DIFRACCIN DE RAYOS X

Los rayos x fueron descubiertos por Wilhelm Rntgen (1845-1923) en 1895, y los primeros experimentos sugeran que se trataba de ondas electromagnticas con longitudes de onda del orden de 1010 m. Por esa misma poca, comenz a surgir la idea de que en un slido cristalino los tomos estn dispuestos en un patrn que se repite de forma regular, con una separacin entre tomos adyacentes tambin del orden de 1010 m Combinando estas dos ideas, en 1912 Max von Laue (1879-1960) propuso que un cristal podra servir como una especie de rejilla de difraccin tridimensional para los rayos x. Es decir, los tomos individuales de un cristal podran dispersar (esto es, absorber y emitir de nuevo) un haz de rayos x, y las ondas dispersadas podran interferir del mismo modo que las ondas provenientes de una rejilla de difraccin.

Los primeros experimentos de difraccin de rayos x fueron realizados en 1912 por Friederich, Knipping y Von Laue, empleando el sistema experimental Los rayos x dispersados formaron un patrn de interferencia, el cual se registr en pelcula fotogrfica. Con estos experimentos se comprob que los rayos x son ondas, o al menos tienen propiedades ondulatorias, y tambin que los tomos estn dispuestos conforme a una distribucin regular. A partir de entonces, la difraccin de rayos x ha probado ser una valiossima herramienta de investigacin, tanto para medir longitudes de onda de rayos x como para estudiar la estructura de cristales y molculas complejas.

MODELO SIMPLE DE DIFRACCIN DE RAYOS X

La situacin podra ser un tanque de ondas con una serie de pequeos postes, microondas de 3 cm que chocan con una formacin de pequeas esferas conductoras, o rayos x que inciden en una formacin de tomos. En el caso de las ondas electromagnticas, la onda induce un momento dipolar elctrico oscilante en cada elemento dispersor. Estos dipolos actan como pequeas antenas que emiten ondas dispersadas.

El patrn de interferencia resultante es la superposicin de todas estas ondas dispersadas. La situacin no es la misma que la de una rejilla de difraccin, donde las ondas provenientes de todas las rejillas son emitidas en fase (en el caso de una onda plana que incide en direccin normal). En el caso que nos ocupa, las ondas dispersadas no estn todas en fase porque sus distancias con respecto a la fuente son diferentes. Para calcular el patrn de interferencia, es necesario considerar las diferencias de trayecto totales de las ondas dispersadas, incluso las distancias de la fuente al elemento dispersor y de ste al observador.

Las condiciones para que la radiacin proveniente de la formacin completa lleguen al observador en fase son: 1) el ngulo de incidencia debe ser igual al ngulo de dispersin y 2) la diferencia de trayecto correspondiente a filas adyacentes debe m ser igual a , donde m es un entero. Podemos expresar la segunda condicin como

2dsen m

(m 1,2,3,...) de todos los elementos Las ondas provenientes dispersores de un plano determinado interfieren constructivamente, si son iguales los ngulos de incidencia y de dispersin.

EJEMPLO

Se dirige un haz de rayos x con una longitud de onda de 0.154 nm hacia ciertos planos de un cristal de silicio. Conforme se aumenta el ngulo de incidencia a partir de cero, se encuentra el primer mximo de interferencia intenso debido a estos planos, cuando el haz forma un ngulo de 34.5 con los planos. a) Cul es la separacin entre los planos? b) Se hallarn otros mximos de interferencia debidos a estos planos a ngulos mayores?

a)

b)

m 10.154nm d 0.136nm 2 sen 2 sen34.5 m 0.154nm sen m m0.566 2d 2(0.136nm)

EJERCICIO

Los tomos de un cristal dispersan rayos x con una longitud de onda de 0.0850 nm. El mximo de segundo orden de la reflexin de Bragg se presenta cuando el ngulo de la figura 36.23 es de 21.5. Cul es la separacin entre planos atmicos adyacentes en el cristal?