Вы находитесь на странице: 1из 1

ИКТр-73 Павлова Д

2. Внутренний обрыв на входах и выходах в цифровых интегральных схемах;


Характеристики и параметры входов и выходов цифровых микросхем
определяются прежде всего технологией и схемотехникой их внутреннего
строения. Но для разработчика цифровых устройств любая микросхема
представляет собой всего лишь "черный ящик", внутренности которого знать
не обязательно. Ему важно только четко представлять себе, как поведет себя
та или иная микросхема в данном конкретном включении, будет ли она
правильно выполнять требуемую от нее функцию.
Наибольшее распространение получили две технологии цифровых
микросхем:
· ТТЛ (TTL) и ТТЛШ (TTLS) — биполярная транзисторно-транзисторная
логика и ТТЛ с диодами Шоттки;
· КМОП (CMOS) — комплементарные транзисторы со структурой "металл–
окисел–полупроводник".

3. Диагностика неисправностей в схемах с тремя состояниями;

Диагностика неисправностей в цифровых схемах осуществляется путем
подачи сигналов логического импульсного генератора на входы
проверяемого элемента и наблюдения воздействия этих сигналов
на состояние выходов с помощью логического пробника. Для полной
проверки логического элемента «проходится» вся его таблица истинности