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Anlise Instrumental
MMD00013 Andra Moura Bernardes
ESPECTROSCOPIA
O tomo constitudo por um ncleo circundado por eltrons. Todo elemento tem um nmero especfico de eltrons que esto associados a um nmero atmico, que constituem uma estrutura nica para cada elemento; Os eltrons ocupam orbitais onde h maior ou menor probabilidade de encontr-los. A energia mais baixa corresponde estrutura mais estvel, a qual chamada de estado fundamental. O estado fundamental a configurao orbital normal do tomo;
Se uma energia aplicada ao tomo, tal energia ser absorvida pelo tomo, atravs da promoo de eltrons para posies de energia superiores. Desta forma, o tomo ficar menos estvel ou seja, estar em um estado excitado;
ESPECTROSCOPIA
Cessada essa energia, o tomo retornar espontaneamente e rapidamente ao estado fundamental. O eltron promovido retornar sua posio inicial, estvel, e energia radiante equivalente quantidade de energia inicialmente absorvida ser emitida;
O comprimento de onda da energia radiante emitida () est diretamente relacionado transio eletrnica que ocorreu. Como cada elemento tem uma estrutura eletrnica nica, o comprimento de onda de uma radiao emitida uma propriedade nica e caracterstica de cada elemento individual.
EQUIPAMENTO
ENSAIO
AMOSTRAS
VANTAGENS
Rapidez da anlise; Fcil preparao da amostra; Determinao simultnea de vrios elementos; Mtodo limpo; Vivel economicamente.
DESVANTAGENS
Necessidade de materiais de referncia ou padres para calibrao; Baixa preciso; Limites de deteco insuficientes para algumas aplicaes.
APLICAES
Identificao e anlise de metais e outros materiais condutores, quando se deseja evitar a dissoluo das amostras.
BIBLIOGRAFIA
http://www.ufpa.br/ccen/quimica/espectroscopia%20de%20emissao.htm http://hiq.aga.com.br/International/Web/LG/Br/likelgspgbr.nsf/DocByAlias/a nal_emis M. Endham, M. R. C. Denney, R. Barnes, J. Thomas, M. J. K. Vogel Anlise Qumica Quantitativa. Ed. LTC, Rio de Janeiro, 2002. D. Santos, L. V. G. Tarelho, F. J. Krug, D. M. B. P. Milor, L. M. Neto, N. D. Vieira. Espectrometria de Emisso ptica com Plasma Induzido por Laser (LIBS) -Fundamentos, Aplicaes e Perspectivas. Revista Analytica, Agosto/Setembro, N24, 2006.