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Universidade de Aveiro

Departamento de Fı́sica

Interferómetro de Michelson:
princı́pios e aplicações

Margarida Facão

Março de 1999
Conteúdo

1 Introdução 3

2 Considerações teóricas 6
2.1 Interferência . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
2.2 Tipo de franjas . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
2.2.1 Franjas produzidas por uma placa de faces paralelas . . . . . . . 8
2.2.2 Franjas produzidas por um filme fino . . . . . . . . . . . . . . . . 9
2.3 Coerência . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
2.3.1 Funções de correlação entre campos luminosos . . . . . . . . . . 13
2.4 Polarização . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
2.5 Interferómetro de Michelson . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17
2.6 Espectroscopia de Fourier . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 19
2.7 Velocimetria usando o efeito de Doppler . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21

3 Realização experimental e resultados 23


3.1 Montagem do interferómetro . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
3.2 Verificação das leis de Fresnel-Arago . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.3 Visualização dos vários tipos de franjas . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
3.4 Estudo da coerência da luz de algumas fontes . . . . . . . . . . . . . . . 28
3.5 Determinação do comprimento de onda da luz do laser de He-Ne . . . . 30
3.6 Determinação do ı́ndice de refracção de um material . . . . . . . . . . . 30
3.7 Estudo da variação do ı́ndice de refracção de um gás com a pressão . . . 32
3.8 Espectroscopia de Fourier . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
3.8.1 Amostragem do interferograma: resolução e dobragem . . . . . . 34
3.8.2 Sistemas de detecção e aquisição . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
3.8.3 Transformada de Fourier . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 35
3.8.4 Resultados . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 36
3.9 Velocimetria usando o efeito de Doppler . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38

4 Planificação das aulas 42

Apêndices 45

A Guião do trabalho de laboratório 45

1
B Tabelas de resultados experimentais 60

C Programa da disciplina de Óptica Aplicada 64

Bibliografia 68

2
Capı́tulo 1

Introdução

A disciplina de Óptica Aplicada faz parte dos currı́culos dos cursos de Engenharia
Fı́sica, Ensino de Fı́sica e Quı́mica e Engenharia Electrónica e de Telecomunicações
como disciplina de opção. No curso de Engenharia Fı́sica ela aparece nos grupos da
Opção II e Opção VI que estão, respectivamente, no 3o e 4o anos, ambas no 1o semestre.
No curso de Ensino de Fı́sica e Quı́mica ela pertence ao grupo de disciplinas da Opção
I do 1o semestre do 4o ano. Finalmente, no curso de Engenharia Electrónica e de
Telecomunicações ela faz parte do grupo da Opções do 1o semestre do 5o ano.
Embora a disciplina seja apelidada de Aplicada, o seu programa (ver Apêndice
C) contempla tópicos de óptica fundamental como a óptica geométrica, interferência,
difracção ou mesmo teoria da coerência. Pressuponho que assim seja porque os conhec-
imentos de óptica dos alunos visados se resumem a um capı́tulo de óptica geométrica
na disciplina de Fı́sica I (integrada no ano comum) e a uma parte da disciplina de
Ondas, que lhes terá proporcionado os conceitos básicos de propagação de ondas elec-
tromagnéticas, reflexão, refracção, interferência e difracção.
Este texto propõe um módulo de trabalho experimental para a disciplina de Óptica
Aplicada. O trabalho baseia-se no fenómeno da interferência e é utilizado o inter-
ferómetro de Michelson. Com ele pretendemos que os alunos atinjam os seguintes
objectivos:

• Observação e aprofundamento do fenómeno da interferência;

• Aprendizagem de técnicas de interferometria;

• Determinação de algumas grandezas fı́sicas usando técnicas interferométricas.

A interferometria é um ramo da óptica que usa o fenómeno da interferência para de-


terminar grandezas fı́sicas. Desde o seu inı́cio, a interferometria tem-se prestado a
múltiplas aplicações, nomeadamente: medição de comprimentos de onda e frequências
ópticas, medição de pequenas distâncias e deslocamentos, teste de componentes ópticos,
sensores interferométricos, medição de velocidades e deslocamentos pelo efeito de Doppler,
medições à escala estelar e espectroscopia, etc. O aparecimento dos lasers, e especial-
mente dos dı́odos laser, a substituição progressiva do olho humano pelos fotodetectores,

3
o avanço do processamento de sinais digitais e até o desenvolvimento da óptica não lin-
ear têm vindo a desenvolver e a criar novas aplicações nesta área.
O interferómetro de Michelson é um interferómetro simples, que pode apresentar-se
em diversas variantes, permitindo o estudo da interferência e a implementação de diver-
sas aplicações, sendo por isso interessante sob o ponto de vista pedagógico. Este inter-
ferómetro é o mais simples e mais conhecido dos interferómetros de divisão de amplitude
que usam espelhos e divisores de feixe. O uso destes componentes tem a vantagem de
os feixes sobrepostos estarem claramente separados antes da recombinação, pelo que
um deles pode sujeitar-se, isoladamente, a alterações ópticas controláveis. Uma das
variantes do interferómetro de Michelson é o interferómetro de Twyman-Green, onde
a diferença essencial relativamente ao primeiro é o facto dos feixes serem constituı́dos
por luz colimada. Este último é um instrumento muito importante no teste de sis-
temas ópticos. Introduzindo um segundo espelho poderemos obter o interferómetro
de Mach-Zehnder. Este interferómetro é de alinhamento mais complicado mas, em
contrapartida, apresenta maior versatilidade nas aplicações.
O importância do interferómetro de Michelson reside não só na sua simplicidade
como também na sua origem histórica. Ele recebeu o nome do seu autor, Albert
Abraham Michelson. Michelson nasceu em 1852 em Strzelmo na Prússia e emigrou
para os E.U.A. com os seus pais em 1856. A sua carreira começou na Academia Naval
e, depois de uma estadia em algumas Universidades europeias, foi professor de Fı́sica
na Escola de Ciência Aplicada de Case em Cleveland, na Universidade de Clark em
Worcester e finalmente na Universidade de Chicago (1892-1929). Michelson deu um
grande contributo à óptica, principalmente à interferometria, tendo recebido o prémio
Nobel da Fı́sica em 1907. Uma das suas mais conhecidas experiências, para a qual
projectou o interferómetro baptizado com o seu nome, é a experiência de Michelson-
Morley para a medição do deslocamento do éter (experiência que, aliás, conduziu à
rejeição da hipótese da existência de tal meio). O mesmo interferómetro foi por ele
usado no estudo da estrutura de linhas espectrais da luz de várias lâmpadas, usando
uma técnica semelhante à conhecida, actualmente, por espectroscopia de Fourier [1].
A propósito da importância do trabalho experimental no ensino da Fı́sica parece-me
interessante mencionar algumas ideias sobre o assunto apontadas num debate intitu-
lado Pelo ensino experimental das ciências, cuja realização se integrou na homenagem
nacional a Rómulo de Carvalho. Este debate foi reportado pela Gazeta de Fı́sica no seu
número de Janeiro/Março de 1997 [2]. Como foi referido neste debate, a articulação
da teoria e da experimentação iniciou-se no século XVIII com os filósofos naturais e
constitui a base da ciência da modernidade. Mais do que articulação a teoria deve
submeter-se à experimentação para conseguir a sua validação. Sendo assim, na apren-
dizagem da ciência é imperscendı́vel a aprendizagem de métodos de experimentação.
Além disso, segundo alguns autores, a ontogénese do conhecimento cientı́fico segue
a filogénese do mesmo, isto é, a construção pessoal do conhecimento é semelhante à
construção histórica desse mesmo conhecimento. Se a experimentação foi decisiva na
evolução histórica da ciência, também o será na aprendizagem da ciência feita por cada
indivı́duo. Então, o ensino experimental é de importância fundamental no ensino das
ciências, e particularmente da Fı́sica.

4
Outra vantagem do ensino experimental é a motivação para o estudo que ele pode
estimular no estudante. De facto, são muitos os estudantes que têm um especial fascı́nio
pela observação dos fenómenos, pelo manuseamento dos instrumentos e pela possibil-
idade de agir sobre os esquemas experimentais, mesmo que em alterações simples, na
perspectiva de ”saber o que acontece”. Sendo assim, o trabalho laboratorial pode
fomentar-lhes o gosto pela disciplina. Isto pode ser especialmente verdade na área
da óptica que actualmente é motivo de grande interesse em termos tecnológicos, com
aplicações em telecomunicações, sensores, processamento de sinal e imagem, instru-
mentação de diagnóstico médico, etc.
Apontemos os objectivos do trabalho experimental na disciplina de Óptica Aplicada.
Eles são: (i) verificação ou confirmação de fenómenos ou leis constantes do programa
teórico (objectivo que é comum a todas as outras disciplinas), (ii) desenvolvimento de
habilidade para trabalhar com componentes ópticos, fontes de luz, sistemas de detecção
de luz e sistemas de aquisição de dados, (iii) aprendizagem de técnicas experimentais em
óptica e (iv) iniciação aos métodos de investigação experimental em fı́sica, neste caso
na área da óptica (objectivo importante principalmente numa disciplina dos últimos
anos como é o caso). No caso particular do trabalho por nós proposto, o fenómeno
em destaque é a interferência e a técnica a interferometria. Este trabalho, como per-
mite aprofundar o fenómeno da interferência, também possibilita o aprofundamento de
outros conceitos como a coerência, tão intimamente ligada à interferência, e outros,
não tão relacionados, como a polarização, reflexão e refracção. Como aborda assun-
tos fundamentais da óptica, o trabalho pode ser adaptado, em parte, para disciplinas
de anos anteriores. Referimo-nos especialmente à disciplina de Ondas que, como foi
referido acima, introduz os conceitos fundamentais associados à propagação de ondas
electromagnéticas.
A carga horária de Óptica Aplicada compreende 2 horas semanais de trabalho ex-
perimental o que equivale a cerca de 24 horas em todo o semestre. Proponho que
este trabalho, de carácter mais fundamental, seja realizado na primeira metade do
semestre, restando meio semestre para a realização de um trabalho de ı́ndole mais apli-
cada. Talvez seja um pouco ambicioso querer cumprir o que aqui se propõe em 12 horas
de trabalho experimental, mas penso ser possı́vel se o professor intervier, especialmente
nos processos de montagem. Embora esta intervenção do professor possa limitar a cria-
tividade dos alunos, ela permite assegurar o cumprimento do que é proposto no tempo
previsto. De facto, alguns procedimentos práticos do alinhamento de componentes ou
da obtenção de franjas não se encontram em livros sobre o assunto e são essenciais no
decorrer do trabalho.

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Capı́tulo 2

Considerações teóricas

2.1 Interferência
Se dois feixes de luz se sobrepõem numa determinada região do espaço e nessa região a
irradiância luminosa variar de ponto para ponto, entre máximos que excedem a soma
das irradiâncias dos dois feixes e mı́nimos que podem ser zero, estamos perante um
fenómeno denominado interferência.
Mas nem sempre a sobreposição de dois ou mais feixes de luz produzem fenómenos
de interferência. Quando não existe interferência diz-se que os feixes são incoerentes, e
quando existe interferência diz-se que os feixes são completa ou parcialmente coerentes.
Luz proveniente de fontes diferentes ou de pontos diferentes da mesma fonte extensa
são geralmente incoerentes, e luz que viajou percursos diferentes pode também ser
incoerente, dependendo da diferença de percursos e do grau de monocromaticidade da
luz. O problema da coerência está intimamente relacionado com a interferência e é
discutido na secção 2.3. Outra condição que tem que ser cumprida para que ocorra
interferência está relacionada com o estado de polarização dos feixes envolvidos. Este
problema será discutido na secção 2.4.
Por agora, vamos analisar a interferência de dois feixes monocromáticos, logo com-
pletamente coerentes, com vibrações no mesmo plano, logo no mesmo estado de polar-
ização. A irradiância da luz define-se como a média temporal da quantidade de energia
que atravessa, por unidade de tempo, a unidade de superfı́cie perpendicular à direcção
do fluxo de energia, ou seja a média temporal da grandeza do vector de Poynting S

I =< S >= ε0 c < E.E > (2.1)

onde ε0 é a permitividade eléctrica do vazio e c a velocidade da luz. Utilizando a


notação complexa, temos
I = ε0 c < E.E∗ > (2.2)
e como consideraremos luz com o mesmo estado de polarização podemos fazer uma
análise escalar
I = ε0 c < E.E ∗ >= ε0 c < E 2 > (2.3)

6
Como compararemos irradiâncias no mesmo meio usaremos < E 2 > para representar
a irradiância.
Sejam duas ondas electromagnéticas descritas pelo seu campo eléctrico complexo

E1 = A exp i(ωt − kx) (2.4)

E2 = B exp i(ωt − kx + δ) (2.5)


sendo A e B quantidades reais. As duas ondas sobrepõem-se num ponto P, onde o
campo eléctrico total é
E = E1 + E2
e onde a irradiância é
I =< E12 > + < E22 > + < E1 E2∗ > + < E1∗ E2 >
(2.6)
= A2 + B 2 + 2AB cos δ
os dois primeiro termos são as irradiâncias das duas ondas e o último termo descreve a
interferência, podemos pois escrever
p
I = I1 + I2 + 2 I1 I2 cos δ (2.7)

Os máximos de irradiância ocorrerão quando

|δ| = 0, 2π, 4π, . . . (2.8)

e os mı́nimos de irradiância quando

|δ| = π, 3π, . . . (2.9)

No caso especial de irradiâncias iguais I1 = I2 a expressão reduz-se a

I = 4I1 cos2 δ/2 (2.10)

que varia entre os valores máximos de 4I1 e mı́nimos que são zero.
O fenómeno de interferência é mais complexo pela não monocromaticidade, pela
finitude das fontes e até pela existência de diferentes estados de polarização. No entanto,
esta análise é suficiente para iniciar a compreensão dos fenómenos de interferência e
pode ser alargada ao estudarmos situações reais.
Interferómetros são configurações que usam o fenómeno de interferência para de-
terminação de algumas grandezas fı́sicas. Existem dois tipos de interferómetros: in-
terferómetros de divisão de frente de onda, quando o feixe é dividido, ao passar por
diferentes aberturas colocadas lado a lado e interferómetros de divisão de amplitude,
quando o feixe é dividido em superfı́cies parcialmente reflectoras. Os primeiros uti-
lizam fontes pequenas, os segundos podem usar fontes extensas. Em ambos os casos
é possı́vel fazer uma outra classificação, que depende do número de feixes envolvidos:
interferência de dois feixes e interferência de feixes múltiplos.
O interferómetro de Michelson é um caso de interferómetro de divisão de amplitude.
Como exemplo de interferómetro de divisão de frente de onda, referimos a dupla fenda
de Young.

7
2.2 Tipo de franjas
Aos máximos e mı́nimos de irradiância observados no padrão de interferência dá-se o
nome de franjas brilhantes e escuras, respectivamente.
As franjas podem dividir-se em franjas localizadas e não localizadas. Elas são não
localizadas quando ocupam toda a região de sobreposição dos feixes intervenientes. A
sua visibilidade depende da irradiância das duas ondas. Este tipo de franjas obtem-se
sempre que usamos fontes pontuais. Por outro lado, as franjas localizadas encontram-se
em determinadas superfı́cies da região de sobreposição e são caracterı́sticas das fontes
extensas. De facto, uma fonte extensa pode ser descrita como um conjunto de fontes
pontuais incoerentes, cada uma das quais origina um padrão de interferência não lo-
calizado. Como as fontes são incoerentes, os padrões de interferência estão desloca-
dos uns relativamente aos outros e a visibilidade das franjas diminui. A visibilidade
pode reduzir-se a zero com o aumento da extensão da fonte, mas, em determinadas
superfı́cies, ela pode manter-se perto do valor que tinha com uma fonte pontual, oca-
sionando as tais franjas localizadas [3].
Outra classificação das franjas divide-as em reais e virtuais [4]. As franjas reais
podem ser observadas em ecrãs, sem necessidade de sistemas ópticos adicionais, porque
os raios convergem para o ponto de observação. Pelo contrário, para observarmos as
franjas virtuais necessitamos de um sistema formador de imagens, porque os raios não
convergem para o ponto de observação.
A interferência de dois feixes num interferómetro de divisão de amplitude origina
dois principais tipos de franjas: franjas de igual espessura e franjas de igual inclinação,
que se descrevem a seguir [3, 5, 4].

2.2.1 Franjas produzidas por uma placa de faces paralelas


Consideremos uma placa de material transparente de faces paralelas de ı́ndice de re-
fracção n0 colocada num meio envolvente de ı́ndice de refracção n.
Primeiro consideremos a placa iluminada por uma fonte pontual S. Esperamos
encontrar um padrão de interferência não localizado uma vez que a fonte é pontual.
Na verdade, podemos verificar que qualquer ponto P , numa determinada região do
espaço, é local de convergência de dois raios, um proveniente da face inferior e outro
proveniente da face superior (ver figura 2.1(a)). Num plano de observação que seja
paralelo às placas, as franjas são circulares centradas no eixo SN .
Se substituirmos a fonte pontual por uma fonte extensa, estas franjas perdem a
visibilidade, à excepção das franjas localizadas no infinito, que continuam bem visı́veis.
Estas franjas podem ser observadas com o olho focado no infinito ou no plano focal de
um telescópio. A figura 2.1(b) mostra o percurso dos raios que formam este padrão
de interferência localizado no infinito. Todos os raios que saêm da placa com o mesmo
ângulo têm a mesma diferença de fase, não dependendo do ponto da fonte de onde
provêm. A diferença de caminho óptico é então

∆S = 2ABn0 − AN n
(2.11)
= 2hn0 /cosθ0 − 2hn tan θ0 sin θ

8
P

S S

n
N
θ

N A C
h θ'
n'

(a) (b)

Figura 2.1: Interferência produzida por uma placa de faces paralelas sendo a fonte (a)
pontual e (b) extensa.

Pela lei de Snell, sabemos que


n0 sin θ0 = n sin θ (2.12)
então
∆S = 2hn0 cos θ0 (2.13)
e a diferença de fase fica
4π 0
δ= n h cos θ0 ± π (2.14)
λ0
onde ±π corresponde à diferença de fase que ocorre numa das faces reflectoras, depen-
dendo da localização do meio mais denso. De acordo com as equações 2.8 e 2.9, os
máximos e mı́nimos ocorrem, respectivamente, nas condições

2n0 h cos θ0 ± λ0 /2 = mλ0

2n0 h cos θ0 ± λ0 /2 = (m + 1/2)λ0 m = 0, 1, 2, . . . (2.15)


Como cada franja é caracterizada pelo valor de θ0 , as franjas são designadas por franjas
de igual inclinação. Se observarmos as franjas perpendicularmente, o padrão é con-
stituı́do por franjas circulares concêntricas centradas sobre a perpendicular à placa que
passa pelo sistema formador de imagem (olho, telescópio). A estas franjas circulares de
igual inclinação é dada a designação de franjas de Haidinger (nome do fı́sico austrı́aco
Karl Haidinger).

2.2.2 Franjas produzidas por um filme fino


Consideremos um filme fino transparente com faces reflectoras não necessariamente
paralelas.

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Figura 2.2: Interferência produzida por um filme fino. Feixes intervenientes na
produção das franjas (a) não localizadas e (b) localizadas.

Como na secção anterior, consideremos primeiro a iluminação por uma fonte pon-
tual, com a qual obtemos franjas não localizadas (ver figura 2.2(a)). Se o filme for
fino e o ângulo entre as faces for pequeno, isto é, faces quase paralelas, a diferença de
caminho óptico em P é, em primeira aproximação, semelhante à encontrada na secção
anterior [3]
∆S = 2n0 h cos θ0 (2.16)
com a diferença de, neste caso, determinarem ambos, h e θ0 , a diferença de caminho
num dado ponto de observação.
Para uma fonte extensa, e para determinado P , tanto h como θ0 variam com o
local da fonte da qual provêm os raios intervenientes, enfraquecendo a visibilidade
das franjas. Mais uma vez, conseguimos ter um padrão de interferência localizado,
neste caso localizado no próprio filme, única região onde os padrões de interferência
coincidem. A observação deverá ser feita com um microscópio ou com o olho focados
no filme (ver figura 2.2(b)). Neste caso, h é praticamente constante para os pares de
raios que chegam a P 0 , conjugado de P . As diferenças de fase devidas a cos θ0 podem
ser reduzidas se limitarmos a pupila de entrada (do olho ou do instrumento óptico), ou
fazendo observação em incidência normal. Assim, tendo em conta a diferença de fase de
π numa das reflexões, os máximos e mı́nimos de irradiância ocorrem, respectivamente,
em pontos P tais que
2n0 hcos θ0 ± λ0 /2 = mλ0
2n0 hcos θ0 ± λ0 /2 = (m + 1/2)λ0 m = 0, 1, 2 . . . (2.17)
onde cos θ0 é o valor médio de cos θ0 em P . Se cos θ0 for relativamente constante, o que
acontece nas condições descritas acima então a posição das franjas é determinada pelo
valor de n0 h, espessura óptica do filme em P e por isso se designam por franjas de igual
espessura.
Estas franjas podem observar-se num filme fino de ar entre duas superfı́cies reflec-
toras de duas placas transparentes. Próximo da incidência normal, cos θ0 = 1 então as

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Figura 2.3: Esquema experimental para a formação de anéis de Newton.

franjas escuras ocorrem para


mλ0
h= m = 0, 1, 2, . . . (2.18)
2
onde considerámos n0 = 1 uma vez que o meio é o ar. Assim, as franjas são os con-
tornos da espessura do filme, e a passagem de uma franja escura para a próxima franja
escura representa uma variação de espessura de λ0 /2. Se as placas forem colocadas
obliquamente com um ângulo α, as franjas serão equidistantes e paralelas à linha de
intercepção das placas. A separação linear entre franjas adjacentes dá-nos informação
sobre o ângulo α.
Um caso particular de franjas de igual espessura são os anéis de Newton, assim
designados porque resultam de uma experiência idealizada por Newton ilustrada na
figura 2.3. As franjas resultam da observação do filme de ar existente entre uma lente
esférica convexa e de uma placa de vidro plana. Estas são cı́rculos centrados no ponto
de contacto C. Se a lente e a placa forem separadas as franjas colapsam em direção ao
centro, desaparecendo uma sempre que a separação aumentar de λ0 /2.

2.3 Coerência
De duas perturbações luminosas pode dizer-se que são coerentes, incoerentes ou par-
cialmente coerentes. Coerentes, se a relação entre as suas fases é constante no tempo;
incoerentes se isto nunca acontece e parcialmente coerentes se, no intervalo de tempo
da observação, em parte do tempo as perturbações são coerentes.
Luz estritamente monocromática proveniente de uma fonte pontual é descrita por
uma função sinusoidal A sin(ωt − κx) infinita no espaço e no tempo. Quaisquer per-
turbações deste tipo, que se encontrem num ponto P , são coerentes, uma vez que a sua

11
relação de fase é bem definida. No entanto, luz proveniente de uma fonte real nunca é
estritamente monocromática e a fonte real nunca é pontual.
Cada átomo emissor produz, não uma onda infinita no espaço e no tempo, mas
uma sucessão de trens de ondas, que apresentam, entre si, variações de fase abruptas
e não previsı́veis. Assim duas ondas provenientes desse mesmo átomo, que tenham
percorrido caminhos diferentes, podem ou não ser coerentes, consoante a diferença
temporal seja menor ou maior que a duração média dos trens de ondas caracterı́sticos
dessa emissão. Esta caracterı́stica do processo de emissão provoca a perda da chamada
coerência temporal (ou longitudinal).
A outra perda de coerência deve-se à finitude das fontes, cada átomo emissor não
está em fase com os átomos emissores seus vizinhos. Assim, ondas luminosas prove-
nientes de pontos diferentes de uma fonte extensa podem ou não ser coerentes. Neste
caso referimo-nos á chamada coerência espacial (ou transversal).
A coerência pode ser medida numa experiência de interferência. Perturbações lu-
minosas coerentes interferem, e perturbações incoerentes não interferem. Se voltarmos
à expressão 2.6, verificamos que os termos de interferência hE1∗ E2 i e hE2 E1∗ i são médias
efectuadas durante o tempo de observação. Se E1 e E2 não tiverem uma relação de fase
fixa, essas médias tem valor nulo. Entre estes dois casos extremos, temos luz parcial-
mente coerente que interfere produzindo franjas não tão bem definidas. A qualidade
das franjas de interferência pode ser quantificada através do parâmetro visibilidade, V,
definido como
Imax − Imin
V= (2.19)
Imax + Imin
A luz coerente produz franjas de visibilidade máxima (que tem o valor um se os feixes
sobrepostos tiverem irradiâncias iguais), luz incoerente não interfere, ou seja, produz
franjas de visibilidade 0 e luz parcialmente coerente produz franjas de visibilidade
intermédia.
Uma experiência de interferência por divisão de frente de onda pode ser usada
para averiguar a coerência espacial, enquanto que uma experiência de interferência por
divisão de amplitude pode servir para averiguar a coerência temporal.
Pensemos no interferómetro de Michelson. Se a diferença de caminho entre os dois
feixes for tal que ∆l À c∆tc (sendo ∆tc a duração média dos trens de onda produzi-
dos pela fonte, designado por tempo de coerência), então, no ponto de observação,
combinam-se ondas sem relação de fase fixa e não existe interferência. Pelo contrário,
se ∆l ¿ c∆tc então os feixes interferem. À medida que ∆l aumenta, temos como
resultado a diminuição da visibilidade das franjas. Assim, como definimos tempo de
coerência, também podemos definir comprimento de coerência da forma ∆lc = c∆tc .
Numa outra abordagem, que justifica o carácter policromático de uma fonte real,
podemos pensar nos trens de ondas finitos como uma sobreposição de componentes
monocromáticas de uma dada gama de frequências. Esta abordagem é matematica-
mente correcta, como se pode verificar por análise de Fourier. Nesta perspectiva, a
ausência de franjas de interferência pode explicar-se devido à sobreposição dos vários
padrões que, por serem relativos a componentes monocromáticas diferentes, não coinci-
dem no espaço. Pode-se mostrar que quanto maior for a gama de frequências necessária

12
Figura 2.4: Interferência de dois feixes provenientes de uma fonte extensa e poli-
cromática.

para descrever o campo luminoso, isto é, quanto maior for a largura espectral ∆f , menor
é o tempo de duração dos trens de onda por que é composto, sendo esta relação tal [3]
1
∆tc ∆f ≥ (2.20)

Em muitos casos de interesse prático esta desigualdade pode ser substituı́da por uma
relação de ordem de grandeza, ou seja, ∆tc ∼ 1/∆f . Se λ̄ for o comprimento de onda
médio da luz, o comprimento de coerência relaciona-se com ∆λ da forma
λ̄2
∆lc = (2.21)
∆λ

2.3.1 Funções de correlação entre campos luminosos


Da discussão feita, percebemos que ao descrever luz proveniente de uma fonte extensa
e de largura espectral finita é necessário especificar quantitativamente a coerência entre
as perturbações luminosas de dois pontos arbitrários. Para o fazer, é conveniente pensar
numa experiência de interferência [3, 6].
Supomos que luz proveniente de uma fonte σ extensa e policromática chega a um
ponto de observação Q por caminhos diferentes. Um caminho que passa por P1 e outro
por P2 (ver figura 2.4). O campo instantâneo complexo em Q é a soma dos dois campos

V (Q, t) = K1 V (P1 , t − t1 ) + K2 V (P2 , t − t2 ) (2.22)

em que t1 e t2 são os tempos necessários para que a luz percorra os caminhos P1 Q e


P2 Q respectivamente, sendo então
s1 s2
t1 = t2 = (2.23)
c c
Os propagadores K1 e K2 são funções de s1 e s2 , das dimensões das aberturas em P1
e P2 e das suas posições relativas a Q (e são imaginários puros).

13
A irradiância em Q fica

I(Q) = K1 K1∗ hV1 (t − t1 )V1∗ (t − t1 )i + K2 K2∗ hV2 (t − t2 )V2∗ (t − t2 )i +

+K1 K2∗ hV1 (t − t1 )V2∗ (t − t2 )i + K2 K1∗ hV2 (t − t2 )V1∗ (t − t1 )i (2.24)


onde Vi (t) designa o anterior V (Pi , t). Assumamos que o campo é estacionário, as
médias temporais não dependem do intervalo de tempo em que são calculadas e então

hV1 (t − t1 )V1∗ (t − t1 )i = hV1 (t)V1∗ (t)i = I1

hV2 (t − t2 )V2∗ (t − t2 )i = hV2 (t)V2∗ (t)i = I2 (2.25)


Além disso, podemos alterar a origem dos tempos para t = t2 e escrever os dois últimos
termos como

K1 K2∗ hV1 (t − t1 )V2∗ (t − t2 )i+K2 K1∗ hV2 (t − t2 )V1∗ (t − t1 )i = 2Re [K1 K2∗ hV1 (t + τ )V2∗ (t)i]
(2.26)
onde τ = t2 − t1 . Podemos definir uma função de correlação

Γ12 (τ ) = hV1 (t − τ )V2∗ (t)i (2.27)

à qual se chama função de coerência mútua.


A irradiância em Q pode, assim, ser reescrita

I(Q) = |K1 |2 I1 + |K2 |2 I2 + 2|K1 K2 |ReΓ12 (τ ) (2.28)

Oa primeiros termos representam a irradiância observada em Q quando apenas uma das


aberturas existe e podem ser escritos como I (1) (Q) e I (2) (Q). Quando os dois pontos
P1 e P2 coincidem, a função de coerência mútua fica

Γ11 (τ ) = hV1 (t + τ )V1∗ (t)i (2.29)

à qual se dá o nome função de auto-coerência. Quando τ = 0, a função de auto-


coerência é a própria irradiância, ou seja

Γ11 (0) = I1 e Γ22 (0) = I2 (2.30)

e
I (1) (Q) = |K1 |2 Γ11 (0) e I (2) (Q) = |K2 |2 Γ22 (0) (2.31)
então s
I (1) (Q)I (2) (Q)
|K1 K2 | = (2.32)
Γ11 (0)Γ22 (0)
Podemos ainda normalizar a função de coerência mútua

Γ12 (τ )
γ12 (τ ) = p (2.33)
Γ11 (0)Γ22 (0)

14
a que se dá o nome de grau de coerência complexo. A expressão 2.28 pode escrever-se
q
I(Q) = I (1) (Q) + I (2) (Q) + 2 I (1) (Q)I (2) (Q)Reγ12 (τ ) (2.34)

que traduz o princı́pio geral de interferência de luz parcialmente coerente para campos
estacionários.
O módulo do grau de coerência complexo |γ12 (τ )| tem valores entre 0 e 1 e, para
melhor nos apercebermos do seu significado, façamos

γ12 (τ ) = |γ12 (τ )|ei[α12 (τ )−ω̄τ ] (2.35)

α12 (τ ) = ω̄τ + argγ12 (τ ) (2.36)


onde ω̄ é a frequência média da luz. Assim 2.34 fica
q
I(Q) = I (1) (Q) + I (2) (Q) + 2 I (1) (Q)I (2) (Q)|γ12 (τ )| cos(α12 (τ ) − ω̄τ ) (2.37)

quando |γ12 (τ )| = 1 a irradiância é igual à obtida por interferência de duas perturbações


luminosas coerentes desfasadas de α12 (τ ) em P1 e P2 , logo estamos no caso de coerência
total. Quando |γ12 (τ )| = 0 não existe interferência e as perturbações luminosas são
incoerentes. Quando |γ12 (τ )| tem um valor intermédio a luz é parcialmente coerente e
é próprio valor de |γ12 (τ )| que é medida da sua coerência. A esta quantidade dá-se o
nome de grau de coerência.
Como se pode ver por 2.34 a parte real do grau de coerência complexo pode ser
determinada experimentalmente, basta conhecer I(Q), I (1) (Q) e I (2) (Q)

I(Q) − I (1) (Q) − I (2) (Q)


Reγ12 (τ ) = q (2.38)
2 I (1) (Q)I (2) (Q)

2.4 Polarização
A luz é um fenómeno ondulatório transversal, os campos eléctrico e magnético vibram
no plano perpendicular à direcção de propagação. Sendo transversais, podem apresentar
ou não assimetrias relativamente à direcção de propagação. Quando a luz apresenta tal
assimetria dizemos que ela é polarizada, em caso contrário diz-se não polarizada [7].
Esta assimetria que classifica a luz em polarizada e não polarizada pode ser ver-
ificada da seguinte forma. Na luz não polarizada a irradiância de qualquer das com-
ponentes no plano de vibração é igual. Este é o tipo de luz mais frequentemente
encontrada na natureza e por este motivo se denomina luz natural. Pelo contrário, tais
componentes na luz polarizada apresentam irradiâncias diferentes.
A polarização elı́ptica é a forma mais geral de polarização. Esta acontece quando
a extremidade dos vectores E ou B descrevem uma elipse ao longo do tempo. Casos
particulares da polarização elı́ptica são as polarizações circular e linear. No caso de
polarização circular a extremidade do vector descreve uma circunferência e no caso de
polarização linear um segmento de recta.

15
Podemos partir de luz não polarizada e obter luz polarizada assim como partir
de um determinado estado de polarização e obter outro diferente. Os métodos mais
comuns para o fazer agrupam-se segundo os fenómenos ópticos que os possibilitam,
os quais podem ser: (a) reflexão, (b) transmissão através de uma pilha de placas, (c)
dicroı́smo, (d) dupla refracção e (e) dispersão [7].
Entre os casos extremos de luz completamente não polarizada e de luz polarizada,
existe o caso, mais geral, de luz parcialmente polarizada. Geralmente, esta resulta de
luz não polarizada que sofreu reflexão ou dispersão [3]. Esta luz pode ser vista como a
mistura de luz polarizada com luz não polarizada.
Os estados de polarização condicionam a ocorrência de interferência da forma sumari-
ada nas leis de Fresnel e Arago. As experiências que Fresnel e Arago realizaram em
1816 e que conduziram a estas leis têm importância histórica particular uma vez que
revelaram a luz como uma perturbação ondulatória transversal. As leis são as seguintes
[8]:

1. Dois feixes de polarizações lineares perpendiculares não interferem;

2. Dois feixes de polarizações lineares paralelas interferem da mesma forma que a luz
natural, desde que derivem do mesmo feixe linearmente polarizado ou da mesma
componente linearmente polarizada de luz natural;

3. Dois feixes de polarizações lineares que derivem de componentes perpendiculares


de luz natural não interferem mesmo que os seus planos de vibração tenham sido
rodados até coincidirem.

A soma de duas perturbações luminosas é uma uma onda vectorial uma vez que os
campos eléctrico e magnético que as compõem são quantidades vectoriais. É fácil com-
preender que a soma de dois campos perpendiculares (caso de dois feixes de polarização
linear perpendicular) nunca se anule, impossibilitando a existência de interferência de-
strutiva. Esta é a explicação para a primeira das leis enunciadas acima. Usando o
mesmo argumento pode explicar-se a segunda lei. A terceira lei diz-nos que as duas
componentes com polarizações lineares perpendiculares, em que se pode decompor a
luz natural são incoerentes, e assim permanecem ao fim de alterações de polarização.
Podemos dar uma razão de uma forma simples. Pensemos na luz natural como luz que,
instantaneamente, apresenta polarização elı́ptica, cujas forma e orientação da elipse
de polarização estão constantemente a ser modificadas. Assim, as componentes que
resultam da sua decomposição apresentam diferenças de fase não constantes no tempo.
Resumindo temos luz completamente não polarizada que pode ser decomposta em
componentes incoerentes de igual irradiância. Luz polarizada que pode ser decomposta
em componentes cujas irradiâncias e fases relativas são determinadas pelo estado de
polarização. No meio destes dois casos, temos luz parcialmente polarizada decomponı́vel
em componentes parcialmente coerentes.

16
Figura 2.5: Interferómetro de Michelson, onde M1 e M2 são os espelhos, D é o divisor
de feixe, C é a placa de compensação e τ é uma lente convergente.

2.5 Interferómetro de Michelson


O interferómetro de Michelson é um interferómetro de divisão de amplitude e está
esquematizado na figura 2.5. Luz proveniente da fonte S chega a um divisor de feixe
D onde é dividida em dois feixes, um dos feixes viaja até ao espelho móvel M1 , e
o outro viaja até ao espelho fixo M2 . Ambos os feixes retornam ao divisor de feixe
e porções destes dois feixes recombinam viajando até ao ponto de observação P. A
fonte S pode ser pontual ou extensa, opção que vai condicionar o tipo de franjas que
vamos observar. As distâncias entre o divisor de feixe e os dois espelhos devem ser
idênticas. Caso sejam significativamente diferentes a visibilidade das franjas diminui,
chegando a não se observar, facto que depende da coerência da fonte utilizada. A
lâmina compensadora C, que é materialmente e em espessura idêntica ao divisor de
feixe, D, permite igualar os percursos dos dois feixes no interior deste material e, além
disso, garante que os dois feixes experimentem o mesmo efeito dispersivo que poderá
existir no material do divisor de feixe. Assim, a variação do percurso óptico dos dois
feixes depende apenas da geometria do interferómetro. A não inclusão da lâmina de
compensação obriga o uso de uma fonte de luz quase monocromática. Os espelhos
podem ser posicionados exactamente perpendiculares ou ligeiramente desviados desta
posição tendo consequência no tipo de franjas observadas.
Para compreender melhor a interferência no interferómetro de Michelson, suponha-
mos que M20 é a imagem do espelho M2 dada pelo divisor de feixe (ver figura 2.5).
Sendo assim, o seu padrão de interferência é semelhante ao padrão produzido por uma

17
placa de faces paralelas, se M1 e M20 estiverem exactamente paralelos; ou semelhante ao
padrão produzido por um filme fino, se M1 e M20 não estiverem exactamente paralelos.
No primeiro caso, as franjas são circulares e localizadas no infinito, franjas de igual
inclinação. Neste caso, as expressões para franjas brilhantes e escuras diferem ligeira-
mente das expressões 2.15, sendo dadas por

2h cos θ + φλ0 /2π = mλ0

2h cos θ + φλ0 /2π = (m + 1/2)λ0 m = 0, 1, 2, . . . (2.39)


onde φ é a diferença de fase que resulta das diferentes alterações de fase que os feixes ex-
perimentam na reflexão em A, o que depende da natureza da superfı́cie semi-reflectora,
e h é o espaçamento entre M1 e M20 . A ordem de interferência é máxima no centro do
padrão, onde tem o valor m0 dado por
φλ0
2h + = m0 λ0 (2.40)

Note-se que m0 não é necessariamente um inteiro, podendo escrever-se da forma

m0 = m1 + e (2.41)

onde m1 é a ordem inteira da franja brilhante mais central, e e um valor real menor
que 1, designado por ordem fraccional no centro. A franja brilhante n0 p a contar do
centro, corresponde à ordem mp = m1 − (p − 1) e à posição angular θp de forma que

2h(1 − cos θp ) = (p − 1 + e)λ0 (2.42)

Para θp pequenos (1 − cos θp ) ∼ θp2 /2 logo


s
λ0
θp = (p − 1 + e) (2.43)
h

Se e = 0 o raio das franjas brilhantes é proporcional à raiz quadrada de inteiros posi-


tivos.
Se movimentarmos M1 no sentido de M20 , as franjas movimentam-se no sentido do
centro do padrão de interferência. Note-se que pelas expressões 2.39 a franja de ordem
m situa-se numa posição angular menor quando h diminui, uma vez que o produto
2h cos θ deve manter-se constante. Além disso, as franjas tornam-se mais largas. A
franja brilhante n0 p a contar do centro está mais distante do centro se a separação
entre M1 e M20 , h diminuir (equação 2.43). N franjas que aparecem ou desaparecem
no centro do padrão correspondem a uma alteração do caminho óptico num dos braços
do interferómetro de N λ0 . É simples verificar que, em 2.40, se a ordem no centro for
m00 = m0 − N então a nova separação h0 será tal que 2h0 = 2h − N λ0 . De forma
semelhante, no caso de franjas de igual espessura, que acontecem quando M1 e M20 não
estão exactamente paralelos, a passagem de N franjas num ponto do padrão corresponde
a uma alteração de caminho óptico de N λ0 .

18
2.6 Espectroscopia de Fourier
O uso do interferómetro de Michelson em espectroscopia teve inı́cio com os trabalhos
do próprio Michelson. A determinação espectroscópica mais rudimentar consiste na
determinação do comprimento de onda da luz de uma fonte monocromática e pode ser
realizada com bastante precisão com este interferómetro. Se o espelho móvel sofrer uma
translação de ∆d, o padrão de interferência será alterado, e um número N de franjas
passarão num ponto do alvo. O comprimento de onda facilmente se determina através
da relação λ = 2∆d/N .
Uma outra determinação espectroscópica simples é a resolução de um dupleto (de-
nominação dada à luz cujo espectro consiste em duas linhas muito próximas em com-
primento de onda). Supomos que o interferómetro é iluminado com uma fonte deste
tipo (de comprimentos de onda λ1 e λ2 ) e que partimos do contacto óptico dos espelhos.
À medida que um dos espelhos se move, a visibilidade das franjas diminui até que a
diferença de caminho 2d1 iguale n comprimentos de onda λ1 e n + 1/2 comprimentos
de onda λ2 . A partir deste ponto a visibilidade recomeça a aumentar até que o espelho
tenha percorrido o dobro do caminho anterior sendo a visibilidade, neste ponto, quase
tão elevada como no ponto de partida. Reciprocamente, se observássemos uma evolução
da visibilidade deste tipo poderı́amos concluir que a luz da fonte era um dupleto. O
fundamento da espectroscopia interferométrica está no facto da curva de visibilidade ter
uma estreita relação com a estrutura espectral (distribuição de irradiância em função
do comprimento de onda) da luz da fonte utilizada.
A expressão analı́tica que relaciona estas duas quantidades pode ser obtida da
mesma forma da utilizada por Michelson [9, 10]. A irradiância resultante da inter-
ferência de dois feixes de luz de igual comprimento de onda foi determinada na secção
2.1 e é da forma p
I = I1 + I2 + 2 I1 I2 cos(k∆S) (2.44)
onde k = 2π/λ é o número de onda e ∆S é a diferença de caminho óptico. No caso
particular de feixes com irradiâncias iguais a expressão reduz-se a

I = I0 [1 + cos(k∆S)] (2.45)

onde I0 = I1 + I2 . Se a luz não for monocromática a sua irradiância pode escrever-


se à custa da distribuição espectral de irradiância i(k). Assumindo que cada uma das
componentes interferem separadamente da forma descrita acima, fica para a intensidade
total do padrão de interferência o seguinte integral
Z ∞
I= i(k)[1 + cos(k∆S)]dk (2.46)
0

Se efectuarmos a mudança de variáveis k = k̄ + k 0 (sendo k̄ o número de onda médio


da luz) a irradiância do padrão de interferência pode escrever-se na forma

I = P + C cos(k̄∆S) − S sin(k̄∆S) (2.47)

19
onde Z
P = i(k̄ + k 0 )dk 0 (2.48)
Z
C= i(k̄ + k 0 )cos(k 0 ∆S)dk 0 (2.49)
Z
S= i(k̄ + k 0 ) sin(k 0 ∆S)dk 0 (2.50)

Para luz de uma linha espectral, k 0 é pequeno e C e S podem ser considerados, aprox-
imadamente, constantes. Neste caso, as posições dos máximos e dos mı́nimos da ir-
radiância podem ser dados, aproximadamente, pela seguinte equação
dI
= −k̄[C sin(k̄∆S) + S cos(k̄∆S)] = 0 (2.51)
d∆S
que tem como resultado
S
tan(k̄∆S) = − (2.52)
C
Assim as irradiâncias extremas são dadas por
p
Iext = P ± C2 + S2 (2.53)

e a visibilidade por √
C2 + S2
V= (2.54)
P
No caso de distribuições simétricas, S = 0 e a visibilidade reduz-se a V = |C|/P , po-
dendo determinar-se C (a menos de uma constante) a partir da curva de visibilidade.
A densidade espectral i(k) obtem-se por transformação de Fourier de 2.49. Nos casos
de distribuição assimétrica, a análise é mais difı́cil, sendo, no entanto, possı́vel deter-
minar C e S a partir da curva de visibilidade e da posição do padrão de interferência
relativamente a uma fonte simétrica e homogénea de comprimento de onda semelhante
(esta última medida dá-nos a razão S/C pela equação 2.52).
A espectroscopia de Fourier que se efectua nos nossos dias, particularmente na
região do infravermelho, não se baseia na curva de visibilidade mas sim na curva de
irradiância, a qual é facilmente registada com a instrumentação moderna.
Considerando uma análise alternativa à anterior pode chegar-se a uma relação entre
o espectro e a irradiância de interferência em função da diferença de caminho [11, 12].
A irradiância 2.46 pode ser reescrita do modo
Z ∞ Z ∞
I(∆S) = i(k)dk + i(k) cos(k∆S)dk (2.55)
0 0

A primeira parcela é constante e proporcional ao valor da irradiância para ∆S = 0, ou


seja Z ∞
I(0)
= i(k)dk (2.56)
2 0

20
A segunda parcela tem um comportamento oscilatório e dá-se-lhe o nome de interfer-
ograma Z ∞
1
F (∆S) = I(∆S) − I(0) = i(k) cos(k∆S)dk (2.57)
2 0
Esta função é suficiente para determinar unicamente a distribuição espectral de ir-
radiância, i(k), através da seguinte transformação de Fourier
Z ∞
1
i(k) = F (∆S) cos(k∆S)d∆S (2.58)
π −∞

Deste modo, temos duas formas diferentes de fazer espectroscopia interferométrica:


a partir da curva de visibilidade (que só é eficiente se à partida soubermos que a
densidade espectral é simétrica relativamente a uma frequência central) e a partir do
interferograma (que determina de forma única, sem condições prévias, a distribuição
espectral). Escrevamos a expressão 2.47, para a irradiância, de outra forma

I(∆S)
= 1 + V(∆S) cos(φ + k̄∆S) (2.59)
P
onde φ = tan−1 (S/C). Esta última expressão mostra que a curva de visibilidade é
apenas a envolvente da curva de irradiância normalizada.
Como sabemos existe uma relação entre as caracterı́sticas espectrais da luz e a
sua coerência temporal. É possı́vel escrever a irradiância em função da diferença de
caminho dos dois feixes interferentes a partir da expressão 2.34 encontrada na secção
2.3. Se os feixes interferentes provierem da mesma região da fonte e tiverem a mesma
irradiância, a irradiância no ponto Q, na região de sobreposição fica

IQ (τ ) = 2IQ (0)[1 + Reγ11 (τ )] (2.60)

onde τ é o atraso temporal relativo à diferença de caminho ∆S (τ = ∆S/v, sendo v a


velocidade da luz) e γ11 é o grau de auto-coerência complexo. Assim o interferograma
é também uma medida da coerência.
O grau de auto-coerência complexo é uma função normalizada de correlação entre
os dois feixes interferentes, definido na secção 2.3. Pode-se chegar à seguinte expressão
para a sua parte real [12]
R∞
0 i(ω) cos(ωτ )dω
Reγ11 (τ ) = R∞ (2.61)
0 i(ω)dω

que o relaciona com a distribuição espectral através do teorema de Fourier.

2.7 Velocimetria usando o efeito de Doppler


A velocimetria usando o efeito de Doppler é uma técnica que usa a luz laser para medir
velocidades de partı́culas e superfı́cies. O princı́pio fundamental desta técnica consiste
na alteração de frequência exibida pela luz reflectida num objecto em movimento. Se

21
esta luz de frequência diferente se sobrepuser à luz de referência reflectida num ob-
jecto estacionário produz-se uma frequência de batimento, designada por frequência de
Doppler. Esta técnica pode aplicar-se usando um interferómetro de Michelson. Pode-
mos pensar no sinal luminoso que chega ao alvo como resultado da sobreposição de luz
proveniente da reflexão no espelho fixo, de frequência inalterada, com luz proveniente
do espelho móvel (a uma velocidade v), de frequência ligeiramente diferente devido ao
efeito de Doppler. Sendo este sinal a soma de dois campos luminosos com frequências
ligeiramente diferentes, apresenta uma frequência de batimento, ou seja, a irradiância
detectada num ponto da região de sobreposição apresenta uma oscilação harmónica de
frequência fD (frequência de Doppler).

M' M

F I' I

x0 -vt x0 -vt

x0 x0

Figura 2.6: Esquema que mostra as posições relativas da fonte (F), espelho móvel (M
e M’) e imagem da fonte (I e I’) num interferómetro de Michelson.

Como a luz viaja até ao espelho e volta para trás, viaja uma distância 2(x0 − vt)
que é igual à distância entre a fonte e a imagem, xF I 0 (ver figura 2.6). Assim na
nossa análise, podemos considerar a imagem (que actua como uma fonte virtual) a
deslocar-se no sentida da fonte real a uma velocidade vrel (relativamente ao referencial
do laboratório) dada por
dxF I 0
vrel = = −2v (2.62)
dt
Usando a expressão do efeito de Doppler [13]
p
∆f 1 − (vrel /c)2
= +1 (2.63)
f vrel /c − 1
na aproximação de primeira ordem em vrel /c, ou seja ∆f /f = −vrel /c, a frequência de
batimento de Doppler, que corresponde a ∆f , pode esrever-se da forma
fD = 2v/λ (2.64)
Então, o efeito do espelho em movimento é igual ao do movimento da imagem da
fonte à velocidade 2v, sendo v a velocidade do espelho relativamente à fonte. Assim,
a alteração de Doppler, neste caso, é duas vezes maior que a que se observa quando
existe a mesma velocidade relativa entre a fonte e o observador.

22
Capı́tulo 3

Realização experimental e
resultados

Neste capı́tulo descrevemos as experiências propostas aos alunos, apontando alguns


pormenores experimentais e apresentando os resultados por nós obtidos e respectiva
discussão.

3.1 Montagem do interferómetro


A primeira tarefa proposta é a montagem do interferómetro de Michelson numa mesa
óptica. A montagem do interferómetro faz-se genericamente de acordo com a figura 2.5.
A placa de compensação não é necessária no caso de um divisor de feixe cúbico que con-
tenha a superfı́cie semi-reflectora num dos seus planos diagonais internos. Neste último
caso, está salvaguardada a semelhança entre os braços no que respeita ao caminho que
a luz percorre dentro do divisor de feixe. A fonte luminosa usada na montagem e teste
do interferómetro é um laser de He-Ne (ver fotografias da montagem na figura 3.1).
De seguida referimos alguns pontos a ter em atenção na montagem do interferómetro:

• Os componentes ópticos (espelho, divisor de feixe, lentes e laser) devem estar à


mesma altura relativamente à mesa óptica;

• Os braços do interferómetro devem ter comprimentos semelhantes para que a


diferença de caminho não exceda o comprimento de coerência da luz utilizada;

• O feixe do laser deverá manter-se paralelo à mesa, requisito que deverá ser ver-
ificado antes da introdução de qualquer um dos componentes ópticos e após a
introdução de cada um deles isoladamente;

• Melhoraremos a experiência se o feixe coincidir com o centro dos componentes


ópticos;

23
Figura 3.1:

24
• Ambos os espelhos deverão estar montados em suportes posicionáveis através de
dois graus de liberdade, para possibilitar a colocação do espelho perpendicular ao
feixe de luz;

• O espelho M2 deverá estar montado numa plataforma de translação conduzida


por um parafuso micrométrico;

• Para melhorar a visibilidade das franjas usámos o mecanismo anti-vibratório da


mesa óptica (flutuação por ligação à rede de ar comprimido).

Durante a montagem do interferómetro, usámos um laser de He-Ne. No final foi


possı́vel obter franjas circulares e aproximadamente rectilı́neas. Para uma diferença de
caminho quase nula, as franjas são largas e apenas algumas se encontram no padrão
projectado no alvo. À medida que aumentamos a diferença de caminho, em qualquer
dos sentidos, as franjas movimentam-se no sentido da periferia (no caso de franjas
circulares) e tornam-se mais finas.

3.2 Verificação das leis de Fresnel-Arago


Para iniciar o estudo da interferência propomos a verificação das condições de polar-
ização para as quais ocorre interferência, sumariadas nas leis de Fresnel-Arago (ver
secção 2.4). Nesta parte, usa-se uma fonte de luz não polarizada que pode ser uma
lâmpada espectral. O procedimento e os resultados descrevem-se a seguir:

• Introduz-se dois polarizadores com eixos de transmissão perpendiculares, um em


cada um dos braços do interferómetro. Não se observam franjas de interferência
como se prevê pela primeira lei.

• Repete-se o ponto anterior, tendo os polarizadores, neste caso, eixos de trans-


missão paralelos. Observam-se franjas de interferência (verificando a segunda
lei).

• Repete-se o primeiro ponto, introduzindo também uma lâmina de atraso de λ/2


após um dos polarizadores. Neste caso os feixes na região de sobreposição têm
polarizações paralelas mas não se observam franjas de interferência (verificando
a terceira lei).

3.3 Visualização dos vários tipos de franjas


Para continuar o estudo da interferência pretende-se, nesta parte, distinguir os vários
tipos de franjas conseguidas com o interferómetro de Michelson. Descrevemos a seguir
como se obtém os vários tipos de franjas, evidenciando alguns procedimentos impor-
tantes:

25
• Com a fonte laser, por ser uma fonte pontual, poderemos observar um padrão
de franjas não localizado. Ou seja, neste caso as franjas podem projectar-se
num alvo sem necessidade de qualquer sistema formador de imagem. As franjas
podem ser circulares (ver figura 3.2), para espelhos exactamente perpendiculares
ou aproximadamente rectilı́neas para espelhos não exactamente perpendiculares
(ver figura 3.3).

• As fontes espectrais são fontes extensas. Com estas poderemos observar um


padrão de franjas localizado. Desde que os braços do interferómetro sejam idênticos
e que os espelhos estejam quase perpendiculares, é possı́vel ver franjas rectilı́neas
se focarmos o olho no espelho, ou na imagem do espelho, mais distante. Se os
espelhos ficarem exactamente perpendiculares pode observar-se um padrão de
franjas circulares. A observação deverá ser feita com o olho focado no infinito ou
com a ajuda de um telescópio.

Para ambos os tipos de fontes, o padrão de interferência, de franjas circulares ou


rectilı́neas, tem o seguinte comportamento com a variação de diferença de caminho.

• No caso de franjas circulares, a posição de contacto óptico dos espelhos cor-


responde a uma iluminação constante na região de sobreposição. À medida que
aumentamos a diferença de caminho, seja por deslocamento do espelho no sentido
do divisor de feixe ou no sentido contrário, as franjas começam a aparecer cada
vez mais finas e em maior número (ver figura 3.2, que ilustra este comportamento
no caso em que a fonte era o laser).

• As franjas só são exactamente rectilı́neas na posição de contacto óptico. À medida


que aumentamos a diferença de caminho, as franjas começam a encurvar, de tal
forma que apresentam a convexidade no sentido da parte mais fina da cunha
formada por um dos espelhos e a imagem do outro. Daı́ a justificação para a
mudança de curvatura das franjas quando alteramos o sentido de deslocamento
do espelho (ver figura 3.3).

Será importante ter em atenção alguns pormenores da realização experimental.

• Com a fonte laser, é necessário alargar o diâmetro do feixe podendo para isso
usar-se uma lente.

• Com a fonte laser, para melhor alinhar o interferómetro, deve-se primeiro ajustar
um dos espelhos antes de expandir o feixe. Deste modo poderemos fazer coincidir
no alvo os feixes provenientes dos dois braços. Depois do feixe expandido fazem-se
pequenos ajustes. Com as lâmpadas, o alinhamento é facilitado pela colocação
de um objecto escuro aguçado, por exemplo um lápis, entre a fonte e o divisor de
feixe. Assim, o processo de ajuste dos espelhos faz-se no sentido de fazer coincidir
as duas imagens desse objecto.

26
Figura 3.2:

Figura 3.3:

27
• As franjas rectilı́neas, tanto no caso da fonte laser como no caso da fonte extensa,
são as mais facilmente encontradas. Este facto explica-se facilmente se pensar-
mos que estas franjas existem no caso de espelhos não exactamente paralelos.
Observando estas últimas franjas e ajustando um dos espelhos no sentido de as
engrossar, obteremos as franjas circulares ou franjas de igual inclinação.

Nas figuras 3.2 e 3.3 mostramos algumas fotografias dos padrões de franjas obser-
vados.

3.4 Estudo da coerência da luz de algumas fontes


Para complementar o estudo da interferência propomos um estudo da coerência tem-
poral da luz de várias fontes: laser He-Ne, lâmpada espectral de He, lâmpada de sódio
e lâmpada de luz branca. Para isso, aumentamos a diferença de caminho entre os dois
braços do interferómetro, deslocando um dos espelhos, até que as franjas de interferência
deixem de se observar.
Usando o laser de He-Ne, conseguimos observar franjas, num alvo, até que o com-
primento dos braços diferisse de 1.35m, o que equivale a uma diferença de caminho
de 2.70m. Por se tratar de uma grande distância, o deslocamento do espelho foi feito
descontinuamente. No entanto, para cada uma das posições deste espelho variámos a
posição do outro espelho com a ajuda da plataforma de translação e do micrómetro
motorizado. O fotodetector foi colocado no centro do padrão de interferência e o sinal
foi observado no osciloscópio. Usando este método encontrámos variações de visibili-
dade. Para uma diferença de caminho de 20.0 ± 1.0cm existe um mı́nimo de visibilidade
e para o dobro desta diferença existe um novo máximo.
No caso da lâmpada espectral de He, as franjas mantiveram-se visı́veis durante o
deslocamento de um dos espelhos de 15.5mm, partindo da posição de contacto óptico.
Este valor equivale a uma diferença de caminho de 31mm. O deslocamento do espelho
foi feito à custa do micrómetro motorizado, uma vez que a sua amplitude de movimento
é de 25mm, e a observação foi feita com um telescópio. O deslocamento do espelho foi
feito lentamente e não detectámos variações de visibilidade evidentes.
Usando a lâmpada de sódio como fonte, observámos de forma clara variações de
visibilidade à medida que aumentávamos a diferença de caminho óptico. Franjas distin-
tas e padrões quase uniformemente iluminados sucederam-se periodicamente enquanto
deslocávamos o espelho. Partindo de um máximo de visibilidade e deslocando o es-
pelho de 2.5mm, foram observados mais 9 máximos. Este resultado equivale a uma
diferença de caminho entre dois máximos de visibilidade consecutivos de 0.55mm. As
franjas deixaram de ser visı́veis através do telescópio para um deslocamento máximo
do espelho de 10mm (diferença de caminho de 20mm).
Finalmente, usámos uma fonte de luz branca. As franjas produzidas por luz branca
são difı́ceis de encontrar devido à sua baixa coerência temporal. Colocámos o espelho
perto da posição de contacto óptico, introduzimos um filtro vermelho no caminho da luz
e procurámos franjas. Depois de as encontrar, retirámos o filtro e observámos franjas
coloridas aproximadamente rectilı́neas. O micrómetro motorizado deslocou o espelho

28
por menos de 1/10 de mm (valor estimado na escala graduada em mm) até que as
franjas deixaram de se observar.
Como sabemos da secção 2.3, a coerência temporal de uma fonte de luz está rela-
cionada com a sua estrutura espectral. Na altura apresentámos uma expressão desta
relação na forma
λ̄2
∆λ = (3.1)
∆lc
Sabemos também, da discussão feita na secção 2.6, que a curva de visibilidade é uma
outra expressão desta relação. Sabe-se que a diferença de caminho para a qual a visibil-
idade é nula corresponde, pela expressão 3.1, à largura das riscas presentes no espectro.
Por outro lado, a diferença de caminho entre máximos de visibilidade relativos que
acontecem antes de atingirmos a visibilidade nula corresponde, pela mesma expressão,
à distância entre as riscas [3, 9].
Segundo o fabricante, o laser usado é do tipo multimodo sendo constituı́do por
modos de largura 1MHz (1.3 × 10−6 nm) separados por 687MHz (9.2 × 10−4 nm). A
diferença de caminho entre o primeiro e o segundo máximo de visibilidade de cerca de
40cm corresponde, pela expressão 3.1, a ∆λ = 1.0 × 10−3 . Como era esperado, pela
discussão feita acima, este valor é da mesma ordem de grandeza da separação entre
os modos dada pelo fabricante. A diferença de caminho máxima para a qual ainda
observámos franjas, 2.70m, corresponde a ∆λ = 1.5 × 10−4 , este valor é superior em
duas ordens de grandeza à largura tı́pica dos modos do laser. A perda de visibilidade
das franjas para esta distância não corresponde pois à largura dos modos mas ao facto
de as franjas se tornarem muitos estreitas para se distinguirem a ollho nu. De notar
que a largura do modo de 1.3 × 10−6 nm corresponde a uma diferença de caminho de
300m.
A luz da lâmpada espectral de He foi observada num espectrómetro após a passagem
por um prisma e encontraram-se quatro riscas: vermelha, amarela, verde e violeta. O
comprimento de coerência de 31mm corresponde a um ∆λ = 9.8 × 10−3 nm, que será
também, neste caso, relativo a uma largura média das riscas. A largura tı́pica de uma
risca espectral é de 10−3 − 10−2 nm [14], o que dá razoabilidade ao nosso resultado.
O espectro da luz da lâmpada de sódio consiste num dupleto na região do amarelo,
de comprimentos de onda 588.99 e 589.59nm [15]. O aumento de diferença de caminho
que faz a visibilidade passar de um máximo para o máximo consecutivo (0.55mm)
corresponde a ∆λ = 0.63nm que está de acordo com a separação das riscas do dupleto.
O comprimento de coerência relativo à visibilidade nula de 20mm corresponde a um
∆λ = 1.7×10−2 nm que estará ligado à largura das riscas individuais. Mais uma vez este
resultado se encontra próximo dos valores conhecidos para riscas espectrais, referidos
acima.
Finalmente, a luz branca apresenta um comprimento de coerência na ordem dos
submilı́metros. Este resultado era esperado devido à sua natureza de largo espectro.

29
Figura 3.4: Percurso do feixe numa placa transparente em rotação.

3.5 Determinação do comprimento de onda da luz do laser


de He-Ne
A primeira medida interferométrica proposta é a determinação do comprimento de
onda de uma fonte monocromática usando a relação entre o deslocamento de um do
espelhos, ∆d, com o número de franjas que passam no centro do padrão, N , que é
da forma ∆d = N λ/2. Esta experiência é geralmente efectuada em disciplinas dos
primeiros anos, não sendo grande novidade para os alunos.
Apresentamos em apêndice, na tabela B.1, os resultados de oito experiências. Com
estes resultados obtivemos a seguinte estimativa para o comprimento de onda do laser
de He-Ne vermelho
λ = 634.5 ± 4.3nm (3.2)
que corresponde à média ± o desvio padrão dos resultados individuais encontrados.
De notar que a resolução do micrómetro é 0.5 × 103 nm. Apenas o erro de leitura do
micrómetro transfere um erro de cerca de 20nm para cada um dos valores individuais
de λ (valor calculado para 100 franjas). Para aumentar a precisão do resultado pode-
se construir um sistema de translação com uma alavanca de modo a desmultiplicar o
deslocamento do espelho, facto que, além de diminuir a propagação da resolução do
micrómetro para o resultado final, facilitaria a contagem visual das franjas.

3.6 Determinação do ı́ndice de refracção de um material


Continuando com as medidas interferométricas, pretendemos determinar o ı́ndice de
refracção do material de uma placa de faces paralelas por rotação da mesma num dos
braços do interferómetro. Pela rotação da placa variamos o caminho percorrido pela
luz na placa, logo variamos o caminho óptico e ocorre movimento das franjas no padrão
de interferência. Este é o efeito que nos permite determinar o ı́ndice de refracção.
Suponhamos que a placa de espessura t parte de uma posição exactamente perpen-
dicular ao feixe de luz, para a qual o percurso óptico no braço correspondente é (ver

30
figura 3.4)
Si = 2l − 2t + 2nt (3.3)
onde l representa o comprimento do braço e n o ı́ndice de refracção do material da
placa. A placa sofre uma rotação de θ e o percurso óptico, neste braço, aumenta para
o valor
2t cos(θ − θr ) 2tn
Sf = 2l − + (3.4)
cos θr cos θr
A diferença de caminho óptico é dado pela diferença entre os dois percursos, ficando
· ¸
n cos(θ − θr )
∆S = Sf − Si = 2t −n− +1 (3.5)
cos θr cos θr
que, usando a lei de Snell, se pode escrever apenas em função do ângulo de rotação θ
µ q ¶
∆S = 2t 1 + n2 − sin2 θ − n − cos θ (3.6)

Suponhamos um padrão de franjas de igual espessura. Sabemos que o número


de franjas que passam num ponto do alvo, N , devido a uma diferença de caminho
óptico, ∆S, é dado por N = ∆S/λ0 . Então, o ı́ndice de refracção pode determinar-se
experimentalmente por rotações de pequeno ângulo, usando a expressão
µ ¶−1
N λ0
n= 1− (3.7)
tθ2
p
onde aproximámos n2 − sin2 θ e cos θ pelas respectivas séries de Taylor truncadas até
ao termo de segunda ordem.

30

25

20

N 15

10

0
0 0.02 0.04 0.06 0.08 0.1

θ (rad)

Figura 3.5: Gráfico de número de franjas versus rotação da placa.

31
O pormenor experimental mais importante é a colocação inicial da placa, exacta-
mente perpendicular ao feixe. Pequenos desvios da situação perpendicular produzem er-
ros no resultado final para o ı́ndice de refracção. A verificação da coincidência dos feixes
incidente e reflectido na placa pareceu-nos a melhor forma de conseguir tal situação ini-
cial.
Em apêndice apresentamos as tabelas de duas experiências (B.2 e B.3). Foi real-
izado um ajuste aos pontos experimentais usando a expressão 3.7, encontrando assim o
ı́ndice de refracção. O ajuste foi efectuado por um método numérico que minimizou os
quadrados dos desvios (Excel 97). Para cada um dos ajustes fizemos um teste de χ2 ,
cujos resultados também apresentamos juntamente com as tabelas. Os resultados do
teste correspondem a nı́veis de significância de 30 e 45%. Um dos gráficos dos pontos
experimentais e respectivo ajuste é mostrado na figura 3.5.
Estimámos o seguinte valor para o ı́ndice de refracção do material usado

n = 1.528 ± 0.034

que consiste na média dos dois valores encontrados ± o desvio em relação à média.
Este valor é aceitável atendendo a que a placa usada era de acrı́lico.

3.7 Estudo da variação do ı́ndice de refracção de um gás


com a pressão
Pretende-se estudar a variação do ı́ndice de refracção do ar com a pressão através da
alteração do padrão de interferência. A variação do ı́ndice de refracção numa porção
de um dos braços do interferómetro, de comprimento t, faz variar o caminho óptico de
∆S = 2t∆n. Então o número de franjas que passam num ponto é
2t∆n
N= (3.8)
λ0
A lei teórica, conhecida por lei de Lorenz-Lorentz, que relaciona o ı́ndice de refracção,
n, de um gás com a densidade, ρ, é da seguinte forma [7]

n2 − 1 (n + 1)
2
= (n − 1) 2 = const.ρ (3.9)
n +2 (n + 2)

Para n perto da unidade o factor(n + 1)/(n2 + 2) é praticamente constante, pelo que


(n − 1) é directamente proporcional à densidade e consequentemente à pressão. Este
resultado verifica-se experimentalmente. Assim, esperamos que a variação do ı́ndice de
refracção seja proporcional à variação da pressão.
Os resultados são apresentados na tabela B.4 em apêndice. O número de franjas que
passa no centro do padrão varia linearmente com a variação de pressão como se pode
observar no gráfico dos resultados experimentais na figura 3.6. Também, neste caso,
efectuámos um teste de χ2 que se apresenta na tabela. O resultado do teste corresponde
a um nı́vel de significância de 30%. A recta de regressão linear é N = 0.3558∆P − 0.62.

32
30

25

20

15
N
10

-5
0 20 40 60 80
∆P (cmHg)

Figura 3.6: Gráfico do número de franjas que passam no centro do padrão versus
variação de pressão na célula de ar

Usando os resultados experimentais sumariados na recta de regressão linear, a expressão


3.8 e tomando o ı́ndice de refracção igual a 1 no vazio (P = 0), podemos determinar o
ı́ndice de refracção do ar à pressão atmosférica (P = 76cm Hg) que fica

nP atm = 1.0002612 ± 0.0000050

onde a incerteza se deve à dispersão dos valores, contabilizada nas incertezas associadas
ao declive e à ordenada na origem, e à incerteza do comprimento da célula.
O valor tabelado para o ı́ndice de refracção do ar à pressão atmosférica e para um
comprimento de onda de λ = 630nm (devemos lembrar que usamos o laser de He-
Ne vermelho para realizar a experiência) é 1.0002760, a uma temperatura de 150 C, e
1.0002622, a uma temperatura de 300 C [15]. A temperatura na altura da experiência era
mais próxima dos 150 C, pelo que existe uma discrepância de 5% entre os valores. Uma
vez que a incerteza associada ao comprimento da célula já foi considerada, sugere-se
que esta discrepância se deva a uma deficiente calibração do manómetro.

3.8 Espectroscopia de Fourier


Neste parte do trabalho pretendemos ilustrar a técnica de espectroscopia de Fourier.
Apenas conseguimos efectuar, com relativo sucesso, medidas espectrais de fontes laser.
Propomo-nos melhorar o sistema, principalmente a parte da detecção de interferogra-
mas de fontes não laser. Entretanto, propomos usar a técnica para determinar a risca de
emissão de vários laser He-Ne (vermelho, amarelo, laranja e verde). Na secção 2.6 dis-
cutimos a forma de usar a curva de irradiância da interferência em função da diferença
de caminho para conhecer o espectro da luz utilizada. Esta técnica é conhecida por
espectroscopia de Fourier uma vez que as quantidades acima referidas se relacionam

33
por uma transformação de Fourier. Da equação 2.57 sabemos que o interferograma
F (∆S) se relaciona com a densidade espectral i(k) da seguinte forma
Z ∞
F (∆S) = i(k) cos(k∆S)dk (3.10)
0

A diferença de caminho é conseguida por translação de um dos espelhos , a velocidade


constante, usando um micrómetro motorizado, então
Z ∞
F (2vt) = i(k) cos(k2vt)dk (3.11)
0

sendo v a velocidade do espelho. O interferograma escrito em funçao da variável t


relaciona-se com a densidade espectral i0 (f ) da forma
Z ∞
0
F (t) = i0 (f ) cos(2πf t)df (3.12)
0

onde f = kv/π é a chamada frequência de modulação. A densidade espectral é, então,


obtida efectuando uma transformada de Fourier do interferograma da forma
Z +∞
0 2
i (f ) = F 0 (t) cos(2πf t)dt (3.13)
π 0

onde assumimos que o interferofgrama é uma função simétrica relativamente a t = 0.

3.8.1 Amostragem do interferograma: resolução e dobragem


Teoricamente necessitarı́amos de medir o interferograma desde uma diferença de cam-
inho nula até +∞ digitalizado em pequenos intervalos infinitesimais. Na prática faz-se
uma amostragem do interferograma, medindo o seu valor em intervalos finitos até uma
diferença de caminho máxima ∆Smax (no nosso caso, a essa diferença de caminho
máxima corresponde um tempo máximo Tmax ). O tempo máximo impõe à resolução
do espectro obtido o seguinte limite [16, 17, 11]
1
∆f = (3.14)
Tmax
Por outro lado a frequência de amostragem fa = 1/∆t (onde ∆t é o intervalo de tempo
entre cada ponto da amostra) deve pelo menos ser duas vezes maior que a frequência
máxima, fmax contida no interferograma. Por outras palavras, a componente ondu-
latória do interferograma de maior frequência deve ser, pelo menos, amostrada duas
vezes por perı́odo. Caso contrário esta componente, além de aparecer com o seu valor
real, aparecerá também como outra frequência inferior. Isto porque o espectro obtido
exibe simetria de reflexão relativamente a uma frequência, designada por frequência de
Nyquist, dada por
1
fN = (3.15)
2∆t

34
A este fenómeno dá-se o nome de dobragem, sendo uma das desvantagens da espec-
troscopia de Fourier. Uma caracterı́stica espectral que aparece a uma frequência f1 ,
inferior a fN , aparece também a uma frequência superior f2 , tal que f2 = 2fN − f1 ,
e também a f3 = 2fN + f1 . Este facto não traz problemas se as frequências do inter-
valo 0 < f < fN são reflectidas para valores superiores a fN . No entanto, se existir
informação espectral acima de fN ela é reflectida para trás, sendo mal interpretada.
Ao chegar à expressão 3.13 assumimos um interferograma simétrico em torno de
∆S = 0. Assim, teremos que tomar o valor de F 0 (t) exactamente desde t = 0 (cor-
respondendo a ∆S = 0), caso contrário estaremos a adicionar componentes seno ao
interferograma, ocasionando erros no espectro obtido. Existem técnicas, denominadas
de correcção de fase, para retirarem estas componentes do interferograma ou removerem
os seus efeitos no espectro. Outra forma de resolver o problema é fazer a amostragem
em igual conjunto de pontos dos dois lados de t = 0, registando um interferograma de
banda dupla. Neste caso, ambas as transformadas de Fourier, co-seno e seno, devem
ser determinadas e a densidade espectral é dada por [18]
q
i0 (f ) = 2 (f ) + T 2 (f )
Tcos sin (3.16)

Este método apresenta, porém, a desvantagem do tempo de amostragem ter que ser o
dobro do tempo usado num método de banda única para a mesma resolução.

3.8.2 Sistemas de detecção e aquisição


Como sistema de detecção usámos um fotodı́odo de silı́cio com amplificador, ambos na
mesma caixa. A região sensı́vel do fotodetector é colocada no centro do padrão de in-
terferência. O sinal deste fotodetector é enviado por um cabo coaxial a um osciloscópio
digital com armazenamento, Lecroy 9400A. Por sua vez, o osciloscópio comunica com
o computador através de uma porta paralela GPIB [19]. O software que faz a comu-
nicação é o Labview. Uma outra possibilidade, que tornava o sistema mais simples e de
menor preço, consistia em enviar o sinal do fotodetector directamente para o computa-
dor usando uma placa de som. No entanto, este sistema dava-nos o trabalho acrescido
de escrever um software de comunicação.

3.8.3 Transformada de Fourier


A transformada de Fourier do interferograma faz-se através do algoritmo FFT (Fast
Fourier Transform) [20] do programa Excel. O algoritmo FFT requer uma amostragem
de N = 2n pontos e, se a separação entre pontos de amostragem for ∆t, a diferença
entre dois pontos espectrais adjacentes é dada por
1
∆f = (3.17)
N ∆t
que para um interferograma de banda dupla é metade da resolução.
A frequência máxima existente no interferograma e a exigência do número de pontos
igual a uma potência de dois impõe a escolha dos parâmetros de amostragem, Tmax e ∆t.

35
Neste trabalho queremos determinar as riscas de emissão de vários laser. Efectuámos
um registo preliminar do interferograma de laser de He-Ne vermelho e verificámos uma
frequência principal de cerca de 1000 Hz. Tomando o valor de comprimento de onda
λ = 632.8nm, obtemos para a velocidade do espelho v = λf /2 = 316.4µms−1 . Para
esta velocidade do espelho, a frequência máxima presente num interferograma de luz
visı́vel é fmax ∼ 1500Hz. Fazendo uma amostragem de 2048 pontos e considerando a
frequência de Nyquist fN = 1500Hz, o tempo máximo de amostragem é cerca de 0.65s.
O valor mais próximo, possı́vel no osciloscópio, é 0.5s.

3.8.4 Resultados
Foram efectuadas amostragens de 2048 pontos durante 0.5 s dos interferogramas dos
quatro lasers He-Ne. Depois de efectuada uma transformada de Fourier do tipo FFT,
obtivemos os resultados ilustrados nas figuras 3.7-3.10. Nestas figuras está representada
o valor absoluto da transformada de Fourier complexa.

     
    
140

105
Intensidade

70

35

0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de modulação (Hz)

Figura 3.7: Espectro do laser He-Ne vermelho

     
  
60
Intensidade

40

20

0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de modulação (Hz)

Figura 3.8: Espectro do laser He-Ne verde

A risca principal é larga e está ladeada por riscas secundárias, em alguns dos casos,
bastante significativas. A largura da risca principal deve-se principalmente a irregular-
idades na velocidade do espelho [21]. Em espectroscopia de Fourier, para ultrapassar
esta dificuldade, é usual fazer a amostragem em pontos igualmente espaçados em deslo-
camento de espelho e não em tempo. Esta técnica é realizável se, por exemplo, usarmos

36
       

  
140

105
Intensidade

70

35

0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de modulação (Hz)

Figura 3.9: Espectro do laser He-Ne amarelo

       
   
450
Intensidade

300

150

0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de modulação (Hz)

Figura 3.10: Espectro do laser He-Ne laranja

um outro laser de referência e a amostragem for feita quando o seu interferograma tiver
um máximo [17]. Perturbações mecânicas, acústicas, ou mesmo o sinal eléctrico da
rede podem também explicar a largura da risca principal. Estas perturbações podem
explicar também o aparecimento das riscas secundárias que se distanciam da risca prin-
cipal por 80 a 100 Hz e se encontram em todos os espectros (ver trabalho de velocimetria
usando o efeito de Doppler apresentado na secção seguinte). De notar que, uma vez
que as riscas secundárias apareciam nos espectros quer o sistema anti-vibratório da
mesa óptica estivesse a funcionar quer não, as perturbações mecânicas não serão uma
explicação para tais efeitos.
Os espectros apresentados estão em função da chamada frequência de modulação
que, como já referimos, se relaciona com o comprimento de onda da forma f = 2v/λ,
sendo v a velocidade do espelho. Tomámos o laser He-Ne vermelho como referência para
determinar a velocidade do espelho e determinámos depois os comprimentos de onda
dos outros lasers. Os resultados apresentam-se na tabela 3.1. O erro da determinação
resulta de considerar uma incerteza para as frequências de modulação de 4Hz. Se
pensarmos que os interferogramas são do tipo de dupla banda, 0.5s de amostragem
corresponde a um Tmax , relativamente a t = 0, de 0.25s. Assim, aplicando a expressão
para a resolução 3.14 obtemos ∆f = 4Hz. À excepção do laser laranja, os comprimentos
de onda determinados estão de acordo com os esperados. A excepção do laser laranja
pode muito bem justificar-se pelo facto da incerteza de 4Hz não pesar a possibilidade

37
Comprimento Frequência de Velocidade Comprimento de
Laser de onda (nm) modulação do do espelho onda determinado
espectro (Hz) (µm/s) (nm)
Vermelho 632.8 970.9 307.2±1.3 _______
Laranja 612.0 993.3 618.5±5.0
Amarelo 594.1 1030.0 596.5±4.7
Verde 543.5 1129.7 543.8±4.1

Tabela 3.1: Tabela dos resultados experimentais de espectroscopia de Fourier.

de irregularidades da velocidade do espelho.

3.9 Velocimetria usando o efeito de Doppler


Neste trabalho, pretende-se usar o interferómetro de Michelson para aplicar a técnica de
velocimetria de Doppler, pretendendo medir a velocidade do espelho móvel. Além disso,
pretendemos mostrar o efeito óptico causado pela presença simultânea do movimento
do espelho com velocidade constante e uma onda acústica. Notemos que, no trabalho
anterior, usámos o laser He-Ne vermelho para estimar a velocidade do espelho. Embora
o objectivo do trabalho fosse outro, fizemos essa determinação usando velocimetria
por efeito de Doppler. Podemos pensar no sinal luminoso que era detectado como
resultado da sobreposição de luz proveniente da reflexão no espelho fixo, de frequência
inalterada, com luz proveniente do espelho móvel (a uma velocidade v), de frequência
ligeiramente diferente devido ao efeito de Doppler. Sendo este sinal a soma de dois
campos luminosos com frequências ligeiramente diferentes, apresenta uma frequência
de batimento, ou seja, a irradiância detectada num ponto da região de sobreposição
apresenta uma oscilação harmónica de frequência fD (frequência de Doppler). No
trabalho referido na secção 3.8 relacionámos esta frequência, na altura denominada
frequência de modulação, com o comprimento de onda da luz através da velocidade
do espelho da forma fD = 2v/λ. Nesta abordagem, a espectroscopia da Fourier não é
mais do que a determinação das várias frequências de Doppler, uma por cada frequência
óptica presente na luz da fonte a estudar. Isto é, cada uma das componentes espectrais
da luz dá origem a um campo de igual frequência (reflectido no espelho fixo) e um outro
campo de frequência alterada (reflectido no espelho móvel) originando a respectiva
frequência de batimento que se determina por transformada de Fourrier.
Nesta abordagem, e como foi mostrado na secção 2.7 usando o próprio efeito de
Doppler, obtemos a mesma expressão para a frequência de Doppler, ou seja

fD = 2v/λ. (3.18)

Usando um laser He-Ne de λ = 632.8nm obtemos fD = 3.161v(µm/s).

38
Tendo presente a análise que já foi feita esperaremos, para o espectro do sinal
detectado, uma única risca. No entanto, irregularidades do movimento do espelho e
perturbações acústicas presentes no local produzirão frequências de Doppler ligeira-
mente diferentes, alargando a risca. O efeito do movimento do espelho e da presença
de uma onda acústica traduz-se numa modelação de fase do interferograma, da forma
[21]
v
F 0 (t) = i(λ)cos(4π t + φM cosΩt) (3.19)
λ
Partimos da equação 3.12 para o interferograma aplicada ao caso de luz monocromática
de comprimento de onda λ. Nesta expressão, a modulação de fase resultante da onda
acústica tem amplitude φM e frequência angular Ω. Esta expressão pode reescrever-se
noutra forma:

F 0 (t) = i(λ) cos(2πfD t) cos(φM cos Ωt) − i(λ) sin(2πfD t) sin(φM cos Ωt) (3.20)

Usando séries harmónicas de Bessel, podemos notar que esta última equação tem um
número infinito de componentes harmónicas de Ω. No caso de ondas acústicas com
amplitude pequenas, (φM << 1), a equação 3.20 pode aproximar-se por
1 1
F 0 (t) = i(λ) cos(2πfD )− i(λ)φM sin((2πfD +Ω)t)− i(λ)φM sin[(2πfD −Ω)t]+O(φ2M )
2 2
(3.21)
que apresenta uma componente maior a oscilar com a frequência de Doppler e outras
duas menores: uma de maior frequência, (fD + Ω/2π), e outra de menor frequência,
|fD − Ω/2π|.
Quanto à determinação da velocidade do espelho, esta técnica já foi utilizada no
trabalho anterior usando o laser vermelho. O controlador de velocidade do micrómetro
motorizado não está calibrado, assim, não podemos comparar o valor obtido, nessa
altura.
Os resultados novos que aqui se apresentam referem-se ao efeito criado no espec-
tro de frequências de Doppler quando, além do movimento do espelho, está também
presente uma perturbação acústica. Para isso, foi colocado um altifalante, alimentado
por um gerador de sinal, junto ao espelho fixo do interferómetro. Verificámos, por ob-
servação directa no osciloscópio, que uma frequência acústica de cerca de 80Hz produzia
um maior deslocamento das franjas. Este facto parece evidenciar que este espelho tem
uma frequência própria de 80Hz (ver referência [22]). Colocámos uma massa extra no
suporte do espelho e esta ressonância nos 80Hz deixou de verificar-se. Esta observação
ajuda a compreender as riscas secundárias presentes em todos os espectros do trabalho
anterior. De referir que existem outros componentes no interferómetro capazes de pro-
duzir resultados semelhantes e assim poder explicar-se que a distância entre a risca
principal e as riscas secundárias esteja entre 80 a 100Hz.
Excitámos o altifalante com uma frequência de 197Hz e obtivemos os espectros da
figura 3.11. O espectro (a) diz respeito à irradiância de interferência quando apenas
está presente a perturbação acústica. Este espectro contém duas riscas mais inten-
sas que correspondem à perturbação acústica (195.4Hz) e ao seu primeiro harmónico

39
(392.9Hz). O espectro (b) resulta do movimento do espelho na presença da mesma
onda sonora. A risca principal (964.8Hz) corresponde à frequência de Doppler pro-
duzida pelo movimento do espelho. As duas riscas secundárias que a ladeiam (769.4 e
1162.3Hz) concordam com o previsto para as frequências diferença e soma.

        
        0RYLPHQWRGRHVSHOKRFRPSHUWXUEDomR
DF~VWLFDGH+]
6 8
195.4
964.8

Intensidade
Intensidade

4
392.9 4 1030.0
65.1
2
769.4 1162.3

0 0
0 1000 2000 0 500 1000 1500 2000
Frequência de Doppler (Hz)
Frequência de Doppler (Hz)

(a) (b)

Figura 3.11: Espectro de frequências de Doppler (a) na presença de uma frequência


acústica de 197Hz (b) na presença desta última durante o movimento do espelho.

A figura 3.12 mostra o espectro da frequência de Doppler depois de aumentarmos


a intensidade da mesma perturbação acústica. Neste caso, são evidentes quatro riscas
secundárias que não são explicáveis pela expressão 3.20. Usando a série harmónica de
Bessel, podemos aproximar a expressão inicial 3.21 até termos em φ2M obtendo:

1 1 1
F 0 (t) = i(λ) cos(2πfD )(1− φ2M )− i(λ)φM sin((2πfD +Ω)t)− i(λ)φM sin[(2πfD −Ω)t]
4 2 2
1 1
+ i(λ)φ2M cos((2πfD + 2Ω)t) + i(λ)φ2M cos[(2πfD − 2Ω)t] + O(φ3M ) (3.22)
8 8
Escrita nesta aproximação, a equação explica as quatro riscas uma vez que contém,
além das componentes soma e diferença já analisadas, outras duas componentes, cor-
respondendo à soma e à diferença da frequência de Doppler e do primeiro harmónico
da frequência acústica.
Finalmente a figura 3.13 contém o espectro do sinal obtido apenas com uma onda
sonora de 127Hz, gráfico (a), onde encontramos uma frequência próxima de 127Hz
(126.2Hz) e o seu harmónico (254.4Hz). O gráfico (b) mostra o espectro na presença
dos dois efeitos, onde as riscas referentes à soma e à diferença das frequências são 909.9
e 1023.9Hz.
É de notar a existência de uma frequência de cerca de 65Hz presente nos gráficos
respeitantes à ausência de movimento do espelho e das frequências soma e diferença,
(fD + 65) e (fD − 65), nos gráficos que mostram o efeito conjunto. Como foi referido
acima, o espelho fixo tinha uma frequência de ressonância por volta de 80Hz. Estas
últimas experiências foram efectuadas quando no suporte dos espelhos estavam massas

40
0RYLPHQWRGRHVSHOKRFRPSHUWXUEDomR
DF~VWLFDGH+]GHPDLRULQWHQVLGDGH
8
964.8

Intensidade 4

773.5 1166.3
572.0
1361.7
0
0 500 1000 1500 2000
Frequência de Doppler (Hz)

Figura 3.12: Espectro de frequências de Doppler resultantes do movimento do espelho


na presença de uma frequência acústica de 197 Hz de maior intensidade

        
        0RYLPHQWRGRHVSHOKRFRPSHUWXUEDomR
DF~VWLFDGH+]
6 8
964.8
126.2
Intensidade

254.4
Intensidade

4
836.6 1091.0
4

2 909.9 1023.9
65.1

0 0
0 1000 2000 0 500 1000 1500 2000
Frequência de Doppler (Hz)
Frequência de Doppler (Hz)

(a) (b)

Figura 3.13: Espectro de frequências de Doppler (a) na presença de uma frequência


acústica de 127Hz (b) na presença desta última durante o movimento do espelho.

adicionais. Nesta situação, aparece nos espectros uma frequência ∼65Hz, o que corrob-
ora uma nova frequência de ressonância, agora de menor valor uma vez que a massa do
sistema aumentou.
Desta última observação surge a sugestão de, em trabalhos futuros, baixar todos os
componentes do interferómetro para que se possa diminuir a ocorrência de oscilações
próprias e obter melhores resultados.

41
Capı́tulo 4

Planificação das aulas

Os trabalhos de interferometria que se apresentam neste texto são propostos para 6


aulas laboratoriais, de 2 horas cada, da disciplina de Óptica Aplicada. Propomos o
seguinte calendário:

• 1a aula - Montagem do interferómetro de Michelson e verificação das leis de


Fresnel-Arago.

• 2a aula - Visualização dos vários tipos de franjas e estudo da coerência da luz de


algumas fontes.

• 3a aula - Determinação do comprimento de onda do laser He-Ne vermelho, deter-


minação do ı́ndice de refracção de um material e estudo da variação do ı́ndice de
refracção de um gás com a pressão.

• 4a aula - Conclusão da aula anterior. Espectroscopia de Fourier.

• 5a aula - Espectroscopia de Fourier (conclusão).

• 6a aula - Velocimetria usando o efeito de Doppler.

O interferómetro é o esquema fundamental de todo o trabalho. O interferómetro


usado é montado pelos alunos numa mesa óptica. A montagem constitui a maior parte
do trabalho da 1a aula. O material está já disponı́vel e o professor deverá coordenar o
trabalho, chamando a atenção para o alinhamento dos componentes ópticos, distância
relativa entre eles e, finalmente, alinhamento dos feixes de luz para a obtenção de
franjas.
Ainda na 1a aula, usando uma fonte de luz não polarizada, os alunos verificam as
condições de polarização dos feixes intervenientes para a ocorrência de interferência,
sumariadas nas leis de Fresnel-Arago.
Na 2a aula, os alunos observam os vários tipos de franjas, ou seja, franjas localizadas
e não localizadas, resultantes de fontes extensas e pontuais, respectivamente, e franjas
de igual espessura e de igual inclinação, consequentes da posição relativa dos dois
espelhos. Nesta parte do trabalho o professor deverá orientar os alunos, indicando

42
quais as técnicas conhecidas para a obtenção rápida dos vários tipos de franjas. Para
complementar este estudo da interferência, os alunos estudam a coerência temporal da
luz de fontes diferentes. Com esta tarefa pretendemos introduzir o conceito de coerência
e salientar a sua estreita relação com a interferência. E ainda, pretendemos relacionar,
de uma forma semi-quantitativa, a coerência temporal e a estrutura espectral da luz de
uma fonte.
Para a 3a aula propomos três medidas interferométricas, trabalho este que prevemos
poder prolongar-se pela 4a aula. As duas primeiras são: determinação do comprimento
de onda de uma fonte monocromática e do ı́ndice de refracção do material de uma
lâmina de material transparente. As técnicas usadas para estas determinações podem
servir para determinar outros parâmetros. Com a primeira técnica pode determinar-se
o deslocamento do espelho, sabido o comprimento de onda da luz utilizada. Com a
segunda técnica pode determinar-se a espessura da lâmina se conhecido o seu ı́ndice de
refracção. A última tarefa consiste no estudo da variação do ı́ndice de refracção de um
gás com a pressão.
Prevemos que a 4a aula seja, em parte, ocupada para acabar os últimos trabalhos.
No entanto, ainda restará tempo para que o trabalho de espectroscopia de Fourier seja
apresentado aos alunos. Assim, prentendemos, nesta aula, apresentar os instrumentos
novos: o fotodetector, o osciloscópio digital e o programa de computador que faz a inter-
face com o osciloscópio. Os alunos podem, ainda, analisar o problema da amostragem e
decidir alguns dos parâmetros da mesma, adequados ao sistema utilizado. Na 5a aula,
completam este trabalho, recolhendo os interferogramas e determinando os espectros.
Com este trabalho, os alunos têm a possibilidade de se aperceber dos fundamentos da
técnica e de determinarem o comprimento de onda da luz de quatro lasers He-Ne.
Finalmente, na 6a aula, é realizado o trabalho de velocimetria usando o efeito
de Doppler, que ilustra mais uma técnica interferométrica importante. Este trabalho
tem a vantagem da realização prática ser muito semelhante à do trabalho anterior,
aproveitando dele alguns dos seus resultados. Esta semelhança é ainda maior porque
no trabalho de espectroscopia de Fourier apenas se estudam fontes monocromáticas.
No entanto, neste caso os objectivos das medidas são outros e os fundamentos são
abordados de forma diferente.
O aluno é aconselhado a ler o guia e fazer alguma pesquisa bibliográfica sobre cada
um dos trabalhos com uma semana de antecedência. Assim, pode esclarecer alguma
dúvida com o professor no final da aula anterior à realização do trabalho em questão.
Estando ainda no laboratório, será mais fácil clarificar algumas ideias e aproveitar para
conhecer o esquema experimental. O aluno deve ter um caderno de apontamentos para
registar todo o trabalho de laboratório e nele fazer a análise e a discussão de resultados.
A avaliação dos alunos terá três componentes. Uma vez que se propõe que estas
aulas de laboratório tenham bastante acompanhamento por parte do professor e se prevê
um número relativamente pequeno de alunos por aula, propomos uma componente de
avaliação contı́nua. O caderno de laboratório que se referiu acima constituirá também
outra das fontes de avaliação no final da série de trabalhos. Finalmente, a outra com-
ponente da avaliação consiste num relatório sobre uma das medidas interferométricas
efectuadas nas últimas 4 aulas. O relatório deve obedecer à seguinte estrutura [23]:

43
• Resumo
Sı́ntese dos objectivos e dos resultados mais importantes.

• Introdução
Considerações gerais, descrição dos objectivos do trabalho, indicação do método
utilizado, referindo inovações relativamente a outros métodos.

• Fundamento teórico
Breve referência aos fundamentos teóricos.

• Realização experimental
Descrição do equipamento e da prática experimental e discussão de algumas difi-
culdades e opções de trabalho que pareçam importantes.

• Resultados
Valores obtidos, cálculos auxiliares e resultados finais que, quando possı́vel, devem
ser apresentados em tabelas e gráficos. Sempre que adequado deve referir-se os
erros experimentais.

• Discussão
Análise dos resultados na perspectiva da sua concordância com o que era esperado,
discussão das discordâncias, identificação das fontes de erro, proposta de formas
de minimizar esses erros, proposta de novas experiências para estudar o problema,
etc.

• Referências bibliográficas

O relatório é uma tarefa fundamental para quem realiza um trabalho experimental.


Ele consiste no registo e discussão da experiência e resultados, mas vai além do caderno
de laboratório porque apresenta estes dados de uma forma divulgável. Assim, além
do propósito da avaliação, este relatório é também uma aprendizagem para quem mais
tarde tiver que divulgar resultados cientı́ficos, seja numa revista, conferência ou em
situações mais informais.

44
Apêndice A

Guião do trabalho de laboratório

A.1 Montagem do interferómetro de Michelson

Figura A.1: Interferómetro de Michelson

Objectivos
• Montagem do interferómetro de Michelson.
• Observação das franjas de interferência usando um laser de He-Ne.

Material
Laser He-Ne, espelhos, divisor de feixe, lentes, vários suportes, plataforma de
translação, parafuso micrométrico e mesa óptica anti-vibratória.

Execução
• Monte um interferómetro de Michelson segundo a figura A.1, onde M1 e M2 são os
espelhos, D é o divisor de feixe e C é a placa de compensação que deve dispensar
se o divisor de feixe for cúbico ou se a fonte for um laser.

45
• Faça os espelhos exactamente perpendiculares (de modo a obter franjas circulares)
e observe a aparência das franjas variando o comprimento do braço móvel.

• Repita o ponto anterior para espelhos não exactamente perpendiculares.

Bibliografia
R. S. Longhurst, Geometrical and Physical Optics, capı́tulo 8
E. Hecht, Óptica, capı́tulo 9

46
A.2 Verificação das leis de Fresnel-Arago
Objectivos
Verificação das leis de Fresnel-Arago.

Introdução
Os estados de polarização condicionam a ocorrência de interferência da forma sumari-
ada nas leis de Fresnel e Arago. As experiências que Fresnel e Arago realizaram em
1816 e que conduziram a estas leis têm importância histórica particular uma vez que
revelaram a luz como uma perturbação ondulatória transversal. As leis são as seguintes:

1. Dois feixes de polarizações lineares perpendiculares não interferem;

2. Dois feixes de polarizações lineares paralelas interferem da mesma forma que a luz
natural, desde que derivem do mesmo feixe linearmente polarizado ou da mesma
componente linearmente polarizada de luz natural;

3. Dois feixes de polarizações lineares que derivem de componentes perpendiculares


de luz natural não interferem mesmo que os seus planos de vibração tenham sido
rodados até coincidirem.

Material
Interferómetro de Michelson, lâmpada espectral, polarizadores, lâmina de atraso de
λ/2.

Execução
Usando uma lâmpada espectral como fonte não polarizada, polarize de forma con-
veniente os feixes de luz de cada um dos braços do interferómetro de forma a verificar
a existência ou não de interferência (verificando assim as leis de Fresnel-Arago).

Bibliografia
R. S. Longhurst, Geometrical and Physical Optics, capı́tulo 6
F. A. Jenkins e H. E. White Fundamentals of Optics, capı́tulo 27

47
A.3 Visualização dos vários tipos de franjas
Objectivos
Visualização e distinção de franjas localizadas e não localizadas e franjas de igual
inclinação e de igual espessura.

Introdução
O interferómetro de Michelson, à parte de ser ser um interferómetro em que os
feixes estão claramente separados antes da recombinação, pode ser analisado como
um interferómetro do tipo placa de faces paralelas ou do tipo filme fino. Assim, o
padrão de interferência obtido pode ser constituı́do por franjas circulares (franjas de
igual inclinação) se os espelhos estiverem exactamente perpendiculares, ou por franjas
aproximadamente rectilı́neas (franjas de igual espessura) se os espelhos se desviarem
ligeiramente da perpendicularidade. Ambos os tipos de franjas podem apresentar-se
como localizadas, no caso da fonte extensa, e não localizadas, caso a fonte seja pontual.

Material
Interferómetro de Michelson, laser de He-Ne, várias lâmpadas espectrais (Cd, He,
Ne), telescópio e lentes.

Execução
• Usando o Laser de He-Ne como fonte de luz pontual, obtenha um padrão não
localizado de franjas circulares e rectilı́neas.

• Usando as lâmpadas espectrais como fonte extensa, obtenha padrões de franjas


localizados (nos espelhos e no infinito). Descreva a forma dos dois tipos de franjas.

Bibliografia
R. S. Longhurst, Geometrical and Physical Optics, capı́tulo 8
M. Born e E. Wolf, Principles of Optics, capı́tulo 7
E. Hecht, Óptica, capı́tulo 9
F. A. Jenkins e H. E. White Fundamentals of Optics, capı́tulo 13

48
A.4 Estudo da coerência da luz de algumas fontes
Objectivos
• Observação de franjas obtidas com luz de diferente coerência temporal.

• Descrição qualitativa das variações de visibilidade das franjas com o aumento da


diferença de caminho.

• Determinação dos comprimentos de coerência.

Introdução
O interferómetro de Michelson pode averiguar a chamada coerência temporal (ou
longitudinal). Se a diferença de caminho entre os dois feixes for tal que ∆l À c∆tc
(sendo ∆tc a duração média dos trens de onda produzidos pela fonte, designado por
tempo de coerência), então, no ponto de observação, combinam-se ondas sem relação
de fase fixa e não existe interferência. Pelo contrário, se ∆l ¿ c∆tc então os feixes
interferem. À medida que ∆l aumenta, temos como resultado a diminuição da visibili-
dade das franjas. Assim, como definimos tempo de coerência, também podemos definir
comprimento de coerência da forma ∆lc = c∆tc
Numa outra abordagem, que justifica o carácter policromático de uma fonte real,
podemos pensar nos trens de ondas finitos como uma sobreposição de componentes
monocromáticas de uma dada gama de frequências. Esta abordagem é matematica-
mente correcta, como se pode verificar por análise de Fourier. Nesta perspectiva, a
ausência de franjas de interferência pode explicar-se devido à sobreposição dos vários
padrões que, por serem relativos a componentes monocromáticas diferentes, não co-
incidem no espaço. Pode-se mostrar que quanto maior for a gama de comprimentos
de onda necessária para descrever o campo luminoso, isto é, quanto maior a largura
espectral ∆λ, menor é o comprimento de coerência, sendo esta relação tal que
λ̄2
∆lc = (A.1)
∆λ
onde λ̄ é o comprimento de onda médio da luz.
Mais detalhadamente, pode mostrar-se que, para luz quase monocromática a curva
de visibilidade se relaciona com a estrutura espectral da luz através do teorema de
Fourier (ver bibliografia).

Material
Interferómetro de Michelson, laser de He-Ne, lâmpadas espectrais, lâmpada de sódio,
lâmpada branca, telescópio e lentes.

Execução
• Usando o laser de He-Ne como fonte de luz, obtenha um padrão de franjas circu-
lares.

49
• Varie consideravelmente o comprimento de um dos braços e determine a diferença
de caminho máxima para a qual se observam franjas.

• Usando lâmpadas espectrais e a lâmpada de sódio, obtenha franjas circulares e


ajuste o espelho móvel de forma a que uma das posições extremas do micrómetro
coloque o espelho perto da posição de contacto óptico.

• Observe as franjas com um telescópio à medida que aumenta a diferença de cam-


inho e descreva a evolução da visibilidade das franjas e determine a diferença de
caminho máxima para a qual se observam franjas.

• Use uma lâmpada de luz branca e tente encontrar franjas perto da posição de
contacto óptico.

Análise de dados
Relacione as diferenças de caminho máximas e a variação da visibilidade com a
diferença de caminho com a estrutura espectral das várias fontes.

Bibliografia
M. Born e E. Wolf, Principles of Optics, capı́tulo 7
R. Guenther, Modern Optics, capı́tulo 4
A. Michelson, Studies in Optics, capı́tulo 4

50
A.5 Determinação do comprimento de onda da luz do Laser
de He-Ne
Objectivos
Determinação do comprimento de onda de uma fonte monocromática usando o
interferómetro de Michelson.

Introdução
Uma das aplicações da interferometria é a análise do espectro da luz das fontes. A
medição mais simples deste tipo é a determinação do comprimento de onda, λ, de uma
fonte de luz monocromática. No interferómetro de Michelson uma alteração do caminho
óptico num dos seus braços de λ faz com que, no centro do padrão de interferência, uma
franja brilhante ou escura dê lugar à próxima franja semelhante. Assim, o movimento
de um dos espelhos de ∆d faz passar N = 2∆d/λ franjas brilhantes ou escuras no
centro do padrão.

Material
Interferómetro de Michelson, laser de He-Ne, micrómetro graduado.

Execução
• Utilizando o micrómetro mova o espelho móvel do interferómetro e conte as franjas
que passam num ponto do centro do padrão de interferência.

• Faça as medidas adequadas com o fim de estimar um valor para o comprimento


de onda do laser.

Bibliografia
E. Hecht, Óptica, capı́tulo 9

51
A.6 Determinação do ı́ndice de refracção de um material
Objectivos
Determinação do ı́ndice de refracção de um material por rotação de uma placa num
dos braços do interferómetro.

Introdução
Consideremos uma placa de material transparente de espessura t colocada num dos
braços do interferómetro. Se rodarmos a placa em torno de um eixo vertical o percurso
óptico do feixe, que viaja nesse braço, é alterado. Essa alteração de percurso óptico
desde a posição da placa exactamente perpendicular ao feixe até uma posição θ é dada
por µ q ¶
∆S = 2t 1 + n2 − sin2 θ − n − cos θ (A.2)
Sabendo que o número de franjas que passam num ponto do ecrã, N , se relaciona com
∆S da forma N = ∆S/λ0 , obtemos para o ı́ndice de refracção o seguinte resultado
µ ¶−1
N λ0
n= 1− (A.3)
tθ2
p
onde aproximámos n2 − sin2 θ e cos θ para θ pequeno.

Material
Interferómetro de Michelson, placa de material transparente e plataforma de rotação.

Execução
• Alinhe o interferómetro de modo a obter franjas.
• Coloque, num dos braços do interferómetro, a placa de material transparente que
possa ser posicionada através da plataforma de rotação.
• Coloque a placa exactamente perpendicular ao feixe (discuta a melhor forma de
o fazer).
• Rode a placa de alguns minutos de grau e observe no alvo o movimento das
franjas.
• Registe quantitativamente as observações do ponto anterior de forma a obter uma
estimativa do ı́ndice de refracção do material da placa.

Análise de dados
• Demonstre as expressões A.2 e A.3.
• Estime um valor para o ı́ndice de refracção do material da placa .
Bibliografia
Brandão Faria, Óptica: fundamentos e aplicações, capı́tulo 6

52
A.7 Estudo da variação do ı́ndice de refracção de um gás
com a pressão
Objectivos
• Estudar a variação do ı́ndice de refracção com a pressão pela introdução de um
célula de gás num dos braços do interferómetro.

• Determinação do ı́ndice de refracção do ar à pressão atmosférica

Introdução
A variação do ı́ndice de refracção numa porção de um dos braços do interferómetro
altera o caminho óptico e desloca o padrão de franjas. Considere uma célula de com-
primento t com ar à qual se baixa a pressão e consequentemente se baixa o ı́ndice de
refracção de ∆n. O número de franjas brilhantes ou escuras que passam no centro do
padrão de interferência é
2t∆n
N= (A.4)
λ
onde λ é o comprimento de onda da fonte monocromática utilizada.
A relação entre a variação de pressão, ∆P , de um gás com a variação do seu ı́ndice
de refracção, ∆n, é aproximadamente linear para pressões baixas (consequência da lei
teórica de Lorenz-Lorentz).

Material
Interferómetro de Michelson, célula cilı́ndrica com ar, bomba de vácuo com manó-
metro.

Execução
• Coloque num dos braços do interferómetro a célula com ar, de forma que as suas
bases fiquem exactamente perpendiculares ao feixe.

• Faça vácuo na célula de uma forma gradual e observe o movimento das franjas
no alvo.

• Registe quantitativamente as observações feitas no ponto anterior.

Análise de dados
• Sabendo que o número de franjas que passam num ponto do ecrã, N , devido
a uma diferença de caminho óptico, ∆S, é dado por N = ∆S/λ, demonstre a
relação A.4.

• Represente graficamente a variação do ı́ndice de refracção com a variação da


pressão.

53
• Estime um valor para o ı́ndice de refracção do ar à pressão atmosférica.

Bibliografia
F. A. Jenkins e H. E. White Fundamentals of Optics, capı́tulo 13

54
A.8 Espectroscopia de Fourier
Objectivos
• Ilustração da técnica de espectroscopia de Fourier.
• Determinação do comprimento de onda de vários laser.

Introdução
A curva de irradiância num ponto do padrão de interferência em função da diferença
de caminho entre os feixes possibilita o conhecimento do espectro da luz utilizada.
Esta técnica é conhecida por espectroscopia de Fourier uma vez que as quantidades
acima referidas se relacionam por uma transformação de Fourier. Para uma fonte
policromática, a irradiância resultante da sobreposição de dois feixes provenientes da
mesma fonte com uma diferença de caminho óptico de ∆S é dada por
Z ∞ Z ∞
I(∆S) = i(k)dk + i(k) cos(k∆S)dk (A.5)
0 0

A primeira parcela é constante e proporcional ao valor da irradiância para ∆S = 0, ou


seja Z ∞
I(0)
= i(k)dk (A.6)
2 0
A segunda parcela tem um comportamento oscilatório e dá-se-lhe o nome de interfer-
ograma Z ∞
1
F (∆S) = I(∆S) − I(0) = i(k) cos(k∆S)dk (A.7)
2 0
Esta função é suficiente para determinar unicamente a distribuição espectral de ir-
radiância, i(k), através da seguinte transformação de Fourier
Z ∞
1
i(k) = F (∆S) cos(k∆S)d∆S (A.8)
π −∞

Neste trabalho, a diferença de caminho é conseguida por translação de um dos espelhos


, a velocidade constante, usando um micrómetro motorizado, então
Z ∞
F (2vt) = i(k) cos(k2vt)dk (A.9)
0

sendo v a velocidade do espelho. O interferograma escrito em função da variável t


relaciona-se com a densidade espectral i0 (f ) da forma
Z ∞
F 0 (t) = i0 (f ) cos(2πf t)df (A.10)
0

onde f = kv/π. A densidade espectral é, então, obtida efectuando uma transforma da
de Fourier do interferograma da forma
Z ∞
0 2
i (f ) = F 0 (t) cos(2πf t)dt (A.11)
π 0

55
onde assumimos que o interferograma é uma função simétrica relativamente a t = 0.
Teoricamente necessitarı́amos de medir o interferograma desde a distância 0 a +∞
digitalizado em pequenos intervalos infinitesimais. Na prática faz-se uma amostragem
do interferograma, medindo o seu valor em intervalos finitos até uma distância máxima
Dmax (no nosso caso, a essa distância máxima corresponde um tempo máximo Tmax ).
Este facto impõe o seguinte limite à resolução do espectro
1
∆f = (A.12)
Tmax
Por outro lado, o teorema da amostragem diz que a frequência de amostragem fa =
1/∆t (onde ∆t é o intervalo de tempo entre cada ponto da amostra) deve pelo menos
ser duas vezes maior que a frequência máxima, fmax contida no interferograma. Esta
exigência deve-se ao facto do espectro obtido exibir simetria de reflexão relativamente
a uma frequência, designada por frequência de Nyquist, dada por
1
fN = (A.13)
2∆t
A este fenómeno dá-se o nome de dobragem. Uma caracterı́stica espectral que aparece
a uma frequência f1 , inferior a fN , aparece também a uma frequência superior f2 , tal
que f2 = 2fN − f1 , e também a f3 = 2fN + f1 . Este facto não traz problemas se as
frequências do intervalo 0 < f < fN são reflectidas para valores superiores a fN . No
entanto, se existir informação espectral acima de fN ela é reflectida para trás, sendo
mal interpretada.

Material
Interferómetro de Michelson, micrómetro motorizado, lasers de He-Ne de várias
cores (vermelho, verde, laranja e amarelo), fotodetector, osciloscópio digital com memória,
computador com placa GPIB e Labview.

Execução
• Use um dos laser como fonte de luz, obtenha um padrão de franjas circulares e
coloque a zona sensı́vel do fotodetector no centro do padrão.

• Observe no osciloscópio o sinal captado pelo fotodetector enquanto o espelho


móvel se desloca a velocidade constante. Faça uma estimativa grosseira da ve-
locidade do espelho.

• Escolha o número de pontos de amostragem (considere a restrição do programa de


transformadas de Fourier que vai usar). Atendendendo ao teorema de amostragem
escolha o tempo máximo da amostragem.

• Enquanto o espelho se movimenta à mesma velocidade do ponto acima, armazene


o interferograma durante o tempo escolhido no ponto anterior.

56
• Transfira os dados para o computador, usando o programa Labview e opere sobre
eles a transformada de Fourier adequada.

• Repita os dois últimos pontos para os outros três lasers.

Análise de dados
• Discuta os espectros obtidos.

• Determine o comprimento de onda dos lasers utilizados.

Bibliografia
Griffiths Chemical infrared Fourier Transform Spectroscopy, capı́tulos 1 e 2
P. Biggs, F. Holdsworth e R. Wayne, A low cost Fourier transform spectrometer
for the visible and near-infrared regions, Journ. Physics E: Sci. Instrum., 20, 1987, p.
1005
R. Guenther, Modern Optics, capı́tulo 4

57
A.9 Velocimetria usando o efeito de Doppler
Objectivos
• Determinação da velocidade do espelho móvel do interferómetro de Michelson por
velocimetria de efeito de Doppler.

• Análise do efeito óptico resultante do movimento do espelho na presença de uma


onda acústica.

Introdução
A velocimetria usando o efeito de Doppler é uma técnica que usa a luz laser para
medir velocidades de partı́culas e superfı́cies. O princı́pio fundamental desta técnica
consiste na alteração de frequência exibida pela luz reflectida de um objecto em movi-
mento. Se esta luz de frequência diferente se sobrepuser a luz de referência, reflec-
tida num objecto estacionário produz-se uma frequência de batimento, designada por
frequência de Doppler. Notemos que no trabalho anterior usámos o laser He-Ne ver-
melho para estimar a velocidade do espelho. Embora o objectivo do trabalho fosse
outro, estávamos a fazer essa determinação usando velocimetria de efeito de Doppler.
Podemos pensar no sinal luminoso que era detectado como resultado da sobreposição
de luz proveniente da reflexão no espelho fixo, de frequência inalterada, com luz prove-
niente do espelho móvel (a uma velocidade v), de frequência ligeiramente diferente
devido ao efeito de Doppler. Sendo este sinal a soma de dois campos luminosos com
frequências ligeiramente diferentes, apresenta uma frequência de batimento, ou seja,
a irradiância detectada num ponto da região de sobreposição apresenta uma oscilação
harmónica de frequência fD (frequência de Doppler). No último trabalho, relacionamos
esta frequência com o comprimento de onda da luz através da velocidade do espelho da
forma fD = 2v/λ. Esta expressão pode ser obtida de uma forma que mostra melhor o
efeito de Doppler (ver bibliografia).
Esperaremos uma única risca para o espectro do sinal detectado. No entanto,
irregularidades do movimento do espelho e perturbações acústicas presentes no local
produzirão frequências de Doppler ligeiramente diferentes alargando a risca. O efeito do
movimento do espelho e da presença de uma onda acústica traduz-se numa modelação
de fase do interferograma, que pode aproximar-se por
1 1
F 0 (t) = i(λ) cos(2πfD )− i(λ)φM sin((Ω+2πfD )t)+ i(λ)φM sin[(Ω−2πfD )t]+O(φ2M )
2 2
(A.14)
Este interferograma apresenta uma componente maior a oscilar com a frequência de
Doppler e outras duas menores: uma de maior frequência, (Ω/2π + fD ), e outra de
menor frequência, |Ω/2π − fD |.

58
Material
Interferómetro de Michelson, micrómetro motorizado, laser de He-Ne, gerador de
sinal, altifalante, fotodetector, osciloscópio digital com memória, computador com placa
GPIB e Labview.

Execução
• Coloque um altifalante ligado a um gerador de sinal junto ao espelho fixo do
interferómetro, de modo a que as ondas acústicas batam no espelho.

• Faça uma amostragem adequada da irradiância no centro do padrão, enquanto


movimenta o espelho móvel com velocidade constante.

• Repita o ponto anterior quando, também, o altifalante emite um sinal de frequência


bem determinada.

• Repita o ponto anterior para outras frequências e amplitudes da onda acústica.

Bibliografia
R. Belansky e K. Wanser Laser Doppler velocimetry using a bulk optic Michelson
interferometer: A student laboratory experiment, American Journal of Physics, 61(11),
1993, p. 1014

59
Apêndice B

Tabelas de resultados
experimentais

Determinação do comprimento de onda da luz do laser de


He-Ne
A tabela B.1 que se apresenta a seguir, diz respeito à determinação do comprimento de
onda do laser He-Ne vermelho. di e df correspondem, respectivamente, à posição inicial
e final do espelho móvel, cuja diferença está representada por ∆d. N é o número de
franjas brilhantes ou escuras que passaram no centro do padrão de interferência devido
aos respectivo deslocamento.

di (mm) df (mm) ∆d (mm) N λ (nm)


8.411 8.383 0.028 90 622.22
8.425 8.393 0.032 100 640.00
8.425 8.392 0.033 101 653.47
8.394 8.363 0.031 100 620.00
8.394 8.362 0.032 100 640.00
8.356 8.324 0.032 100 640.00
8.357 8.325 0.032 100 640.00
8.357 8.326 0.031 100 620.00

Tabela B.1: Tabela dos resultados experimentais para a determinação do comprimento


de onda do laser de He-Ne

Determinação do ı́ndice de refracção de um material


As duas tabelas que se seguem, B.2 e B.3, referem-se aos resultados obtidos por rotação
da placa transparente num dos braços do interferómetro. N é o número de franjas
brilhantes ou escuras que passaram no centro do padrão durante uma rotação da placa

60
de θ. θ(rad) é o valor de θ em radianos e N aj é o número de franjas da curva de
ajuste à expressão teórica. O valor encontrado para o ı́ndice de refracção é indicado
na segunda linha de cada uma das tabelas. As duas últimas colunas correspondem a
cálculos acessórios para o teste de χ2 . Este foi calculado da seguinte forma
X (Ni − N aji )2
χ2 = (B.1)
σi2

onde σi é o erro estatı́stico de cada medida Ni , o qual foi estimado por 1/3 de franja.
O número de graus de liberdade é igual ao número de medidas menos o número de
parâmetros que se ajustam [23]. Os χ2 para cada um dos ajustes são 26.2 e 25.0. No
primeiro caso corresponde a um nı́vel de significância de ∼ 30% e no segundo caso a
∼ 45%.

N θ θ (rad) Naj (N-Naj)^2 χ^2


n= 1.56138
1 55/60 0.015999 0.8987687 0.01024778 0.0941027
2 1 10/60 0.020362 1.4558567 0.29609196 2.7189344
3 1 40/60 0.029089 2.9711361 0.00083313 0.0076504
4 1 55/60 0.033452 3.9293275 0.00499461 0.0458642
5 2 5/60 0.036361 4.6424001 0.12787768 1.1742671
6 2 15/60 0.03927 5.4148955 0.34234729 3.143685
7 2 30/60 0.043633 6.6850562 0.09918962 0.9108322
8 2 45/60 0.047997 8.0889179 0.0079064 0.0726024
9 2 50/60 0.049451 8.5865832 0.17091342 1.5694529
10 3 0.05236 9.6264809 0.13951654 1.2811437
11 3 10/60 0.055269 10.725801 0.07518498 0.6904038
12 3 20/60 0.058178 11.884544 0.01333002 0.1224061
13 3 30/60 0.061087 13.10271 0.01054936 0.096872
14 3 40/60 0.063995 14.380299 0.14462701 1.3280717
15 3 45/60 0.06545 15.041376 0.001712 0.0157209
16 3 50/60 0.066904 15.71731 0.07991375 0.7338269
17 3 55/60 0.068359 16.408099 0.35034686 3.2171429
18 4 5/60 0.071268 17.834244 0.02747497 0.2522954
19 4 10/60 0.072722 18.5696 0.18524379 1.7010449
20 4 20/60 0.075631 20.08488 0.00720459 0.0661578
21 4 30/60 0.07854 21.659582 0.43504834 3.9949343
22 4 35/60 0.079994 22.469217 0.22016415 2.0217093
23 4 40/60 0.081449 23.293707 0.08626367 0.7921366
24 4 45/60 0.082903 24.133053 0.01770303 0.1625622
2.85468495 26.21382

Tabela B.2: Tabela de resultados da experiência de rotação da placa

61
N θ θ (rad) Naj (N-Naj)^2 χ^2
n= 1.4939391
1 1 5/60 0.018908 1.1543606 0.02382718 0.2187987
2 1 30/60 0.02618 2.2130936 0.04540888 0.4169778
3 1 50/60 0.031998 3.3059793 0.09362335 0.8597186
4 2 5/60 0.036361 4.2690849 0.07240667 0.6648914
5 2 20/60 0.040724 5.3551401 0.12612448 1.1581678
6 2 30/60 0.043633 6.1474822 0.02175101 0.1997338
7 2 45/60 0.047997 7.4384535 0.19224147 1.7653028
8 2 55/60 0.050905 8.3674064 0.13498744 1.2395541
9 3 5/60 0.053814 9.3510035 0.12320348 1.1313451
10 3 15/60 0.056723 10.389245 0.15151165 1.3912916
11 3 25/60 0.059632 11.482131 0.23245002 2.1345272
12 3 30/60 0.061087 12.049065 0.00240739 0.0221064
13 3 40/60 0.063995 13.223917 0.05013897 0.460413
14 3 50/60 0.066904 14.453414 0.20558406 1.8878242
15 3 55/60 0.068359 15.088654 0.00785946 0.0721714
16 4 5/60 0.071268 16.400116 0.16009321 1.4700937
17 4 10/60 0.072722 17.07634 0.00582772 0.0535145
18 4 15/60 0.074176 17.766224 0.05465138 0.5018492
19 4 20/60 0.075631 18.469769 0.28114508 2.5816812
20 4 30/60 0.07854 19.917842 0.00674987 0.0619822
21 4 35/60 0.079994 20.662371 0.11399345 1.0467718
22 4 40/60 0.081449 21.42056 0.33575035 3.083107
23 4 50/60 0.084358 22.977922 0.00048742 0.0044758
24 4 55/60 0.085812 23.777095 0.04968656 0.4562586
25 5 0.087266 24.589929 0.16815828 1.5441532
26 5 10/60 0.090175 26.25658 0.06583313 0.6045283
Σ= 2.72590197 25.031239

Tabela B.3: Tabela de resultados da experiência de rotação da placa

Estudo da variação do ı́ndice de refracção de um gás com


a pressão
A tabela que se representa a seguir, B.4, corresponde às medidas efectuadas para o es-
tudo da variação do ı́ndice de refracção do ar com a variação da pressão. N corresponde
ao número de franjas brilhantes ou escuras que passaram no centro do padrão enquanto
o ar na célula sofria a correspondente diferença de pressão ∆P . As restantes colunas
referem-se a cálculos acessórios da regressão linear e do teste de χ2 . Os valores em ro-
dapé referem-se aos resultados finais da regressão linear e ao ı́ndice de refracção do ar
à pressão atmosférica. O teste de χ2 foi calculado pela expressão B.1, onde neste caso
o erro estatı́stico para N foi estimado em 0.4, uma vez que ao manipular o manómetro
tornava-se mais difı́cil seguir o movimento das franjas. O resultado do teste de χ2 é

62
N ∆P (cm Hg) Naj (N-Naj)^2 ∆P^2 χ^2
0 0 -0,61555519 0,3789082 0 2,368176
2 6 1,518957218 0,23140216 36 1,446263
3 10 2,941965493 0,003368 100 0,02105
4 12 3,653469631 0,1200833 144 0,750521
5 16 5,076477906 0,00584887 256 0,036555
6 18 5,787982043 0,04495161 324 0,280948
7 22 7,210990319 0,04451691 484 0,278231
8 25 8,278246525 0,07742113 625 0,483882
9 28 9,345502731 0,11937214 784 0,746076
10 31 10,41275894 0,17036994 961 1,064812
11 33 11,12426308 0,01544131 1089 0,096508
12 36 12,19151928 0,03667964 1296 0,229248
13 39 13,25877549 0,06696475 1521 0,41853
14 42 14,32603169 0,10629667 1764 0,664354
15 45 15,3932879 0,15467537 2025 0,966721
16 48 16,46054411 0,21210087 2304 1,32563
17 50 17,17204824 0,0296006 2500 0,185004
18 54 18,59505652 0,35409226 2916 2,213077
19 56 19,30656066 0,09397944 3136 0,587371
20 58 20,0180648 0,00032634 3364 0,00204
21 60 20,72956893 0,07313296 3600 0,457081
22 62 21,44107307 0,31239931 3844 1,952496
23 64 22,15257721 0,71812539 4096 4,488284
24 67 23,21983341 0,6086599 4489 3,804124
Σ= 299 882 3,97871708 41658 24,86698
Declive/erro Orden./erro n(Patm)/erro
0,35575207 -0,61555519 1,000261244
0,00405103 0,165365567 4,98819E-06

Tabela B.4: Tabela de resultados da experiência de estudo da variação do ı́ndice de


refracção com a variação de pressão

de 24.8, o que, para 22 graus de liberdade, corresponde a um nı́vel de significância de


30%.

63
Apêndice C

Programa da disciplina de Óptica


Aplicada

64
o

65
o

66
o

67
Bibliografia

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69