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MICROSCOPE (STM)....
TECNICA DE STM
INSTRUMENTACIN
PRINCIPIO DE MANEJO
La punta esta sujeta en el vrtice de tres barras cermicas de material piezoelctrico (x,y y z).
Mientras las barras de x e y son polarizadas por rampas de voltaje que producen un rastreo de la punta
sobre la superficie la barra Z se polariza de modo que la distancia de la punta a la superficie sea adecuada
para producir una corriente tnel constante . Este voltaje de polarizacin se obtiene de un circuito de
retroalimentacin.
Cuando la punta conductora es colocada muy cerca de la superficie a ser examinada, unadiferencia de
voltaje aplicada entre las dos puede permitir a los electrones pasar al otro lado mediante efecto tnel a
travs del vaco entre ellas. La resultantecorriente de tunelizacines una funcin de la posicin de la punta,
el voltaje aplicado y ladensidad local de estados (LDOS por sus siglas en ingls) de la muestra.La
informacin es adquirida monitoreando la corriente conforme la posicin de la punta escanea a travs de la
superficie, y es usualmente desplegada en forma de imagen ,esta imagen obtenida corresponde a la
densidad electrnica de los estados de la superficie.
La corriente tnel es una funcin que varia de modo exponencial con la distancia .Esta dependencia
exponencial hace que la tcnica STM tenga una alta sensibilidad pudindose obtener imgenes con
resoluciones de subansgtrom. Esta tcnica se puede utilizar en modo de distancia Punta muestra constante
o corriente constante
La principal ventaja de esta tcnica es la resolucin a escala atmica que ofrece para conseguir este tipo
de resolucion se ha de trabajar sobre muy buenos conductores (Pt.Au Y Ag)
Se ha de trabaja en situ (evitar oxidacin o contaminacion de la superficie) al vacio o baja temperatura
donde el ambiente permite un adecuada preparacin de las muestras .
La principal limitacin de esta tcnica esta en la imposibilidad de trabajar con muestras aislantes
El tiempo de respuesta de este circuito ,t, esta determinado por la resistencia de entrada
y el capacitador de retroalimentacin del modulo integrador que constituye el polo
dominante del circuito . Cuando la velocidad de rastreo en X es menor que 1/t , el STM
opera en el llamado modo topogrfico . Las imgenes obtenidas de este modo son una
coleccin de lneas correspondientes a los contornos de igual densidad de carga al nivel
de fermi de la muestra cuando esta esta polarizada negativamente . Cuando la punta es
negativa , las lneas correspondientes a los contornos de igual densidad de estados vacios
de la muestra a la energa eV por encima del nivel de Fermi .
Cuando el rastreo se efectua a frecuencias superiores a 1/t , el circuito electrnico no
puede mantener el valor instantneo de la corriente tnel solo su valor medio y por
consiguiente , la distancia media de la punta de la superficie se mantiene constantes , el
valor instantneo de 1 refleja los cambios de la probabilidad local del tnel . El valor 1 en
funcin de X e Y constituye la imagen. Este modo de operar se denomina modo corriente
.
Los dos modos de operacin son en cierta manera complementarios. Cuando se barre la
superficie sobre grandes distancias , la velocidad de rastreo debe ser moderada a fin de
evitar que la punta choque contra irregularidades locales .
Cuando se barre sobre pequeas distancias en superficie planas el modo corriente tienen
ventajas .Los barridos rapidos minimizan la deriva trmica .
BIBLIOGRAFIA
https://books.google.com.pe/books?
id=fgrZGpc1wwYC&pg=PA323&lpg=PA323&dq=tecnica+
+STM+SUPERFICIES&source=bl&ots=9Bm70LrSY&sig=uM3ILKnRdxU-OQvV5pcy9NvgBio&hl=es419&sa=X&ved=0CEIQ6AEwB2oVChMItcvlxtz1xwIVjbKACh2xSAxn
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https://prezi.com/wxp7oiq3szjb/aplicaciones-del-microscopio-deefecto-tunel/