Articulo de Una nueva tecnologa de rayos X permite analizar superficies sin daarlas Una nueva tecnologa de escner de rayos

X, la primera de esta clase en el Reino Unido, podra mejorar la produccin de aparatos y materiales utilizados para la observacin del interior del cuerpo. La Universidad de Newcastle ha lanzado el Servicio Nacional de Espectroscopio Fotoelectrn de Rayos X, que permitir a los investigadores analizar al detalle la composicin de la superficie de cualquier material, y detectar si en l existe algn tipo de contaminacin o imperfeccin en el proceso de fabricacin.

La Universidad de Newcastle ha lanzado el XPS (Servicio de Espectroscopia de Fotoelectrones emitidos por Rayos X), que permitir a los investigadores analizar la composicin de la superficie de cualquier material para detectar la contaminacin o imperfeccin en el proceso de fabricacin de stos, segn publica The Engiere.

"Se ha dado un gran paso desde las aplicaciones estndar en semiconductores y materiales duros hacia materiales ms blandos e incluso recubrimientos biolgicos funcionales, estructura de tejidos e interconexiones, fabricados para ser tolerados por el cuerpo", afirma el profesor Peter Cumpson, jefe de este nuevo servicio.

La cantidad de energa transportada por cada electrn depende del tipo de tomo que se trate, que procede de la lectura del espectro de energa que puede ser utilizada para determinar la composicin del material. Los investigadores pueden lanzar iones de argn al material para destruir las capas superiores de la superficie, pero esto normalmente tiende a causar daos a los tomos de debajo, que son los que se pretende examinar. La tecnologa utiliza grupos de varios miles de iones de argn, los cuales ayudan a difundir el impacto y reducir el dao.

Ventajas y contribuciones XPS tiene ventajas sobre otras tcnicas de anlisis en el que los datos que se producen son relativamente fciles de interpretar y las muestras requieren poca preparacin.

La Espectroscopia de Fotoelectrones emitidos por Rayos X es uno de los principales mtodos de prueba de la composicin y de la estructura electrnica de superficies, con un nmero creciente de aplicaciones en electrnica, fsica de semiconductores, materiales nuevos y biomateriales, explica el EPSRC sobre esta tecnologa.

RESUMEN Este articulo esta basado en la formacin o la realizacin de un proyecto a futura con los avances cientfico y tecnolgicos que se trata de los rayos x para desarrollar, para tener mas afondo la los resultados De los estudio que realizan los mdicos para estudiar mas afondo los cuerpos humanos. Tan bien permite para detectar la contaminacin o imperfeccin en el proceso. Sirve para detectar o determinar la composicin de material.