Difraccin de Ondas Electromagnticas

Francisco Hernndez, Stefan Hiller & Danilo Llano 14 de marzo de 2011

Resumen Las ondas electromagnticas al pasar por una rendija forman un patrn de difraccin que puede ser registrado. En este caso se utiliz una fuente de microondas (f=9.45 GHz), un diodo detector tipo CMOS y dos pantallas para generar una rendija. Mediante un amplicador se acondicion la seal detectada por el diodo. A la salida del amplicador se tienen voltajes sucientemente altos como para ser medidos por un voltimetro. Se vari la posicin del detector en direccin paralela a las pantallas y el transmisor, y se registr los voltajes obtenidos en dichos puntos. Tras el anlisis de los datos del laboratorio se obtuvo el patrn de difraccin esperado tericamente, tomando en cuenta incluso la simetra que se espera en el patrn de difraccin.

1.

Desarrollo

El comportamiento de las ondas electromagnticas al viajar a travs de distintos medios y/u obstculos ha sido extensamente estudiado, creando incluso amplios debates cientcos, por ejemplo, la naturaleza dual de la luz: onda-partcula. Uno de los comportamientos ms conocidos es la difraccin de las ondas electromagnticas al pasar por una rejilla. Este fenmeno se reere a la formacin de un patrn o esquema de difraccin, es decir se forma un esquema conformado por valles y picos de intensidad de la onda. En el caso de luz visible se observan lneas oscuras (valles) y lneas claras (picos) a distancias y anchos regulares pero que disminuyen en intensidad a medida que se alejan del centro (justo detrs de la rendija). En ondas electromagnticas no visibles se puede detectar este fenmeno midiendo la intensidad de la seal que se recibe en ciertos puntos. El patrn de difraccin es similar. Figura 1: Patrn de difraccin de luz visible [1]

Se dene difraccin como la dispersin de una onda en todas las direcciones hacia adelante despus de pasar a travs de una rendija [1]. Luego de pasar la rendija, si se coloca una pantalla de observacin a una distancia adecuada (se detalla ms adelante) se obtiene un esquema constituido por una franja central grande y por una serie de bandas laterales de menor intensidad y menor ancho, intercaladas por bandas oscuras. A partir de estas observaciones se puede inferir un modelo matemtico representativo del problema. Se utilizar el modelo de difraccin de Fraunhofer para describir el patrn de difraccin. La diferencia de fase total entre ondas provenientes de la rendija se puede escribir como: 2 a sin (1) donde a es el ancho de la rendija y es el ngulo en el cual se observa la fase de la onda. A medida que aumenta los fasores de campo elctrico con distintas fases se cierran y suman cero. Dado que el campo elctrico total es cero se observa en ese punto un mnimo de intensidad. Este punto corresponde a una diferencia de fase = 2. De la ecuacin (1) = (2) a Donde oscuro representa el ngulo en el cual se observa un mnimo de intensidad. Por otra parte, el campo elctrico resultante ER en un punto en funcin de la fase puede escribirse como: sin oscuro = ER = E0 sin (/2) /2 (3)

Debido a que la intensidad en un punto es proporcional al cuadrado del campo elctrico en dicho punto se tiene: 2

Figura 2: Esquema de difraccin de Fraunhofer [1].

I = Imax

sin (/2) /2

(4)

Donde I es la intensidad de la seal y es mxima en = 0. Si se reemplaza la ecuacin (1) en (4) I = Imax sin (a sin /) a sin /
2

(5)

Siendo la longitud de onda de la onda considerada, a el ancho de la rendija, el ngulo entre el eje que pasa por el centro de la rendija y punto de observacin sobre la pantalla. Se puede generalizar los ngulos de cero intensidad de la siguiente forma: sin oscuro = m a (6)

con a y ya denidos en (5) y m = 1, 2, 3.... La metodologa de trabajo se discute a continuacin: Se utilizar el instrumental de Phywe para difraccin. Este experimento constante de los siguientes componentes: Fuente de microonda (f = 9,45GHz / = 3,17cm) Pantallas para generar rendija. Diodo detector de intensidad de la onda. Amplicador de la seal recibida y voltimetro. Se siguen las indicaciones del fabricante y se arma el equipo tal como se muestra en el diagrama siguiente: Se jan las siguientes distancias representativas: Cuadro 1: Distancias representativas del esquema Descripcin Distancia (cm) Distancia transmisor-pantallas 80.00,05 Distancia receptor-pantallas 20.00,05 Ancho de la rendija (a) 6.000,05 Longitud de onda () 3.17 Se debe colocar el instrumental en las distancias descritas. A continuacin se debe alinear el transmisor y el detector con el centro de la rendija. stos adems deben estar a la misma altura. Vericado el posicionamiento y alineacin de los instrumentos se procede al encendido y calibracin de los aparatos. Con todo el instrumental listo se toman los datos. 3

Figura 3: Esquema del equipo utilizado para el experimento.[6]

Se registra el voltaje en el voltimetro. A continuacin se desplaza el detector 1cm en la direccin paralela a las pantallas que forman la rendija. Se registra el voltaje en el nuevo punto y se contina el proceso. Se debe varar la posicin del detector tanto hacia la derecha como a la izquierda del centro de la rendija. Con los datos registrados se procede a gracar voltaje vs. posicin (tomando el origen del sistema de coordenadas como el centro de la rendija) Cualitativamente se debe observar patrn de difraccin esperado. A continuacin se identican los ngulos donde el voltaje es cero. Finalmente se comparan los datos obtenidos con el patrn terico dado por la ecuacin (5). Para obtener la posicin de los mnimos de intensidad se utiliza la ecuacin (6) y la Figura 2. Mediante este procedimiento se obtiene: xmin = l tan oscuro (7)

donde oscuro se dene segn la ecuacin (6) y l es la distancia entre la rendija y el receptor (en este experimento se j en 20cm)

2.

Resultados

Dado que el voltaje registrado en el voltmetro oscilaba entre dos valores se decidi tomar el mximo y mnimo de cada punto. A continuacin se muestran los datos de voltaje en funcin de la distancia medida a partir de la posicin central .

3.

Anlisis y Discusin

A continuacin se muestran las grcas de los datos obtenidos en el laboratorio. En la gura de la izquierda se muestra la curva terica normalizada de la ecuacin (5) calculada en base a los parmetros jados ( y a) segn la Tabla 1 y los datos correspondientes a la columna voltaje mnimo de la Tabla 2. La grca de la derecha corresponde a la misma curva terica pero con los datos correspondientes a la columna voltaje mximo de la Tabla 2. En el anlisis cualitativo se observa que tanto la curva correspondiente a los voltajes mximos como la de voltajes mnimos sigue la tendencia esperada, con un pico central signicativo y varios

I Figura 4: Se graca la curva terica Imax = sin(a sin /) con = 3,17cm y a = 6cm y los datos a sin / correspondiente a los voltajes mnimos medidos (izquierda) y mximos (derecha)

Datos experimentales (Voltaje mnimo) Curva terica

1 Datos experimentales (Voltaje mximo) Curva terica 0.9

0.9

0.8

0.8

0.7

0.7

0.6

Voltaje max (normalizado a 11.5V) 3 0 3 6 Distancia [cm] 9 12 15 18 21 24 27 30

Voltaje min (normalizado a 11.4V)

0.6

0.5

0.5

0.4

0.4

0.3

0.3

0.2

0.2

0.1

0.1

0 30 27 24 21 18 15 12 9 6

0 30 27 24 21 18 15 12 9

6 3 0 3 6 Distancia [cm]

12

15

18

21

24

27

30

picos laterales simtricos respecto al centro. Se observa el patrn de difraccin esperado. Sin embargo, un anlisis ms minucioso y cuantitativo permite observar que estos mximos y mnimos no ocurren en las distancias esperadas tericamente, sino que existen un desplazamiento. El primer mnimo se encuentra en la distancia aproximada por la curva terica, pero a partir del primer mximo se empieza a observar una diferencia en la localizacin. A partir de la grca se obtienen los primeros mnimos y se compara con los valores tericos calculados a partir de (7) y los valores de y a. Las oscilaciones en las lecturas del voltmetro se debe en gran parte al factor de amplicacin de 105 de la seal receptada por el diodo. ste ltimo amplica tambin el ruido de las mediciones. Si bien los datos siguen la tendencia esperada, se observa que los picos de mxima intensidad son ms estrechos en las medidas experimentales respecto a la teora. Este efecto puede tener su origen en la interferencia de la microonda con otra fuente de radiacin electromagntica en el laboratorio o con la reexin e interferencia de la onda en los instrumentos localizados en la mesa de trabajo (la misma mesa, reglas, cajas metlicas, etc). Sin embargo, dado que se observa la tendencia esperada, este efecto denitivamente debe ser producto de un error sistemtico del experimento. Una de las posibles causas de este error es la no perfecta alineacin vertical del receptor y del transmisor. stos pudieron encontrarse a diferentes alturas (con una diferencia mnima) afectando la medicin nal de intensidad ya que las condiciones ideales asumidas para el modelo de Fraunhofer cambian. Se requiere en ese caso un modelo ms renado como el de Fresnel. A continuacin se muestra la ubicacin de los mnimos tericos (calculados a partir de (7)) y experimentales (puntos de voltaje 0V) en el patrn de difraccin. Tericamente se espera nicamente una posicin donde exista un valor mnimo ya que /a = 0,53 y para n > 1 se tendra sin > 1 . Sin embargo, experimentalmente se observan dos mnimos. Esto puede deberse principalmente a que la zona donde se realizaron las medidas del segundo mnimo estaba alejadas de las pantallas que generaban la doble rendija y parte de la onda transmitida ya no se reejaba (supercie blanca de las pantallas) y llegaba al detector, generando as interferencia destructiva por la diferencia de caminos pticos entre la onda que pasaba por la doble rendija y la que pasaba directamente desde el transmisor hacia el receptor.

4.

Conclusiones

En este trabajo se midi el voltaje detectado por un diodo del tipo CMOS en funcin de la posicin del receptor (detector) respecto a un rendija de 6 cm de ancho para as poder gracar el patrn de difraccin generado. La frecuencia de la onda electromagntica utilizada fue de 9.45GHz ( = 3,17cm). Adicionalmente se midieron las distancias a las cuales ocurren los mnimos de difraccin (puntos donde el receptor marca 0V) y se compararon dichos puntos con los tericos (a partir de la ecuacin 7). En el caso de los primeros mnimos (-12.4 cm y 12.4 cm) calculados en la seccin anlisis y resultados el error fue mximo del 8.1 %. Sin embargo, se observ un segundo mnimo, que la ecuacin terica predice no existe. Esto se debe a que el receptor estaba fuera de la cobertura de las pantallas reectoras y se produjeron fenmenos de interferencia destructiva. En lo referente al patrn de difraccin se observa la tendencia esperada tericamente, pero los picos de mxima intensidad son ms estrechos respecto del terico. Se comprueba que el patrn de difraccin de una onda electromagntica es similar al caso particular de la luz visible, donde se forman franjas de mxima y mnima intensidad. Para futuras mediciones se recomienda utilizar pantallas reectoras ms grandes para evitar el fenmeno de interferencia descrito anteriormente y que posiblemente afect la medicin de los mnimos de intensidad en el patrn. Adicionalmente se sugiere poner especial atencin a la alineacin vertical del conjunto receptor-transmisor para mejorar la recepcin de la onda y sobretodo estar ms acorde con las condiciones ideales consideradas en el desarrollo terico.

Referencias
[1] Raymond A. Serway, Fsica para ciencias e ingeniera, sexta edicin (Thomson, Mxico, 2005). [2] Douglas Giancolli, Fsica para ciencias e ingeniera, cuarta edicin (Pearson, Mxico, 2009). [3] Frank Blatt, Fundamentos de Fsica, tercera edicin (Pearson, Mxico, 1991). [4] Hecht Eugene. Optics, cuarta edicin (Addison Wesley, Estados Unidos, 2002) [5] Keithley, Low level Measurements Handbook, sexta edicin (Keithley, USA, 2004). [5] Phywe. Difraction of microwaves.

Cuadro 2: Voltajes mximos y mnimos vs. posicin del detector Distancia [cm] Voltaje mnimo [V] Voltaje mximo [V] -22.4 0.200,005 0.300,005 -21.4 0.200,005 0.300,005 -20.4 0.300,005 0.400,005 -19.4 0.100,005 0.200,005 -18.4 0.200,005 0.300,005 -17.4 0.000,005 0.100,005 -16.4 0.300,005 0.400,005 -15.4 0.600,005 0.800,005 -14.4 0.900,005 1.100,005 -13.4 0.500,005 0.600,005 -12.4 0.010,005 0.100,005 -11.4 0.020,005 0.000,005 -10.4 0.010,005 0.010,005 -9.40 0.010,005 0.100,005 -8.40 0.020,005 0.000,005 -7.40 0.030,005 0.100,005 -6.40 0.200,005 0.300,005 -5.40 0.800,005 0.900,005 -4.40 2.200,005 2.500,005 -3.40 3.800,005 4.100,005 -2.40 6.300,005 6.500,005 -1.40 8.400,005 8.700,005 -0.40 10.30,005 10.60,005 0.00 11.40,005 11.50,005 1.10 10.30,005 10.90,005 1.60 9.400,005 9.800,005 2.60 8.500,005 9.200,005 3.60 5.300,005 5.800,005 4.60 2.300,005 2.600,005 5.60 0.800,005 1.010,005 6.60 0.200,005 0.300,005 7.60 0.100,005 0.200,005 8.60 0.010,005 0.010,005 9.60 0.020,005 0.010,005 10.6 0.010,005 0.010,005 11.6 0.010,005 0.030,005 12.6 0.020,005 0.000,005 13.6 0.010,005 0.010,005 14.6 0.400,005 0.600,005 15.6 0.200,005 0.300,005 16.6 0.600,005 0.800,005 17.6 0.400,005 0.500,005 18.6 0.200,005 0.300,005 19.6 0.010,005 0.100,005 20.6 0.300,005 0.400,005 21.6 0.400,005 0.500,005 22.6 0.300,005 0.500,005 23.6 0.700,005 0.800,005 24.6 0.300,005 0.500,005 25.6 0.010,005 0.010,005 26.6 0.010,005 0.020,005 27.6 0.300,005 0.400,005 8

Cuadro 3: Mnimos tericos y experimentales en el patrn de difraccin Mnimos experimentales (cm) Mnimos tericos (cm) Error porcentual -18.6 -12.6 -12.4 8.1 % 12.5 12.4 8.0 % 18.4