STM

El microscopio de efecto tnel (STM) es un tipo de microscopio electrnico que muestra imgenes en tres dimensiones de una muestra. En el STM, la estructura de una superficie se estudia mediante un lpiz ptico que escanea la superficie a una distancia fija de la misma. Es un poderoso instrumento para las superficies de proyeccin de imagen a nivel atmico. Su desarrollo en 1981 gan sus inventores, Gerd Binning y Heinrich Rohrer (en IBM Zurich), el Premio Nobel de Fsica en 1986. Para un STM, buena resolucin se considera que 0,1 nm de resolucin lateral y 0,01 nm resolucin de profundidad. [3] Con esta resolucin, los tomos individuales dentro de los materiales son rutinariamente fotografiado y manipulada. El STM se pueden utilizar no slo en ultra alto vaco, sino tambin en el aire, el agua y otros lquidos diferentes ambientes o de gas, y en temperaturas que van desde cerca de cero grados Kelvin a unos pocos cientos de grados Celsius. Este sistema basa su funcionamiento en un efecto cuntico, denominado efecto tnel, que se da en distancias menores a la milmillonsima parte de un metro (10-9m = 1 nm, un nanmetro). El control de este tipo de fenmeno es lo que nos permite hacer topografa de superficies a nivel atmico. En mecnica cuntica, el efecto tnel es un fenmeno nanoscpico por el que una partcula viola los principios de la mecnica clsica penetrando una barrera potencial o impedancia mayor que la energa cintica de la propia partcula. Una barrera, en trminos cunticos aplicados al efecto tnel, se trata de una cualidad del estado energtico de la materia anlogo a una "colina" o pendiente clsica, compuesta por crestas y flancos alternos, que sugiere que el camino ms corto de un mvil entre dos o ms flancos debe atravesar su correspondiente cresta intermedia si dicho objeto no dispone de energa mecnica suficiente como para imponerse con la salvedad de atravesarlo. El diagrama compara el efecto de tnel con el movimiento clsico de un objeto. Por analoga con la gravedad, el objeto tiende a desplazarse en direccin al centro de la tierra. Clsicamente, para alcanzar el estado mnimo, debe proveerle con energa adicional. Bajo la ley de la mecnica cuntica, sin embargo, el objeto puede ocasionalmente "atravesar" el estado energtico representado por las dos pendientes y la cresta hasta lograr un estado de mnimo de potencial energtico. Desde el punto de vista de la mecnica clsica un electrn no puede superar una barrera de potencial superior a su energa. Sin embargo, segn la mecnica cuntica, los electrones no estn definidos por una posicin precisa, sino por una nube de probabilidad. Esto provoca que en ciertos sistemas esta nube de probabilidad se extienda hasta el otro lado de una barrera de potencial. Por tanto el electrn puede atravesar la barrera, y generar una intensidad elctrica. Esta intensidad se denomina intensidad de tnel y es el parmetro de control que nos permite realizar la topografa de superficie

La instalacin consiste en un circuito elctrico en el que estn incluidos la muestra y la punta de medida. Como se ha apuntado anteriormente, el parmetro de medida es la intensidad de corriente tnel. Esta intensidad apenas alcanza los nanoamperios y, adems, es muy sensible tanto a la distancia, como a la diferencia de tensin entre la punta y la muestra. Debido a esta sensibilidad todo el sistema debe estar controlado electrnicamente. As, la toma de medidas y los movimientos de la punta son controlados por el usuario, a travs de las interfases correspondientes, por ejemplo: mediante un PC de sobremesa. La punta no toca la muestra, sino que se queda a una distancia equivalente a un par de tomos de la superficie. El PC registra la trayectoria de la punta y entonces se puede desplegar la informacin como una imagen en escala de grises a manera de mapa de densidades o mapa topogrfico. A la imagen se le puede agregar color slo para mejorar el contraste y as observar mejor los cambios detectados.

AFM
El microscopio atmico de fuerzas (AFM) permite la obtencin de imgenes tridimensionales de la superficie de muestras tanto conductoras como aislantes sin ninguna preparacin especial de las muestras. Adems es un instrumento mecano-ptico capaz de detectar fuerzas del orden de los nanonewton. Al analizar una muestra, es capaz de registrar continuamente la altura sobre la superficie de una sonda o punta cristalina de forma piramidal. La sonda va acoplada a un listn microscpico, muy sensible al efecto de las fuerzas, de slo unos 200 m de longitud. La fuerza atmica se puede detectar cuando la punta se aproxima a la superficie de la muestra. Se registra la pequea flexin del listn mediante un haz lser reflejado en su parte posterior. Un sistema auxiliar piezoelctrico desplaza la muestra tridimensionalmente, mientras que la punta recorre ordenadamente la superficie. Todos los movimientos son controlados por una computadora. La resolucin del instrumento es de menos de 1 nm, y la pantalla de visualizacin permite distinguir detalles en la superficie de la muestra con una amplificacin de varios millones de veces. En mayo de 2003 se utiliz la punta de una aguja de un Microscopio de Fuerza Atmica para levantar un tomo de una superficie y reemplazarlo por otro. Es el primer experimento donde se han manipulado tomos individuales usando un mtodo puramente mecnico, en vez de uno que involucre corriente elctrica. El Microscopio de Fuerza Atmica provee la imagen de una superficie sin que intervegan los efectos elctricos, al medir las fuerzas mecnicas en la punta detectora. El microscopio de MFA, puede realizar dos tipos de medidas: imagen y fuerza. En la modalidad de imagen, la superficie es barrida en el plano de la superficie por la punta. Durante el barrido la fuerza interatmica entre los tomos de la punta y los tomos en la superficie de la muestra, provoca una flexin del listn. Esta flexin es registrada por un sensor adecuado (normalmente balanza ptica) y la seal obtenida se introduce en un circuito o lazo de realimentacin. La fuerza interatmica se puede detectar cuando la punta est muy prxima a la superficie de la muestra. En medidas de fuerza la punta se hace oscilar verticalmente mientras se registra la flexin del listn. Las medidas de fuerza son tiles en estudios de fuerzas de adhesin y permiten estudiar a nivel de una sola molcula interacciones especficas entre molculas o interacciones estructurales de las biomolculas (plegado de protenas) as como caracterizar la elasticidad de polmeros. Tambin es til en estudios de indentacin de materiales blandos (polmeros) que permitan caracterizar propiedades elsticas de la muestra como el mdulo de elasticidad o visco elsticas.

El microscopio puede trabajar en los siguientes modos: MODO DE CONTACTO : Este modo de barrido requiere retroalimentacin, de manera que la repulsin entre el listn y la muestra permanece constante. De la intensidad de la retro-alimentacin se mide la altura. Este es el modo ms comn de barrido. MODO DE ALTURA CONSTANTE : En este modo de barrido la altura del cantilever se mantiene constante durante el barrido. Se mide la flexin del listn. Al no haber retroalimentacin, es posible barrer a alta velocidad. MODO SIN CONTACTO : Este modo de barrido requiere retroalimentacin, y la atraccin entre la muestra y el listn (que vibra cerca del punto de resonancia) permanece constante. De la intensidad de la retro-alimentacin se mide la altura. La resolucin es un poco menor debido a la distancia entre el listn y la muestra. MODO DINAMICO : Este modo provee retroalimentacin, en tanto que la repulsin entre la muestra y el cantilever (que vibra cerca del punto de resonancia) permanece constante. De la intensidad de la retroalimentacin se mide la altura. Dado que hay poco "rozamiento" de la superficie, este modo es ideal para muestras que se mueven con facilidad.

REFERENCIAS http://www.itg.uiuc.edu/ms/equipment/microscopes/afm.htm http://www.fisica.uh.cu/bibvirtual/vida%20y%20tierra/microscopiofuerza%20atomica/ index.htm es.wikipedia.org/.../Microscopio_de_fuerza_atmica http://ina.unizar.es/equipos/microscopioSTM.htm www.nist.gov/physlab/general/stm/index.cfm nobelprize.org/educational/.../microscopes/scanning/index.html www.physnet.uni-hamburg.de/home/vms/.../stm.htm