Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет

информационных технологий, механики и оптики

УЧЕБНЫЙ ЦЕНТР ОБЩЕЙ ФИЗИКИ ФТФ

Группа: Р3171 К работе допущен

Студент: Неизвестная Екатерина Павловна Работа выполнена

Преподаватель: Бобрицкая Елена Игоревна Отчет принят

Рабочий протокол и отчет по

лабораторной работе № 4.02
Определение расстояния между двумя щелями интерференционным
методом

1. Цель работы.
Определение расстояния между двумя щелями по полученной от них интерференционной картине.

2. Задачи, решаемые при выполнении работы.

Расчёт сопротивлений образцов, нахождение их зависимости от температуры.
Нахождение температурного коэффициента и ширины запрещенной зоны, определение по ним образцов.
Построение графика для каждой пары щелей зависимости ширины интерференционной полосы x от
расстояния L, нахождение коэффициента К, определение расстояния d между щелями.

3. Объект исследования.
Интерференционная картина объектов 33 и 32.

4. Метод экспериментального исследования.

Для двух объектов 32 и 33 провести:
1. Получить интерференционную картину в виде полосы из максимумов и минимумов интенсивности.
2. Записать по горизонтальной линейке координаты 5 – 10 последовательных минимумов
Записать номер объекта (указан на объекте) и координату XО положения щелей.
3. Сдвигая объект со щелями от источника на 5 – 10 см, повторить измерения при 5 – 6 различных
расстояниях от экрана до щелей.

5. Рабочие формулы и исходные данные.

6. Измерительные приборы.
Используемый
№ п/п Наименование Тип прибора
диапазон
Объект
1 Лазер 300-390∘𝐶
изучения
2 Генератор Генератор 0-12 В
Электронный 0-3000 мкА
3 Амперметр-вольтметр
измерительный 0-2 В

7. Схема установки (перечень схем, которые составляют Приложение 1).

Источником света служит гелий-неоновый лазер. В роли вторичных источников выступают две щели на учебно-
демонстрационном объекте. Координаты объекта и экрана измеряются по шкале, нанесенной на оптическом
рельсе. Для наблюдения интерференционной картины используется экран, закреплённый позади объекта на
оптическом рельсе. На экране нанесена вертикальная и горизонтальная миллиметровые шкалы.

8. Результаты прямых измерений и их обработки (таблицы, примеры

расчетов).

Объект 33

Положение объекта 1 min 2 min 3 min 4 min 5 min 6 min

102,5 1 0,6 0,2 0,2 0,6 1,1

97 1 0,6 0,1 0,1 0,6 1

92 0,9 0,5 0,1 0,1 0,6 1

87 0,8 0,5 0,1 0,1 0,5 0,8

82 0,7 0,5 0,1 0,1 0,5 0,7

77 0,7 0,4 0,1 0,1 0,5 0,7

Объект 32
2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
Положение объекта 1min min min min min min min min min min min min
101 2,4 2 1,5 1,1 0,6 0,1 0,1 0,7 1,2 1,7 2,1 2,6
96 2,3 1,9 1,4 1 0,6 0,1 0,1 0,7 1,2 1,7 2 2,5
91 2,2 1,8 1,4 1 0,6 0,1 0,1 0,7 1,1 1,5 1,9 2,4
86 2 1,7 1,3 0,9 0,5 0,1 0,1 0,6 1,1 1,4 1,8 2,2
81 1,9 1,5 1,2 0,8 0,5 0,1 0,1 0,6 1 1,4 1,7 2,1
76 1,7 1,4 1,2 0,7 0,4 0,1 0,1 0,6 1 1,3 1,7 2

9. Расчет результатов косвенных измерений (таблицы, примеры расчетов).

10. Графики (перечень графиков, которые составляют Приложение 2).

11. Окончательные результаты.

α=(0,00430±0,00049) 1/℃ ; εα= 11%. Скорее всего этот металл – алюминий.
Eg=(11525,0±524,3) Дж*1023 или Eg=(0,72±0,03) Эв ; εE= 5% . Скорее всего этот полупроводник –
германий.

12. Выводы и анализ результатов работы

Я исследовала зависимости сопротивления металла от температуры по шкале Цельсия и натурального
логарифма сопротивления полупроводника от величины обратного значения абсолютной
температуры. В ходе проделанной работы я убедилась в линейности этих графиков. Также, были
вычислены температурный коэффициент металла и ширина запрещённой зоны для полупроводника,
было установлено, что это были за образцы.