Вы находитесь на странице: 1из 30

Лекция

1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Eiji Abe JEOL News Vol. 38 No.2 p.63 (2003) (11)

Кристаллография, рентгенография и
электронная микроскопия
КРЭМ (Часть 1, 2 и 3)
Рентгенография, нейтронография и
электронография

к.ф.-м.н., доц. Салихов С.В.

Что нас ждет


1.  Физика рентгеновского излучения
2.  Геометрия дифракционной картины
3.  Интенсивность дифракционных максимумов
4.  Теория рассеяния

5.  Рентгенографические методы исследования


6.  Применения электронного и нейтронного излучения

7.  Новый год

8.  Экзамен

9.  Электронная микроскопия и микроанализ


10. Зачет с оценкой

11.  Лето

НИТУ МИСиС 1
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Контрольные мероприятия

1.  Три контрольных работы


•  9 неделя (6 вопросов, 1 час)
•  14 неделя (8 вопросов, 1 час)
•  17 неделя (20 вопросов, 2 часа)
2.  Три домашних задания
3.  Десять (10) лабораторных работ

Контрольная работа №3

1.  Продолжительность – 90 минут


2.  Вопросов в билете 20, пользоваться литературой и конспектами лекций
запрещается. При ответе на вопрос все используемые в формулах
обозначения должны быть объяснены.
3.  Ответ на каждый вопрос оценивается по трехбалльной системе.
4.  Шкала оценок

Дополнительные баллы: (максимум 10)


Строго до 29.12.2017, 18:00
1.  Выполнен учебный план (защищены все работы, зачтены все ДЗ,
написаны все КР) - 5
2.  Уровень контрольных работ 1 и 2 = 4,5
3.  Посещение лекций 10 лекций – 1 балл
13 лекций – 3 балла
16 лекций – 5 баллов

НИТУ МИСиС 2
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Экзамен

1.  Допуск к экзамену при условии:


•  Защищены все лабораторные работы
•  Приняты (зачтены) все домашние задания
•  Все контрольные работы написаны с оценкой 3 или выше
2.  Экзамен состоит из 2х частей:
•  Оценка 3 (удовлетворительно) может быть выставлена если
КР№3 написана с
•  первого раза на 40 баллов
•  второго раза на 45 баллов
•  Устный экзамен по билету (2 вопроса, 1 задача)
•  оценка 3 «сгорает» в момент получения билета
•  результат экзамена может быть от 2 до 5

Календарный план лекций

НИТУ МИСиС 3
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Календарный план практических


занятий

Сайт курса
http://www.crystallography.ru

НИТУ МИСиС 4
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Литература основная

1.  Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н.


Кристаллография, рентгенография и электронная
микроскопия. М., Металлургия,1982 – (КРЭМ)
2.  Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н.
Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.,
МИСиС, 2002, (2004) - (ГРС)

Литература дополнительная

1.  Илюшин А.С., Орешко А.П. Дифракционный структурный


анализ. М.: физический факультет МГУ, 2013. – 616 с.
2.  Кривоглаз М.А. Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов
в неидеальных кристаллах. Киев: Наук. думка, 1983. – 408 с.
3.  Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы
исследования и контроля, пер. с англ.- М.: Техносфера, 2004,
384с.
4.  Портной В.К., Новиков А.И., Головин И.С. Дефекты
кристаллического строения металлов и методы их анализа.
М.: ИД «МИСиС», 2015 г. 508 с.

НИТУ МИСиС 5
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Рентгенография???

Введение

Рентгенография
от Рентген (фамилия) + γραφειν
(graphein) − описывать –
раздел науки посвященный
описанию внутренней
структуры объектов по
рассеянию рентгеновских лучей
Источник : www.iucr.org

1895, Wilhelm Conrad Röntgen (Рентген) - открытие X-лучей


Пучок
фотопластинка

электронов
Рентгеновский
снимок руки
Металл Альберта
Рентгеновские Кёлликера (Albert
лучи Образец von Kölliker)
(23/01/1896)

1901, Нобелевская премия по физике : "I didn't think, I investigated."

НИТУ МИСиС 6
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Масштабы объектов и
излучения для их исследования

Visible light

103 10 10-1 10-3 10-5 10-7 10-9 10-11 10-13 10-15


radio Micro-ondas Infrarojo Ultravioleta X - RAYS Rayos Gamma

Longitud de
onda (m)

Gente Aguja Celula Molecule Atom Nucleo

§  1895, Wilhelm Conrad Röntgen (Рентген) - открытие X-лучей


Electron
beam
Radiografia
Radio
Metal film Mano de Albert
X-rays von Kölliker (1896)
Sample

1901, Нобелевская премия по физике : "I didn't think, I investigated."

Масштабы объектов и
излучения для их исследования
λ , [ Ï] 103 10 10-1 10-3 10-5 10-7 10-9 10-11 10-13 10-15

E, [˝Ç] 10-9 10-7 10-5 10-3 10-1 10 103 105 107 109
Микроволны Ультрафиолетовое
излучение
Инфракрасное Рентгеновские лучи
Радиоволны излучение

Фотоэлектроны
Ожэ-электроны
Флуоресценция

Прошедший луч
Образец

Падающий луч

Неупругое Упругое
(дифракция)
Рассеяние

НИТУ МИСиС 7
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Постановка задачи

First X-ray diagramme


by Laue in 1912.

X-ray beam

Crystal

De
tec
tor

Генерация рентгеновского
излучения (1)

ЭМ излучение генерируется движущимися с ускорением заряженными частицами

sin2 (θ )
S: r
r2 Важнейшие свойства излучения:
•  Спектральный состав (длина волны)
θ
•  Интенсивность
2π •  Яркость
k= •  Когерентность
λ •  Поляризация

c
E = hν = hω = h
λ
o 12.4
λ[A] =
E [keV]

НИТУ МИСиС 8
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Физика рентгеновских лучей

•  Прохождение через непрозрачные для световых лучей тела


•  Преломление на границах раздела сред
•  Ионизируют атомы
•  Биологическое действие
•  Фотографическое действие
•  Люминесценция
•  Вторичное (флуоресцентное) излучение
•  Интерференция и дифракция
•  Поляризация

Рентгеновская рефлектометрия:
основные принципы
Оптическое отражение от поверхности или межслойных границ

R n = 1 − δ − iβ
Френель
σ = 100 ! r λ2 $ ∑ xi zi + fi'
δ = ## e && N A ρ i
(~ 10−5
)
σ = 200
" 2 π % x
∑i iM
i

2
⎛ re λ ⎞ ∑ x f ʹʹ
i
i i

θ θc
β =⎜ ⎟ NA ρ
⎝ 2π ⎠ ∑xM i i
i

k0
θ c = 2δ θ0
kR

Si Al Fe Ni Cu
0.24 0.25 0.40 0.4206 0.4212 k%0

НИТУ МИСиС 9
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Важнейшие даты истории науки

1895 W.C. Röntgen открытие рентгеновских лучей


1912 M. von Laue открытие дифракции рентгеновских лучей

Sir William Lawrence Bragg


1915 Nobel Laureate in Physics

for their services in the analysis of crystal structure by means of X-rays.

Bragg's law:
nλ = 2d sin θ

НИТУ МИСиС 10
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Тем временем в России

«Не могу воздержаться от заявления, что


я никак не думал дожить до
действительного определения
расположения атомов, предусмотренных
в указанных мной сочинениях. В письме
к проф. Гроту я писал, что, пожалуй,
детальные применения [этих] систем...
начнут совершаться через 100 лет»

«Федоров был в то время для меня почти легендарной личностью, разработавшей 230 классов
кристаллов. Тот интерес, который существовал в то время, был интересом к внешней форме
кристаллов, а не к их внутренней структуре. Когда я начал анализировать кристаллы Х-лучами,
я ничего вообще не знал об их геометрии. Для нас было поистине удивительным открытием, что
великие люди, подобные Федорову и Барлоу, которого я тоже знал, изучили внутреннюю
геометрию кристаллов и дали твердое обоснование нашей работе».
У.Л.Брэгг

Физика рентгеновских лучей

c hc o 12.4
E = hν = h λ= λ[A] =
λ E E [ keV ]

НИТУ МИСиС 11
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Источники рентгеновского
излучения
1.  Рентгеновские трубки
2.  Синхротронное излучение
3.  Естественная радиоактивность

Spring – 8, Япония

Рентгеновская трубка

НИТУ МИСиС 12
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Рентгеновская трубка
Изоляция места Направляющее
запайки отверстие

Корпус трубки фланец

Бериллиевое окно Пространство для


циркуляции воды

Рентгеновские аппараты

Внешний вид и устройство гониометра рентгеновского дифрактометра

НИТУ МИСиС 13
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Виды рентгеновских спектров

Сплошной спектр
mv 2 hc
= eU = + p p=0
2 λ
U – рабочее напряжение, кВ hc 12.4
λ0 = = - минимальная
eU U длины волны, Å

λ − λ0
Iλ = C
λ 3λ0
3
λI= λ0
2 max

Общая мощность тормозного излучения: P = 1.5 ⋅10−6 ⋅ i ⋅ Z ⋅ U 2


P 1.5 ⋅10−6 ⋅ i ⋅ z ⋅ U 2
КПД: η = = = 1.5 ⋅10−6 ⋅ zU
iU iU

Возникновение характеристических
рентгеновских лучей

рии
K - се
де н ие
буж
Воз
ен ие
Излуч и
ри

}
е


с


K -

Возбуждени
K е
L- серии
L - се ние

}
рии
е
Излуч

L Во
M M збуж

ер дени
ии е
N }
ер ие
- с ен
ии
M луч

O
Из

НИТУ МИСиС 14
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Виды рентгеновских спектров


Характеристический спектр

2
eU 0 ≥ ε n , эл ⎛ z − σ1 ⎞
ε n , эл ≈ Rhc ⋅ ⎜ ⎟
⎝ n ⎠
2
hc ⎛ z − σ 1 ⎞
U0 ≈ R ⋅ ⎜ ⎟ R=109737.3 см-1
e ⎝ n ⎠

Закон Мозли:
1 2 Kα

λ
(
= R Z −σ1 ) (n −2
1
− n2−2 )
1
∝Z
λ

Характеристический спектр

λα ср =
( 2λα1 + λα 2 )
3

λα ср ≈ 1.09 λβ

Iα 1 : Iα 2 : I β ≈ 100 : 50 : 20

НИТУ МИСиС 15
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Длины волн спектральных линий


Элемент z Длина волны спектральных Длина волны Потенциал
линий, Å края полосы возбуждения
поглощения, серии, кВ
α2 α1 β Å

Al 13 8,339 8,337 - 7,951 1,55

V 23 2,50729 2,50348 2,38434 2,269 5,5

Cr 24 2,29351 2,28962 2,08480 2,070 6,0

Fe 26 1,93991 1,93597 1,75653 1,743 7,1

Co 27 1,79278 1,78892 1,62075 1,608 7,7

Cu 29 1,54433 1,54050 1,39229 1,381 8,9

Mo 42 0,713543 0,709261 0,63244 0,620 20,0

W 74 0,213813 0,208992 0,18439 0,178 69,3

Пространственное
Relativistic electrons radiate inраспределение
a forward oriented cone

излучения электронов
v ~ c, , γ~10000
v << c, γ~1
relativistic
classical

orbit orbit

acceleration acelleration

a Dipole radiation a Forward scattering into cone


The divergence for a 5 GeV machine is of the order of 10-4.
The spectrum peaks in the hard x-ray regime.

Polarization !

НИТУ МИСиС 16
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Увеличение яркости Lasers à


électrons libres
X- ray
free
Brillance electron
(phot ons/s/mm 2/mrad 2/0.1% B.F.) lasers
1023 Limit e de diffraction
Diffraction
1022

(photons/s/mm2/mrad2/0.1%BW)
limit
1021 ESRF (futur)
1020 3ème ESRF
ESRF(2012)
(2000)
generation
Third

Brilliance
1019 generation
Замечательные свойства СИ 1018 ESRF (1994)

•  Яркость 1017
ESRF (1994)
Rayonnement
Synchrotron
•  Когерентность 1016 Second2ème
generation
generation
synchrotron
radiation

•  Импульсный источник 1015

(длительность вспышки: 20 ps) 1014


1ère génération
1013 First generation

1012
1011
1010 X-ray
Tubes à
tubes
rayons X
109
108
107
106
1900
1900 1920
19201940
19401960
19601980
19802000
2000
Années

Развитие источников СИ
First particle accelerators

Particle
physics

Synchrotron
First observation of synchrotron radiation
radiation

60-70 Years 80-90 Years Since the 90s


1st generation 2nd generation 3rd generation

1947: First observation of synchrotron radiation 1994 - ESRF (France)


at General Electric (USA).

НИТУ МИСиС 17
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Синхротронные источники
Diamond, Didcot, UK
ESRF, Grenoble, France

PETRA III, Hamburg, Germany

Синхротронные источники

P = (3c3) -1 2q2 ν4 a2

НИТУ МИСиС 18
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Синхротронные источники

Как устроен синхротрон?


linac and booster

undulator
beamline

bending magnet
storage ring

НИТУ МИСиС 19
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Станции в синхротроне

Beamline Topics

Imaging

Diffraction

Spectroscopy

Накопительное кольцо
(Storage ring)
Bending magnets

Focusing
magnets Insertion devices
(undulators)

НИТУ МИСиС 20
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Beamline Elements


Data & control Experiment Optics


hutch hutch hutch

Особенности СИ
1.  Широкий набор длин волн (сплошной спектр).
2.  Интенсивность примерно в 1020 раз выше, чем интенсивность
излучения рентгеновской трубки с неподвижным анодом.
3.  Малая угловая расходимость (10-5 рад против 10-2 рад у рентгеновской
трубки).
4.  Излучение почти полностью плоско поляризовано.
5.  Интенсивность излучения пульсирует во времени. Во-первых, от
«сгустка» к «сгустку». Во-вторых, из-за того, что оно выходит в канал
пока «сгусток» из него виден (около 1 мс), а несколько десятков мс
«сгусток» из данного канала не виден.

Спектр СИ в широком и
узком интервале длин волн
(у каждого спектра указана энергия
сгустка).

НИТУ МИСиС 21
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Synchrotron Radiation Sources


PETRAIII/ANKA/BESSY
Hamburg/Karlsruhe/Berlin
NSLS DIAMOND MAX, Lund, Sweden
Oxford SOLEIL SLS
NSLS II Zurich
Paris

ELETTRA
Trieste
CLS
Saskatoon SSRF
Beijing

ALS
Berkeley SPRING-8
µXRF,
µXRD,XRI

KEK
µXRF,µXAS
APS
Chicago

LNLS ALBA ESRF SESAME CANDLE AUSTRALIAN


Campinas Barcelona Grenoble Jordan Armenia SYNCHROTRON

Operational Under construction Planned/In project

Рентгеновские источники

НИТУ МИСиС 22
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Принципы работы лазера на свободных


электронах (XFEL)

Undulator

E.L. Saldin
E.A. Schneidmiller
M.V. Yurkov

simulations at the radiation wavelength (λe), ζ – distance inside the undulator

Лазеры на свободных электронах

LINAC COHERENT LIGHT SOURCE


LCLS
2009 -120 p/s

2011-60 p/s
SACLA
SPring-8 Angstrom Compact LAser

Swiss XFEL (2016)


100 pulses/s

Korean XFEL, (2015)) 60 pulses/s

НИТУ МИСиС 23
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

The European XFEL


First users: 2018
Undulator Tunnels

Injector at DESY
campus

Experimental Hall
in Schenefeld
Linear Accelerator
2 km long
17.5 Billions electron-Volts

СИ: перспективы
Structure and Dynamics of Earth & Planetary Science
Functional Biological Units Novel states of matter

Bio-regeneration,
Evolutionary Biology, Energy Science,
Hierarchical (composite) Catalysis,
Materials Materials Processing

Nanotechnology, Information technology, Quantum computing

НИТУ МИСиС 24
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Детекторы рентгеновского
излучения
Эффективность – отношение числа сосчитанных квантов к числу квантов попавших во
входное окно.

Мертвое время – время, в течение которого счетчик, зарегистрировавший квант,


нечувствителен к следующему.

Собственный фон – нижний порог измеряемой интенсивности.

Амплитудное разрешение – возможность выделения узкого участка спектра, пропуская


только импульсы с амплитудами в выбранном интервале (канале).

Детекторы рентгеновского
излучения
Точечные детекторы

Эффективность, % Мертвое время, Амплитудное


Тип счетчика мкс разрешение,
W, %

Пропорциональный 60 ~1 20

Сцинтилляционный 90 ~1 50

Полупроводниковый 80 1–5 ~3

НИТУ МИСиС 25
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Детекторы излучения

Линейный координатный детектор

CCD (ПЗС) детектор


(двухкоординатный)
Рентгеновский квант попадает на
люминофор 1, закрытый Be фольгой, и
вызывает образование в нем световых
квантов-фотонов. Эти фотоны по
оптическим волокнам 2 передаются на
участок ПЗС (CCD) чипа.

ДЕТЕКТОРЫ Image Plate

R-AXIS IV++ and R-Axis HTC

100с Считывание
20с Стирание
20с Установка
Цикл 120с

60 с Считывание (1)
30 с Считывание (2)
20 с Стирание
10 с Установка
Цикл:
- 70 с ординарный
- 40 с двойной

НИТУ МИСиС 26
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

ДЕТЕКТОРЫ CCD

Mercury CCD Saturn 724 Saturn 200

Размер области Размер области Размер области


70х70 мм или 75 мм в 72х72 мм 200х200 мм (состоит из
диаметре Размер пикселя 35 четырех чипов 2х2)
Размер пикселя 35 микрон микрон (2048х2048) Скорость считывания 8
(1024х1024) Скорость считывания 8 МГц
Скорость считывания 1 МГц
МГц

Взаимодействие рентгеновских
лучей
с веществом
Fluorescence

Photoemission

Electron
Transmission

Incoming
beam Sample

Elastic
scattering /
Diffraction

Inelastic
scattering

НИТУ МИСиС 27
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Основной закон поглощения


рентгеновских лучей
Закон ослабления
В равных толщинах одного и того же однородного вещества поглощаются равные
доли энергии одного и того же излучения

dI = −I µ dx λ=const I0

x
dI
= −µ dx
I

dx

t
It t
dI It
−∫ = µ dx
I0
I ∫0
It I t = I 0e− µt
ln = −µ d
I0

Коэффициенты поглощения

Закон ослабления I t = I 0e− µt


λ=const I0
t
It

•  Линейный коэффициент ослабления


I0
µ = ln
I1
- характеризует уменьшение интенсивности при прохождении
лучей через 1 см данного вещества

НИТУ МИСиС 28
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Коэффициенты поглощения

Закон ослабления I t = I 0e− µt

Сечение пучка – 1 см21 г вещества – независимо от


1 агрегатного состояния содержит
Путь - см
ρ одно и то же число атомов
1
Потеря интенсивности на пути см – постоянная величина
ρ
1
•  Массовый коэффициент ослабления (потери на пути см)
µ τ σ τ ρ
= + = + 0.2
ρ ρ ρ ρ
⎛µ⎞ ⎛τ ⎞ го
⎜ ⎟ = ∑ ⎜ ⎟ ⋅ pi + 0.2 pi – массовая доля i элемента
ρ
⎝ ⎠спл i ⎝ ρ ⎠i

Коэффициент поглощения

τ/ρ, г/мм2

1.6 Ge

1.2
Ag
0.8 λгр.K
0.4

0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 λ, Å

τ/ρ =сi ⋅ λ3 ⋅ Ζ3

НИТУ МИСиС 29
Лекция 1 по курсу "Рентгенография" 06.09.21

Рентгеновская спектроскопия

2d hkl sin ϑ = nλ

?
НИТУ МИСиС 30