You are on page 1of 3

1.2.3.

Aparatul de msurat Tehnica de msurare, cu ajutorul creia se efectueaz orice proces de msurare, conine pe lng metoda de msurare si o a doua component : mijlocul de msurare ca element fizic cu ajutorul cruia se aplica o metod de msurare n scopul realizrii experimentului ce conduce la determinarea valorii msurandului analizat. Mijlocul de msurare, pe care indiferent de complexitatea lui l vom denumi la modul generic aparat de msurat, este plasat ntre obiectul sau procesul analizat si operatorul care executa msurarea, figura 1.5,a. Ca urmare, sub forma sa cea mai simpla, un aparat de msurat poate fi considerat ca un diport cruia la intrare i se aplica un semnal X (v. fig. 1.5,b) prelevat de la obiectul analizat si care reprezint msurandul, iar la ieire furnizeaz un semnal Y (un rspuns) sub o forma ce poate fi perceputa de operator ca rezultat al msurrii.

Fig. 1.5 n general, sau mai bine zis n cazurile reale, rspunsul Y nu depinde numai de mrimea de intrare (semnalul X ), aa cum arata (1.5), ci si de alte mrimi care influeneaz aparatul, fr a fi utile (adic supuse msurrii). Aceste mrimi perturbatoare sunt denumite mrimi de influenta ; aa sunt mrimile ce reprezint influena mediului asupra aparatului de msurat (ca: temperatura, presiunea, umiditatea, vibratiile s.a.), mrimi perturbatoare electromagnetice (determinate de: cmpurile electrice, cmpurile magnetice, undele electromagnetice, semnalele transmise prin reeaua comuna de alimentare cu energie electrica etc.). n afara mrimilor de influenta, rspunsul (mrimea de ieire a aparatului mai depinde si de comenzile care au fost date aparatului de msurat, prin elementele de comanda cu care marea majoritate a aparatelor sunt dotate. De aceea, o reprezentare mai completa a aparatelor de msurat este data de schema din figura 1.6.

n cazul unui aparat de msurat cu m mrimi de ieire (v. fig. 1.6) si m mrimi de msurare (X1, X2, ...Xm), supus unor p mrimi de influenta (s1, s2, ...,sp) si prevzut cu q comenzi (c1, c2, ...,cq) diferite, pentru fiecare mrime de ieire se poate scrie o expresie de forma:
Yi = f X 1 , X 2 ,..., X n , s1 , s 2 ,..., s p , c1 , c 2 ,..., c q , unde i = 1, 2, ...,m;

Pentru anumite comenzi ci , variaia mrimii de ieire Yi poate fi exprimata n funcie de variaiile Xi si si ; astfel, daca aceste variaii sunt suficient de mici n urma dezvoltrii n serie Taylor a funciei obinem:
f = f f f f f f X 1 + X 2 + ... + X n + s1 + s 2 + ... + s p , unde i = 1,2,..., m X 1 X 2 X n s1 s 2 s p

Aici derivatele pariale

f i X

, reprezint sensibilitile utile ale aparatului de msurat, iar

f sunt i s

aa numitele sensibiliti parazite ale aparatului. Sensibilitile utile este bine sa fie ct mai mari, sa aib valori precise si sa fie ct mai stabile n timp, deoarece ele determina n principal precizia aparatului si capacitatea lui de a msura fr alte influente valorile semnalelor de la intrare. Determinarea exact a sensibilitilor parazite nu este necesar, ns trebuie sa fie mici (sub anumite limite admise de clasa aparatului),pentru ca rezultatul Y s depind practic numai de X , fr a fi alterat de variaiile s ale mrimilor de influenta.

Mrimile de intrare ale aparatului de msurat sunt caracterizate de: natura fizica mrimii (tensiuni electrice, cureni electrici, rezistente etc.); intervalul de valori msurabile (valoarea minima, valoarea maxima) si variaia n timp (mrimi constante, variabile periodic, forma de unda etc.).

Caracteristicile metrologice ale aparatelor de msurat. Ele se refera la comportarea aparatelor de msurat n raport cu obiectul supus msurrii, cu mediul

ambiant si cu operatorul uman si, cele mai importante, sunt:


- intervalul de msurare (domeniul de msurare) care se exprima prin limitele, minima si maxima, ale valorilor ce pot fi msurate cu un aparat dat. Domeniul de msurare se mparte n mai multe subdomenii, numite game (scri) de msurare

- rezoluia reprezint cea mai mica variaie a rezultatului msurrii care poate fi observat de operator pe dispozitivul de afiare de la ieirea aparatului de msurat si se exprima ca diferena dintre dou numere consecutive ce pot fi percepute la afiaj. - sensibilitatea (S) este raportul dintre variaia Y a mrimii de ieire si variaia corespunztoare X a mrimii de intrare. sensibilitatea relativa (Sr) se definete numai pentru aparatele cu mrimi de ieire electrica sau la convertoarele (traductoarele) utilizate la msurri:
y y Sr = x x

constanta aparatului (K) se definete numai pentru aparatele de msurat la care sensibilitatea nu depinde de mrimea de intrare X
K= 1 X = S Y

prag de sensibilitate ( S) prin care se nelege cea mai mica variaie a msurandului ce poate fi pusa n evidenta cu ajutorul aparatului de msurat, n condiii reale de funcionare a lui. Acest parametru determina: precizia maxima pe care o poate avea un aparat de msurat si valoarea minima msurabil a msurandului. El depinde, n principal, de: rezoluia aparatului de msurat, de perturbaiile (proprii si exterioare aparatului) si de sensibilitatea indicatorului de nul (la aparatele care folosesc la msurare metodele de zero); precizia instrumentala este calitatea aparatului de a da rezultate ct mai apropiate de valoarea adevrat a msurandului si ea se exprima printr-un numr numit clasa de precizie a aparatului (sau, pe scurt, clasa aparatului) care se determina n funcie de eroare maxim tolerat. - suprancarcabilitatea reprezint capacitatea aparatului de a suporta o valoare de intrare mai mare dect valoarea maxima de regim permanent, pe o anumita durata (scurta sau lunga ce se precizeaz), fr ca parametrii de funcionare ai instrumentului sa se modifice; - fiabilitatea metrologica este data de catre durata de timp (pe termen lung) n care aparatul funcioneaz stabil (adic ncadrat n limitele parametrilor de performanta, n special clasa de precizie).