Preparacin de Muestras Una vez obtenidas las 14 muestras se procedi a triturarlas empleando un molino de bolas en el cual se depositaron las

muestras para que sean molidas en aproximadamente 30 minutos a una velocidad de 55 RPM empleando un variador de frecuencia. Luego se guardaron las muestras molidas en fundas hermticas de plstico con cierre para despus ser almacenadas y ser utilizadas en los anlisis de caracterizacin.

FOTO 2.1 PREPARACIN DE LAS CATORCE MUESTRAS DE ARCILLA PARA LA REALIZACIN DE SUS RESPECTIVOS ANLISIS

Para determinar las fracciones granulomtricas encontradas en las muestras se utilizaron elementos de laboratorio como: vasos de precipitacin de 250, 500 y 1.000 ml, agitador magntico, estufa y agitador manual, probetas de 1.000 ml, tamiz de malla ASTM #270 (53 m), pipetas de 10 y 50 ml. Las fracciones granulomtricas, luego de recuperadas, fueron secadas en una estufa marca MEMMERT. El peso de la fraccin arcilla se cuantific en una balanza analtica marca Mettler Toledo, modelo PL3001-S del LEMAT-ESPOL. La recuperacin de la fraccin arcilla fue realizada a travs de el mtodo de pipeta, el cual fue seguido de las normas propuestas por la EMBRAPA (1997). Consiste en el principio de velocidad de cada de las partculas componentes del suelo, en este caso, de la arcilla analizada.

La velocidad de cada es dependiente del peso, tamao de las partculas y temperatura de la mezcla. En la Tabla #2 se muestra una relacin entre la temperatura de la mezcla arcilla-agua destilada y tiempo de sedimentacin. Antes de proceder, se utilizan reactivos para la eliminacin de elementos que afectan la dispersin del sistema agua-arcilla. La presencia de materia orgnica y calcreo son las sustancias perjudiciales para esta dispersin y para la separacin granulomtrica (Gmez, 1986).
TABLA # 2 TIEMPO DE SEDIMENTACION DE LA FRACCION ARCILLA PARA UNA PROFUNDIDAD DE 5 CM A DIFERENTES TEMPERATURAS (EMBRAPA, 1997)

Temperatura C 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22

Tiempo 5h 11' 5h 03' 4h 55' 4h 47' 4h 39' 4h 33' 4h 26' 4h 20' 4h 12' 4h 06' 4h 00' 3h 54' 3h 48'

Temperatura C 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35

Tiempo 3h 43' 3h 38' 3h 33' 3h 28' 3h 24' 3h 19' 3h 15' 3h 10' 3h 07' 3h 03' 2h 58' 2h 55' 2h 52'

Para eliminar la materia orgnica de las muestras, se adicionaron 50 ml de agua destilada a 50 gr de arcilla y cantidades sucesivas de 5 ml de agua oxigenada (H2O2) hasta que pare la reaccin efervescente de la mezcla arcilla-agua oxigenada. Luego de dejar en reposo durante una noche, esta mezcla fue colocada en una estufa a 60C con una ltima dosis de agua oxigenada. Sin observar ms la reaccin efervescente, la muestra fue lavada con cantidades adicionales de agua destilada y luego secada en la estufa a la misma temperatura.

FOTO 2.2 PROCESO DE SECADO DE LAS MUESTRAS

Para la eliminacin de carbonatos se utiliz cido clorhdrico en una concentracin de 10% (Carver, 1973; in EMBRAPA, 1997). La adicin de cido clorhdrico fue en cantidades sucesivas de 5ml, hasta que la mezcla arcilla-cido no produzca ms efervescencia. Luego de dejar en reposo durante una noche, fue adicionado ms cido clorhdrico en la mezcla hasta no observar ms la efervescencia. Despus de cada proceso se procede a un lavado. El lavado de la mezcla consiste en eliminar la concentracin de sales, agitando la mezcla, eliminando el lquido sobrenadante despus de la decantacin de la muestra. Este procedimiento es repetido hasta que la mezcla no decante fcilmente. Despus de este tratamiento, 20 gr de muestra se mezclaron con 100 ml de agua destilada y se agregaron 10 ml de hidrxido de sodio concentracin 1N, reactivo que acta como dispersante. Esta mezcla permaneci en reposo durante una noche, luego se agit la mezcla en un agitador mecnico por 30 minutos. A continuacin, la mezcla fue tamizada en malla ASTM #270, siendo el retenido la fraccin arena, por lo tanto, el pasante las fracciones limo y arcilla. El pasante fue colocado en una probeta de 1.000 ml, completado el volumen con agua destilada y agitando la suspensin durante 20 segundos tapado su extremo con plstico adherente.

FOTO2.3 LAVADO DE LAS MUESTRAS DE ARCILLA DESPUES DE LA ELIMINACION DE MATERIA ORGANICA Y CARBONATOS

Dependiendo de la temperatura de la mezcla, fue calculado el tiempo de sedimentacin para una profundidad de 5 cm. de acuerdo con la Tabla #1 presentada anteriormente.

FOTO 2.4 SEDIMENTACIN DE LAS MUESTRAS DE ARCILLA

Luego de este tiempo, con una pipeta de 50 ml fue recuperada una fraccin de arcilla, tomndose un volumen correspondiente al 5% del total contenido en la probeta. Dicha fraccin de arcilla fue colocada en vasos precipitados de 250ml y puestos en una estufa a una

temperatura de 60oC hasta completar su proceso de secado para luego pesarla y guardarla en un desecador. 2.1.1.2. Anlisis de Tamao de Partculas Este anlisis fue hecho en el Laboratorio de Anlisis y Reologa del LEMAT, se utiliz un Analizador de Tamao de Partculas marca MATERSIZER 2000, modelo APA2000 utilizando una celda, modelo HYDRO 2000SM y una unidad de dispersin de muestra para pequeos volmenes, modelo AWM 2002. La secuencia de lectura de datos fue de 1 cada 10 segundos por lo que se obtendra como resultado 3 grficas de distribucin del tamao de partcula en 30 segundos, adicional a esto, se program el equipo para obtener una cuarta grfica promedio de las tres anteriores. Se utiliz agua destilada como medio de dispersin, segn la informacin proporcionada por el manual del equipo; y Hidrxido de Sodio como agente dispersante, al igual que se escogi el ndice de refraccin tanto para la arcilla como para el medio dispersante, los cuales fueron 1.50 y 1.33 respectivamente.

FOTO 2.5 EQUIPO ANALIZADOR DE TAMAO DE PARTICULA

La metodologa del ensayo fue realizada poniendo 100ml de agua destilada en la unidad de dispersin, elevando las revoluciones a 850 RPM. AL iniciar el SOP (Standard Operating Procedure) creado para arcillas, se agreg entre 7 - 12 mg. de muestra y una cantidad de 3 ml de NaOH, se aument las revoluciones a 2000 RPM hasta obtener un oscurecimiento entre 14%16%, con lo que se dio inicio al ensayo.

2.1.1.3 Difractometra de Rayos X Este anlisis fue realizado en el Laboratorio de Difractometra de Rayos X del CIDNA, utilizando un difractmetro de marca PANALYTICAL, modelo X PERT PRO, serie 12NC943003040601 con gonimetro horizontal, radiacin KCu, tubo de rayos x PW 3373/00CuLFFDK175341. La velocidad lectura de 0,033 por segundo con barrido de 5o a 70 fue para la fraccin arcilla, que es la fraccin menor a 2 m.

FOTO 2.6 EQUIPO DIFRACTMETRO DE RAYOS X

Los parmetros de medicin, fueron los siguientes: Configuracin: X CELERATOR Gonimetro: PW3050/60 (Theta/ 2Theta) Sistema de Difractometra: XPERT-PRO Posicin Inicial (2Th.): 5.00

Posicin Final (2Th.): 70.00 Tamao del paso (2Th.):0.0334 Tipo de escaneo: Continuo Tipo de rejilla de divergencia: Fija Tamao de rejilla de divergencia (mm): 0.76 Longitud de la muestra (mm): 12 Tamao de rejilla receptora: 0.4 Temperatura de mediciones: 25 C Material del nodo: Cu Configuracin del generador: 45 mA, 40kV Radio del Gonimetro (mm): 240 La metodologa utilizada fu la siguiente: 1. Se coloc la muestra seca, en un mortero y se la moli hasta convertirla en polvo. 2. Se coloc la muestra hecha polvo en el porta-muestras. 3. Se coloc la muestra en el centro del gonimetro de rotacin. Se procedi a analizar la muestra con los parmetros de medicin establecidos anteriormente.

2.1.1.4 Anlisis Trmico Gravimtrico

El anlisis de Termogravimetra fue realizado en el CIDNA, se utiliz un equipo Analizador Trmico SDT marca TA, modelo Q600 y serie NNN. El anlisis fue realizado con un mtodo rampa, utilizando aproximadamente entre 7-10 mg de muestra, la tasa de calentamiento fue de 20C por minuto en atmsfera de nitrgeno a un flujo de 100ml por minuto y temperatura mxima de 1100C. Running Segment Description a) Ramp 20.00 C to 1100.00 C b) Air cool: on 2.1.1.5. Calorimetra Diferencial de Barrido El anlisis de Calorimetra Diferencial de Barrido fue realizado en el LEMAT, se utiliz un equipo Analizador Trmico SDT marca TA, modelo Q600 y serie NNN. El anlisis fue realizado con un mtodo rampa, utilizando aproximadamente entre 7-10 mg de muestra, la tasa de calentamiento fue de 20C por minuto en atmsfera de nitrgeno a un flujo de 100ml por minuto y temperatura mxima de 1100C.

FOTO 2.7 EQUIPO TRMICO GRAVIMTRICO

2.1.1.6. Espectroscopia de Infrarrojo La espectrometra de infrarrojo fue realizada en el Laboratorio del Instituto de Ciencias Qumicas (ICQ) de la Escuela Superior Politcnica del Litoral, utilizando un espectrmetro marca THERMO Fisher Scientific, modelo NICOLET iS10, potencia 130W y una presin de trabajo de 7 PSI. Los anlisis fueron realizados por reflexin difusa, siendo los espectros registrados entre 400 y 4000 cm-1, con una resolucin de 4 cm-1. El detector de anlisis en reflexin fue de tipo ZnSe 45o.

FOTO 2.8 EQUIPO ESPECTROMETRA INFRARROJO

2.1.1.7 Microscopia Electrnica de Barrido Los anlisis de Microscopia Electrnica de Barrido tuvieron lugar en el laboratorio del CIDNA en un equipo marca FEI, modelo Inspect S con un filamento de Tungsteno. Dichos anlisis se realizaron a una magnificacin de 100X, 200X, 500X, 1000X y 1500X, el valor de HV (High Voltage) escogido fue de 15 KV. y presin de 45 Pa.

FOTO 2.9 EQUIPO MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO

La metodologa seguida para estas pruebas fu la siguiente: 1. Se encendi el equipo y fu programado en alto

vaco, para eliminar cualquier impureza dentro de la cmara. 2. Para las muestras no conductoras como lo es la arcilla; se coloc adhesivo de

Carbono en el porta muestras y se trabaj en bajo vaco. 3. 4. Se ventil la cmara sin la muestra dentro de ella. Se coloc el porta muestras dentro de la cmara y se trabaj en bajo vaco. PREPARACION PARA LA NANOARCILLA Durante la realizacin de los anlisis de laboratorio, se utiliz metodologas, con el objetivo de obtener los parmetros que permitieran cualificar y cuantificar los minerales de las arcillas. Estas metodologas son detalladas a continuacin. Como ejemplo se describe la preparacin de la Nanoarcilla 5 Rplica 1 Nanoarcilla 5 Rplica 1 N5R1 (+,-,+) 1.- En un vaso de precipitacin se coloc 600 ml de una solucin agua/etanol (4/1, v/v) que se la calent a 60 C, se le agreg 7,5 g de arcilla montmorillonita sdica dentro de la solucin, en un agitador magntico a 300 rpm y a 60 C durante 2 horas. 2.- En otro vaso de precipitacin se coloc 200 ml de agua destilada y 10 g de de Arquad HTL8-MS, agitndolos hasta lograr su homogenizacin. 3.- Se agreg la solucin de ARQUAD HTL8-MS a la solucin de arcilla y se las mezcl con un procesador ultrasnico a 50 % de amplitud, durante 1 hora. 4.- Luego se mezcl la solucin con un agitador magntico por 5 horas a 300 rpm y 60 C.

5.- Se prepar una solucin agua/etanol (1/1, v/v) y se agreg a la solucin, luego se centrifug a 3000 rpm durante 5 minutos y se elimin el agua sobrenadante, este paso se lo realiz dos veces.

6.- Finalmente la solucin hmeda se puso a secar en un horno a 60 C durante 48 horas. 2.3 Difraccin de Rayos X La difraccin de rayos-x en polvo ofrece un mtodo conveniente para caracterizar materiales por medio de sus estructuras cristalinas constitutivas. Cuando un cristal que contiene arreglos regurales repetitivos de tomos es irradiado por un haz monocromtico de rayos x, este genera una nica huella dactilar en forma de picos de difraccin. Mediante este proceso de difraccin, un difractograma de polvo es usado para identificar los componentes cristalinos de una muestra. Los grficos de la Figura 3.1 muestran un ejemplo en donde la difraccin en polvo puede fcilmente e inequvocamente identificar las dos formas cristalinas del dixido de titanio, rutilo y anatasa, a pesar de que estos sean de composicin elemental idntica (TiO2). Con los modernos, hardware de difraccin optimizados y software de anlisis, la identificacin de fases de una muestra de rutina, empezando desde molerla hasta que se haga polvo hasta el anlisis completo, se puede realizar en un tiempo de 5 a 15 minutos, donde el tiempo real de coleccin de datos puede tomar de 1 a 2 minutos dependiendo de la configuracin del difractmetro y su detector. La figura 3.2 muestra un ejemplo de un gonimetro difractmetro de rayos-x de polvo en el modo de refleccin de Bragg-Bretano comercial moderno, con el alojamiento del tubo de rayosx sobre el lado izquierdo, la plataforma para muestra sencilla en el centro de rotacin del gonimetro y el detector de multielementos sobre la derecha. Un sistema instalado incluira un generador de rayos-x, y una carcasa para aislar totalmente la radiacin de acuerdo con las regulaciones sobre proteccin de radiacin.

Una vez seca la muestra se procedi a realizar el anlisis de difractometra de rayos x por el mtodo del polvo cristalino. 1.- Se coloc la muestra seca en un pequeo mortero y se la moli hasta convertirla en polvo. 2.- Se coloc la muestra hecha polvo en el portamuestra. 3.- Se coloc la muestra en la plataforma para muestra sencilla en el centro de rotacin del gonimetro del difractmetro de rayos-x. 4.- Se procedi a analizar la muestra con la siguiente configuracin: Configuracin: Spinner de Reflexin-Transmisin Gonimetro: PW3050/60 (Theta/ 2Theta) Etapa de la muestra: Spinner de Reflexin-Transmisin PW3064/60 (Theta/2Theta) Sistema de Difractometra: XPERT-PRO Posicin Inicial (2Th.): 1.80 Posicin Final (2Th.): 6.00 Tamao del paso (2Th.):0.02 Escaneo del tamao del paso (s): 8 Tipo de escaneo: Continuo Offset (2Th.): 0 Tipo de rejilla de divergencia: Fija Tamao de rejilla de divergencia (): 0.2393 Longitud de la muestra (mm): 10 Tamao de rejilla receptora: 0.1 Temperatura de mediciones: 25 C Material del nodo: Cu K-Alpha 1 (): 1.54060 K-Alpha 2 (): 1.54443 K-Beta (): 1.39225 Radio K-A2/K-A1: 0.5 Configuracin del generador: 40 mA, 45kV

Tipo del difractmetro: 0000000011040513 Nmero del difractmetro: 0 Radio del Gonimetro (mm): 240 Distancia del foco a la rejilla de divergencia (mm): 91 Monocromador del haz incidente: No