Representao de uma direo (vetor) Coordenadas da extremidade menos as coordenadas da origem DIREES CRISTALOGRFICAS NDICES DE MILLER : Direo |hkl| colchetes Famlia de direes <hkl> aspas Ex. <123> = |123|, |231|, |321| e |123| DIREES CRISTALOGRFICAS CRISTALOGRFIA (Direes e Planos atmicos) Linha de tomos na direo y |010| +x +y +z DIREES CRISTALOGRFICAS DIREES NOS CRISTAIS So representadas entre colchetes= [hkl]
Se a subtrao der negativa, coloca-se uma barra sobre o nmero
9 -1,0,-1 - DIREES CRISTALOGRFICAS Obs.: A direo |222| idntica direo |111|. Assim sendo, a combinao dos menores nmeros inteiros deve ser usada. Direes distintas:
<111> = |111|, |1 - 11|, |11 - 1|, |111 - | DIREES PARA O SISTEMA CBICO A simetria desta estrutura permite que as direes equivalentes sejam agrupadas para formar uma famlia de direes: <100> para as faces <110> para as diagonais das faces <111> para a diagonal do cubo 11 <110> <100> <111> DENSIDADE LINEAR DL = nmero de tomos centrados no vetor direo comprimento do vetor direo DIREES COMPACTAS DO SISTEMA CCC No sistema ccc os tomos se tocam ao longo da diagonal do cubo, que corresponde a famlia de direes <111>. Ento, a direo <111> a de maior empacotamento atmico para o sistema CCC. 13 DIREES COMPACTAS DO SISTEMA CFC No sistema CFC os tomos se tocam ao longo da diagonal da face, que corresponde a famlia de direes <110>. Ento, a direo <110> a de maior empacotamento atmico para o sistema CFC.
14 Filme 22 3.15- a) Qual a densidade atmica linear ao longo da direo |112| do Ferro? B) e do Nquel? 15 Livro: Van Vlack
3.15- a) Qual a densidade atmica linear ao longo da direo |112| do Ferro? B) e do Nquel? 16 a) Clculo da densidade atmica linear ao longo da direo |112| do Ferro 112 Cont. questo 3.15 17 b) Clculo da densidade atmica linear ao longo da direo |112| do Nquel PLANOS CRISTALINOS Um cristal contm planos de tomos e esses planos influenciam as propriedades e o comportamento do cristal. , portanto vantajoso identificar os vrios planos atmicos que existem em um cristal.
Definio de Plano: X + Y + Z = 1 ou aX + bY + cZ = 1 e m n x y z e m n PLANOS CRISTALOGRFICOS NDICES DE MILLER PLANAR:
Planos ( hkl) parnteses Famlia de Planos {hkl} chaves ROTEIRO PARA DETERMINAR OS NDICES DE UM PLANO: 1. Determina-se as intersees do plano com os trs eixos; 2. Toma-se os inversos; 3. Multiplica-se por um fator para torn-los nmeros inteiros; 4. ndices de Miller (hkl) PLANOS CRISTALINOS Planos (010) So paralelos aos eixos x e z (paralelo face) Cortam um eixo (neste exemplo: y em 1 e os eixos x e z em ) 1/ , 1/1, 1/ = (010) 21 X Y Z 1 1 , 1 , 1 , 1 , (010)
Plano atmico (001) em rede cbica simples +z +x +y PLANOS CRISTALINOS Planos (110) So paralelos a um eixo (z) Cortam dois eixos (x e y) 1/ 1, 1/1, 1/ = (110) 23 PLANOS CRISTALINOS Planos (111) Cortam os 3 eixos cristalogrficos 1/ 1, 1/1, 1/ 1 = (111) 24 Planos cristalogrficos FAMLIA DE PLANOS {110} paralelo um eixo 26 Planos cristalogrficos cont. AVALIAO: DETERMINE O PLANO ATMICO O plano corta o eixo z em (0, 0, a/2); Corta o eixo x em (-a, 0, 0); paralelo ao eixo y.
Usando os procedimentos j descritos os ndices so determinadas:
(1 - 02)
PLANOS NO SISTEMA CBICO A simetria do sistema cbico faz com que a famlia de planos tenham o mesmo arranjamento e densidade. Deformao em metais envolve deslizamento de planos atmicos. O deslizamento ocorre mais facilmente nos planos e direes de maior densidade atmica.
29 CCC CFC PLANOS DE MAIOR DENSIDADE ATMICA NO SISTEMA CFC A famlia de planos {111} no sistema cfc o de maior densidade atmica
30 Densidade Planar: DP = nmero de tomos no plano rea do plano PLANOS DE MAIOR DENSIDADE ATMICA NO SISTEMA CCC A famlia de planos {110} no sistema ccc o de maior densidade atmica
31 3.16 a) Quantos tomos por milmetro quadrado h no plano (100) do Cobre? b) no plano (110)? (c) e no plano (111)?
a) No plano (100); r Cu = 1,278 A = 1,278x10 -8 cm; a CFC = 4r 32 2 Livro: Van Vlack Cont. questo 3.16 Van Vlack b) No plano (110) 33 Cont. questo 3.16 Van Vlack (c) No plano (111) 34 Obs.: Somente no Sistema Cbico, Plano e Normal tm os mesmos ndices A normal do plano (100) a direo [100], a normal do plano (110) a direo [110] e assim por diante. PRODUTO ESCALAR Ex.: |110| e |110| pertencem ao plano (111)
u v Se = 90 u .v = 0 Ex.: |110|.|110| = -1+1+0=0 u.v = ux.vx + uy.vy + uz.vz u.v = ,u, . ,v, cos ,u, = ux.vx + uy.vy + uz.vz Cos = ux.vx + uy.vy + uz.vz ux 2 + uy 2 +uz 2 . vx 2 + vy 2 + vz 2 u v PRODUTO VETORIAL Direo comum a dois planos Aplicao: calculo da direo comum aos planos (100) e (111)
Soluo: atravs do produto vetorial
i j k i j k ux uy uz = 1 0 0 = |011| vx vy vz 1 1 1
39 NMERO DE COORDENAO
Nmero de coordenao corresponde ao nmero de tomos vizinhos mais prximos NMERO DE COORDENAO DA ESTR. CS
Para a estrutura CS o nmero de coordenao 6 4 no mesmo plano + 1 no plano de baixo + 1 no plano de cima 41 NMERO DE COORDENAO DA ESTR. CCC Para a estrutura ccc o nmero de coordenao 8 1/8 de tomo 1 tomo inteiro 42 NMERO DE COORDENAO DA ESTR.S CFC Para a estr.s CFC o nmero de coordenao 12. CFC Empacotamento compacto CFC: ABC, ABC... 43 NMERO DE COORDENAO DA ESTR. HC Para a estr.s HC o nmero de coordenao 12. HC RESUMO:NMERO DE COORDENAO, NC Representa o nmero de vizinhos mais prximos que um dado tomo tem HC CFC CCC ESTRURA CRISTALINA NMERO DE COORDENAO CCC 8 CFC e HC 12 EMPILHAMENTO TIMO 46 TABELA RESUMO PARA O SISTEMA CBICO
tomos Nmero de Parmetro Fator de por clula coordenao de rede empacotamento CS 1 6 2R 0,52 CCC 2 8 4R/(3) 1/2 0,68 CFC 4 12 4R/(2) 1/2 0,74
CFC 1/8 de tomo CCC cs 47 RAIO ATMICO E ESTRUTURA CRISTALINA DE ALGUNS METAIS SISTEMAS CRISTALINOS (terminologia) PORTUGUS ESPANHOL INGLS CCC- Cbico de Corpo Centrado CC- Cbica Centrada BCC- Body Centered Cubic CFC- Cbico de Face Centrada CCC- Cbica de Caras Centradas FCC- Face Centered Cubic HC- Hexagonal Compacto HC- Hexagonal Compacta HCP- Hexagonal Close Packed 1500 1400 910 o C Ferro o CCC Ferro o CCC Ferro CFC Ferro lquido Alotropias do Ferro preciso malhar o Ferro enquanto ainda est quente. 50 ALOTROPIA DO FERRO Na temperatura ambiente, o Ferro tm estrutura CCC, nmero de coordenao 8, fator de empacotamento de 0,68 e um raio atmico de 1,241. A 910C, o Ferro passa para estrutura CFC, nmero de coordenao 12, fator de empacotamento de 0,74 e um raio atmico de 1,292. A 1394C o ferro passa novamente para CCC.
ccc cfc ccc At 910C De 910-1394C De 1394C-PF Propriedades fsicas do titnio sem elementos de liga
metal leve de alta resistncia, de colorao branca metlica. extrado de minerais, sendo as principais fontes o rutilo (TiO 2 ) e a Ilmenita (FeTiO 3 ). Pedra de Rutilo: mineral que imita diamante. Densidade: 0,163 lbs/in3 (4,51 g/cm3) Fuso: 3000 - 3100. F 1648.C 1704.C Temperatura de transio Beta: 926C Estrutura cristalina temperatura ambiente, fase o: HCP Estrutura cristalina acima da temperatura fase |: BCC As pulseiras Phiten so uma maneira instantnea e fcil de se sentir bem, com estilo e conforto. Reforada com Titanium, que um metal anti-alrgico, realinha a corrente bioeltrica em seu corpo ESPAAMENTOS INTERPLANARES No sistema cbico, o espaamento entre os planos :
dhkl= a . (h 2 +k 2 +l 2 ) 1/2
1=10 -10 m=10 -8 cm (angstrom) nano,n=10 -9 m ESPAAMENTOS INTERPLANARES d111= a .= a . = a 3 (1 2 +1 2 +1 2 ) 1/2 3 3 d100= a .= a (1 2 +0 2 +0 2 ) 1/2
d220= a .= a . = a 2 (2 2 +2 2 +0 2 ) 1/2 8 4
d110= a .= a . = a 2 (1 2 +1 2 +0 2 ) 1/2 2 2
d200= a .= a . = a . (2 2 +0 2 +0 2 ) 1/2 2 2 2
ESPAAMENTOS INTERPLANARES d110= a . = a . = a 2 (1 2 +1 2 +0 2 ) 1/2 2 2 d200= a . = a . = a . (2 2 +0 2 +0 2 ) 1/2 2 2 2
Os ndices de Miller so reduzidos aos menores nmeros inteiros; Os espaamentos interplanares no so. d 111 diferente de d 222 .
DETERMINAO DA ESTRUTURA CRISTALINA POR DIFRAO DE RAIO X Raos-x tem comprimento de onda similar a distncia interplanar ~ 0,1nm 56 O espectro eletromagntico DETERMINAO DA ESTRUTURA CRISTALINA POR DIFRAO DE RAIO X 58 DIFRAO DE RAIOS X LEI DE BRAGG (1913) 59 n= 2 d hkl .senu comprimento de onda n um nmero inteiro de ondas d a distncia interplanar u O ngulo de incidncia d hkl = a (h 2 +k 2 +l 2 ) 1/2 Vlido para sistema cbico LEI DE BRAGG n= 2 d hkl .senu Schematic diagram of an x-ray diffractometer; T x-ray source, S specimen, C detector, and O the axis around which the specimen and detector rotate. DISTNCIA INTERPLANAR (d hkl ) uma funo dos ndices de Miller e do parmetro de rede
d hkl = a (h 2 +k 2 +l 2 ) 1/2 61 DIFRAO DE RAIOS X Lei de Bragg: dhkl.Sen=n/2 Mtodos de difrao de Raios-X DIFRAO DE RAIOS X d/n=/2sen D(hkl)= a . h 2 +k 2 +l 2
a(cfc)=4R 2 a(ccc)=4R 3 DIFRAO DE RAIOS X Difrao de Raios X DIFRATMETRO DE RAIOS - X O INSTRUMENTAL DO IPT A difratometria de raios X corresponde a uma das principais tcnicas de caracterizao microestrutural de materiais cristalinos. O ngulo u, no qual o cristal pode refletir o raio-X, depende fundamentalmente da distancia interplanar d hkl do retculo. 67 Difratmetro de Raios X em julho de 1979 n= 2 d hkl .senu DIFRATMETRO DE RAIOS X 68 Difratmetro de p, Philips, modelo Pw 1880 (instalado no LCT EPUSP) n = 2 d hkl . senu EFEITO DA DEFORMAO NO NGULO DE BRAGG 69 o = E.c DIFRATOMETRO PORTTIL DE RAIOS X LEI DE BRAGG 70 DIFRATOMETRO PORTTIL DE RAIOS X LEI DE BRAGG Dr. Joel Teodsio Professor da COPPE/UFRJ MINIDIFRATMETRO DESENVOLVIDO NA INCUBADORA DA COPPE/UFRJ 72 A vista geral do minidifratmetro: 1-fonte de alta tenso; 2-blindagem com ampola de raios X; 3-Colimador; 4-porta de amostra; 5-detector sensvel posio; 6- Unidade de controle do detector; 7-computador. INOVAES TECNOLOGICAS DO MINIDIFRATOMETRO Neste trabalho, o controle de corrente de nodo, foi feito atravs da potncia aplicada ao filamento, e foi implementado por meio de um circuito PWM (Pulse Width Modulation) em malha fechada, o que permitiu uma grande estabilidade de corrente. Todo circuito eletrnico descrito est contido em um gabinete de alumnio com dimenses de 320x280x80 mm. O difratmetro desenvolvido no tem o gonimetro como uma unidade separada. As funes do gonimetro so cumpridas por um motor de passo controlado pelo computador. Esta substituio, do gonimetro tradicional por motor de passo, simplifica a determinao da posio angular do detector e diminui significativamente o peso total do difratmetro. O computador controla a rotao de detector e permite determinar aposio angular deste com preciso 0,05 graus. 73 APLICAO EM CONDIES DE CAMPO 74 Utilizao do minidifratmetro em medidas de tenses em condies de campo.
Equipamentos
A microssonda EDX, disponvel na Gerdau Aos Especiais Piratini desde 1996, um equipamento complementar ao MEV capaz de realizar anlises qualitativas e quantitativas (bem como mapeamentos) de elementos qumicos, assim auxiliando na caracterizao de incluses no-metlicas presentes nos aos.
PLANOS CRISTALINOS Por qu so importantes? 76
OS PLANOS CRISTALINOS SO IMPORTANTES PORQUE: Para a determinao da estrutura cristalina; Para a deformao plstica; Para as propriedades de transporte.
78 FIM 79 Algumas direes da famlia de direes <100> Z 80 As duas direes pertencem a mesma famlia? [101] Z |011| 81 FAMLIA DE PLANOS {111} Intercepta os 3 eixos