Caracterização da estrutura dos materiais

Caracterização da Estrutura

Processo de
“Estrutura” Propriedades
Produção

Matéria prima Aspectos dimensionais Mecânicas

Fabricação Estrutura (microestrutura) Físicas
Conformação Químicas
Tratamentos

Marco A. Cunha - 2006

Na produção dos materiais, seleção e aplicação o engenheiro e o cientista de

materiais precisam caracterizar a estrutura dos materiais:
1. Para explicar os fenômenos que ocorrem na escala micrométrica, ou
sub-micrométrica, e relaciona-los aos parâmetros dos processos de
fabricação.
2. Para estabelecer a correlação entre estrutura e propriedades:
mecânicas, químicas, elétricas, magnéticas, térmicas, etc.
O primeiro permitirá o projeto de novos materiais (*) e o segundo permitirá
prever as propriedades. Novos materiais e novas aplicações são desafios
constantes para os engenheiros e cientistas de materiais.

(*) – Num sentido amplo, inclui materiais tradicionais que são modificados e
produzidos com melhores propriedades, como melhor resistência mecânica,
química, etc.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Caracterização da estrutura de um material

sólido
• Estrutura cristalina
– Célula unitária e posição dos átomos
• Estrutura das fases
– Tamanho, forma e arranjo mútuo das fases.
• Estrutura de grãos
– Tamanho, forma e arranjo mútuo dos grãos (textura e micro-
textura)
• “Microestrutura” (defeitos)
– Contornos de grão ou de fases; contornos de maclas; falhas
de empilhamento; vacâncias ou lacunas; intersticiais;
soluções sólidas; discordâncias ou deslocações e
distribuição (contornos de sub-grão); deformação; tensões;
efeito de ordem-desordem.

Marco A. Cunha - 2006

Na caracterização da estrutura de um material sólido quatro níveis distintos podem ser

considerados:
1. Estrutura cristalina: Compreende a especificação da célula unitária e da posição dos
átomos na célula.
2. Estrutura de fases: Um material pode consistir de várias fases, i, que são distinguidas
pelas suas estruturas cristalinas, conforme o nível 1. A estrutura de fases compreende
o tamanho, forma e arranjo mútuo das partículas das fases no material. Para materiais
que contêm poros, os mesmos podem ser caracterizados como uma das fases.
3. Estrutura de grãos: Cada fase pode consistir de grãos separados uns dos outros por
contornos de grão (ou por contornos de fases). Os grãos de uma mesma fase são
distinguidos uns dos outros pela orientação, g, dos seus eixos cristalográficos. Neste
nível de caracterização da estrutura são considerados o tamanho, forma e arranjo
mútuo dos grãos no material (textura e micro-textura).
4. “Microestrutura” (defeitos da rede cristalina): Neste nível de caracterização são
considerados os desvios da estrutura cristalina ideal. Compreende, particularmente:
1. Contornos de grão e de fases (distribuição de desorientação entre os grãos);
2. Contornos de macla e falhas de empilhamento;
3. Defeitos puntuais (vacâncias e intersticiais);
4. Solução sólida substitucional;
5. Densidade e distribuição de discordâncias (contornos de sub-grão);
6. Deformação da rede cristalina (micro-deformação), εij, e tensões.
7. Presença de ordem-desordem.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Técnicas de Caracterização da Estrutura

• Nenhuma técnica de caracterização microestrutural é completa.

• A microestrutura é complexa e uma descrição unificada de todos os aspectos
praticamente impossível (um único modelo).
• Técnicas de observação da microestrutura
– Microscopia
• Ótica, eletrônica, eletrônica de varredura, outras técnicas de varredura...
– Difração
• Raios X, elétrons, outras radiações...

Marco A. Cunha - 2006

Nenhuma técnica de caracterização microestrutural é completa, ou seja, nenhuma

técnica permite resolver todo o espectro de características estruturais de um
policristal.
Novas técnicas de caracterização revelam, ou expõem, novas informações sobre a
microestrutura, permitindo melhor compreensão dos fenômenos e melhor
correlação entre estrutura e propriedades.
Neste curso serão estudadas as técnicas de difração de raio x e microscopia
eletrônica, particularmente a de varredura.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Microscopia
• Objetivo: Obter imagem ampliada que revele detalhes não observáveis
a olho nu.
– Ampliação
II '
• Aumento linear = M =
OO'
– Resolução
• Capacidade de separar individualmente detalhes adjacentes de uma imagem (δ).
• Poder de resolução = 1/δ
– Contraste
• Capacidade de distinguir traços característicos da estrutura sobre o plano de fundo.
Surge da interação da radiação com a amostra.
I fundo − I objeto
k=
I fundo

Walter A. Mannheimer, Microscopia dos Materiais, Uma Introdução, Sociedade

Brasileira de Microscopia e Microanálise, 2002 Marco A. Cunha - 2006

Resolução do olho humano:

A retina humana é um conjunto de fotoreceptores de estrutura complexa. A
resolução do olho humano é função da separação entre os fotoreceptores. Para
que dois pontos possam ser distintos, suas imagens dever impressionar pelo
menos dois elementos, separados por um terceiro. Na parte mais sensível da
retina (fóvea) esta separação é de 3µm (I I’), o que corresponde a um ângulo de
1’ , levando em conta o diâmetro do olho humano. A uma distância de 250mm
(distância mínima de visão distinta), subtende aproximadamente 0,1mm (OO’),
que é a resolução esperada para exame visual sem auxílio de lentes.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Difração

Halliday, Resnick, Walter – Fundamentos de Física – Ótica e Física Moderna –

vol 4 – Livros Técnicos e Científicos Editora S.A.
Marco A. Cunha - 2006

Resolução:
Difração: Quando uma onda encontra uma barreira que apresenta uma borda ou
uma abertura de dimensões comparáveis ao seu comprimento de onda, ela deixa
de ser uma onda plana para se tornar uma onda aproximadamente esférica. Este
fenômeno, que é chamado de difração, se encaixa no princípio da expansão das
ondas secundárias, do princípio de Huygens: “Todos os pontos de uma frente de
onda funcionam como fontes pontuais para ondas secundárias”. Quanto mais
estreita for a fenda, maior será o espalhamento devido à difração.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Difração por uma fenda única

A onda que passa por uma fenda longa e estreita, de
largura a, produz uma figura de difração de fenda
única que apresenta um máximo central, máximos
secundários e mínimos. Os mínimos correspondem
aos ângulos de difração θ que obedecem à equação:

λ
senθ =
a

Difração por uma abertura circular

a λ
senθ = A difração por uma abertura circular, ou por uma
2 2
λ lente com diâmetro d, produz um máximo central e
senθ =
a máximos e mínimos concêntricos; o primeiro mínimo
aparece sob o ângulo θ dado por:

λ
senθ = 1,22
d

Halliday, Resnick, Walter – Fundamentos de Física – Ótica e Física Moderna –

vol 4 – Livros Técnicos e Científicos Editora S.A. Marco A. Cunha - 2006

Para uma fenda estreita, λ=a, θ=90°, portanto o máximo central da figura de
difração da fenda cobre todo o anteparo onde se projeta. O mesmo ocorre para
difração em abertura circular em que d=1,22λ.

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 Caracterização da estrutura dos materiais
Resolução
Critério de Rayleigh

Dois objetos, observados através de uma luneta ou de um microscópio, estão Comprimento de onda − λ:
no limite de resolução quando o máximo central de difração de um deles Luz vizível – 5,5x102nm
coincide com o mínimo de difração do outro. A separação angular entre eles Raio X – 0,154nm (Cu Kα)
deve ser, no mínimo: λ Elétrons – 0,86nm (20kV)
θ r = 1,22 (Critério de Rayleigh)
d
Halliday, Resnick, Walter – Fundamentos de Física – Ótica e Física Moderna –
vol 4 – Livros Técnicos e Científicos Editora S.A. Marco A. Cunha - 2006

O fato das imagens produzidas pelas lentes serem figuras de difração é

importante quando se quer distinguir entre si dois objetos puntiformes distantes
cuja separação angular é pequena. Segundo o critério proposto por Rayleigh duas
figuras poderão ser ainda distinguidas quando o máximo central de uma coincidir
com o primeiro mínimo da outra. A intensidade resultante entre os dois máximo
cairá então a cerca de 75%, o que é perfeitamente aceitável pela visão humana.
Os objetos pobremente resolvidos, pelo critério de Rayleigh, têm uma separação
angular θr, dada por: θr = arc sen 1,22λ/d. Como os ângulos envolvidos são
pequenos, senθr pode ser substituído por θr. O critério de Rayleigh torna-se
então: θr = 1,22λ/d.
Se a separação angular entre dois objetos for maior que θr eles podem ser
resolvidos. Se for significativamente menor, a resolução não é possível.
Quando se usa uma lente para resolver objetos (detalhes) que tenham separação
angular pequena, é desejável fazer com que a figura de difração seja a menor
possível. Isto pode ser obtido aumentando-se o diâmetro da lente ou usando-se
um menor comprimento de onda
É por isso que se usa, frequentemente, luz ultra violeta nos microscópios, por ter
menor comprimento de onda que a luz visível.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Difração em fendas múltiplas

(b) (a)

Halliday, Resnick, Walter – Fundamentos de Física – Ótica e Física Moderna –

vol 4 – Livros Técnicos e Científicos Editora S.A. Marco A. Cunha - 2006

Para duas fendas estreitas, em comparação com o comprimento de onda da luz, o

máximo central da figura de difração de cada fenda cobre todo o anteparo onde se
projeta. Além disso, a interferência da luz das duas fendas produz franjas
brilhantes que têm aproximadamente a mesma intensidade. O máximo de uma
franja brilhante, resultante de interferência construtiva, ocorre quando a diferença
entre os percursos dos raios das duas fendas é igual a zero ou a um número inteiro
de comprimento de onda:
dsenθ=mλ (m = 0, 1, 2, 3, ...).
No caso de fendas mais largas, a interferência da luz proveniente das duas fendas
produz franjas brilhantes que não têm todas as mesma intensidades, pois são
modificadas pela difração da luz através de cada fenda. As posições das franjas
são inalteradas (eq. acima) mas as intensidades máximas são determinadas pela
curva de difração (envoltória das intensidades máximas).
Com o aumento do número de fendas pode-se construir uma rede de difração, que
pode ter até 103 fenda/mm. Com isso tem-se: 1 – as franjas ficam mais estreitas;
2 – surgem máximos adicionais. A condição para produção de uma franja
brilhante continua a mesma: dsenθ=mλ.
A aplicação das redes de difração é na determinação do comprimento de onda da
luz emitida por uma fonte.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Difração de raios x

Interferência construtiva ocorre quando a diferença de percurso é igual a um

número inteiro do comprimentos de onda: 2dsenθ=mλ
Halliday, Resnick, Walter – Fundamentos de Física – Ótica e Física Moderna –
vol 4 – Livros Técnicos e Científicos Editora S.A. Marco A. Cunha - 2006

Os raios x são radiações eletromagnéticas cujos comprimentos de onda são da

ordem de 0,1nm. Uma rede de difração ótica, normal, não pode ser usada para
separar comprimentos de onda tão pequenos. Com λ=0,1nm e d=3000nm o
máximo de primeira ordem (m=1) ocorre para θ=0,0019°, o que é muito próximo
do máximo central. Seria desejável uma rede com d da mesma ordem de
grandeza de λ.
Em 1912, ocorreu ao físico alemão Max von Laue que um sólido cristalino,
constituído como é por um arranjo regular de átomos, poderia ser uma rede de
difração tridimensional, natural, para os raios x.
Quando um feixe de raios x entra num cristal de NaCl, por exemplo, os raios x
são espalhados, isto é, desviados em todas as direções pela estrutura cristalina.
Em algumas direções as ondas espalhadas sofrem interferência destrutiva,
resultando em mínimos de intensidade. Em outras direções, a interferência é
construtiva, resultando em máximos de intensidade. Esse processo é uma forma
de difração, embora diferente da difração da luz que passa por uma fenda ou por
uma borda.
Os máximos de intensidade aparecem em certas direções que podem ser
identificadas com as direções que tomariam os raios x incidentes se fossem
refletidos por uma família de planos refletores paralelos (ou planos cristalinos)
que passam pelos átomos do cristal. (Na realidade os raios x não se refletem).

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Feixe de elétrons
Comprimento de onda de
de Broglie

h
λ=
p
h
λ=
2me eV

Um elétron com energia

cinética de 120eV tem
comprimento de onda de
0,112 nm, o que é da •Figs 44-4
ordem de grandeza do
tamanho de um átomo
típico. Assim, um sólido
cristalino forma uma rede
de difração tridimensional
para um feixe de elétrons.

Halliday, Resnick, Walter – Fundamentos de Física – Ótica e Física Moderna –

vol 4 – Livros Técnicos e Científicos Editora S.A. Marco A. Cunha - 2006

Uma conseqüência da mecânica quântica foi a percepção de que um feixe de

partículas pode ser associado a uma onda. Louis Victor de Broglie imaginou que
uma vez que ondas de luz podem ser consideradas como feixes de fótons, feixes
de elétrons poderiam também ser tratados como ondas. Postulou que ao elétron
estaria associado um comprimento de onda:
λ=h/p
Onde h é a constante de Planck e p o momento do elétron:
h = 6,63x10-34 J.s = 4,14x10-15eV.s
Uma massa me de carga e, acelerada por um potencial V, tem energia cinética E
dada por:
E = mev2/2 = eV
e momento:
p = mev
O comprimento de onda é então dado por:

h
λ=
2m eV
Onde: e
Massa do elétron: me=9,11x10-31 kg
Carga do elétron: e=1,60x10-19 C
Considerando os valores numéricos, tem-se:
para λ em nm e V em volt.
1,5
λ=
V

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução

Lâmina de ouro

Pode-se observar as três regiões

com arranjos distintos dos átomos,
ou seja, três grãos.

Marco A. Cunha - 2006

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Interação Energia Matéria

• Atenuação
– Lei de Lambert - A intensidade da energia decresce
proporcionalmente à espessura atravessada:

dl
= − kdx ∴ l = l0 e − kx
l

• Absorção e Espalhamento
– Absorção
• Generalizada
• Seletiva
– Espalhamento
• Elástico (espalhamento de Raleigh)
• Inelástico

Marco A. Cunha - 2006

Quando um feixe de luz se propaga em um material, sua intensidade decai

gradualmente. Esta atenuação pode ser devida a dois fenômenos, absorção e
espalhamento.
A absorção é o principal responsável pela atenuação. Representa o
desaparecimento da luz, cuja energia é transformada em calor, ou absorvida pela
excitação de uma espécie atômica ou molecular da amostra, originando a
fluorescência.
A absorção pode ser uniforme, ou seja, sobre todos os comprimentos de onda do
espectro, e é dita absorção generalizada. Em outros casos a absorção é seletiva,
com alguns comprimentos de onda sendo absorvidos mais fortemente.
A cor dos materiais observados em transmissão depende da absorção seletiva.
Iluminado com luz branca, será visto com sua cor complementar. Nos materiais
opacos coloridos há absorção seletiva e a luz emerge da superfície, seja por
reflexão, refração, difração ou espalhamento, com sua cor complementar.
Materiais como os metais apresentam coloração superficial devido à alta
refletividade, que também é seletiva.
O espalhamento envolve o desvio da trajetória de uma partícula, com ou sem
diminuição de energia. Quando um fóton colide com um átomo ou molécula
pode: sofrer espalhamento elástico, ou seja, a luz espalhada tem a mesma
freqüência do fóton incidente; pode ceder energia para excitação do átomo ou
molécula. O átomo excitado pode voltar ao seu estado normal emitindo luz de
freqüência menor que a luz absorvida, o que constitui a fluorescência.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Interação Elétron-Matéria

• Espalhamento elástico
Elétrons retro-espalhados
E1= E0
• Espalhamento inelástico
Elétrons secundários - distribuição contínua de energia
Elétrons Auger - energias características E1< E0
Raios x - espectro contínuo (Bremsstrahlung) φe>> φi
Raios x - característico
Radiação catodo-luminescente - ultravioleta, visível, ou infravermelho
Vibração da rede (calor)

Marco A. Cunha - 2006

De um modo geral, uma radiação incidente desencadeia na matéria uma resposta, ou sinal,
que pode ser adquirido por um sensor adequado. Um número considerável de efeitos
ocorre quando um feixe de elétrons, acelerado por uma campo de alta tensão, incide sobre
uma amostra. Os sinais são utilizados pelas diversas técnicas de microscopia eletrônica
para obtenção de imagens e caracterização dos materiais.
As interações são de duas classes: espalhamento elástico e espalhamento inelástico.
Espalhamento elástico - resulta de interação com o núcleo do átomo; há mudança na
direção do elétron mas a energia cinética permanece praticamente constante.
O espalhamento elástico ocorre em duas etapas: espalhamento de Rutherford, devido ao
campo de Coulomb do núcleo (que depende de Z – número atômico), que pode resultar em
grande mudança de direção, inclusive maior que 90°; e espalhamento múltiplo, composto
de diversos episódios de espalhamento de pequenos ângulos. Também neste caso grande
mudança de direção pode ser observada, inclusive voltando à superfície da amostra e
escapando na forma de elétron retro-espalhado. O espalhamento ocorre em todos os
ângulos, mas principalmente na direção do feixe incidente, ou seja, para ângulos de
espalhamento pequenos.
Espalhamento inelástico - resulta principalmente de interações com os elétrons do átomo;
energia é transferida para os elétrons das camadas internas e para os elétrons das camadas
externas do átomo, com diminuição da energia cinética do elétron do feixe. Estes
processos são responsáveis pela absorção dos elétrons incidentes, e a transformação de
quase toda sua energia cinética em calor. Uma pequena parte escapa sob a forma de raios-x
e elétrons emitidos, e é de grande importância para a microscopia. Dependendo do tipo de
interação tem-se: elétrons secundários, elétrons Auger, raios x característico e continuo,
radiação eletromagnética na faixa visível, ultravioleta e infravermelho (catodo-
luminescência), vibração da rede (fónons) ou oscilação de elétrons em metais (plasmons).

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Espalhamento Elástico

Microscopia Eletrônica de Varredura – Ana Maria

Walter A. Mannheimer, Microscopia dos Materiais, Uma Maliska UFSC, apostila.
Introdução, Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise,
2002

S ∝ Z 2 → para E constante A difração de elétrons por um sólido cristalino (estrutura periódica) é um

Z2 fenômeno de espalhamento elástico dito coerente, onde os elétrons emergem em
Pe ∝ ângulo definidos em relação ao feixe incidente. Em materiais não cristalinos o
E2
espalhamento é apenas incoerente.

Marco A. Cunha - 2006

À medida que os elétrons penetram na amostra, deixam de seguir a trajetória do

feixe e passam a se difundir aleatoriamente. O perfil da penetração depende
basicamente da energia do feixe (E) e do número atômico do material (Z). Para
energia constante, a seção de choque para espalhamento elástico varia com Z2, e
a probabilidade de espalhamento numa dada direção varia com Z2/E2.
Menor probabilidade de espalhamento significa maior penetração do feixe, que é
finalmente absorvido pelo material, resultando em poucos elétrons retro-
espalhados. Para número atômico alto é considerável o espalhamento próximo da
superfície, e grande parcela dos elétrons escapa como retro-espalhados.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Interação Elétron-Espécimen

Marco A. Cunha - 2006

O espalhamento inelástico envolve todas as interações em que os elétrons incidentes

perdem energia. Destacam-se três mecanismos:
Espalhamento por plasmon – ondas longitudinais na nuvem de elétrons da banda de
condução dos metais. Não tem importância analítica, pois não tem energia característica
para cada elemento.
Espalhamento por fónons – vibração da rede, são ondas elásticas quantificadas. Resulta
em aquecimento da amostra.
Espalhamento por excitação de elétrons orbitais – o elétron incidente pode deslocar um
elétron orbital e da subseqüente relaxação do átomo excitado podem ser emitidos
radiação eletromagnética (raios-x ou catodoluminescência) ou elétrons de menor energia
do que os incidentes (elétrons Auger ou elétrons secundários).
......................
Elétrons retroespalhados (BSE) - são elétrons do feixe que escapam após múltiplos
espalhamentos elásticos e têm energia 0≤EBSE ≤E0 , com pico em 0,8 - 0,9E0 para
materiais de número atômico alto ou intermediário.
Elétrons secundários (SE) - são elétrons fracamente ligados do espécimen que receberam
pequena energia cinética em função das colisões inelásticas com os elétrons do feixe e
são emitidos com energia na faixa de 0≤ESE ≤50eV, com energia mais provável na faixa
de 3-5eV.
..............................
Os elétrons incidente necessariamente deixam a amostra, seja como elétrons transmitidos,
refletidos ou absorvidos e descarregados para a terra.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Raios-X
1240
eV = hυ = hc / λ ∴ λ min =
V
λ em nm e V em Volt

Para cada λ, Iλ=iZ(E0-E)/E

Iλ – intensidade da radição contínua
i – corrente do feixe
E0 - tensão de aceleração
E – hc/λe – correspondente ao λ desejado

IP=i(E0-EC)n
IP – intensidade da radição característica
EC – energia crítica de ionização

EKα=EK-EL
I P ( E0 − EC ) 0, 7 EC
EKβ=EK-EM =
Iλ Z
independe de i e cresce com E 0 K e σ são constantes para cada série de radiação

Rendimento de fluorescência – fração de

relaxação que resulta na emissão de raios-x.
É importante na análise quantitativa por raio-x.

Walter A. Mannheimer, Microscopia dos Materiais, Uma

Introdução, Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise,
2002 Marco A. Cunha - 2006

Existem duas possibilidades de espalhamento inelástico de elétrons pela matéria

que resultam no produção de raio-x:
Desaceleração dos elétrons incidentes no campo de Coulomb do núcleo atômico
– a aceleração ou desaceleração de uma carga elétrica resulta na emissão de
radiação eletromagnética (radiação contínua ou branca).
Ionização dos orbitais internos – radiação característica produzida pela ejeção de
elétron dos orbitais K, L ou M. O átomo retorna ao estado básico e nesta
relaxação emite fóton (raio-x). Os comprimentos de onda da radiação
característica depende do número atômico.
Para que haja ionização o feixe incidente deve ter uma energia mínima
denominada energia crítica de ionização EKLM.
Nem todo episódio de relaxação resulta na produção de raio-x. Pode ocorrer
dissipação de calor ou fenômenos diversos, como a emissão de elétron Auger. A
emissão de elétron Auger ocorre quando a energia da relaxação é transmitida a
outro elétron do átomo, que é ejetado com energia característica do elemento. A
profundidade da qual os elétrons Auger são capazes de atingir a superfície é da
ordem de 0,1nm. O seu estudo é um instrumento adequado para o exame da
superfície dos materiais.

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 Caracterização da estrutura dos materiais

Formação da imagem por difração

Teoria de Abbe

Walter A. Mannheimer, Microscopia dos Materiais, Uma

Introdução, Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise,
2002 Marco A. Cunha - 2006

O tratamento de Raleigh, desenvolvido para o telescópio, supõe que os pontos O e O’ são pontos
luminosos, portanto são fontes incoerentes. No caso do microscópio, o objeto é iluminado por um
feixe colimado, em condições de pelo menos coerência parcial. Portanto é de se esperar
interferência entre os discos de Airy.
Abbe foi o primeiro a estudar a formação da imagem por uma lente como um problema de
difração. Segundo Abbe a formação da imagem num microscópio composto (objetiva... ocular)
ocorre em dois estágios distintos. No primeiro a luz é difratada pelo objeto em raios discretos. O
de ordem zero segue paralelo ao eixo ótico e focaliza no centro do plano focal da objetiva. Os
raios de primeira ordem de difração, inclinados com relação ao eixo ótico, focalizam em ambos os
lados do eixo ótico, no plano focal da objetiva. Forma-se assim um espectro de difração, formado
por pontos luminosos no plano focal da objetiva. Esse espectro foi chamado por Abbe de imagem
de interferência primária e corresponde à transformada de Fourier da imagem real. A distância
entre ponto cresce com o comprimento de onda e com a redução da distância entre “fendas da
rede de difração”.
Num segundo estágio do processo de formação da imagem, os feixes coerentes emitidos pelos
diferentes pontos do espectro de difração interferem mutuamente para produzir uma imagem real
no plano focal da ocular.
Para que a imagem formada por interferência possa ser reconhecida é necessário que pelo menos
um feixe de primeira ordem seja capturado. O feixe de ordem zero apenas ilumina o plano da
imagem. A abertura angular da objetiva deve ser larga o suficiente para admitir pelo menos os
feixes de ordem zero e um. Como o feixe de primeira ordem ocorre para λ=dsenθ, a menor
distância que pode ser resolvida nesta condições é dada por d. Assim, a resolução pode ser
calculada por δ=λ/senα, onde α é o semi-ângulo de abertura da lente. Se n é o índice de refração
do meio, o comprimento de onda λ=λ0/n, onde λ0 é o comprimento de onda medido no vácuo.
Então δ=λ0 /n senα.
Abbe definiu a abertura numérica da objetiva como NA= n senα.

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 Caracterização da estrutura dos materiais
Formação da imagem por difração
Teoria de Abbe

Walter A. Mannheimer, Microscopia dos Materiais, Uma

Introdução, Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise,
2002 Marco A. Cunha - 2006

Abertura numérica de uma lente é dada por:

AN=nsenα
Onde n é o índice de refração do meio entre objetiva e amostra α é o semi-ângulo
de abertura da lente. O uso de lentes de imersão é um recurso para aumentar a
abertura numérica, via n. Na realidade o comprimento de onda no meio de
imersão é diminuído.

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