CIENCIA DE LOS MATERIALES

2012 - 2

SISTEMAS CRISTALINOS METALICOS

MONOCRISTALES Y POLICRISTALES METALICOS
METALOGRAFIA POR MICROSCOPIA OPTICA
METALOGRAFIA POR MICROSCOPIA ELECTRONICA
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SISTEMAS CRISTALINOS.- Un solido cristalino se construye a

partir de la repeticin en el espacio de una estructura elemental
paralelepipdica denominada celda unitaria. En funcin de los
parmetros de red , es decir, de las longitudes de los lados, o ejes,
del paraleleppedo elemental y de los ngulos que forman, se
distinguen 7 sistemas cristalinos:

SISTEMAS CRISTALINOS
Sistema Cristalino

Ejes

Angulos entre ejes

Cbico

a=b=c

= = = 90

Tetragonal

a=bc

= = = 90

Ortorrmbico

abca

= = = 90

Hexagonal

a=bc

= = 90; = 120

Trigonal (o
Rombodrica)

a=b=c

= = 90

Monoclnico

abca

= = 90; 90

Triclnico

abca

, , 90

PUNTOS, DIRECCIONES Y PLANOS EN LA CELDA UNITARIA

No atomos/celda
unitaria
CS

8X1/8 = 1

CC (BCC)

1 + 8X1/8 = 2

CCC (FCC)

6X1/2 + 8/1/8 = 4

No Coord

Atm./celd.

APF

Prop.
mecanicas

CS

0.52

No hay

CC
(BCC)

0.68

Duro

CCC
(FCC)

12

0.74

Ductil

HCP

12

0.74

Fragil

MATERIALES POLICRISTALINOS

METALOGRAFIA POR MICROSCOPIA OPTICA

Fundamento del microscopio ptico

A pesar de los enormes avances y sofisticados de la microscopa
electrnica, la microscopa ptica, lejos de quedar como una tcnica
obsoleta, continua mejorando, gracias a las constantes
investigaciones que se llevan a cabo para reducir en lo posible, las
limitaciones que esta tcnica comporta e incorporar nuevos
elementos para una mejora en los exmenes microscpicos.

ESQUEMA DE UN
MICROSCOPIO DE
LUZ TRANSMITIDA
Para materiales de
capas muy finas que
dejan pasar la luz
visible.

ESQUEMA
DE UN
MICROSCOPIO DE
LUZ REFLEJADA.
MICROSCOPIO METALOGRAFICO

METALOGRAFIA POR MICROSCOPIA ELECTRONICA

1. MICROSCOPIA ELECTRONICA DE BARRIDO (SEM)
El Microscopio electrnico de barrido o SEM (Scanning Electron
Microscope), es aquel que utiliza un haz de electrones en lugar de
un haz de luz para formar una imagen. Tiene una gran profundidad,
la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la muestra.
Tambin produce imgenes de alta resolucin, que significa que
caractersticas espacialmente cercanas en la muestra pueden ser
examinadas a una alta magnificacin. La preparacin de las muestras
es relativamente fcil pues la mayora de SEMs slo requieren que
estas sean conductoras.
En este microscopio es necesario acelerar los electrones en un campo
elctrico, para aprovechar su comportamiento ondulatorio, lo cual se
lleva a cabo en la columna del microscopio, donde se aceleran por
una diferencia de potencial de 1,000 a 30,000 voltios.

MICROSCOPIO
ELECTRONICO DE
BARRIDO (SEM)

DIAGRAMA
ESQUEMATICO DE
UN MICROSCOPIO
ELECTRONICO
(SEM)

2. MICROSCOPIA ELECTRONICA DE TRANSMISION

(TEM)
En el microscopio electrnico de transmisin (TEM) se irradia una
muestra delgada con un haz de electrones de densidad de corriente
uniforme, cuya energa est dentro del rango de 100 a 200 keV. Parte
de esos electrones son transmitidos, otra parte son dispersados y otra
parte da lugar a interacciones que producen distintos fenmenos
como emisin de luz, electrones secundarios y Auger, rayos X, etc.
Todas estas seales se pueden emplear para obtener informacin
sobre la naturaleza de la muestra (morfologa, composicin,
estructura cristalina, estructura electrnica, etc.). El microscopio
electrnico de transmisin emplea la transmisin/dispersin de
los electrones para formar imgenes, la difraccin de los electrones
para obtener informacin acerca de la estructura cristalina y la
emisin de rayos X caractersticos para conocer la composicin
elemental de la muestra.

MICROSCOPIO
ELECTRONICO DE
TRANSMISION (TEM)

DIAGRAMA
ESQUEMATICO DE
UN MICROSCOPIO
ELECTRONICO
(TEM)