Microscopio electrnico de

barrido (SEM)
Jonathan Rincn Saucedo
1526359
Qu es un SEM?
Instrumento que permite la observacin y
caracterizacin superficial de materiales
inorgnicos y orgnicos, entregando
informacin morfolgica del material
analizado.
Funcionamiento
Consiste en hacer incidir un barrido de haz de
electrones sobre la muestra la cual debe ser
conductora, generalmente recubierta con una
capa muy fina de oro o carbn. La tcnica de
preparacin de las muestras se denomina
supttering o pulverizacin catdica.
Todos los
microscopios
electrnicos son
instrumentos de
alto vaco. Esto
para que los
electrones viajen
sin ningn
impedimento y
para evitar la
descarga
elctrica del haz.
Diferentes fuentes de emisin de
electrones hay 2 tipos de fuentes de
emisin:

Emisores termoinicos : utilizan una
corriente elctrica para calentar el
filamento que reduce la funcin de
trabajo del material de filamento.
Cuando la funcin de trabajo baja,
los electrones se pueden extraer
ms fcilmente fuera del filamento
con un campo elctrico. (materiales
como tungsteno)
Emisores de campo: Se supera la
funcin de trabajo de los electrones
por medio de potencial elctrico.

Las fuentes de emisin de campo
utilizan dos placas de nodo
colocados debajo del conjunto
del caon. Asociado con el
primer nodo es la tensin de
extraccin.
La tensin de extraccin es por
lo general en el rango de 3-5
kilovoltios.
El segundo nodo tiene el
voltaje de aceleracin asociado
con l. El voltaje de aceleracin
determina la velocidad a la que
los electrones viajan hacia abajo
en la columna. Ambos de estos
nodos actan como lentes
electrostticas, enfocando el haz
en un pequeo cruce inicial.
Los dos factores que determinan la resolucin en el
microscopio electrnico de barrido :
Aceleracin de la tensin, que esta ligado al voltaje ya
que la resolucin de un instrumento depende de la
longitud de onda de la fuente.
(Generalmente un SEM tiene entre 500 a 30,000 volts.)
(Mientras mayor sea el voltaje mayor es la resolucin.)

El otro componente de la resolucin , cruce inicial (
dimetro del haz )
Para ayudarnos en el
refinamiento del haz de
electrones, se emplean las
lentes electromagnticas.
La ruta de acceso de un
electrn puede ser alterado
por la exposicin a un
campo magntico.
Lentes electromagnticas
crean un campo magntico
circular que condensa el haz
de electrones .
La fuerza de las lentes
puede ser cambiado
mediante la variacin de la
corriente.
Despus de la apertura de
malla objetivo , la ltima
manipulacin del haz antes
de pinzamiento en la muestra
se produce en la lente final .
La lente final es el corazn del
SEM , y le da al instrumento
su nombre.
Dentro de la lente final son
las bobinas de barrido.
Estas bobinas realizan un tipo
escaneo con el haz de
electrones enfocado sobre la
superficie de la muestra
Cuando el haz de
electrones incide
sobre la superficie
de la muestra el
primer haz
interacta ya sea
de manera elstica
o inelstica con
tomos de la
muestra.
Los eventos de
dispersin elstica
son aquellos en los
que los electrones
primarios se acerca
al ncleo y altera la
trayectoria de
estos electrones
con una pedida
mnima de energa.
La dispersin elstica pueda cambiar los
electrones primarios hasta 180, por lo que los
electrones que son alterados lo suficiente para
dejar la muestra se denominan electrones
retro-dispersados.
Eventos inelsticos son aquellos en los que el
haz de electrones tiene una colisin con los
tomo de la muestra.
Los electrones se someten a un cambio en la
direccin, as como la transferencia de energa
a la muestra . Algunas seales generadas por
eventos inelsticas son: electrones Auger,
electrones secundarios , rayos X
caractersticos y radiacin brehmstraalung.
Un grupo de electrones
secundarios se forman
cuando estos provienen
de los tomos de la
muestra que fueron
sacados de sus orbitas,
la energa de estos
electrones esta en un
rango de 0-50 eV.
Los electrones secundarios se
pueden dividir en:
SEI: electrn que se genera en
el punto de incidencia del haz
primario con la superficie.
SEII: electrn retro-dispersado
que deja la superficie de la
muestra.
SEIII: electrn liberado cuando
un SEII golpea el interior de la
muestra.
SEIV: electrn formado cuando
el haz primario golpea una
apertura de la malla dentro de
la columna de electrones.
Detector de electrones secundarios (SEI) con lo
que obtenemos las imgenes de alta resolucin.

Detector de electrones retro dispersados (BEI)
con menos resolucin de imagen pero mayor
contraste para obtener la topologa de la
superficie.

Detector de energa dispersiva (EDS) detecta los
rayos X generados y permite realizar un anlisis
espectro grafico.
NanoSEM200 con sistema de Microanlisis De Energa Dispersiva de Rayos
X (EDS o EDX) Marca Oxford Modelo INCA X-Sight

Qu puede hacer?
Anlisis morfolgico superficial mediante imagen
de electrones secundarios (SE) y anlisis de
composicin y topografa mediante imagen de
electrones retrodispersados.
Anlisis morfolgico y qumico de: a) materiales
conductores en modo alto vaco, b) materiales no
conductores en modo bajo vaco y c) modo de
transmisin.
Media y alta resolucin hasta 100,000 X de
magnificacin y 1 nm de resolucin.
Determinacin de tamao de partcula.
Determinacin de espesores de recubrimientos.

Determinacin elemental de contaminantes en
materiales slidos (cermicos, metlicos, polmeros,
dispositivos electrnicos, recubrimientos, etc.).
Mapas de Rayos-X en imagen de electrones
secundarios o retrodispersados, los cules permiten
conocer la distribucin de elementos presentes.
Determinacin de textura en materiales cristalinos (se
requiere conocer la cristalografa del material a analizar
y una preparacin especial).
Comparacin morfolgica y de composicin qumica de
materias primas, materiales, productos finales, etc.

SINTESIS DE NANOTUBOS DE CARBONO POR EL METODO
DE ARCO DE DESCARGA ELECTRICA