Обозначение D 1003–13

СТАНДАРТНЫЕ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МУТНОСТИ И

КОЭФФИЦИЕНТА ПРОПУСКАНИЯ СВЕТА ПРОЗРАЧНЫХ
ПЛАСТМАСС

STANDARD TEST METHODS FOR HAZE AND LUMINOUS

TRANSMITTANCE OF TRANSPARENT PLASTICS

ЗАРЕГИСТРИРОВАНО

Федеральное агентство
по техническому регулированию и
метрологии (Росстандарт)

ФБУ «КВФ «ИНТЕРСТАНДАРТ»

Номер регистрации: 2426-14/ASTM

Дата регистрации: 15.08.2014

Москва
2014 год
 Данный перевод выполнен ФБУ «КВФ «Интерстандарт» Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии согласно лицензии Американского общества по
материалам и их испытаниям (ASTM International) 100 Ваrr Harbor Drive, West Conshohocken, PA
19428, USA. ASTM International не утверждает и не подтверждает эти переводы, и при любых
обстоятельствах в качестве оригинальной версии может рассматриваться только английская
версия со знаком копирайта ASTM International. Копирование указанных переводов какой-либо
Стороной, кроме ASTM International или ФБУ «КВФ «Интерстандарт», строго запрещено в
соответствии с законодательством США и международным авторским правом.

This translation is executed by FBU “CIC “Interstandard” of Federal Agency on Technical Regulating and
Metrology under the license of American Society for Testing and Materials (ASTM International) 100 Ваrr
Harbor Drive, West Conshohocken, PA 19428, USA. ASTM International does not approve and does not
confirm these translations and in any cases only the English version published with a sign of ASTM
International copyright can be considered as the original version. Reproduction of the specified
translations by any Party, except for ASTM International or FBU “CIC “Interstandard”, is strictly forbidden
according to the USA legislation and international copyright.

Федеральное бюджетное учреждение

Консультационно-внедренческая фирма в области
международной стандартизации и сертификации
ФБУ «КВФ «ИНТЕРСТАНДАРТ»
Ленинский проспект, д. 9,
Москва, В - 49, ГСП-1, 119991
Тел.: (499) 236-54-49
Факс: (499) 230-13-72
E-mail: interst@gost.ru
http://www.interstandart.ru/
 ASTM D 1003-13

Обозначение D 1003–13

Стандартные методы определения мутности и коэффициента

пропускания света прозрачных пластмасс1

Данный стандарт выпущен под постоянным обозначением D 1003; число,

непосредственно идущее после этого обозначения, указывает на год
первоначального принятия стандарта или, в случае его пересмотра, год
последнего пересмотра. Число в круглых скобках указывает год последнего
переутверждения. Надстрочный индекс  (эпсилон) указывает редакционные
изменения после последнего пересмотра или переутверждения.

Данный стандарт одобрен для использования агентствами Министерства

обороны США.
Данный метод испытаний заменяет Метод 3022 Федерального стандарта
на Метод испытаний 406.

1. Область применения*

1.1 Настоящий метод испытаний относится к определению

специфических свойств пропускания и широкоугольного рассеяния света для
плоских профилей таких материалов, как очень прозрачные пластмассы. Для
измерения коэффициента пропускания света (прозрачности) и мутности
предусмотрены две процедуры. В Процедуре А используется мутномер, как
описано в разделе 5, а в Процедуре В используется спектрофотометр, как
описано в разделе 8. Материал, имеющий значение мутности более 30%,
1
Данный метод испытаний находится в ведении Комитета ASTM D20 по пластмассам и в
непосредственной ответственности Подкомитета D20.40 по оптическим свойствам.
Настоящее издание утверждено 15 ноября 2013 г. Опубликовано в ноябре 2013 г. Первоначально стандарт
утвержден в 1949 г. Последнее предыдущее издание утверждено в 2011 г. как D1003-11ε1. DOI:10.1520/D1003-
13.

Краткое описание изменений приведено в конце текста данного стандарта

1
 ASTM D 1003-13

считается светорассеивающим, и его следует испытывать согласно Методике

Е 2387.
1.2 Значения, указанные в единицах СИ, должны рассматриваться как
стандартные.
ПРИМЕЧАНИЕ 1 ― Для большего различения материалов, которые рассеивают
высокий процент света в пределах узкого угла рассеяния вперед, таких как истертые
прозрачные пластмассы, настраивают мутномер и проводят измерение согласно Методу
испытаний D 1044.
1.3 Данный стандарт не претендует на полноту описания всех мер
безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Вся
ответственность за установление соответствующих правил техники
безопасности и мер по охране здоровья, а также определение пределов
применимости регламентов до начала использования данного стандарта,
лежит на пользователе стандарта.
ПРИМЕЧАНИЕ 2 ― Данный метод испытаний не являются технически
эквивалентным ISO 13468-1 и ISO/DIS 14782.

2. Ссылочные документы

2.1 Стандарты ASTM:2

D 618 Методика кондиционирования пластмасс для испытания
D 883 Терминология, относящаяся к пластмассам
D 1044 Метод определения стойкости прозрачных пластмасс к
поверхностному износу
Е 259 Методика приготовления эталонов сравнения из белого
прессованного порошка для калибровки коэффициента отражения,
используемого при полусферической и двунаправленной геометрии
распределения

2
Для поиска стандартов ASTM, на которые даны ссылки, посетите вебсайт ASTM www.astm.org или
свяжитесь со Службой заказов ASTM по адресу service@astm.org. В отношении информации о томе
Ежегодника стандартов ASTM см. страницу Document Summary на сайте ASTM.

2
 ASTM D 1003-13

Е 284 Терминология для внешнего вида

Е 691 Методика проведения межлабораторных исследований для
определения сходимости результатов испытаний
E 2387 Методика гониометрических измерений оптического рассеяния
2.2 Стандарты ISO:3
ISO 13468-1 Пластмассы — Определение общего коэффициента
пропускания светового потока прозрачными материалами
ISO/DIS 14782 Пластмассы — Определение мутности прозрачных
материалов

3. Терминология

3.1 Определения — Определения терминов, применяемых для данного

метода испытаний, приведены в Терминологиях D 883 и Е 284.
3.2 Определения терминов, специальных для данного стандарта:
3.2.1 мутность — при пропускании, рассеяние света образцом,
ответственное за уменьшение контраста объектов, наблюдаемых через него.
Процент пропущенного света, который рассеивается, так что его направление
отклоняется более чем на установленный угол от направления падающего луча.
3.2.1.1 Пояснение — В данном методе испытаний установленный угол
равен 0,044 рад (2,5°),
3.2.2 световой — взвешенный согласно функции спектральной световой
эффективности V() по CIE (1987).
3.2.3 коэффициент пропускания света (прозрачность) — отношение
светового потока, пропускаемого телом, к потоку, падающему на него.

3
Можно приобрести в Американском институте стандартов (ANSI), 25 W. 43rd St., 4th Floor, New York, NY
10036, http://www.ansi.org.

3
 ASTM D 1003-13

4. Значение и применение

4.1 Свет, который рассеивается при прохождении через пленку или лист
материала, может создавать мутную или дымчатую область, когда объекты
наблюдаются через этот материал. Другим эффектом может быть вуалирование
блеска, как это бывает на ветровом стекле автомобиля, когда он едет навстречу
солнцу.
4.2 Хотя измерения мутности обычно проводят с использованием
мутномера, можно использовать спектрофотометр, при условии что он
удовлетворяет геометрическим и спектральным требованиям раздела 5.
Использование спектрофотометра для измерения мутности пластмасс может
дать ценные диагностические данные о происхождении мутности4, и в
Процедуре В используется спектрофотометр.
4.2.1 Испытательные значения в Процедуре А (мутномер) обычно
несколько выше и менее изменчивы, чем испытательные значения в Процедуре
В (спектрофотометр).
4.3 Коэффициент регулярного пропускания света получают путем
помещения прозрачного образца на некотором расстоянии от входного
отверстия интегрирующей сферы (светомерный шар). Однако когда образец
мутный, полный коэффициент полусферического пропускания света должен
измеряться путем помещения образца у входного отверстия шара. Измеренный
полный коэффициент полусферического пропускания света будет больше, чем
коэффициент регулярного пропускания света в зависимости от оптических
свойств пробы. В данном методе испытаний образец обязательно помещают у
входного отверстия шара, чтобы измерить мутность и полный коэффициент
полусферического пропускания света.
4.4 Данные о мутности, характерные для испытуемого материала, могут
быть получены при избежании гетерогенной поверхности или внутренних

4
Billmeyer F.W., Jr., и Chen Y. "On the measurement of Haze," Color Research and Application, Vol 10, 1985, стр. 219-224.

4
 ASTM D 1003-13

дефектов, не типичных для этого материала.

4.5 Данные о мутности и прозрачности особенно полезны для контроля
качества и для технических условий.
4.6 Перед применением этих методов испытаний следует обратиться к
техническим условиям, установленным для испытуемого материала. Любые
данные для испытуемого образца касательно его приготовления,
кондиционирования, размеров, параметров испытаний или их комбинации,
включенные в установленные технические условия на эти материалы, должны
иметь приоритет над характеристиками, упомянутыми в данном методе
испытаний. Если технические условия на материал отсутствуют, то
применяются условия по умолчанию.

5. Испытуемые образцы

5.1 Отбор проб должен быть статистически обоснован, чтобы

гарантировать, что образцы были получены и произведены в результате
статистически контролируемого процесса. Образцы должны быть без дефектов,
не характерных для этого материала, если такие дефекты не являются
переменными, подлежащими изучению.
5.2 Вырезают образец для испытаний достаточного размера, чтобы
перекрыть входное отверстие интегрирующей сферы. Рекомендуется диск
диаметром 50 мм (2 дюйма) или квадрат со стороной такого же размера. В
основном образец должен иметь плоскопараллельные поверхности, свободные
от пыли, масел, царапин и физических дефектов, и также он должен быть без
явных пор и частиц, если специально не требуется измерить влияние этих
дефектов на мутность.
5.3 Готовят три образца для испытания каждой пробы данного материала,
если иное не установлено в технических условиях на данный материал.
ПРИМЕЧАНИЕ 3 ― Тип образца и приготовление могут влиять на фактическую
мутность испытуемого материала.

5
 ASTM D 1003-13

6. Кондиционирование

6.1 Кондиционирование — Если нет иных требований в соответствующих

технических условиях на материал или в соглашениях между покупателем и
поставщиком, то испытуемые образцы кондиционируют при 23 ± 2ºС
(73,4 ± 3,6ºF) и относительной влажности 50 ± 10% в течение не менее 40 ч до
испытания согласно Процедуре А Методики D 618. В случае расхождений
допуски для температуры должны быть ±1ºС (1,8ºF) и для относительной
влажности ± 5%.
6.2 Условия испытаний— Испытательную аппаратуру устанавливают в
среде, поддерживаемой при 23 ± 2ºС (73,4 ± 3,6ºF) и при относительной
влажности 50 ± 10%.

7 Процедура А — Мутномер

7.1 Аппаратура:
7.1.1 Прибор, используемый для измерения, должен удовлетворять
геометрическим и спектральным требованиям данного раздела.5,6
7.1.2 Поставляют источник света и фотодетектор, и их комбинацию
отфильтровывают таким образом, чтобы светоотдача соответствовала
спектральной чувствительности стандартного колориметрического
наблюдателя 1931 CIE со стандартным источником света CIE С или,
альтернативно, источником А. Световая отдача должна быть пропорциональна
с точностью до 1% падающему потоку в диапазоне используемого потока.
Фотометрическая стабильность для источника и детектора должна быть
постоянной на протяжении всего испытания каждого образца.

5
Единственным поставщиком мутномера, известным комитету на данный момент является BYK-Gardner
USA 9104 Guilford Road Columbia, MD 21046
6
Если вам известны альтернативные поставщики, просим предоставить информацию о них в штаб-
квартиру ASTM International. Ваши предложения будут внимательно рассмотрены на заседании ответственного
технического комитета1, на котором вы можете присутствовать.

6
 ASTM D 1003-13

7.1.3 Используют светомерный шар для сбора пропускаемого потока; шар

может быть любого диаметра, но полная площадь отверстий не должна
превышать 4,0% внутренней отражающей поверхности сферы. Входное и
выходное отверстия должны быть центрированы по одному и тому же
большому кругу шара, и между центрами должно быть как минимум 2,97 рад
(170º) дуги. Выходное отверстие должно образовывать с центром входного
отверстия угол 0,14 рад (8º). При использовании световой ловушки, без
образца, ось светового пучка должна проходить через центры входного и
выходного отверстий. При использовании мутномера помещают фотоэлемент
или фотоэлементы на шар с расстоянием 1,57 ± 0,17 рад (90 ± 10º) от входного
отверстия и перекрывают его от непосредственного воздействия света на
входное отверстие. Во вращаемой модификации, где внутренняя стенка,
смежная с выходным отверстием, используется как эталон коэффициента
отражения, угол вращения сферы должен быть 0,140 ± 0,008 рад (8,0 ± 0,5º).
7.1.4 Освещают образец строго однонаправленным пучком;
максимальный угол, на который любой луч этого пучка может отклоняться от
оси пучка, не должен превышать 0,05 рад (3º). Этот пучок не должен
виньетироваться ни в каком отверстии сферы.
7.1.5 Когда образец помещают против входного отверстия светомерного
шара, угол между перпендикуляром к образцу и линией, соединяющей центры
входного и выходного отверстий, не должен превышать 0,14 рад (8º).
7.1.6 Когда пучку не препятствует образец, поперечное сечение пучка в
выходном отверстии должно быть приблизительно круглым, четко
определенным и концентрическим в пределах выходного отверстия, оставляя
круговой зазор 0,023 ± 0,002 рад (1,3 ± 0,1º) между пучком и краем входного
отверстия.
ПРИМЕЧАНИЕ 4 ― Важно удостовериться, что диаметр беспрепятственного пучка и
центрирование в выходном отверстии соблюдаются, особенно если апертура источника и
фокус изменены.

7
 ASTM D 1003-13

ПРИМЕЧАНИЕ 5 ― Допуск, заявленный на кольцевой зазор 0,002 рад (0,1º)

соответствует погрешности ±0,6% в показаниях мутности.7 Это соответствует оценке
сходимости и систематической погрешности данного метода испытаний.
7.1.7 Внутренние поверхности светомерного шара, перегородки и эталон
коэффициента отражения, если используется, должны иметь одинаковый
коэффициент отражения, матовую поверхность и высокое отражение в
пределах видимого спектра.8
7.1.8 Должна быть обеспечена световая ловушка, которая будет
полностью поглощать пучок в отсутствие образца, или же конструкция прибора
должна исключать необходимость в световой ловушке.
7.1.9 Схематическое изображение оптических элементов мутномера с
однонаправленным освещением и наблюдением в рассеянном пучке
представлено на рис. 1.

Рис. 1. Схематическое изображение мутномера

7.1.10 Комплект калиброванных эталонов мутности требуется для

периодической поверки точности спектральной чувствительности приборов.
Идеально, чтобы для измерения образцов узкоугольного рассеяния (таких как

7
Weidner V.R. и Hsia J.J. “NBS Reference Hazemeter: Its Development and Testing”, Applied Optics, том 18,
1979, стр. 1619-1626.
8
Матовая краска сульфата бария с высоким коэффициентом отражения или прессованный порошок
политетрафторэтилена отлично подходят для этой цели. См. Методику Е 259.

8
 ASTM D 1003-13

пластмассовые пленки) применялись стеклянные эталоны узкоугольного

рассеяния5,7 однако не известно, имеются ли они в коммерческом
использовании. За их отсутствием можно использовать широкоугольные
эталоны9,6, но они менее чувствительны к размеру и центрированию кольцевого
зазора, описанным в работах Billmeyer и Chen4 и Weidner и Hsia8, и особое
внимание следует обратить на прим. 1, когда используются только
пластмассовые эталоны мутности.
7.2 Процедура:
7.2.1 Определяют следующие четыре показания:
Обозначение Присутствие Присутствие Присутствие эталона Представленные
показания образца световой коэффициента параметры
ловушки отражения
Т1 нет нет да падающий свет
Т2 да нет да полный свет,
пропущенный
образцом
Т3 нет да нет свет, рассеянный
прибором
Т4 да да нет свет, рассеянный
прибором и
образцом

7.2.2 Повторяют считывание показаний для Т1, Т2, Т3 и Т4 с

дополнительно установленными положениями образца для определения
единообразия.
7.3 Вычисление10:
7.3.1 Вычисляют полный коэффициент пропускания, Tt (прим. 6), равный
Т2/Т1.
7.3.2 Вычисляют коэффициент рассеянного пропускания, Td (прим. 6),
следующим образом:

Td = [Т4 – Т3 (Т2 / Т1)]/T1 (1)

7.3.3 Определяют мутность в процентах следующим образом:

9
Единственным поставщиком калиброванных пластмассовых эталонов мутности, известным комитету на
данный момент является BYK-Gardner USA 9104 Guilford Road Columbia, MD 21046.
10
Вывод формул см. в Приложении Х1.

9
 ASTM D 1003-13

мутность = Тd / Tt × 100 (2)

ПРИМЕЧАНИЕ 6 ― Чтобы получить наибольшую точность в измерении
коэффициента пропускания при использовании однолучевого прибора, необходимо
использовать эталон, калиброванный двухлучевым прибором, потому что введение образца в
однолучевой прибор изменяет эффективность светомерного шара. Результатом этого
изменения могут быть ложно высокие показания для прозрачных бесцветных образцов и
значительные ошибки для темных или сильно насыщенных красок. В этих случаях следует
использовать фотометр как поверочный прибор с эталоном известного коэффициента
пропускания, аналогичного коэффициенту пропускания образца. Для наибольшей точности
измерения коэффициента пропускания сравнивают прозрачность образца с прозрачностью
калиброванного эталона аналогичного коэффициента пропускания.
7.4 Протокол:
7.4.1 Указываются следующие данные:
7.4.1.1 Источник и идентичность образца,
7.4.1.2 Номинальная толщина образца с точностью до 0,0025 мм или
выше для образцов толщиной менее 0,25 мм и с точностью до 0,025 мм или
выше для образцов толщиной более 0,25 мм.
7.4.1.3 Полный коэффициент пропускания света, Тt, с точностью до 0,1%
(при представлении средних значений включают в отчет среднее значение и
указывают, использовался ли стандартный источник света CIE C или А),
7.4.1.4 Коэффициент рассеянного пропускания, Td, с точностью до 0,1%
(при представлении средних значений включают в отчет среднее значение), и
7.4.1.5 Процент мутности с точностью до 0,1% (при представлении
средних значений включают в отчет среднее значение).
7.5 Сходимость и систематическая погрешность — Мутномер:
7.5.1 Сходимость11:
7.5.1.1 Табл. 1 и 2 основаны на круговом сличении, проведенном в 1985 г.
согласно Методике Е 691, в котором использовались шесть пленочных

11
Соответствующие данные имеются в штаб-квартире ASTM International и могут быть получены путем
запроса исследовательского отчета RR:D20-1180.

10
 ASTM D 1003-13

материалов, испытываемых в 11 лабораториях. В этом круговом сличении

каждая лаборатория, которая определяла какое-либо свойство, проводила
восемь параллельных измерений этого свойства для каждого из шести
материалов, указанных в пунктах 1 - 6 в табл. 1 и 2.

Таблица 1. Результаты кругового сличения полной мутности по Процедуре

А (Мутномер) 1985 г., включающего одиннадцать лабораторий
Материал Среднее значение S(r) S(R) r R
3 3,8 0,10 0,33 0,28 0,94
1 8,7 0,18 0,42 0,50 1,18
2 13,5 0,08 0,40 0,23 1,12
4 18,0 0,27 0,61 0,76 1,72
5 21,0 0,41 1,68 1,16 4,74
6 26,5 0,35 1,13 0,98 3,19

Таблица 2. Результаты кругового сличения коэффициента пропускания

света по Процедуре А (Мутномер) 1985 г., включающего одиннадцать
лабораторий
Материал Среднее значение S(r) S(R) r R
2 83,6 0,25 1,21 0,69 3,42
4 84,8 0,15 1,06 0,42 3,02
1 86,4 0,08 1,08 0,22 3,06
3 87,5 0,20 1,07 0,57 3,02
6 88,5 0,14 2,10 0,38 5,93
5 88,6 0,35 2,23 0,99 6,32

7.5.1.2 Табл. 3 основана на круговом сличении, проведенном в 1991 г.,

включающем восемь материалов и шесть лабораторий. Эту таблицу можно
непосредственно сравнивать с табл. 4 (Спектрофотометр). (Предупреждение —
Следующие пояснения r и R (7.5.1.3-7.5.1.7) предназначены только для
представления существенного способа, чтобы рассматривать приближенную
сходимость этого метода испытаний. Данные в табл. 1 - 3 не должны строго
применяться к приемке или отбраковке материала, так как эти данные
характерны для кругового сличения и не могут представлять другие партии,
условия, материалы или лаборатории. Пользователям данного метода

11
 ASTM D 1003-13

испытаний следует руководствоваться принципами, указанными в Методике

Е 691, чтобы получить данные, специфические для их лаборатории и
материалов или между конкретными лабораториями. Принципы 7.5.1.3-7.5.1.7
будут тогда действительны для таких данных.)

Таблица 3. Результаты кругового сличения полной мутности по Процедуре

А (Мутномер) 1991 г., включающего шесть лабораторий
Материал Среднее значение S(r)A S(R)B rC RD
LDPE
A 0,58 0,031 1,133 0,086 0,372
B 1,89 0,029 0,216 0,080 0,604
C 2,08 0,021 0,200 0,058 0,568
PET
D 2,69 0,042 0,313 0,117 0,075
E 5,74 0,031 0,395 0,086 1,106
F 8,06 0,049 0,566 0,137 1,584
G 12,68 0,050 0,490 0,140 1,372
H 28,57 0,091 1,042 0,256 2,9918

Таблица 4. Результаты кругового сличения полной мутности по Процедуре

В (Спектрофотометр) 1991 г., включающего семь лабораторий
Материал Среднее значение S(r)A S(R)B rC RD
LDPE
A 0,55 0,076 0,186 0,213 0,522
B 1,77 0,087 0,658 0,244 1,019
C 1,01 0,042 0,397 0,175 1,112
PET
D 2,51 0,115 0,331 0,323 0,927
E 5,05 0,081 0,596 0,227 1,669
F 6,55 0,189 1,138 0,305 3,186
G 11,35 0,137 1,289 0,385 3,610
H 25,45 0,158 3,020 0,443 8,455
А
Sr - внутрилабораторное стандартное отклонение для указанного материала. Оно получено путем объединения
внутрилабораторных отклонений результатов испытаний во всех участвующих лабораториях:
Sr = [[(s1)2 + (s2)2 … + (sn)2]/n]1/2
B
SR - межлабораторная воспроизводимость, выраженная как стандартное отклонение:
SR = [sr2 + sL 2]1/2
где sL = стандартное отклонение лабораторных средних значений.
С
r - внутрилабораторный критический интервал между двумя результатами испытаний = 2,8 × Sr.
D
R - межлабораторный критический интервал между двумя результатами испытаний = 2,8 × SR..

12
 ASTM D 1003-13

7.5.1.3 В целях сведения итоговых статистических данных результат

испытаний определялся как среднее для трех параллельных измерений свойства
материала в лаборатории согласно методу данного испытания. Итоговые
статистические данные приведены в табл. 1 - 3. В каждой таблице для
указанного материала S(r) – объединенное внутрилабораторное стандартное
отклонение результата испытаний, S(R) – межлабораторное стандартное
отклонение результата испытаний, r = 2,83 × S(r) (см. 7.5.1.4), и R = 2,83 × S(R)
(см. 7.5.1.5).
7.5.1.4 Повторяемость — Два результата испытаний, полученные в
одной лаборатории, не должны считаться эквивалентными, если они
различаются более чем на значение «r» для этого материала. «r» – интервал,
представляющий критическую разность между двумя результатами испытаний
для одного и того же материала, полученными одним и тем же оператором с
использованием одного и того же оборудования в один и тот же день в одной и
той же лаборатории.
7.5.1.5 Воспроизводимость — Два результата испытаний, полученные в
разных лабораториях, не должны считаться эквивалентными, если они
различаются более чем на значение «R» для этого материала. «R» – интервал,
представляющий критическую разность между двумя результатами испытаний
для одного и того же материала, полученными разными операторами с
использованием разного оборудования в разных лабораториях.
7.5.1.6 Сделанные выводы, описанные в 7.5.1.3 и 7.5.1.4, будут
правильные приблизительно в 95% таких сличений.
7.5.1.7 Для дальнейшей информации см. Методику Е 691.
7.5.2 Систематическая погрешность — Погрешности измерений не
могут быть определены, поскольку нет принятых эталонных методов для
определения этих свойств.

13
 ASTM D 1003-13

8. Процедура В (Спектрофотометр)

8.1 Аппаратура:
8.1.1 Прибор, используемый для измерения, должен удовлетворять
геометрическим и спектральным требованиям данного раздела.
8.1.2 Прибор должен обеспечить вычисление из спектральных данных
трех основных цветов CIE 1931 и связанных цветовых координат для
стандартного источника света CIE С или альтернативного А.
8.1.3 В приборе должна использоваться полусферическая оптическая
измерительная система с интегрирующей сферой (светомерный шар), в
которую можно поместить образец впритык к отверстию. Внутренние
поверхности светомерного шара, перегородки и эталоны коэффициента
отражения должны быть матовые.
8.1.4 Можно использовать две геометрические конфигурации:
однонаправленное освещение с наблюдением в рассеянном пучке и рассеянное
освещение с наблюдением в однонаправленном пучке. Используя рассеянное
освещение с наблюдением в однонаправленном пучке выполняют следующее:
8.1.4.1 Используют светомерный шар для рассеянного освещения
образца; шар может быть любого диаметра, но полная площадь отверстий не
должна превышать 4,0% внутренней отражающей поверхности сферы.
Отверстия шара для образца и световой ловушки должны быть центрированы
по одному и тому же большому кругу шара, и между центрами должно быть
как минимум 2,97 рад (170º) дуги. Отверстие для световой ловушки должно
образовывать угол 0,14 рад (8º) с центром отверстия для образца вдоль
светового пучка. В присутствии световой ловушки, без образца, ось светового
пучка наблюдения должна проходить через центры отверстий для образца и
световой ловушки.
8.1.4.2 Образец наблюдают вдоль оси, определяемой строго
однонаправленным пучком; максимальный угол, который любой луч этого

14
 ASTM D 1003-13

пучка может образовать с пучком, не должен превышать 0,05 рад (3º). Этот
пучок не должен виньетироваться ни в каком отверстии шара.
8.1.4.3 В присутствии образца угол между нормалью к образцу и линией,
соединяющей центры отверстий для образца и световой ловушки, не должен
превышать 0,14 рад (8º).
8.1.4.4 В отсутствие образца наблюдаемая область выходного отверстия
должна быть приблизительно круглой, четко очерченной и концентрической в
пределах отверстия для световой ловушки, оставляя круговой зазор
0,023 ± 0,002 рад (1,3 ± 0,1º) между пучком и краем входного отверстия.
ПРИМЕЧАНИЕ 7 ― Применяются прим. 4 и 5. Следует отметить, что удовлетворить
это требование может быть трудно, но важно.
8.1.5 Должна быть обеспечена световая ловушка, которая будет
полностью поглощать пучок в отсутствие образца, или же конструкция прибора
должна исключать необходимость в световой ловушке.
8.1.6 Схематическое изображение спектрофотометра с однонаправленным
освещением и наблюдением в рассеянном пучке представлено на рис. 2.
ПРИМЕЧАНИЕ 8 ― Настоятельно рекомендуется, чтобы соответствие цели этого
метода испытаний подтверждалось использованием правильно калиброванных эталонов
мутности из-за трудности подтверждения соответствия этому методу испытаний при
использовании бурового спектрофотометра.
8.2 Процедура — Измерение мутности проводят согласно инструкциям
изготовителя, а в случае их отсутствия согласно разделу 7.
8.3 Вычисление — Большинство спектрофотометров оснащены
компьютерами, и значения для прозрачности и мутности вычисляются
автоматически. Если этого нет, нужно использовать метод вычисления из
раздела 9.
8.4 Протокол:
8.4.1 Указываются следующие данные:
8.4.1.1 Источник и идентичность образца,

15
 ASTM D 1003-13

8.4.1.2 Номинальная толщина образца с точностью до 0,0025 мм или

выше для образцов толщиной менее 0,25 мм и с точностью до 0,025 мм или
выше для образцов толщиной более 0,25 мм.

Рис. 2. Спектрофотометр с рассеянным освещением

8.4.1.3 Процент мутности с точностью до 0,1% (при представлении

средних показаний включают в протокол среднее значение),
8.4.1.4 Полный коэффициент пропускания света, Тt, с точностью до 0,1%
(при представлении средних показаний включают в протокол среднее значение
и указывают, использовался ли стандартный источник света CIE C или А), и
8.4.1.5 Коэффициент рассеянного пропускания, Td, с точностью до 0,1%
(при представлении средних показаний включают в протокол среднее
значение), когда есть специальный запрос.
8.5 Сходимость и систематическая погрешность11:
8.5.1 Сходимость:
8.5.1.1 Данные сходимости в табл. 4 основаны на круговом сличении,
проведенном в 1991 г., включающем восемь материалов и семь лабораторий. В
целях сличения одни и те же материалы измеряли с использованием шести
нормальных мутномеров во время одного и того же кругового испытания.
Данные из кругового испытания с использованием регулярного мутномера
включены в табл. 3. (Предупреждение — Следующие пояснения r и R (8.5.1.2-
8.5.1.6) предназначены только для представления существенного способа

16
 ASTM D 1003-13

рассмотрения приближенной сходимости данного метода испытаний. Данные в

табл. 1 - 4 не должны строго применяться к приемке или отбраковке материала,
так как эти данные характерны для кругового сличения и не могут представлять
другие партии, условия, материалы или лаборатории. Пользователям данного
метода испытаний следует руководствоваться принципами, указанными в
Методике Е 691, чтобы получить данные, специфические для их лаборатории и
материалов или между конкретными лабораториями. Принципы 8.5.1.2-8.5.1.6
будут тогда действительны для таких данных).
8.5.1.2 В целях сведения итоговых статистических данных результат
испытаний определялся как среднее для трех параллельных измерений свойства
материала в лаборатории согласно данному методу испытаний. Итоговые
статистические данные приведены в табл. 4. В каждой таблице для указанного
материала S(r) – объединенное внутрилабораторное стандартное отклонение
результата испытаний, S(R) – межлабораторное стандартное отклонение
результата испытаний, r = 2,83 × S(r) (см. 8.5.1.3), и R = 2,83 × S(R) (см. 8.5.1.4).
8.5.1.3 Повторяемость — При сличении двух средних значений для
одного и того же материала, полученных одним и тем же оператором с
использованием одного и того же оборудования в один и тот же день, эти
средние значения не должны считаться эквивалентными, если они различаются
более чем на значение «r» для этого материала.
8.5.1.4 Воспроизводимость — При сличении двух средних значений для
одного и того же материала, полученных разными операторами с
использованием разного оборудования в разные дни в одной и той же
лаборатории или в разных лабораториях, эти средние значения не должны
считаться эквивалентными, если они различаются более чем на значение «R»
для этого материала.
8.5.1.5 Сделанные выводы, описанные в 8.5.1.3 и 8.5.1.4, будут
правильные приблизительно в 95% таких сличений.
8.5.1.6 Для дальнейшей информации см. Методику Е 691.

17
 ASTM D 1003-13

8.5.2 Систематическая погрешность — Погрешности измерений не

могут быть определены, поскольку нет принятых эталонных методов для
определения этих свойств.

9. Контрольная процедура

9.1 В спорных случаях Процедура А (Мутномер) будет являться

контрольной процедурой, в которой измерение проводится по эталонному
мутномеру.

10. Ключевые слова

10.1 мутность; коэффициент пропускания света; регулярный

коэффициент пропускания; прозрачные пластмассы

ПРИЛОЖЕНИЯ
(Необязательная информация)

Х1. ВЫВОД ФОРМУЛ ДЛЯ МУТНОСТИ

Х1.1 Вывод формул для мутности в обеих процедурах состоит в

следующем:
Х1.1.1 Полный коэффициент пропускания света, Tt, вычисляют по
формуле:
Tt = T2/T1 (Х1.1)
где:
T2 - полный коэффициент пропускания света образцом, и
T1 - падающий свет.
Х1.1.2 Если Т3, свет, рассеянный прибором, равен нулю, то коэффициент
рассеянного пропускания, Тd, вычисляют по формуле:
Td = T4/T1 (Х1.2)

18
 ASTM D 1003-13

где:
T4 - свет, рассеянный прибором и образцом.
Х.1.1.3 Если Т3 больше нуля из-за света, рассеянного прибором, то
полный рассеянный свет, T4, будет больше света, рассеянного образцом, на
величину, пропорциональную Т3 и равную произведению Т3 на T2/Ti.
Исправленная величина света, рассеянного образцом, будет тогда следующая:
T4 – Т3(T2/T1) (Х1.3)
Х.1.1.4 Коэффициент рассеянного пропускания, Td, тогда вычисляют по
формуле:
Td = [T4 – Т3(T2/T1)]/T1 (Х1.4)
Х1.1.5 Процент мутности тогда вычисляют из отношения, Td, к полному
коэффициенту рассеяния, Тt, следующим образом:
мутность, % = (Тd/Tt) × 100 (X1.5)
=[(T4 – T3(T2/T1)]/T1 ÷(T2/T1)] × 100
=[(T4 – T3(T2/T1)]/T2 × 100
= [(T4/T2) – (T3/T1)] × 100

Х2. АЛЬТЕРНАТИВНАЯ (УКОРОЧЕННАЯ) ПРОЦЕДУРА

ИЗМЕРЕНИЯ МУТНОСТИ

Х2.1 Многие коммерческие мутномеры имеют системы индикации и

средство установки на нуль для света, рассеянного прибором, и на 100 для
полного коэффициента пропускания света образцом. Для этих приборов можно
использовать укороченный метод определения мутности, состоящий в
следующем.
ПРИМЕЧАНИЕ Х2.1 ― Эта укороченная процедура может давать ошибочные
значения для образцов с высоким поглощением или для образцов, измеряемых в
диафрагмированном режиме (как для определения мутности при истирании Tabor). Для
таких образцов рассеянный свет прибора не может быть правильно объяснен. В таких
случаях рекомендуется проводить сличение стандартной процедуры и укороченной

19
 ASTM D 1003-13

процедуры с использованием типичных образцов. При любом расхождении правильными

следует считать значения, полученные при стандартной процедуре.
Х2.1.1 При установке мутномера для измерения полного коэффициента
пропускания настраивают прибор на показание 100,0.
Х2.1.1 При установке мутномера для измерения света, рассеянного
прибором, настраивают прибор на показание 0,0.
Х2.1.3 При установке мутномера для измерения полного коэффициента
пропускания помещают испытуемый образец против входного отверстия
светомерного шара.
Х2.1.4 Устанавливают прибор для измерения света, рассеянного
образцом, и записывают показания как процент мутности.

КРАТКОЕ ОПИСАНИЕ ИЗМЕНЕНИЙ

Комитет D20 определил местоположение выбранных изменений к настоящему

стандарту с момента последнего издания (D 1003-11ε1), которые могут повлиять
на применение данного стандарта. (15 ноября 2013 г.)

(1) Добавлено прим. 3.

(2) Перенумерованы последующие примечания.

20
 ASTM D 1003-13

ASTM International не занимает никакой позиции относительно действенности

каких-либо патентных прав, заявленных в связи с любым пунктом данного стандарта.
Хотим решительно уведомить пользователей данного стандарта, что ответственность
за проверку правильности любых таких патентных прав и риск нарушения таких прав
лежит полностью на них.

Этот стандарт подлежит пересмотру в любое время ответственным техническим

комитетом и должен пересматриваться каждые пять лет, а если не пересматривается,
то должен быть повторно одобрен или отменен. Ваши предложения по пересмотру
данного стандарта или по разработке дополнительных стандартов присылайте в штаб-
квартиру ASTM International. Ваши предложения внимательно изучат на заседании
соответствующего технического комитета, которое Вы можете посетить. Если Вы
чувствуете, что Ваши комментарии не нашли должного понимания, сообщите об этом в
Комитет по стандартам по адресу, указанному ниже.

Авторские права на данный стандарт принадлежат ASTM International, 100 Barr

Harbor Drive, West Conshohocken, PA 19428. Отдельные копии данного стандарта можно
получить по вышеуказанному адресу или по телефону 610-832-9585, факсу 610-832-9555 или
по адресу E-mail: service@astm.org или на сайте ASTM: (www.astm.org). Права на
фотокопирование стандарта также защищены на сайте ASTM
(www.astm.org/COPYRIGHT/).

21