TECNICAS DE MUESTREO Y RECONSTRUCCION

Tema 2

Indice

Sistemas de Control Muestreados Muestreo Transformada Estrellada Reconstruccin Conversion D/A Conversion A/D

Sistemas de Control Muestreados

El uso del computador digital como controlador de un sistema hace necesaria la determinacin de los efectos de las operaciones de muestreo y reconstruccin sobre el contenido de la seal a muestrear
r (t ) +
-

e(t )

Muestreo y Reconstruccin

e (t )

y (t )

Planta

Sensor

Se desarrolla un modelo matemtico de la operacin muestreoreconstruccin, que permitir el uso de la transformada en Z para el anlisis de sistemas de control muestreado.

Sistemas de Control Muestreados

Muestreo y Reconstruccin Real Un muestreador real convierte una seal continua x(t) en un tren de pulsos x(kT) siendo T el periodo de muestreo

x (t )
T

x ( kT )

Es importante sealar que entre dos T consecutivos no hay transmisin de informacin. Por ello dos seales x1 ( t ) y x 2 ( t ) iguales en los instantes de muestreo darn lugar a una misma seal muestreada x1 ( kT ) = x 2 ( kT )

Sistemas de Control Muestreados

x1 (t )

x( kT )
MUESTREO

x 2 (t )
0

Un mantenedor o dispositivo de reconstruccin real genera una seal continua h(t) a partir de una secuencia discreta x(kT) , tal que h(t) es aproximada entre dos muestras, es decir, en kT t ( k + 1)T por un polinomio en

h( t ) = h( kT + ) = a n n + a n 1 n1 + K + a1 + a 0

0 T

Sistemas de Control Muestreados

Para n= 0, se tiene el mantenedor de orden 0, que utiliza un solo valor de x(kT), y para n 0 , mantenedor de orden n, que utiliza n+1 valores de x(kT) para generar h( kT + ) , concretamente x (( k n )T ), x (( k n + 1)T ), K , x (( k 1)T ), x ( kT ) A medida que aumenta n, mejora la precisin en la aproximacin. No obstante, este mantenedor produce grandes desfases entre x(kT) y h(t) que hacen inestable el sistema de control en bucle cerrado. El mantenedor ms utilizado es el H0 (Hold 0), definido por

h( kT + ) = x ( kT )

0 T

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Circuito de S&H real

Sistemas de Control Muestreados

Modos de Seguimiento y Retencin en la operacin de S&H real Seguimiento: cuando el interruptor se encuentra en posicin ON, el condensador se carga y sigue la seal . Retencin: cuando el interruptor se encuentra en posicin OFF, la tensin del condensador se mantiene constante durante T.

Sistemas de Control Muestreados

Modelo Matemtico de Muestreo y Reconstruccin Considerando la operacin de muestreo y reconstruccin H0 real, se puede expresar h(t) como

h( t ) = h( 0 ) ( u( t ) u( t T )) + h(T ) ( u( t T ) u( t 2T )) + K

h( t ) = x ( kT ) [u( t kT ) u( t ( k + 1)T )]
k =0

Aplicando la transformada de Laplace

e kTs e ( k +1)Ts H ( s ) = x ( kT ) s k =0

1 e Ts H ( s ) = x ( kT ) e kTs k =0 s

Sistemas de Control Muestreados

El primer factor depende de la entrada x(t) y T, se define como la transformada estrellada de x(t), y corresponde a la operacin de muestreo ideal

X ( s ) = x ( kT ) e kTs
k =0

El segundo factor representa una funcin de transferencia correspondiente a la operacin de reconstruccin ideal

1 e Ts GH 0 ( s) = s
De esta manera, el proceso de muestreo + reconstruccin ideal forman un modelo matemtico equivalente al proceso de muestreo + reconstruccion real.

Sistemas de Control Muestreados

X ( s)

X * ( s)

H ( s) GH 0 ( s)

El muestreador ideal no es fsicamente realizable. Igualmente GH0(s) no es un H0 real. No obstante, la combinacin de ambos da lugar a un modelo muy preciso del dispositivo fsico real La operacin de muestreo ideal no puede representarse mediante una funcin de transferencia, ya que la salida de un muestreador X ( s ) puede ser igual para diferentes seales de entrada X ( s )

Muestreo
La seal de salida de un muestreador ideal vendra dada por

x ( t ) = L1 { X ( s)} = x( 0) ( t ) + x(T ) ( t T ) + K
x ( t ) = x ( kT ) ( t kT )
k =0

La salida del muestreador ideal es un tren de impulsos con pesos iguales a los valores de las muestras de x(t)
x(t )
x* (t )

T
0

Muestreo
La entrada, pues, a Gh0(s) es un tren de impulsos, los cuales van a ser transformados a valores constantes para generar h(t)
x* (t )
GH0 (s)

h(t )

El Gh0(s) se resetea en cada periodo de muestreo T.

Transformada Estrellada
La operacin de muestreo y reconstruccin real va a ser sustituida por la de muestreo y reconstruccin ideal a efectos de anlisis de sistemas en tiempo discreto
x (t ) T
x ( kT )

y(t ) H0

x(t )

x * (t )

y (t )
GH 0 ( s)

Se define la Transformada Estrellada de x(t)

X ( s ) = L{ x ( t )} = x ( 0) L{ ( t )} + x (T ) L{ ( t T )} + K = x ( kT ) e kTs
k =0

Transformada Estrellada
Definiendo e
sT

=z

1 s = ln z T

X ( s ) s= 1 ln z = x ( kT ) z k = X ( z )
T k =0

Por tanto, haciendo e = z , el muestreo ideal permite analizar los sistemas continuos muestreados a travs de la transformada en Z .
sT

La transformada estrellada de x(t) puede ser obtenida de forma alternativa a travs de la integral de convolucin

1 1 X ( s) = { X ( s + j s k )} + x (0 + ) = X ( z ) z = e sT T k = 2

Transformada Estrellada
Propiedades de X*(s) 1. X*(s) es peridica en s, con periodo js

X ( s) = X ( s + j s )

2 s = T

Si X(s) tiene un polo en s = s1, X*(s) tiene polos en s = s1 + jm s , m = 0, 1, 2, K

1 1 X ( s) = X ( s + jk s ) = [ X ( s) + X ( s + j s ) + X ( s + j 2 s ) + K T k = T K + X ( s j s ) + X ( s j 2 s ) + K ]

Transformada Estrellada
Si X(s) tiene un polo en s = s1, cada X ( s jm s ) contribuye con un polo en s = s1 + jm s , pues X ( s jms ) s = s + jm = X ( s) s= s
1 s 1

Por tanto el muestreo ideal conlleva a una multiplicidad de polos (y de ceros).

Reconstruccin
La aplicacin de la seal de control a la planta requiere la conversin de la seal muestreada a continua, para evitar las componentes de alta frecuencia de la seal de control. Esta conversin se realiza mediante circuitos de reconstruccin o Hold, que se comportan como filtros paso bajo que atenan las componentes de alta frecuencia de la seal muestreada. Se van a examinar las caracterisiticas de los circuitos Hold ideal , Hold0 y Hold1.

Reconstruccin
Teorema del Muestreo Para la reconstruccin de la seal a partir de la seal muestreada hay una frecuencia de muestreo mnima 1 que debe satisfacer la operacin de muestreo
x(t ) T x * (t ) y (t )
GH 0 ( s) T , s =

2 T

Esta frecuencia 1 esta relacionada con las caractersticas frecuenciales de la seal a muestrear x(t) (espectro de frecuencias o transf. de Fourier)

Reconstruccin
El espectro de frecuencias de x(t) ser limitado en banda a 1

X ( s ) s= j = X ( j ) e X ( j )
X ( j )
1

1 0

El teorema del muestreo afirma que x(t) puede ser reconstruida a partir de sus muestras x*(t) si se cumple que

2 s= > 2 T

Reconstruccin
En efecto, el espectro de frecuencias de x*(t) ser

1 1 1 X ( j ) = K + X ( j ( s )) + X ( j ) + X ( j ( + s )) + K T T T

X * ( j )

1T

s
2

1 s
2

que es la reproduccin del espectro de x(t) mltiplemente 1 desplazado y atenuado en T

Reconstruccin
Si se cumple el teorema del muestreo no hay solape entre los componentes de frecuencia X ( j + j s k ) , y aplicando un filtro o circuito de reconstruccin ideal se puede reconstruir la seal x(t) original salvo atenuacin.
G I ( j )

s
2

1 s
2

Reconstruccin
x(t )
T
X

x * (t )

Hold Ideal
H

h( t )

X*

En caso contrario, se produce solape entre las componentes de frecuencia X ( j + j s k ) , y la aplicacin del Hold ideal no produce la reconstruccin de x(t)

Reconstruccin
X * ( j )

1T

Las seales de control usualmente no estn limitadas en banda, por ello es frecuente aadir un filtro paso bajo GF ( s) |s = j previo al muestreador para definir una frecuencia mxima 1
x(t )

Filtro

x f (t )
T

x f * (t )

h( t )

Hold

Reconstruccin
En el esquema de control general, el muestreador acta sobre la seal de error, por tanto, la eleccin de T se realizar aplicando el teorema del muestreo sobre e(t) y su espectro en frecuencias E(j), estando el controlador interpuesto entre el muestreador y el Hold
e* (t )
u * (t )

r (t ) +
-

e(t )
T

Control Gc ( z)

u(t )

y (t )

Hold

Planta

Sensor

Reconstruccin
La limitacin de banda de E(j) , asegura la limitacin de banda de la seal de control U(j) , ya que el controlador se comportar como un filtro Gc ( z ) | jT , que nunca aadir componentes en z =e frecuencia al ser su espectro frecuencial peridico.

U * ( j) = E * ( j) Gc (e jT )
G c ( e j T )

U * ( j )

E * ( j )

Reconstruccin
Circuitos de Reconstruccin 1. Hold Ideal Caractersticas frecuenciales
1 G I ( j ) = 0 s s < < 2 2 resto
G I ( j )
1

G I ( j ) = 0

s
2

s
2

Reconstruccin
Este circuito es fsicamente irrealizable a la vista de la respuesta impulso

2. Hold 0 Caractersticas Frecuenciales

1 e Ts G0 ( s ) = | s = j s

Reconstruccin

sen( T / 2) G0 ( j ) = T T /2

T T G0 ( j ) = + sen 2 2

0 180

La respuesta frecuencial en , presenta caractersticas de magnitud (picos en ks) y fase indeseables

Reconstruccin
Comparando las caracteristicas frecuenciales de GI(s) y G0(s) se observa que hay distorsin de frecuencias, independientemente del cumplimiento del teorema del muestreo,

La caracterstica de fase es lineal y discontinua con , por tanto hay un efecto de retardo lineal con .

Reconstruccin
3. Hold 1 Caractersticas Frecuenciales

1 e Ts Ts + 1 G1 ( s ) = T s
x* (t )
GH1 (s)
h(t )

Reconstruccin

La respuesta frecuencial en , presenta tambin caracterstica de fase indeseable y magnitud ms pendiente con efectos laterales. EL Hold 1 presenta, pues mayor retardo que el Hold 0, y no mejora mucho ms su caractreristica de magnitud, por tanto, los circuitos Hold 0 son los ms empleados en la prctica siempre que el T est bien elegido.

Conversin D/A
La funcin bsica de un D/A es convertir una seal digital dada por A1 , K , An en otra analgica V0

V0 = VFS A1 2 1 + A2 2 2 +K+ An 2 n

Conversin D/A
La resolucin del D/A es el menor cambio analgico que produce, y corresponde al valor del LSB, V fs 2 .
n

Conversin A/D
En la conversin A/D se trata de comparar un voltaje analgico Vx con un voltaje de referencia VR variable con el tiempo utilizando A.O. comparadores

Conversin A/D
El voltaje VR es variado para determinar cual de las posibles salidas binarias se aproxima ms a Vx, a travs de un convertidor D/A

V R = V FS Ai 2 i
i =1

Hay varios tipos de A/D, diferenciados bsicamente en la estrategia usada para generar VR variable para obtener los Ai
1. Convertidor de Contador Rampa. 2. Convertidor de Seguimiento. 3. Convertidor de Aproximaciones Sucesivas.

Conversin A/D
1. Convertidor de Contador Rampa.

El principal inconveniente es que el Tciclo es variable , para la conversin de n bits se necesitan periodos de reloj para la conversin ms desfavorable

Conversin A/D
2. Convertidor de Seguimiento.

Se genera una doble escalera, No obstante, la velocidad de conversin resulta lenta y variable

Conversin A/D
3. Convertidor de Aproximaciones Sucesivas.

Se utilizan contadores de 8 - 16 bits, y se necesitan n ciclos para la conversin, siendo n el nmero de bits. requiere un circuito de muestreo-reconstruccin para efectuar la conversin

Conversin A/D
Cuantificacin Es la representacin de una seal continua en un nmero finito de valores discretos, o seal binaria. Para representar la seal continua se elegirn 2n valores discretos, siendo n el nmero de bits. Los rangos de variacin de voltaje analgico pueden ser unipolar o bipolar Ejemplo: Cuantificacin para un convertidor A/D con n = 3 , unipolar 0-10 V.

Conversin A/D

Hay 2n -1 puntos de decisin analgica y puntos de centro de cdigo. Se define el nivel de cuantificacin Q, como el rango V entre dos puntos de decodificacin adyacentes Q = FS n
2

Conversin A/D
El proceso de conversin produce el redondeo de cada valor analgico al nivel digital ms prximo. Esto trae consigo un error de cuantificacin eQ, que vara entre 0 y 0.5 Q Para disminuirlo se elegir n elevado. La cuantificacin supone, adems, un ruido aadido N(,) Q2 2 definido por = 0 y = por tanto, es deseable que n sea 12 elevado (16 - 32 bits).