г-излучения, при прохождении которого через 1кг воздуха при н.у.
обратная дозе излучения, необходимой для получения плотности, в результате всех ионизационных процессов создаются ионы,
превышающей на 0,85 плотность вуали. Единица измерения несущие заряд в 1Кл каждого знака. Внесистемная единица
рентген -1 или килограмм/кулон (1 р-1 = 3,876·103 кг/кл). Кл
Рентген (Р) – это внесистемная единица рентгеновского и экспозиционной дозы рентген: 1 = 3,88 103 р . Экспозицион-
кг
г-излучения, определяемая по их ионизирующему действию на
сухой атмосферный воздух. 1 Р=2,57976·10-4 Кл/кг.
8,4Mt
ная доза (в рентгенах) определяется по формулам: D = ,
эксп F2

178 179
K Nt Приложение В
г
D эксп = , где M, N – активность, выраженная в г·экв радия и
F2 Глаз как средство контроля
кюри соответственно, F – расстояние, см; t – время облучения, ч;
Основные преломляющие элементы глаза – роговица и хрус-
Kγ 8,4 талик (рис. 1). Оптическая (преломляющая) сила роговицы почти
M = N , г·экв Ra; N = M , Ки. постоянна и составляет приблизительно 43 диоптрии.
8,4 Kγ
Хрусталик глаза – двояковыпуклая линза. Кривизна
Мощность дозы Р на расстоянии 1м от источника актив- хрусталика может изменяться, изменяя при этом оптическую силу
ностью 1г·экв Ra составляет: хрусталика от 19 до 33 дп (так называемая аккомодация глаза, или
наводка на резкость).
D 8,4M 8,4 · 103 P Между роговицей и хрусталиком имеется радужная оболочка
эксп 4
P= = 2 = = 0,84 = 2,33 · 10 р/c.
t F 10 4
r с отверстием переменного диаметра – зрачком, выполняющим роль
диафрагмы. При дневных освещённостях диаметр зрачка глаза
Энергия ионизирующего излучения измеряется в джоулях составляет приблизительно от 2 до 3 мм, а при освещённости менее
или в электрон-вольтах. 1Дж равен механической работе силы в 0,01 лк увеличивается до 6-8 мм.
1Н, перемещающей тело на расстояние 1м в направлении действия
силы. 1 эВ равен энергии, которую приобретает заряженная час-
тица, несущая один элементарный заряд, при перемещении в
электрическом поле между двумя точками с разностью потен-
циалов в 1 В. 1Дж = 6,25·1012 МэВ.

Рис. 1. Схематическое изображение глаза: 1- роговая оболочка;


2 – стекловидное тело; 3 – сетчатая оболочка; 4 – сосудистая оболочка;
5 – склера; 6 – зрительный нерв; 7 – цилиарное тело; 8 – конъюнктива;
9 – радужная оболочка; 10 – хрусталик; 11 – ось видения; 12 – оптическая ось глаза

180 181
В сетчатке, на которую проецируется изображение, располо- Под видимостью понимают степень различимости объектов
жены светочувствительные клетки – палочки и колбочки. при их наблюдении. Она зависит от продолжительности прос-
Палочки более светочувствительны, чем колбочки, но не матривания, от контраста, яркости, цвета, угловых размеров
различают цветов. Палочки различают белую поверхность от чёр- объекта, резкости контуров и условий освещённости.
ной при освещённости 10-6 лк. Различающие цвет колбочки менее Каждому из указанных свойств соответствует свой абсолют-
светочувствительны и не работают при освещённости ниже ный порог видимости, ниже которого предмет не может быть виден,
10-2лк, поэтому «в сумерках все кошки серы». сколь бы благоприятными не были условия наблюдения с точки
Практически цветовое зрение начинается при освещённости зрения других факторов. Например, при слишком малой яркости
около 1 лк. При освещённости 102-103 лк зрение является почти или очень малом контрасте предмет нельзя сделать видимым ника-
полностью колбочковым. ким увеличением угловых размеров или продолжительностью
Палочки и колбочки расположены в сетчатке неравномерно. рассматривания.
Вокруг центральной ямки находится овальный участок с угловыми
Видимость близкорасположенных объектов зависит от поло-
размерами 6-7о – жёлтое пятно. Здесь есть и палочки, и колбочки
жения источника света (при ослепляющем воздействии видимость
(причем колбочек больше). По мере удаления от центральной ямки
снижается), спектрального состава излучения, от усталости
число колбочек относительно снижается, а число палочек относи-
контролёра, условий работы (шум, вибрация, тепловое воздействие
тельно повышается. Вместе с этим убывает разрешающая чувстви-
тельность. и т.д.). Наиболее важными условиями видимости считают контраст
Поле зрения условно делят на 3 части: зона наиболее чёткого и угловые размеры предмета. Под контрастом понимают способ-
видения – центральная зона с полем зрения приблизительно 2о; ность объекта выделяться на окружающем фоне вследствие разли-
зона ясного видения, в пределах которой (при неподвижном глазе) чия их оптических свойств.
возможно опознавание предметов без различения мелких деталей, Наибольшая величина яркостного контраста достигается при
с полем зрения приблизительно 20о по вертикали и приблизительно использовании чёрного и белого цветов. При солнечном освещении
30о по горизонтали; зона периферического зрения, в пределах контраст отражения для белого цвета составляет 65-80%, для
которой предметы не опознаются. Поле зрения составляет прибли- чёрного – 3-10%; яркостный контраст составляет при этом 85-95%.
зительно 125о по вертикали и приблизительно 150о по горизонтали. Столь же высок яркостный контраст чёрного цвета с жёлтым
Контролируемый объект должен быть размещен в централь- фоном; среди других хроматических цветов белый цвет образует
ной зоне или в зоне ясного видения. наибольший контраст с красным фоном; меньше величина конт-
Бинокулярное зрение обеспечивает более точную оценку раста белого с зелёным; ещё меньше белого с синим.
расстояний и расположений объектов. В оптимальных условиях Минимальная величина яркостного контраста, при которой
точность бинокулярных оценок определяется в 10ґґ на расстоянии контролёр ещё способен её различить, для большинства людей
наилучшего зрения (l~250 мм). Это составляет 0,003-0,005%, а на составляет 0,01-0,02 (1-2%) при наблюдении в дневное время при
расстоянии 100 м – 5-7% расстояния до предмета. Оценки моно- оптимальных условиях осмотра предмета с угловыми размерами
кулярного зрения не превышают 10%. По этим причинам при не менее 0,5о. В реальных условиях осмотра пороговое значение
контроле дефектов любыми способами (капиллярным, магнито- чувствительности выше и составляет около 0,05 (5%), что объяс-
порошковым), использующими в качестве контролирующего няется малой яркостью дефектов, их небольшими угловыми разме-
органа глаза, бинокулярное зрение является более предпочтительным. рами и другими факторами.

182 183
Отношение величины наблюдаемого контраста К к величине Наиболее высокая острота зрения наблюдается при диаметре
порогового контраста Кпор в данных условиях определяет видимость зрачка 3-4 мм, что соответствует освещённости 100-1000 лк; при
дефекта V: диаметре больше 4 мм, что соответствует освещённости менее
V = K/Kпор. 100 лк, острота зрения снижается из-за аберрации оптики глаза;
при диаметре меньше 2,5-3 мм (освещённость 2000-2500 лк) острота
При наблюдаемом контрасте 15-20% и пороговом контрасте зрения снижается из-за дифракции света. В связи с этим общая
5% V на поверхности детали составляет 3-4. Если же наблюдаемый освещённость при осмотре деталей не должна быть больше 2000-
контраст близок к нулю, V также будет близка к нулю. Следова- 2500 лк. Местная освещенность может быть больше, но для умень-
тельно, некоторые даже крупные дефекты не могут быть обнару- шения отрицательного влияния дифракции света на остроту зрения
жены глазом из-за малого контраста на поверхности детали. необходимо снижать отражающую способность фона.
Под цветовым контрастом понимают меру различия цветов Минимальное расстояние между точками, воспринимае-
по их цветовому тону, насыщенности и яркости. мыми глазом раздельно, определяется выражением
При осмотре крупных цветных объектов оптимальные
условия для работы глаза – средний цветовой контраст между R = l ⋅ sin α ,
объектом и фоном. При поиске мелких дефектов цветовой контраст где ℓ – расстояние от глаза до плоскости точки, б – минимальный
между ними и поверхностью должен быть максимальным. разрешаемый угол поля зрения. Для нормального глаза (при опти-
Разрешающая способность глаза – это способность раз- мальных условиях ℓ =250 мм б =1ґ) при хорошей освещенности
дельно воспринимать близко расположенные друг к другу точки, расстояние между раздельно воспринимаемыми точками состав-
линии и другие фигуры. Разрешающую способность характе- ляет 0,075 мм. Приближенно эту величину считают равной 0,1 мм.
ризуют величиной минимального угла между контурами раздельно При снижении освещенности разрешающая способность
воспринимаемых объектов или числом раздельно видимых линий уменьшается. При сумеречном (палочковом) зрении она в 15-20 раз
на 1є. Нормой считается способность глаза различать две точки с ниже, чем при дневном. Минимальный интервал между раздельно
минимальным углом между ними в 1ґ. воспринимаемыми точками, находящимися на расстоянии
Острота зрения – это способность глаза замечать мелкие наилучшего зрения, в этом случае составляет 0,9-1,15 мм.
детали или различать их форму. Она определяется величиной На остроту зрения влияет цвет объектов и фона. Высокая
минимума углового размера объекта, воспринимаемого глазом при острота зрения при наблюдении желто-зеленых объектов на тем-
максимальном контрасте. ном фоне и красных объектов на белом является одной из причин
Для нормального глаза в оптимальных условиях осмотра применения этих цветов при люминесцентной и цветовой дефекто-
острота зрения составляет 1ґ. Средняя острота зрения 2-4ґ. При скопии.
остроте зрения 2ґ на расстоянии наилучшего зрения (ℓ =250 мм) глаз Цветоощущение. При некотором повышении освещенности
может различить детали размером не менее 0,15 мм. объекта, находящегося прежде в полной темноте, он становится
видимым. Сначала обнаруживают цвет красных объектов, позже
Острота зрения и разрешающая способность зависят от осве-
других – сине-фиолетовых и жёлтых. Синие объекты в относи-
щённости объекта, продолжительности осмотра, спектрального
тельно большем диапазоне освещенности воспринимаются бес-
состава света, но в основном определяются структурой сетчатки
цветными и будут незаметными на белом фоне. Красные объекты
и дифракцией света в глазных средах.
имеют заметную цветность при любой яркости фона. Это является

184 185
одной из причин применения красного цвета проникающих жид- Приложение Г
костей в капиллярной дефектоскопии.
На воспринимаемый цвет малых объектов влияют их угло- Приборы ВОК. Эндоскопы
вые размеры. При уменьшении угловых размеров от 1,5є до 6ґ цвет
Согласно ГОСТ 24521-80 “Контроль неразрушающий
красных объектов не меняется, пурпурные объекты краснеют,
оптический. Термины и определения” эндоскоп – это оптический
зелёные, зелено-синие и синие объекты становятся менее насыщен-
прибор, имеющий осветительную систему и предназначенный для
ными. С дальнейшим уменьшением угловых размеров цвет объекта
осмотра внутренних поверхностей объекта контроля. Эндоскопы
(кроме красного) становится серым.
Стабильность цвета красных объектов – еще одна из причин разделяются на гибкие и жесткие. Бороскоп (boroscope) в ино-
применения этого цвета при дефектоскопии. Красный цвет дейст- странной литературе – это либо общее название эндоскопов, либо
вует возбуждающе, ускоряет психические процессы. При прочих название жестких эндоскопов. Фиброскоп, флексоскоп-англо-
равных условиях он способствует ускорению реакций на 1,4-6%. язычные названия гибких эндоскопов (от fiber – волокно, flexible
Фиолетовый цвет, напротив, замедляет реакцию на 27-39 %. – гибкий). Основное назначение эндоскопов – быстрое и высоко-
Красный цвет традиционно используется для сигнализации об качественное визуальное исследование труднодоступных полостей
опасности, о наличии дефекта, о запрещении. машин и механизмов без их разборки.
Глаз, как и любая реагирующая система, обладает инерцией. Жесткие эндоскопы. Эти эндоскопы предназначены для
Время, необходимое для возникновения зрительного ощущения, визуального контроля узлов, к которым возможен прямолинейный
зависит от длины волны, яркости объекта и составляет 0,025-0,1с. доступ (особенно когда эндоскопический контроль запланирован
При осмотре цветных объектов скорость возникновения ощущения на стадии проектирования изделия). Жесткие эндоскопы исполь-
и его сила возрастают по мере перехода от цветов коротковолнового зуются для осмотра газовоздушного тракта авиадвигателей, полос-
участка спектра (фиолетовый) к цветам длинноволнового (красный). тей машин и механизмов, пустот в стенах зданий, каналов и труб
Возникшее световое ощущение исчезает не сразу, поэтому быстро малого диаметра, полостей отливок, шлифовальных и хонинго-
движущаяся точка предстает в виде линии, а мелькающий свет ванных отверстий.
при достаточно высокой частоте не отличается от постоянного. Жесткий эндоскоп (оптическая трубка) состоит из визуаль-
Критическая частота мельканий обычно не превышает 50 Гц. ной и осветительной системы. Визуальная система состоит из лин-
При осмотре детали объекты, привлекающие внимание зовой, стержневой или градиентной оптики, которая заключена
(дефекты), поочерёдно проецируются на центральную ямку сет- во внутреннюю металлическую трубку. Осветительная система
чатки. Глаз в процессе наблюдения то относительно неподвижен, состоит из оптического волокна, которое расположено между
то резким скачком поворачивается на угол 20-10є. В среднем двумя металлическими трубками – наружной и внутренней.
происходит 2-5 скачков в секунду. При этом скорость луча зрения, Жесткие эндоскопы характеризуются четырьмя основными пара-
скользящего по детали, достигает 300-400 мм/с. Трещины длиной метрами: диаметром рабочей части, длиной рабочей части, углом
2-5 мм при такой скорости осмотра могут быть не обнаружены, направления наблюдения и углом поля зрения. Наиболее рас-
т.к. продолжительность их осмотра мала (0,005-0,01 с) и зри- пространенные диаметры рабочей части: 1,7; 2; 2,7; 4; 6; 8 и 10 мм.
тельное ощущение не успевает сформироваться. Эти ограничения Длина жестких эндоскопов обычно варьируется в пределах от 100
должны учитываться при контроле деталей способами визуального до 1000 мм и изменяется с шагом 200-300 мм. Основные углы
наблюдения. направления наблюдения 0, 30, 45, 75, 90 и 1100.

186 187
концом. Канал для передачи изображения представляет собой
линзовый объектив, который строит изображение исследуемого
объекта на торце кабеля передачи изображения. Далее изображе-
ние передается по кабелю, состоящему из большого числа волокон
толщиной 10-12 мкм. Расположение торцов волокон на входе
кабеля точно должно соответствовать их расположению на выходе,
т.е. должна быть регулярная укладка. Изображение, полученное
на конце кабеля, рассматривается через окуляр, имеющий диопт-
рийную подвижку для подстройки под глаза. Канал для передачи
света представляет собой, как правило, светорассеивающую линзу,
вклеенную в головку прибора, световолоконный жгут с нерегулярно
уложенными волокнами толщиной 25 мкм. Конец световолокон-
ного жгута вмонтирован в специальный наконечник, подключаю-
щийся к осветителю. Гибкие эндоскопы имеют управляемый дис-
тальный конец, изгибающийся в одной или двух плоскостях. Как
правило, это определяется диаметром рабочей части. Обычно в
эндоскопах малого диаметра (6 мм и менее) изгиб осуществляется
в одной плоскости, а в более крупных – в двух. В эндоскопах раз-
личных производителей угол изгиба бывает от 90 до 1800. К тому
Рис. 1. Жесткие эндоскопы
же эндоскопы могут комплектоваться насадками или объективами
бокового наблюдения. Это важно, если есть необходимость осмат-
Угол направления наблюдения может быть и плавно изменяе- ривать, например, стенки труб малого диаметра, где изгиб
мым в эндоскопах с качающейся призмой – от 30 до 1100. Угол поля дистального конца невозможен. Эндоскопы могут иметь канал для
зрения, как правило, варьируется от 50 до 900. При этом необходимо гибкого инструмента при необходимости осуществления мани-
учитывать, что увеличение поля зрения приводит к уменьшению пуляций, например, захвата предметов, взятия пробы и т.д.
детализации, т.е. можно видеть много и мелко или мало и крупно. Основным недостатком гибких эндоскопов по сравнению с
Основное преимущество жестких эндоскопов заключается в жесткими является более низкая разрешающая способность. При
высокой разрешающей способности – до 25 линий на миллиметр. выборе гибкого эндоскопа руководствуются двумя основными
Гибкие эндоскопы. Не всегда возможен прямой доступ к параметрами: диаметром и длиной рабочей части. Наиболее
объекту, или сам объект имеет сложную геометрию, например газо- распространены диаметры 4, 6, 8 и 10 мм. В последнее время веду-
турбинные, электрические двигатели, турбогенераторы, котлы, щие производители предлагают гибкие эндоскопы с диаметром
теплообменники, трубы водоснабжения, канализации, промыш- рабочей части от 0,5 до 2 мм. Длины рабочей части изменяются от
ленные коммуникации. В этом случае для визуального контроля 500 до 3000 мм с шагом, как правило, 500 мм. Угол поля зрения
применяются гибкие эндоскопы. В гибких эндоскопах визуальная составляет 50-600. При необходимости он может быть увеличен
система и система передачи света состоят из волоконной оптики, до 90-1000. Обычно гибкие эндоскопы имеют герметичную масло-
смонтированной внутри гибкой трубки с управляемым дистальным бензостойкую рабочую часть с покрытием из нержавеющей стали.

188 189
Рис. 3. Видеоэндоскоп
Рис. 2. Гибкие эндоскопы

Видеоэндоскопы. Гибкие волоконно-оптические эндоскопы


имеют ряд недостатков, наиболее существенные из которых –
невысокая разрешающая способность и ограничение по длине,
определяемые затуханием в волокне. Модернизация или, точнее,
замена в системе передачи изображения гибкого эндоскопа
волоконно-оптического жгута на электронику позволила повысить
разрешающую способность приборов, увеличить их длину и
привела к появлению видеоэндоскопов. Изображение в них через
объектив попадает на ПЗС-матрицу, затем сигнал по ка-белю
передается в блок преобразования и выводится на монитор. В
настоящее время в мире производятся видеоэндоскопы с
диаметрами рабочей части 6, 8, 10, 12, 16 и 20 мм и длиной кабеля
от 2 до 30 м.

190 191
Приведем некоторые характеристики новой модели прибора тов: трещины, раковины, коррозионные язвы, дефекты внутренних
для визуально-оптического контроля качества основного металла покрытий. С помощью эндоскопа можно измерить размеры де-
и металла сварных швов ТЭ-1В, разработанного специалистами фекта. Сигнал с ВПУ можно передать на видеомагнитофон и персо-
Киевского института электросварки им. Патона. нальный компьютер, а специальное программное обеспечение
Прибор ТЭ-1В представляет собой видеоконтрольное уст- позволяет вывести на монитор изображение с двух видеокамер
ройство (ВКУ), состоящее из монитора со встроенным инвертор- одновременно и провести анализ полученной информации. Резуль-
ным блоком питания, видеоприемного устройства (ВПУ) и таты контроля можно сохранять в памяти, что дает возможность
устройства перемещения. ТЭ-1В может работать от сети перемен- повторного просмотра полученной информации, а также вывод
ного тока в стационарных условиях. Аккумулятор обеспечивает ее на принтер. Новая модель – телевизионный эндоскоп ТЭ-1В –
автономное питание и позволяет использовать телевизионный объединила в себе преимущества предыдущих эндоскопов. При
эндоскоп в полевых условиях. Приемное устройство телевизион- использовании видеокамеры с портативным монитором (диагональ
ного эндоскопа ТЭ-1В состоит из двух блоков. Первый блок – экрана 9 см) и двусторонней подсветки места контроля было
видеокамера и лампочки подсветки, расположенные в корпусе, получено хорошее изображение с увеличением в 6-10 раз и умень-
которые обеспечивают контроль поверхности исследуемого объекта шением технологического отверстия в исследуемом объекте до 25 мм.
перпендикулярно к продольной оси. (Как правило, расстояние от При невысокой стоимости ТЭ-1В качество получаемого с
объектива до поверхности исследуемого объекта невелико, поэ- помощью данного прибора изображения выше, чем при примене-
тому объектив видеокамеры настраивают на расстояние 5-7 мм, нии волоконно-оптического эндоскопа.
подсветка обеспечивает освещение поверхности исследуемого Приведем для сравнения данные по портативному прибору
объекта в ближней зоне). Второй блок – видеокамера и светодиоды для визуально-измерительного контроля в промышленности Video-
подсветки, имеющие сфокусированный направленный пучок света, Probe XL-PRO. Это один из самых современных приборов, кото-
включая токоограничивающий элемент, что обеспечивает контроль рый в то же время очень прост в эксплуатации. Он предназначен
состояния поверхности вдоль продольной оси. Видеокамера осна- для визуально-оптического контроля деталей в труднодоступных
щена широкоугольным объективом (изображение объектов, нахо- местах механизмов, машин и оборудования. На рис.4 представлен
дящихся на расстоянии более 30-60 мм от объектива, всегда сфо- внешний вид прибора.
кусировано), поэтому особые требования предъявляются к под-
светке.
ВПУ крепят к жесткой штанге, которая обеспечивает пере-
мещение вдоль объекта контроля. Возможно также крепление ВПУ
к гибкой штанге, что позволяет проводить осмотр внутренних
полостей объектов контроля (ОК), имеющих сложную геометрию.
Прибор ТЭ-1В позволяет производить визуальный контроль
труднодоступного, удаленного пространства, объектов различного
назначения, например труб теплообменников, промышленных
коммуникаций, цистерн, баков, труб большого диаметра, полостей
различных конструкций. Возможно также его использование при Рис.4. Внешний вид прибора
таможенном осмотре. Прибор определяет различные типы дефек- VideoProbe XL-PRO

192 193
В комплект прибора входят: CCD – цветная видеокамера с Предусмотрены комбинированные S-видео входы и выходы
разрешением 440.000 точек, 500 HTV-линий (технология HYPER для подсоединения мониторов, записывающих устройств, для
HAD), источник света Welch Allyn SolarcTM 50 Вт с ресурсом работы с внешними источниками видеосигналов (видеокамеры,
лампы 1500 ч. Для затемненных объектов предусмотрен режим тепловизоры и т.д.).
длительной экспозиции. Запатентованная технология высокоточ- VideoProbe XL-PRO c диаметром зонда 7 мм имеет внутрен-
ных измерений ShadoProbe позволяет получить хорошее изображе- ний инструментальный канал для захвата посторонних мелких
ние без потери разрешения; программное обеспечение XL- объектов в зоне контроля. В комплект также могут входить специа-
PROwareTM применяется для повторных измерений объектов лизированные зонды: летающий с воздушными соплами, промыш-
контроля, создания структуры каталогов для хранения изображе- ленный, зонд для скрытого наблюдения с возможностью отключе-
ний в ПК, сравнения текущего изображения с ранее архивирован- ния источника света и понижения скорости вращения вентилятора,
ными благодаря системе разделения экрана. Встроенная система зонд для инспекции кольцевых сварных швов.
архивирования записывает до 48 изображений на 3,5" дискету, до XL-PRO с диаметром зонда 3,9 мм – самый тонкий видеозонд
450 во внутреннюю флэш-память и до 900 на карту памяти Smart- в мире. Его разрешающая способность в 10 раз выше, чем у воло-
Media одновременно с записью звуковых комментариев через конно-оптического эндоскопа того же диаметра. Он идеален для
встроенный микрофон. Функция цифрового увеличения с крат- применения в авиации и космонавтике. Видеозонды VideoProbe XL-
ностью 1,2; 1,5; 2,0; 2,5; 3,0 позволяет увеличивать изображение PRO с диаметрами 3,9 и 5 мм решают задачи контроля, ранее недо-
на экране без замены объектива зонда. ступные для других видеоэндоскопов, особенно на авиационных
и космических объектах.
Лупы. Внешний вид и характеристики луп, используемых
при ВОК, приведены на рис. 6, 7. Все лупы изготовлены в соот-
ветствии с ТУ 3-3.687-82.

а) б)

Рис. 6. Лупы для визуального контроля: а – лупа с 4-кратным увеличением


(поле зрения 77 мм, размеры160x80мм, масса100 г); б – лупа с 10-кратным
Рис.5. Набор увеличением с возможностью измерения по измерительной шкале
специализированных зондов с ценой деления 0,1 мм (поле зрения 35 мм, диаметр 39, высота 36 мм)

194 195
Приложение Д

Физические основы КНК

Смачивание. Смачивание – это поверхностное явление,


возникающее при соприкосновении жидкости с твердым телом.
Если силы взаимодействия между молекулами жидкости и
твердого тела больше, чем между молекулами самой жидкости,
то жидкость хорошо смачивает твердое тело, образуя с ним
Рис. 7. Лупа с 10-кратным измерением, с подсветкой, устойчивую поверхность раздела. При статическом смачивании
с белой измерительной шкалой капля жидкости принимает на поверхности твердого тела форму
линзы. Равновесие капли определяется уравнением
Лупы предназначены для наблюдения и визуального б тв – б тж = бcosи , (1)
измерения на поверхностях различных изделий при дневном и
искусственном свете, а также в условиях недостаточной освещен- где б ,б , и б – соответственно поверхностное натяжение
тв тж
ности или полного затемнения поверхностей наблюдения с на границе «твердое тело – воздух», «твердое тело – жидкость»,
увеличением в 4-10 крат и возможностью измерения по измеритель- «жидкость – воздух»; θ – краевой угол смачивания, образованный
ной шкале с ценой деления 0,1 мм. Белый цвет измерительной плоской поверхностью твердого тела и плоскостью, касательной
шкалы позволяет проводить осмотр и измерения поверхностей с к поверхности жидкости в точке смачивания. Краевой угол отсчи-
темным фоном: ржавых труб, металлических стенок бортов судов, тывается внутрь жидкости.
газопроводов, сосудов, работающих под давлением, стенок Косинус краевого угла является мерой статического смачи-
резервуаров, осуществлять осмотр кристаллов в радиоэлектронной вания.
промышленности, проводить расценку – рентгеновских снимков. б тв б тж
Технические характеристики лупы, представленной на рис.7: cosи = . (2)
линейное поле зрения 50 мм, длина измерительной шкалы 28 мм, б
цена деления 0,1 мм, диаметр с металлической оправой 52 мм, высота
Разность б тв – б тж называется напряжением смачивания.
47 мм.
Чем она больше, тем меньше краевой угол и лучше смачивание.
Если краевой угол смачивания уменьшается, стремясь к нулю,
cos θ приближается к единице и наблюдается полное смачивание.
Избыток жидкости безгранично растекается по поверхности твер-
дого тела.
Диаметр пятна, образованного строго дозированной каплей
смачивающей жидкости, или скорость, с которой фронт пятна
наступает на чистую поверхность твердого тела, а также характер

196 197
изменения этой скорости могут быть приняты за меру смачивания где R1 и R2 – радиусы кривизны поверхности жидкости в двух
жидкостей для КНК. Однако указанные параметры зависят не взаимно перпендикулярных плоскостях, проходящих через нор-
только от напряжения смачивания, но и от других факторов, прежде маль к поверхности в данной точке.
всего от вязкости жидкости, ее плотности, летучести, а также от Добавочное давление вызывает изменение уровня жидкости
максимальной высоты растекающейся жидкости, поэтому по в узких трубках (капиллярах), поэтому его называют капиллярным.
растекаемости можно непосредственно судить только о смачива- Характер изменения уровня зависит от степени смачивания жид-
нии одной и той же жидкостью разных твердых поверхностей. При костью стенок капилляров и их радиуса кривизны. В общем случае
сравнении смачивания разных жидкостей в результаты измерений с учетом смачивания капиллярное давление определится как
должны вводиться поправки, учитывающие влияние указанных
1 1
выше параметров. Из формулы (2) видно, что лучшее смачивание Др = б cosи + .
обеспечивают жидкости с малым поверхностным напряжением. R R
1 2
Это должно учитываться при выборе жидкостей для КНК.
На смачивание оказывает влияние шероховатость поверх- Смачивающие жидкости заполняют узкие полости любой
ности. С повышением шероховатости смачивание улучшается, формы. Необходимое условие – размеры полостей должны быть
поэтому некоторые масла и жирные кислоты не растекаются по настолько малы, чтобы жидкость могла образовать мениск сплош-
полированной поверхности, но растекаются по шероховатой. У ной кривизны, без плоских участков. Под действием капиллярных
стенок трещин шероховатость, как правило, выше, чем у обрабо- сил смачивающие жидкости заполняют полости трещин и других
танной поверхности, поэтому следует ожидать, что в чистых поверхностных дефектов типа несплошности материала. Находя-
полостях трещин у жидкостей будет более высокая смачивающая щийся в полостях дефектов воздух частично вытесняется из них,
способность по отношению к поверхности образца. частично сжимается или растворяется в жидкости.
Капиллярные явления. Под влиянием поверхностного Полости трещин чаще всего имеют форму узкого клина, вер-
натяжения плоская поверхность жидкости стремится к сокраще- шина которого обращена внутрь материала. Попав в трещину,
нию. Если поверхность жидкости не плоская, то это приводит к смачивающая жидкость продолжает проникать в глубь полости,
возникновению в объеме жидкости давления, дополнительного к даже если ее полностью удалить с поверхности. В этом случае в
тому, которое испытывает жидкость с плоской поверхностью. полости трещины жидкость образует два мениска, вызывающих
В случае выпуклой поверхности это дополнительное давление появление двух капиллярных давлений. Их равнодействующая
направлено внутрь жидкости (давление положительно). При этом направлена в глубь полости и равна:
жидкость испытывает дополнительное сжатие. В случае вогнутой
поверхности давление–отрицательно, поверхностный слой, стре- 1 1
р= р р = б cosи ' + ,
мясь сократиться, растягивает жидкость. Добавочное давление 1 2 R1 R '2
возрастает с увеличением коэффициента поверхностного натяже-
ния и кривизны поверхности жидкости. Добавочное давление Др где R 1 > R 2 соответственно радиусы кривизны второго и пер-
' '
под произвольной поверхностью определяется по формуле Лапласа
вого менисков в плоскости перпендикулярного сечения трещины.
1 1 Жидкость, заполнившая полость трещины, будет удерживаться
Др = б + ,
в ней капиллярными силами даже в том случае, если ее удалять с
R R
1 2 поверхности детали. Однако если на мениск, расположенный в устье

198 199
трещины, наложить пористое вещество, то он исчезнет. Вместо где С1 и С2 – концентрации диффундирующего вещества (прони-
него образуется система малых менисков различной формы и кающей жидкости) в двух слоях проявителя, находящихся на
большой кривизны. Каждый мениск создает капиллярное давление расстоянии h друг от друга; D – коэффициент молекулярной диф-
Pn, которое существенно превышает давление Р 1 и действует в фузии.
противоположном направлении. Под действием суммы давлений При повышении температуры коэффициент диффузии уве-
∞ личивается. Это приводит к ускорению проявления дефектов, если
∑ Pn >> P1 жидкость покидает полость трещины, поднимается жидкость не испаряется. Для летучей жидкости потеря ее массы
n =1 вследствие испарения может превышать прирост поступления в
на поверхность и образует индикаторный рисунок. проявитель диффундирующей жидкости, что может привести к ухуд-
Сорбционные явления. На проявление дефектов сущест- шению выявляемости или невыявлению дефектов.
венное влияние оказывают сорбционные явления. При использова-
нии в качестве проявителя сухих порошков и суспензий на поверх-
ности каждой частицы проявителя адсорбируются молекулы
жидкости, мигрирующей из полостей дефектов. При физической
адсорбции молекулы жидкости сохраняют свое первоначальное
строение. При химической адсорбции они образуют на поверх-
ности частиц химическое соединение с веществом проявителя.
При использовании проявителей – красок (лаков) – наблю-
дается абсорбция жидкости: весь проявитель, находящийся над
полостью дефекта, равномерно поглощает находящуюся в полости
жидкость. При этом жидкость растворяет проявитель и сама раст-
воряется в нем. При наличии в проявителе частиц твердого пиг-
мента процесс поглощения имеет сложный характер и состоит из
адсорбции и абсорбции. Если жидкость имеет высокую летучесть •

и быстро сохнет, то над дефектом образуется стабильный инди-


каторный рисунок, неопределенно долго сохраняющий свою
форму и цвет. При использовании малолетучей жидкости или мед-
ленно сохнущего проявителя образуется нестабильный, рас-
плывающийся со временем рисунок. Скорость сорбционных про-
цессов в проявителе зависит от скорости диффузии жидкости и
растворенных в ней веществ в слой проявителя. Количество диф-
фундирующего вещества m, проходящего за время t через пло-
щадку S, определяется соотношением
C1 − C2
m=D St ,
h

200 201
Приложение Е Ферромагнитные свойства металлов обусловлены внутрен-
ними молекулярными токами, в основном вращением электронов
Физические основы МНК вокруг собственной оси. В пределах малых объемов (10-8 – 10-5 см3),
так называемых доменов, магнитные поля молекулярных токов
Характеристики постоянного магнитного поля. Основной образуют результирующее поле домена.
характеристикой
r магнитного
r поля является вектор магнитной При отсутствии внешнего магнитного поля поля доменов
индукции В. Вектор В направлен по касательной к магнитным направлены произвольно и компенсируют друг друга. Суммарное
силовым линиям, поэтому по виду силовых линий можно судить о поле доменов в этом случае равно нулю. Если на тело действует
направлении магнитной индукции. Вектор имеет значение плот- внешнее поле, под его влиянием поля отдельных доменов уста-
ности магнитного потока Ф. Для наглядности представления навливаются по направлению внешнего поля с одновременным
магнитного поля линии магнитной индукции условно проводят так, изменением границ между доменами. В результате образуется общее
чтобы их число, приходящееся на единицу площади перпен- магнитное поле доменов, тело оказывается намагниченным (рис. 1).
дикулярной им поверхности было пропорционально магнитной
r
индукции В. В однородном магнитном поле магнитный поток Ф
через площадку S, расположенную перпендикулярно магнитным
линиям, определяется по формуле Ф=ВS. Магнитный поток изме-
ряется в веберах (Вб), а магнитная индукция – в теслах (Тл).
Другой важной характеристикой магнитного поля является
r
вектор напряженности Н , А/м. Он определяет поле, создаваемоее
внешним по отношению к данному телу источником. На практике
эти поля чаще всего создаются различными намагничивающими
Рис.1. Ориентация доменов в ферромагнитном материале: а – деталь
катушками. Между индукцией и напряженностью магнитного поля размагничена; б – деталь намагничена до индукции насыщения; в – деталь
r r
существует зависимость В = м0м Н , где µ 0 – магнитная постоя-
я- намагничена до остаточной намагниченности
−7
ная, µ 0 = 4π ⋅ 10 Г/м, µ – относительная магнитная проницае-
мостью материала. Магнитные свойства контролируемых деталей характери-
Магнитные свойства материала. Все вещества в той или зуются петлей гистерезиса (рис. 2). Пусть образец из железа перво-
иной степени обладают магнитными свойствами. Магнитные начально намагничен до состояния магнитного насыщения Вs. При
свойства вещества характеризуются магнитной проницаемостью µ. плавном уменьшении напряженности магнитного поля индукция
Вещества, в которых µ на несколько миллионных или тысячных убывает уже по другой кривой, лежащей выше кривой первоначаль-
долей меньше единицы (медь, серебро, цинк…) – диамагнетики. ного намагничивания. Напряженность поля может быть доведена
В парамагнетиках (таких веществах, как марганец, платина, алю- до нуля, но намагниченность не будет снята. Чтобы снять эту оста-
миний) µ больше единицы на несколько миллионных или тысяч- точную намагниченность, необходимо изменить направление при-
ных долей, в ферромагнетиках (железо, никель, кобальт, гадолиний ложения магнитного поля. Полное размагничивание произойдет
и некоторые их сплавы) µ значительно больше единицы и состав- при приложении некоторой величины НС, называемой коэрцитив-
ляет десятки тысяч. ной силой.

202 203
Рис. 2. Петля гистерезиса Рис. 3. Основная кривая
при перемагничивании образца намагничивания стали µ d от Н для ферромагнетикаа
Рис. 4. Зависимости В и

При дальнейшем увеличении поля тело намагничивается и


Кривую В(Н) называют кривой первоначального намагни-
в обратном направлении до той же степени насыщения, что и в
начальном процессе. Достигнув отрицательного максимума, можно чивания (индукции), а кривую мd (H) – кривой магнитной прони-
вести процесс в обратную сторону и получить петлю гистерезиса. цаемости.
Петлю, полученную при условии доведения ферромагнитного тела Искажение магнитного поля, происходящее при внесении в
до состояния насыщения, называют предельной петлей гистерезиса. него диамагнитных и парамагнитных тел, весьма незначительно.
Если перемагничивать деталь магнитным полем, напряжен- Если же в магнитное поле внести ферромагнитное тело, магнитное
ность которого на каждом цикле изменяется от -Н до +Н и умень- поле исказится очень сильно. Это явление характеризуется намаг-
шается от цикла к циклу, то получится серия кривых перемагни- r r
ниченностью M = lim ∑
m r
чивания – симметричных петель гистерезиса. Геометрическое , где V – объем вещества, m – эле-
V
место вершин симметричных петель гистерезиса называют основ- ментарный магнитный момент. Намагниченность, как и напряжен-
ной кривой намагничивания. На рис.3 мн = tgб н – начальная ность магнитного поля, выражается в А/м. Значение намагничен-
магнитная проницаемость, µ m = tgα m – максимальная проницае- ности определяется из уравнения для магнитной индукции
r r v
мость, •м = tgб – проницаемость на частном цикле, В = м0м (Н + М).
чц чц
Магнитная восприимчивость xm – безразмерная величина,
µ d = dB dH – дифференциальная проницаемость. Коэрцитивная характеризующая способность вещества (магнетика) намагничи-
сила численно равна напряженности поля, при которой дифферен- r
циальная проницаемость достигает максимума: Нс =Н µ dmax (рис.4). x
ваться в магнитном поле. Для изотропного магнетика m = M r,
H

204 205
у диамагнетиков xm < 0, у парамагнетиков xm > 0, у ферро- Плотность вихревых токов максимальна на поверхности и с
магнетиков xm >> 0 (составляет десятки тысяч). удалением от поверхности амплитуда В и Н убывает по экспонен-
Для ферромагнетиков характерно отсутствие линейных циальному закону вида Н = H exp(–kz) , где Нz – амплитуда
z 0
зависимостей магнитного состояния вещества от напряженности
магнитного поля. На рис.4 представлены зависимости относитель- напряженности магнитного поля на некотором расстоянии z от
ной дифференциальной проницаемости µ d и магнитной индукции поверхности изделия; Нz(0)=H0; k – коэффициент затухания, м-1.
В от напряженности поля Н для ферромагнитного тела. Для приближенной оценки глубины проникновения электро-
Наилучшими условиями выявления дефектов являются магнитного поля можно использовать формулу для плоской волны
такие, при которых проницаемость µ мала, а индукция В велика. z = 1 πfµ a σ , где мa = limB /(м0H) – абсолютная магнитная
Такое магнитное состояние может быть достигнуто при магнитных Н→ 0
проницаемость.
полях, напряженность которых превышает Н µ dmax, т.е. на убываю- По мере увеличения частоты f, электрической проводимости
щем участке кривой µ d(Н). Если точка Р оказывается слева от точки σ и магнитной проницаемости уменьшается глубина проник-
µ dmax, то уменьшение поперечного сечения металла за счет дефектаа новения электромагнитного поля. Фактически высокочастотные
вызовет увеличение магнитной индукции, а также может привести электромагнитные поля распространяются в тонком поверхност-
к более высокой магнитной проницаемости, в результате чего дефект ном слое, а в глубине ферромагнетика они пренебрежимо малы.
может быть не обнаружен. Это явление носит название скин-эффекта. Вследствие этого при
Магнитные свойства железа и его сплавов могут меняться в намагничивании переменным магнитным полем не удается
широких пределах в зависимости от структуры, фазового состава, обнаружить подповерхностные дефекты (глубже 2-4 мм), которые
величины зерна металла, величины пластической деформации и уверенно выявляются при работе в постоянном магнитном поле.
т.д. Для намагничивания безуглеродистых сплавов железа, Переменное магнитное поле обычно создают с помощью катушек
аустенитных сталей требуются большие намагничивающие поля (соленоидов), питаемых переменным током.
(до 1 000 000 А/м). Для обычных конструкционных сталей магнит- Обнаружение дефектов при МНК. Магнитный поток,
ное насыщение достигается при полях напряженностью около распространяясь по изделию и встречая на своем пути препятствие
100 000А/м. Определяя изменение магнитных характеристик ста- в виде поверхностного дефекта, огибает его, так как магнитная
лей, можно установить количественное соотношение фаз, содержа- проницаемость дефекта значительно ниже (в тысячи раз) магнит-
ние аустенита, феррита, исследовать состояние сталей после ной проницаемости основного металла. Часть магнитных силовых
термообработки, прокатки, сварки. линий обрывается на одной грани дефекта и снова начинается на
Особенности переменного магнитного поля. При внесе- другой (рис. 5, а). Один конец каждой линии можно рассматривать
нии ферромагнетика в переменное поле в нем возникают вихревые как некоторый положительный магнитный заряд, а другой конец
токи, создающие свое собственное электромагнитное поле. – как отрицательный магнитный заряд. Каждый магнитный заряд
Вихревые токи по правилу Ленца стремятся противодействовать создает магнитное поле, направленное из него как из центра. Сум-
изменению внешнего поля. Это в отличие от постоянного поля марное поле магнитных зарядов Hd называют полем дефекта. Поле
приводит к неравномерному распределению индукции и напряжен- Hd имеет сосредоточенный характер, поэтому результирующее поле,
ности магнитного поля, а также электрического поля по сечению состоящее из внешнего намагничивающего поля H0 и поля дефекта
образца. Hd, становится неоднородным.

206 207
Рис. 6. Распределение намагниченности в ферромагнитном изделии
r и поля рассеяния над внутренним дефектом
Рис. 5. Распределение намагниченности
r Ми в ферромагнитном изделии
и поля рассеяния Н над поверхностным дефектом (а),
d
а также топография (б) тангенциальной Н и нормальной Н На рис. 6 показано поле цилиндрического отверстия диамет-
td nd
составляющих напряженности поля дефекта ром D как модель внутреннего дефекта. В отличие от поля поверх-
ностного дефекта поле рассеяния становится заметным только при
превышении некоторого порогового значения Н0, тем большего,
Амплитудные значения составляющих поля дефектов зави-
чем глубже расположен дефект. Амплитудное значение поля де-
сят от размеров и ориентации дефектов по отношению к внешнему
фекта определяется режимом намагничивания (величиной Н0),
полю, от соотношения проницаемостей среды и дефекта, от рас-
размерами дефекта и глубиной залегания. При неизменной глубине
стояния до точки наблюдения. Чем больше размеры дефекта и ближе
залегания отверстия поле меняется в слабых магнитных полях
к нему точка наблюдения, чем больше различие проницаемостей,
обратно пропорционально квадрату диаметра D и обратно про-
тем больше амплитудные значения составляющих полей дефектов.
порционально D в сильных полях. В переменном магнитном поле
Если вектор намагничивающего поля направлен перпен- дефекты сплошности среды вызывают локальное изменение
дикулярно плоскости дефекта, поле дефекта совпадает с внешним вектора напряженности магнитного поля Н, в первом приближении
полем по направлению и имеет максимальное значение. В против- аналогичное рассмотренному выше для постоянного магнитного
ном случае поле Н ориентируется в направлении нормали к стен- поля. Однако из-за скин-эффекта информация может быть полу-
d
кам трещины, а интенсивность его быстро убывает с увеличением чена только о дефектах, залегающих сравнительно неглубоко.
угла между нормалью и направлением намагничивания. Заметим,
что магнитное поле рассеяния возникает не только над дефектом,
но и над любыми локальными изменениями однородности магнит-
ных свойств.

208 209
Приложение Ж Габариты 220х185х55 мм. Рабочее напряжение 220-230 В, частота
50-60 Гц.
Описание и технические характеристики некоторых Аппликатор для нанесения магнитного порошка Parker
современных приборов магнитного контроля PB5. Назначение: нанесение магнитного порошка на вертикальные
поверхности, поверхности с затрудненным доступом с возмож-
Устройство намагничивающее УНМ-300/2000. Назна- ностью регулировки подачи порошка.
чение: намагничивающее устройство для магнитопорошкового
контроля. Описание: устройство намагничивающее изготавли- Технические характеристики
вается в двух исполнениях в зависимости от питающей сети: УНМ-
300-2000 – для питания от сети переменного тока; УНМ-300-2000-01 Металлический танк для суспензии
– для питания от сети переменного тока и от сети постоянного тока Конструкция емкостью 2,5 л и алюминиевый
напряжением 27В. пистолет – распылитель

Технические характеристики Напряжение питания 220 В, 50 Гц

Параметр Ед. изм. Значение Ток 1А


Максимальный ток нагружения на петлю кабеля
сечением 10 мм и длиной 6 м
A 2000 Напряжение на выходе 12 В, переменное
Порог чувствительности (ширина, глубина, Длина шланга 4м
протяженность поверхностного дефекта на стандартном мм 0,001x0,3x1,0
образце с параметром шероховатости 1,6 мкм) Габариты, мм 229х286х149
Длительность процесса размагничивания сек 20+5

Габариты преобразователя мм 500x280x180


Масса дефектоскопа без принадлежностей кг 70

Масса принадлежностей кг 30
Температура окружающего воздуха °С +10...+40

Магнитные клещи (магнитный дефектоскоп) BS-100S


Parker. Назначение: легкий переносной электромагнит с регули-
руемыми полюсами, позволяющий создавать магнитное поле на
поверхностях любых ферромагнитных материалов при выполне-
нии магнитопорошковой дефектоскопии в судостроительной,
машиностроительной, химической, газовой, нефтяной, аэрокосми-
ческой, металлургической и многих других отраслях промышлен-
ности. Расстояние между полюсами может изменяться от 0 до 305 мм.

210 211
Дефектоскоп МД-12ПШ. Назначение: неразрушающий скоп обеспечивает размагничивание деталей после контроля. Доку-
контроль магнитопорошковым методом. Обнаружение поверх- ментирование результатов контроля может быть обеспечено
ностных поперечных трещин в шейках и предступичных частей осей изготовлением магнитограммы рисунка дефектов посредством
вагонных колёсных пар. снятия отпечатка рисунка на полиэтиленовой липкой ленте ГОСТ
20477-86 или аналогичного материала, а также фотографированием.
Технические характеристики
Технические характеристики
Параметр Ед. изм. Значение

Диаметр рабочего отверстия мм 200 Параметр Ед. изм. Значение


Напряженность магнитного поля электромагнита А/м 0...16000
Номинальный ток, не менее А 45
Напряженность магнитного поля соленоида А/м 0...16000
Питание от сети переменного тока В 220±10%
Амплитуда тока в импульсе А 1000
Частота сети Гц 50
Питание от сети переменного тока частотой 50 Гц В 220
Напряженность магнитного поля, не менее А/м 18⋅103
Питание от аккумуляторной батареи В 24
климатическое
Потребляемая мощность Вт 250
Условия эксплуатации (климатические, УХЛ4.2;
механические) Габариты мм 660x500x260
изделие ГСП обыкновенного
исполнения Масса дефектоскопа без принадлежностей кг 4830
Габариты: блок управления 275х520х320 Температура окружающего воздуха °С 30...+50
мм
намагничивающее устройство 508х76х330
Масса: блок управления 59
кг Магнитный дефектоскоп универсальный 9-344.00.00.00.
намагничивающее устройство 9 Область применения: для выявления поверхностных дефектов по
ГОСТ 21105-85 в деталях из ферромагнитных сплавов, предусмот-
ренных техническими требованиями конструкторской документа-
Дефектоскоп ПМД-70. Назначение: для выявления поверх-
ции к магнитопорошковой дефектоскопии. Габариты проверяемых
ностных и подповерхностных дефектов в изделиях из ферро-
деталей определены в технических характеристиках дефектоскопа.
магнитных материалов с относительной максимальной магнитной
проницаемостью не менее 40 магнитопорошковым или магнито- Технические характеристики
люминесцентным методом. Дефектоскоп позволяет контроли-
ровать различные по форме детали, сварные швы, внутренние поверх- Параметр Ед. изм. Значение
ности отверстий путем намагничивания отдельных контролируе- Габариты м 2,2х0,8х1,6
мых участков или изделия в целом циркулярным или продольным Масса кг 350
полем, создаваемым с помощью набора намагничивающих уст- Потребляемая мощность кВт 3
ройств, питаемых импульсами тока (электроконтакты, гибкий кабель), Максимальные габариты
м 0,8; 0,2; 0,1
а также постоянным током (электромагнит, соленоид). Дефекто- проверяемых деталей: длина, ширина, высота

212 213
Магнитная дефектоскопия деталей проводится в следующем Технические характеристики
порядке: деталь укладывается на направляющие, педалью вклю-
чается намагничивание. Намагниченную деталь поливают магнит- Параметр Ед. изм. Значение
ной суспензией или посыпают магнитным порошком с люмине- Предел измерений напряженности поля А/м ±(30–3000)
сцентным составом, который равномерно распределяется по Диапазон измерений градиента А/м 2
±(1000–200 000)
поверхности детали, а в местах трещин и других дефектов соби- Класс точности 10/0,01
рается в виде четких полосок, которые хорошо видны визуально
Условные уровни чувствительности ГОСТ 21104 A,B,D
или с применением ультрафиолетового освещения.
Дефектоскоп-градиентометр феррозондовый ДФ-201.1A. Номинальная емкость аккумуляторной батареи А·ч 0,86
Описание: микропроцессорный дефектоскоп. Предназначен для Номинальное напряжение питания В 9,6
выявления дефектов, измерения напряженности и градиента Потребляемый ток мА не более 30
напряженности магнитного поля. Имеет малогабаритные ферро-
Габариты мм не более 220x110x60
зондовые преобразователи с боковым выводом кабелей, жидко-
кристаллический дисплей, звуковую и световую сигнализацию о Масса в чехле кг не более 1,1

наличии дефекта.
Для удобства работы дополнительный индикатор дефекта Коэрцитиметр импульсный микропроцессорный “КИМ-
размещен в корпусе преобразователя градиентометра. На дисплее 2” (экспериментальный образец). Разработчик прибора филиал
отображаются: измеряемое и пороговое значения градиента и ФНПЦ «Прибор». Описание: микропроцессорный коэрцитиметр
напряженности магнитного поля, текущее время, напряжение малого размера и веса, отличающийся удобством в работе и просто-
аккумуляторной батареи. той в обслуживании. Коэрцитиметр предназначен для неразрушаю-
При работе в условиях пониженной освещенности предус- щего контроля качества термической, термомеханической или
мотрена подсветка дисплея. С клавиатуры вводятся: дата, время, химикотермической обработок, а также определения твердости и
номер и тип детали, личный номер дефектоскописта, параметры механических свойств деталей из ферромагнитных материалов при
и тип выявленного дефекта. В памяти дефектоскопа может хра- наличии корреляционной связи между контролируемым и
ниться информация о 400 проконтролированных деталях. Занесен- измеряемым параметрами. Прибор может быть использован для
ные в память дефектоскопа данные могут быть переданы в компью- разбраковки по маркам стали и контроля поверхностных слоев
тер, где на их основе формируется протокол контроля. ферромагнитных материалов. Прибор представляет из себя элект-
Питание – от аккумуляторной батареи большой емкости, ронный блок с накладным преобразователем в виде приставного
которая автоматически отключается при разрядке. Одного заряда электромагнита со съемными полюсными наконечниками и со
батареи хватает на 30 ч непрерывной работы. Прибор работо- встроенным в его магнитную цепь датчиком Холла. Размер
способен при температуре от минус 10 до плюс 40°С. В комплект контактной поверхности преобразователя: толщина полюса 5 мм;
поставки входят программное обеспечение и жгут для передачи ширина полюса 15 мм; межполюсное расстояние 30 мм. Принцип
данных на компьютер. Основное применение – контроль литых работы прибора состоит в намагничивании контролируемого
деталей и сварных соединений подвижного состава. участка детали накладным преобразователем и последующем
размагничивании этого участка нарастающим полем и фиксации
напряженности поля, соответствующей коэрцитивной силе, или в

214 215
измерении амплитуды сигнала с датчика Холла, соответствующей Технические характеристики
остаточной магнитной индукции, после размагничивания пред-
Специ-
варительно заданным током. фикация
Тип магнитной головки
Режимы измерения: измерение коэрцитивной силы; измере-
МГ
ние остаточной магнитной индукции с различным размагни- МГ МГ МГ
40 - МГ 124 МГ 233 МГ 233Р
6 - 24 20 - 40 24 - 64
чиванием; измерение остаточной намагниченности детали. 64
Система намагничивания: амплитуда импульса намагничи- Размеры кана- плоские плоские
40 - резинотрос
вания – 250 В, количество импульсов намагничивания – 3. Система тов, (диаметр) 6-24 20-40 24 - 64 (72-124) (124-233)
64 овая
мм x11,5 x38
размагничивания: диапазон изменения тока размагничивания –
Масса, кг
0-1000 мА, шаг изменения тока размагничивания – 1 мА. Диапазон 3 8 15 15 9 23 25

измерения коэрцитивной силы 150-5000 А/м.Время измерения не 235x2 330x205 330x235


330x2
285x220 300x152 300x152
Размеры, мм 35
более 10 сек. Питание 8 элементов А-316 или аккумуляторы, блок 30 x64 x190 x190
x190
x225 x325 x325
питания 9-2 В, 1А. Рабочий диапазон температур +5-50 °С. Габа-
Погрешность
риты: электронный блок – 220 х 120 х 150 мм, преобразователь – измерения по- 2 1 1 1 2 2 2
45 х 70 х 75 мм. Масса 2 кг. тери сечения, %
ИНТРОС – двухканальный магнитный дефектоскоп Порог чувстви-
стальных канатов компании Интрон Плюс. Описание: измеряет тельности к
1 1 1 0,5 - - -
обрыву прово-
вызванную износом относительную потерю сечения канатов круг- лок, %
лого сечения, плоских и резинотросовых уравновешивающих кана- Скорость конт-
тов, обнаруживает наружные и внутренние локальные дефекты в роля, м/с
0-1 0-2 0-2 0-2 0-1 0-1 0-1

виде обрыва проволок и пятен коррозии. Объем внут-


ИНТРОС обеспечивает два режима работы: оперативный, с ренней памяти
индикацией на дисплее и самописце текущих значений потери (длина про- 810 -
2000 - 8000
контролиро- 2000
сечения и наличия локальных дефектов, и режим запоминания и ванного
передачи данных в компьютер по окончании контроля с последую- каната), м
щей обработкой и представлением отчета под управлением прог-
раммы Wintros.
Портативный магнитный дефектоскоп DA-750.
Диапазон измерения потери сечения каната по металлу,
Назначение: портативный магнитный дефектоскоп Parker DA-750
%: -0 -30. Температура окружающей среды, °С: -10 … +40.
обеспечивает эффективный контроль больших поверхностей.
Питание: 3 аккумулятора типа АА. Исполнение: общее или руднич- Выбор размера контролируемого поля зависит от величины тока
ное взрывозащищенное. Масса и размеры электронного блока: и от места контакта кабелей. Выходной ток варьируется от 0,1A
0,8 кг, 230x85x35 мм. до максимума с помощью переключателя на передней панели и
контролируется на стрелочном амперметре. Вообще выходной ток
определяется размером и длиной кабеля. Магнитное поле опре-
деляет лучшую чувствительность для обнаружения поверхностных

216 217
дефектов. Не требует размагничивания. Магнитное поле постоян- Приложение З
ного тока обеспечивает наилучшее обнаружение как поверх-
ностных, так и подповерхностных дефектов. Описание и технические характеристики
некоторых современных приборов ТВК
Технические характеристики
Дефектоскоп вихретоковый ВД-87НСТ. Назначение:
Параметр Ед. изм. Значение служит для обнаружения поверхностных и подповерхностных
Габариты: длина; ширина; высота см 44,5; 23; 19,8 дефектов в изделиях из ферромагнитных и немагнитных сталей и
Питание: напряжение В 230
сплавов. Применяется также для сортировки магнитных и немаг-
частота Гц 50/60
нитных материалов на соответствие заданной марке. В основу
работы дефектоскопа положен метод регистрации изменений
Максимальный выход при использовании двух кабелей А 750
электромагнитного поля вихревых токов, обусловленных дефектом
и электрофизическими свойствами объекта контроля. В дефекто-
скопе предусмотрены: потенциальный выход для передачи
информации на внешние устройства регистрации; режим авто-
диагностики; устройство сигнализации о дефекте; режим запо-
минания индикации при обнаружении дефекта; автоматическая
компенсация начального сигнала, обусловленного электромагнит-
ными свойствами контролируемого объекта.

Технические характеристики
Параметр Ед. изм. Значение
Минимальная толщина контролируемых изделий мм 0,5
Максимальная толщина контролируемых изделий мм 6,0
Порог чувствительности (глубина и ширина
дефекта): 0,2х0,1
мм
к поверхностным дефектам 0,3х0,3
к подповерхностным дефектам
Питание: от сети переменного тока частотой 50 Гц 220
В
от источника постоянного тока 27
Время непрерывной работы час 16
Габариты мм 170х270х350
Масса кг 8,9
Температура окружающего воздуха O
C + 5 … + 50

218 219
Дефектоскоп вихретоковый ВД-89НП. Назначение: поиск, Дефектоскоп вихретоковый ВД-113.5. Аналоговый
обнаружение и оценка глубины поверхностных трещин на изде- прибор. Назначение: работа в полевых условиях (пункты техни-
лиях различной формы из ферромагнитных и немагнитных метал- ческого обслуживания, магистральные газо- и нефтепроводы и
лов и сплавов – трубах, отливках, деталях машин т.п.). Выявляет поверхностные трещины шириной более 2 мкм,
глубиной более 0,1 мм и длиной более 3 мм в изделиях, выполнен-
ных из любых металлов и сплавов с радиусом положительной и
отрицательной крутизны более 100 мм.

Технические характеристики

Параметр Значение
Питание от аккумуляторной батареи, В 8,5–13,0
Ток потребления, мА не более 50
Номинальная емкость аккумуляторной батареи, А⋅ч не менее 0,86
Время непрерывной работы, ч не менее 12
Рис.1. Внешний вид прибора ВД-89НП Максимальная шероховатость контролируемой поверх-
320 мкм
ности RZ
Габариты, мм не более180х135х100
Принцип действия: регистрация составляющих комплекс- Масса прибора с двумя преобразователями, кг не более 1,3
ного сопротивления первичного преобразователя, выделение Температура окружающего воздуха -30 ... +50°С
информации о наличии и глубине трещины. Особенности: высокая
разрешающая способность; оценка глубины трещин без снятия
покрытия; память данных; связь с персональным компьютером; В дефектоскопе применен вихретоковый преобразователь
автономность; компактность. роторного типа. Благодаря этому в процессе контроля можно
наклонять преобразователь по отношению к нормальному положе-
Технические характеристики нию на угол до 10° и отрывать от поверхности на расстояние до 1
мм; дефектоскоп прост в применении и не требует высокой квали-
Параметр Значение
цифровая или цифровая +
фикации дефектоскописта. Для настройки дефектоскопа исполь-
Индикация результата измерений
+ графическая зуется СОП, содержащий пять искусственных дефектов. Дефекто-
Индикатор ЖК – дисплей с подсветкой скоп имеет шестнадцать основных уровней чувствительности.
Электропитание от 3 элементов типа АА
Потребляемый ток, мА Кроме того, предусмотрена возможность предварительной уста-
- при выключенной подсветке 40 новки и запоминания четырех дополнительных уровней для
- при включенной подсветке 80
Объем памяти для запоминания результатов 7500
контроля различных деталей. Поставляется комплект насадок,
Связь с компьютером по ИК-порту да предназначенных для точной установки преобразователя на
Габариты, мм 126 х 65 х 30 цилиндрическую поверхность контролируемых деталей, радиус
Масса, кг 0,4
Радиус кривизны поверхности, мм >5
кривизны которых менее 100 мм. На объектах с повышенным уров-
Длина, мм 10 нем шума выявление дефектов дублируется звуковым сигналом в
Глубина, мм 0,1 наушнике.

220 221
Вихретоковый дефектоскоп для ручного контроля Имеются версии прибора «InSite-HT» с 2, 4, и 8 катушками.
PHASEC 2200. Назначение: контроль клепаных и сварных сое- Модульная конструкция облегчает поиск и устранение неисправ-
динений, отверстий, мест локальной коррозии, поверхностных и ностей. Прибор помещён в прочный металлический корпус и
подповерхностных трещин. Описание: малогабаритный процес- идеально подходит для работы в жёстких производственных усло-
сорный дефектоскоп с возможностью 2-частотного метода конт- виях. В режиме многоточечного тестирования при помощи одного
роля, характеризуется широким ассортиментом динамических прибора «InSite-HT» можно одновременно контролировать нес-
(вращающихся) и статических датчиков, возможностью измерения колько линий. Прибор легко интегрируется в новые или сущест-
электропроводности и измерения толщины стенки и покрытий, вующие технологические линии в качестве элемента устройств
современными методами обработки сигнала (например, автомати- сортировки и индикаторов наличия лакокрасочного покрытия. Для
ческое смешение сигналов, компенсация зазора и балансировки установки полей допуска и квалитета используется управляемый
датчика). Рабочие частоты от 60 Гц до 6 МГц с соотношением в режиме меню дисплей. Прибор анализирует формы вихретоко-
F1|F2 от 10:1 до 1:10; регулировка усиления от 0 до 90 дБ. вых сигналов для всех деталей и производит разбраковку деталей.
Измерение электропроводности от 0,4 до 64 МСм/м; толщины Имеются датчики для контроля труб, прутков и проволоки в про-
покрытий до 1,25 мм. цессе производства.

Рис. 3. Внешний вид прибора «InSite-HT»

Прибор вихретокового контроля поверхностных де-


Рис. 2. Внешний вид прибора PHASEC 2200 фектов PVK-K2. Назначение: для вихретокового контроля де-
фектов шлифованных поверхностей вращения, в частности, доро-
Вихретоковый дефектоскоп «InSite-HT» компании жек качения подшипников. Типы контролируемых дефектов:
«Zetec». Назначение: тестирование деталей, контроль твердости поверхностные трещины, прижоги (в т.ч. кольцевые), мягкие пятна
по Роквеллу с точностью ±1 со скоростью, не снижающей произ- и другие неоднородности материала.
водительность технологических линий. Кроме того, прибор прове- Прибор имеет сертификат Госcтандарта России. Предус-
ряет глубину цементации и состав смеси. мотрена система управления в ручном и автоматическом режимах.

222 223
В качестве вихретокового датчика в приборе используется катушка поверхности, в т.ч. фасонные, без механической переналадки.
с ферритовым сердечником. Математическая обработка результатов сканирования, включаю-
Прибор имеет настольное исполнение. Основные техничес- щая фильтрацию верхних и нижних частот, сглаживание и нелиней-
кие характеристики: габариты сканирующего устройства – ное преобразование, обеспечивает получение подробной информа-
500х600х850 мм; габариты электронного блока – 450х450х300 мм; ции о типе, величине и положении дефектов, а также получение
габариты контролируемых деталей: наибольший диаметр детали дополнительной информации о неравномерности свойств мате-
– 350 мм, наибольшая высота детали – 140 мм, минимальный диа- риала. Возможно автоматическое принятие решения о годности
метр внутренней поверхности – 25 мм; питание прибора – от сети детали.
220 В, 50 Гц (с заземляющим проводом); потребляемая мощность Ферритометр магнитоиндукционный МФ-51НЦ.
– не более 0,5 кВт. Назначение: служит для измерения содержания ферритной (альфа)
фазы в металле швов, наплавляемых антикоррозионных покры-
тиях, заготовках, в деталях и готовых изделиях из коррозионно-
стойких нержавеющих хромоникелевых сталей аустенитного и
аустенитно-ферритного класса. Может быть использован для опре-
деления качества сварки конструкций из нержавеющих сталей.
Снабжен энергонезависимой памятью, а также функциями статис-
тической обработки результатов измерений и их документирования
путем передачи по инфракрасному порту на внешний компьютер.
Отображает на индикаторе минимум и максимум из текущей серии
последних измерений.

Рис. 4. Внешний вид прибора PVK-K2

Возможна поставка размерных модификаций прибора,


отличающихся диапазоном габаритов контролируемых деталей.
Дополнительно может быть поставлен набор искусственных образ-
цов дефектов поверхности.
Для анализа результат представляется на экране в виде раз-
вертки поверхности, на которой цветом выделены различные типы
дефектов, а для интересующего сечения даны подробные графики
сигналов. Частота вращения гнезда с деталью – до 3 об/с.
Сканирующий механизм позволяет контролировать наруж- Рис. 5. Внешний вид ферритометра
ные и внутренние поверхности детали, контролировать различные магнитоиндукционного МФ-51НЦ

224 225
Технические характеристики Приложение И

Параметр
Единицы
Значение Ионизирующие излучения
измерения
Диапазон измерения % 0,1 -60 В РК используются следующие виды ионизирующих
Погрешность измерения % 5 излучений:
Габариты электронного блока мм 45/100/180 - рентгеновское тормозное;
Масса электронного блока кг 0,3 - тормозное излучение ускорителей электронов;
- рентгеновское характеристическое;
- г-излучение;
- немоноэнергетическое в-излучение радиоактивных
изотопов;
- моноэнергетическое в-излучение
(выводимое из ускорителей);
- б-излучение;
- поток протонов;
- поток позитронов.
По своим свойствам излучения можно разделить на фотон-
ное и корпускулярное. Рентгеновское, г-излучение и тормозное
излучение ускорителей электронов – по своей природе высоко-
частотные электромагнитные волны, распространяющиеся в ваку-
уме со скоростью 2,998·108 м/с (скорость света); б-излучение –
поток ядер гелия; в-излучение – поток нейтронов или позитронов,
нейтронное (протонное) излучение – потоки нейтронов (протонов),
возникающих при ядерных реакциях.
Ионизирующее электромагнитное излучение называют
фотонным, а излучение в виде потока заряженных частиц или нейт-
ронов – корпускулярным.
Некоторые свойства ионизирующих излучений. 1. Фотон-
ное излучение, потоки заряженных частиц и нейтронов при взаимо-
действии с веществом ионизируют его атомы и молекулы, т.е. под
действием этих излучений в веществе образуются положительные
и отрицательные ионы и свободные электроны. Эти излучения
называют ионизирующими (ГОСТ 15484). Ионизирующие излуче-
ния широко применяются в дозиметрических приборах и радио-
метрических дефектоскопах. Ионизирующие излучения оказы-

226 227
вают биологическое действие, т.е. ионизируют вещества, из кото- Энергетический спектр характеристического излучения
рых состоят клетки живых организмов. Это действие приблизи- имеет дискретный характер, т.е. состоит из так называемых К, L и
тельно равно поглощённой дозе излучения. При значительной дозе т.д. линий, соответствующих переходу электронов с внешней обо-
облучения всего человека может наступить различной степени лочки на К, L и т.д. уровни оболочки (рис. 1).
лучевое заболевание. Существуют различные способы защиты от Каждому химическому элементу свойственно своё харак-
облучения, позволяющие длительно работать с источниками иони- теристическое излучение. Энергия этого излучения возрастает при
зирующих излучений без вреда для здоровья. возрастании атомного номера элемента Z. В основе рентгено-
2. Благодаря очень высокой энергии ионизирующие излу- спектрального анализа материалов лежит учет этого явления.
чения способны проникать через слои веществ различной тол-
щины. Наибольшей проникающей способностью обладают нейт-
роны, рентгеновское и г-излучение; наименьшей – б-частицы.
3. Ионизирующие излучения вызывают люминесценцию
некоторых веществ (так называемых люминофоров, или сцин-
цилляторов). На этом свойстве основано действие люминесцент-
ных детекторов излучений для обнаружения и измерения интенсив-
ности излучений.
4. Ионизирующее излучение оказывает действие на галоге-
нидное серебро эмульсии рентгеновской плёнки, проявляющееся
в почернении её после химической обработки. Степень почернения
зависит от интенсивности излучения.
Рис.1. Характеристическое излучение
5. Ионизирующие излучения не воспринимаются ни глазом,
ни другими органами чувств человека.
Немного о терминах. Характеристическое излучение испус- Тормозное излучение возникает при прохождении электрона
кается возбуждёнными атомами при их переходе в основное или через поле атома или ядра, которым он тормозится. Чтобы электрон
менее возбуждённое состояние. Если в атоме из внутренних оболо- мог пройти вблизи ядра материала мишени, его энергия должна
чек выбиты электроны при бомбардировке атома заряженными быть не менее 105 эВ.
частицами, электроны с внешних оболочек переходят на освобо- Движущийся с ускорением (замедлением) электрон в соот-
дившиеся внутренние; при этом освобождается порция электромаг- ветствии с законами электродинамики испускает кванты излучения
нитной энергии (hν ), называемой квантом или фотоном: различной энергии, при этом возникает непрерывный энергетичес-
кий спектр.
E 1 – E 2 = E = hν , Кванты рентгеновского излучения имеют свойства частиц
(фотоэффект, рассеяние) и волновые свойства (преломление, интер-
где E1, E2 – уровни энергий электронных оболочек, н – частотаа ференция, дифракция). Длина волны любого электромагнитного
излучений, h = 6,62·10-34 Дж · с – константа Планка. Чем больше c hc
излучения связана с частотой λ = , поэтому можно записать E = .
разница Е1 – Е2, тем больше частота излучения и его энергия. ν λ

228 229
При альфа-распаде ядра изотопов испускают ядра гелия.
б – распад характерен для естественных изотопов с большим значе-
нием Z (Ra – радий, Po – полоний, U – уран и т.п.).
При в-распаде один из нейтронов ядра превращается в
протон, при этом испускаются две новые частицы – электрон и
антинейтрино. При этом может возникать рентгеновское тормозное
излучение вследствие торможения быстрых в-частиц в материале
изотопа. в-распад характерен для многих естественных и искус-
ственных изотопов.
Дочерние радиоактивные ядра, образующиеся при б- и в-
распадах, могут находиться в возбуждённом состоянии; при их
переходе в основное состояние испускаются один или несколько
г-квантов. Например, при в-распаде ядер изотопов 60 Со испус-
кается два г-кванта с энергией 1,17 и 1,33 МэВ.
Позитронный распад наблюдается у некоторых искусствен-
ных радиоактивных изотопов. Один протон превращается в нейт-
рон, причём испускается один позитрон и нейтрино. Позитрон
недолговечен, он соединяется с электроном окружающего вещества,
при этом образуются два кванта энергии (это так называемая анни-
гиляция). Спектр энергии позитронов непрерывный.
Электронный захват – поглощение ядром орбитального
электрона из ближайшей к ядру К-оболочки (К-захват). При этом
один из протонов ядра превращается в нейтрон, и заряд ядра
уменьшается на единицу. На место электрона, поглощённого ядром,
переходят электроны с более удалённых орбит, при этом возникает
характеристическое рентгеновское излучение (дискретный спектр).
Нейтронное излучение – поток нейтральных частиц (нейт-
Рис. 2. Шкала электромагнитных излучений и номограмма
ронов), обладающих большой проникающей способностью.
определения энергии излучения по его частоте (длине волны)
В зависимости от энергии нейтроны подразделяют на тепловые
(медленные) и быстрые. Тепловые нейтроны хорошо поглощаются
На рис. 2 приведена номограмма определения энергии такими веществами, как бор и кадмий. Быстрые нейтроны
электромагнитного излучения по частоте (длине волны). Из рисунка замедляются водородом и водородосодержащими веществами.
видно, что имеется некоторое перекрытие интервалов длин волн Ионизирующие излучения описываются с помощью единой
различных видов излучения. системы понятий, используемых в НМК.
б, в, г-излучения возникают при радиоактивном распаде Энергетический спектр излучения представляет собой рас-
естественных или искусственных изотопов. пределение фотонов по энергии. Спектр может быть дискретным

230 231
(г-излучение) и непрерывным (тормозное рентгеновское излуче- (считается, что N монотонно возрастает с увеличением толщины
ние, б и в-частицы, нейтроны). просвечиваемого материала).
Прохождение излучения в материале обычно рассматри- Узкие пучки в основном используют в радиометрии, а широ-
вается отдельно для узкого и широкого пучков. Понятие узкого и кие – в радиографии. Применение узкого пучка в радиографии
широкого пучка определяется в зависимости от соотношения между позволяет повысить качество радиографического изображения.
прямым и рассеянным потоками излучения. В узком пучке рассеян-
ные фотоны не регистрируются детектором. Для реализации узкого
пучка необходимо коллимировать источник и детектор. При этом
число фотонов, регистрируемых за время ф,

N n = N1 exp(−µl) = N1 exp(−µ m ρ n ) ,
где N1 – плотность потока фотонов, прошедшего контролируемое
изделие, N = SфЭN , S – площадь входного окна детектора, Э – эффек-
1 0
тивность регистрации, N0 – плотность потока фотонов, падающего
на детектор при отсутствии КО; l – толщина материала, µ m –
массовый коэффициент ослабления, ρ n – единица поверхностной
плотности, ρ n = ρl .
Коэффициенты ослабления зависят от вида излучения и
энергии фотонов. Линейный коэффициент ослабления определяет
число событий на единицу длины, приводящих к уменьшению
энергии пучка на один фотон. Величина м-1 называется длиной
свободного пробега. Массовый коэффициент ослабления опреде-
ляет среднее число событий на пути l , приводящих к уменьшению
количества фотонов в пучке, и характеризуется дифференциаль-
ным уравнением dN = N n µdl .
Широким пучком излучения называется такой, при котором
рассеянные фотоны регистрируются детектором вместе с пучком
прямого излучения. Тогда число фотонов, регистрируемое за время ф,

N = N n + N p = N1 exp(−µl) B,
где Np – число рассеянных фотонов, регистрируемых за время ф;
В – фактор накопления, описывающий вклад рассеянных фотонов
при регистрации излучения, прошедшего через КО, B = 1 + N p / N n

232 233
Приложение К Частота следования импульсов 8 Гц. Питание – от сети переменного
тока: напряжение 220 В, частота 50 Гц (АРИНА-01 и АРИНА-02);
Описание и технические характеристики некоторых от аккумуляторной батареи напряжением 24 В (АРИНА-02). Мощ-
современных приборов радиационного контроля ность, потребляемая от сети переменного тока, 200 Вт. Габариты:
рентгеновского блока – 460х125х180 мм; пульта управления –
Аппарат рентгеновский импульсный наносекундный 300х225х120 мм. Масса каждого блока соответственно по 6 кг.
автономный типа АРИНА. Назначение: служит для рентгено- Вероятность безотказной работы в течение 1200 ч не менее 0,9.
скопии деталей, узлов и конструкций в труднодоступных местах. Условия эксплуатации: температура окружающей среды –
Удобен для работы в полевых условиях. Используется для контроля 40...+50°С, относительная влажность 100%.
сварных соединений труб газо- и нефтепроводов, на трубосвароч- Рентгенотелевизионная флуроскопическая система типа
ных базах, строительных площадках, стапелях и в цехах промыш- “ШМЕЛЬ-МОБИЛ”. Назначение: рентгеновский контроль круп-
ленных предприятий. Аппарат не требует предварительного ногабаритных объектов в нестационарных условиях. Описание:
прогрева и готов к работе немедленно после включения. Работает представляет собой простую в эксплуатации и обслуживании сис-
в любых климатических условиях. Широкая диаграмма направлен- тему. В основе системы лежат последние технологические и
ности излучения обеспечивает возможность как направленного, научные достижения в области высоковольтной импульсной тех-
так и панорамного просвечивания. ники, компьютерных технологий, средств улучшения изображений
Описание: АРИНА включает в себя портативный импульс- и регистрации оптических изображений. Оригинальные конструк-
ный генератор высокого напряжения и взрывоэмиссионную рент- тивные и технические решения обеспечивают работоспособность
геновскую трубку. Конструктивно аппарат выполнен в виде двух системы в широком диапазоне температур. Разворачивание сис-
портативных блоков, которые легко транспортируются силами темы в рабочее положение занимает не более минуты. Автономное
одного оператора. Блоки соединяются высоковольтным кабелем, питание обеспечивает непрерывную работу системы в течение часа.
длина которого (20 м) достаточна для обеспечения радиационной При работе от внешнего источника питания (сеть 220 В или аккуму-
безопасности оператора в полевых условиях без применения лятор 12 В) время не ограничено. Возможность запоминания изо-
средств защиты. Принцип действия аппарата основан на получении бражений позволяет создавать базы данных для дальнейшего
импульсов рентгеновского излучения под действием высоковольт- использования. Система обеспечивает запоминание более 1000
ных наносекундных импульсов. Аппарат имеет две модификации: изображений. Управляющий контроллер системы соединяется с
АРИНА-01 (состоит из рентгеновского блока и пульта управления) компьютерной сетью, что дает возможность проводить при необхо-
и АРИНА-02 (состоит из рентгеновского блока и двух пультов димости дальнейшую обработку изображений, включение их в
управления). отчет, распечатку и т.п. Рентгенотелевизионная система состоит
Технические характеристики из модуля управления и обработки рентгеновских изображений,
Толщина стали, доступная для рентгенографирования, приемного устройства и рентгеновского аппарата.
составляет 25 мм с применением флюоресцентных экранов. Технические характеристики
Амплитуда напряжения на рентгеновской трубке 150 кВ. Экспо- Блок управления. Экран 9’. Разрешающая способность 800х600.
зиционная доза рентгеновского излучения за 100 с на расстоянии Время получения изображения 4 с. Увеличение масштаба девять
0,5 м от анода рентгеновской трубки 600 мр. Диаметр эффектив- зон с двухкратным увеличением. Запоминание более 1000 изобра-
ного фокусного пятна 2...3 мм. Диапазон экспозиций 10...400 с. жений. Возможность работы в компьютерной сети. Питание от сети

234 235
переменного тока напряжением 220 В, частотой 50 Гц. Габариты Условия работы и преимущества: интроскопы работоспособны
360х275х330 мм. Масса 12,5 кг. в стационарных условиях и на базе автомобиля с крытым кузовом
Приемное устройство. Зона обзора 360х480 мм (возможно в диапазоне температур -20...+40°С. Установка позволяет контроли-
изменение по специальному заказу). Видеокамера – ПЗС-камера ровать качество изделий без применения рентгеновской пленки.
с автоматической регулировкой чувствительности. Матрица Результаты контроля запоминаются в виде цифровых рентгено-
753х582. Горизонтальная разрешающая способность 570 строк. грамм и документируются с помощью компьютера.
Питание от блока управления напряжением 220 В. Рентгенотелевизионные интроскопы РИ-61Т и РИ-82Т.
Рентгеновский аппарат. Импульсный рентгеновский аппа- Назначение: служат для оперативного рентгеновского контроля
рат “Шмель-90”. Напряжение на трубке 90 кВ. Средний ток 0,3 мА. материалов и изделий ответственного назначения. Персональный
Питание от встроенного аккумулятора с возможностью непрерыв- компьютер, входящий в состав аппаратуры, осуществляет процес-
ной подзарядки от 220 В. сы накопления, обработки и сохранения результатов контроля на
Рентгеновский и бетатронный интроскопы. Назначение: жестком диске или внешнем носителе. Благодаря высокому ка-
служат для контроля качества сварных соединений трубопроводов, честву изображения и возможности документирования результатов
сосудов высокого давления, различных металлических и железо- контроля использование интроскопа может исключить применение
бетонных конструкций в полевых и цеховых условиях.
дорогостоящей рентгеновской пленки.
Описание: принцип действия интроскопов основан на исполь-
Рентгенотелевизионный комплекс контроля качества
зовании излучения бетатронов, рентгеновских аппаратов или
промышленных изделий РТК-98-19/2. Назначение: служит для
изотопных источников для просвечивания объектов контроля и
рентгеновского контроля литья, сварных швов, изделий из компо-
преобразования излучения в рентгенограмму с помощью сцинтил-
зиционных материалов, резинотехнических изделий. Комплекс
ляционных экранов, телевизионной аппаратуры и цифровой
электронной техники. имеет две модификации: с флюороскопическим экраном высокого
Интроскоп состоит из двух частей: выносного блока-преоб- разрешения и с рентгенооптическим преобразователем (РЭОП).
разователя, устанавливаемого по месту контроля вместе с источни- Комплекс с экраном позволяет решать индивидуальные задачи заказ-
ком излучения, и блока телевизионной и цифровой аппаратуры, чика путем выполнения оптимального размера экрана под конкрет-
устанавливаемого за пределами зоны контроля. ные объекты. Состав комплекса: преобразователь; монитор; уст-
Технические характеристики ройство печати с экрана монитора; память с накоплением.
Бетатронный интроскоп. Диаметр поля контроля 200 мм. Устройство печати позволяет в любой момент времени полу-
Толщина контролируемых изделий (по стальному эквиваленту) до чить твердую копию изображения экрана.
200 мм. Чувствительность контроля 0,5-1 %. Размер выявляемых Технические характеристики
дефектов до 0,2 мм. Потребляемая мощность 100 Вт. Габариты РИ-61Т. Относительная чувствительност 1,5-2%. Поле конт-
500x800x800, масса 20 кг. роля 160-200 мм. Разрешение 1,5 пар лин./мм.
Рентгеновский интроскоп. Диаметр поля контроля 200 мм. РИ-82Т. Относительная чувствительность 0,5-1%. Поле конт-
Толщина контролируемых изделий (по стальному эквиваленту) до роля 90 мм. Разрешение 5 пар лин./мм.
35 мм. Чувствительность контроля 1-1,5 %. Размер выявляемых РЭОП. Относительная чувствительность 2%. Поле контроля
дефектов до 0,2 мм. Потребляемая мощность 100 Вт. Габариты: до 300х400 мм. Пространственное разрешение телевизионных линий
500x800x800, масса 20 кг. не менее 600. Диапазон контролируемых толщин по стали до 12 мм.

236 237
Дешифратор рентгеновских снимков. Комплекс аппара- В состав комплекса входят специальное программное обес-
туры для ввода, обработки и архивирования радиографических печение (ПО), монитор 19', ПЭВМ Р4, лазерный принтер, спе-
снимков с ПО. Комплекс предназначен для цифровой обработки циализированный сканер, негатоскоп ОД-41 НМ 2Э, денситометр
изображения, полученного с радиографического снимка скани- ОФ-10 ДЦМ, клин фотометрический.
рованием, и последующего архивирования результатов контроля.
Ввод информации осуществляется с помощью специализирован-
ного сканера, предназначенного для работы с оптически плотными
прозрачными носителями большого формата, например с радио-
графическими снимками. Формат А3+(304,8х431,38 мм) позволяет
обрабатывать радиографические снимки формата 30х40 см за один
проход сканера.
Основные возможности:
- высококачественный ввод с высоким разрешением рентгено-
грамм;
- функция электронной лупы (16х);
- создание базы данных, документирование, протоколирова-
ние и систематизация;
- автоматическое выделение по заданным характеристикам;
- все виды геометрических измерений, денсинометрирова-
ние в точке, по области и профилю (линейный профиль –
по производственному сечению, автоматический профиль
– по вертикали, горизонтали);
- шумоподавление для радиографического изображения
(более 20 цифровых фильтров).
При обработке изображения происходит подбор оптималь-
ных параметров контрастности и яркости изображения, наложение
графических фильтраций, увеличение интересующих участков
изображения, поиск дефектов, измерение их размеров, маркировка
и вывод на печать. После обработки графической информации ре-
зультаты архивируются в базе данных, конструктивно содержащей
графическую и текстовую части, обеспечивая удобный ввод инфор-
мации, быстрый поиск, редактирование и долговременное хранение.
При разработке базы данных контроля учитывается специфика
конкретного предприятия, которая основывается на действующих
нормативных документах РФ и принятых на предприятии формах
отчетности.

238 239
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК ОГЛАВЛЕНИЕ

1. Алешин Н.П., Щербинский В.Г. Радиационная, ультра- Введение............................................................................................ 3


звуковая и магнитная дефектоскопия металлоизделий. – М.: Высш.
шк., 1991. – 271 с. 1.Понятие о неразрушающих методах контроля........................... 5
2. Розина М.В. и др. Неразрушающий контроль в судострое- 1.1. Основные виды НМК........................................................... 6
нии: Справ. дефектоскописта / М.В. Розина, Л.М. Яблоник, В.Д. 1.2. Эффективность НМК......................................................... 10
Васильев. – Л.: Судостроение, 1982. – 152 с. 1.3. Критерии оценки качества изделий.................................. 17
3. Неразрушающие испытания: Справ. / Под ред. Р. Мак- 1.4. Понятие о статистической обработке результатов
Мастера. Кн.1. – М. – Л.: Энергия,1965. – 504 с. неразрушающего контроля................................................. 18
4. Новокщенова С.М. Дефекты стали: Справ. – М.: Метал- 1.5. Надежность системы контроля качества изделий........... 24
лургия, 1984. – 200 с. 1.6. Сравнение разрушающих и неразрушающих методов
5. Белокур И.П. Дефектология и неразрушающий контроль. контроля................................................................................ 26
– Киев: Вища шк., 1990. – 207с. Вопросы для самопроверки...................................................... 30
6. Неразрушающий контроль металлов и изделий: Справ./ 2. Виды дефектов продукции......................................................... 31
Под ред. Г.С.Самойловича. – М.: Машиностроение, 1976. – 456 с. 2.1. Классификация дефектов................................................... 31
7. Марков П.И. Волоконно-оптическая интроскопия. – М.: 2.2. Дефекты металлических заготовок................................... 34
Машиностроение, 1987. – 286 с. 2.3. Дефекты в неметаллических деталях............................... 45
8. Белокур И.П., Коваленко В.А. Дефектоскопия материалов Вопросы для самопроверки...................................................... 47
и изделий. – Киев: Тэхника, 1989. – 192 с.
9. Неразрушающий контроль. Россия. 1999-2000 гг.: Справ. 3. Визуально-оптический контроль (ВОК)................................... 48
/ В.В. Клюев, Ф.Р.Соснин, С.В. Румянцев и др.; Под ред. В.В. Клюева. 3.1. Задачи, решаемые ВОК...................................................... 48
– М.: Машиностроение, 2001. – 616 с. 3.2. Классификация и общие требования к оптическим
10. Адаменко А.А. Современные методы радиационной де- приборам для ВОК............................................................... 50
фектоскопии. – Киев: Наук. думка, 1984. – 215 с. 3.3. Приборы ВОК..................................................................... 52
11. Справочник по радиационной безопасности / В.Ф. Козлов. Вопросы для самопроверки...................................................... 60
– М.: Энергоатомиздат, 1987. – 191 с.
4. Капиллярный метод неразрушающего контроля (КНК)......... 62
12. Вредные химические вещества. Радиоактивные вещества:
Вопросы для самопроверки...................................................... 75
Справ. изд. / Под ред. В.А. Филова. – Л.: Химия, 1990.– 463 с.
13. Яковлев С.Г. Методы и аппаратура магнитного и вихре- 5. Магнитные методы неразрушающего контроля (МНК)......... 76
токового контроля: Учеб. пособие. – СПб.: Изд-во СПБГЭТУ «ЛЭТИ», 5.1. Способы намагничивания контролируемых изделий..... 77
2003. – 88 с. 5.2. Способы регистрации дефектов при МНК...................... 86
14. Паврос С.К. Неразрушающий контроль изделий радио- 5.3. Размагничивание изделий................................................ 100
графическим методом. – СПб.: Изд-во СПБГЭТУ «ЛЭТИ», 2005. – 25 с. 5.4. Приборы и установки для МНК...................................... 102
Вопросы для самопроверки.................................................... 105

240 241
6. Токовихревой контроль (ТВК)................................................. 107
6.1. Преобразователи для ТВК............................................... 109
6.2. Распределение вихревых токов........................................ 111
6.3. Приборы для ТВК............................................................. 121
Вопросы для самопроверки.................................................... 124
7. Радиационный контроль (РК).................................................. 126
7.1. Источники и свойства ионизирующего излучения......... 128
7.2. Чувствительность радиационного контроля................... 141
7.3. Способы регистрации радиационных изображений..... 144
7.4. Меры безопасности при РК............................................. 166
Вопросы для самопроверки.................................................... 168
Заключение.................................................................................... 170
Приложения................................................................................... 172
Приложение А. Словарь терминов и определений.................... 172
Учебное издание
Приложение Б. Величины и единицы измерения...................... 177
Приложение В. Глаз как средство контроля............................... 181
Приложение Г. Приборы ВОК. Эндоскопы................................ 187
Каневский Игорь Николаевич
Приложение Д. Физические основы КНК.................................. 197
Сальникова Евгения Николаевна
Приложение Е. Физические основы МНК................................. 202
Приложение Ж. Описание и технические характеристики
некоторых современных приборов магнитного контроля........ 210
Приложение З. Описание и технические характеристики
НЕРАЗРУШАЮЩИЕ
некоторых современных приборов ТВК..................................... 219 МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ
Приложение И. Ионизирующие излучения................................ 227
Приложение К. Описание и технические характеристики
некоторых современных приборов радиационного контроля... 234 Редактор Л.Ф. Юринова
Техн. редактор Н.М. Белохонова
Библиографический список......................................................... 240
Компьютерный набор Е.Н. Сальниковой
Компьютерная верстка А.Ю. Купцовой

Подписано в печать . Формат 60х84/16


Усл. печ. л. 14,18. Уч.-изд. л. 9,63
Тираж 100 экз. Заказ

Издательство ДВГТУ. 690950, Владивосток, Пушкинская, 10

242 243