Programa de certificacin

de Green Belts
V.D. Seis Sigma Control
P. Reyes / Octubre 2007

Fase de Control

Objetivos:

Mantener las mejoras por medio de control

estadstico de procesos, Poka Yokes y trabajo
estandarizado

Anticipar mejoras futuras y preservar las lecciones

aprendidas de este esfuerzo

Salidas:

Plan de control y mtodos de control implementados

Capacitacin en los nuevos mtodos
Documentacin completa y comunicacin de
resultados, lecciones aprendidas y recomendaciones

FASE DE CONTROL
Soluciones
implementadas
Documentar
Estndares y Capacitar
de trabajo
Herramientas
Lean

Plan de
Control
CEP Poka Yokes

Plan de calidad y Monitoreo

Si

Proceso
en control?
No
Tomar acciones correctivas
y preventivas Actualizar AMEF

Metodologa Seis Sigma

Fase de Control
1. Control Estadstico del Proceso
2. Implementar y validar soluciones
3. Plan de control

1. Control Estadstico del

Proceso

Objetivos y beneficios

El CEP es una tcnica que permite aplicar el

anlisis estadstico para medir, monitorear y
controlar procesos por medio de cartas de control

Se basa en que los procesos presentan variacin,

aleatoria y asignable

Entre los beneficios se encuentran:

Monitorear procesos estables e identificar si han

ocurrido cambios debido a causas asignables para
eliminar sus fuentes

Seleccin de variables

El CEP por variables implica realizar mediciones

en la caracterstica de calidad de inters, tal
como:

Dimensiones
Pesos
Tiempos de servicio, etc.

El CEP por atributos califica a los productos como

buenos o como defectivos o en su caso cuantos
defectos tiene, tales como:

Color, funcionalidad, apariencia, etc.

Subrupos racionales

Los subgrupos se seleccionan de tal forma que sean tan

homogneos como sea posible, de tal forma que se
tenga la oportunidad mxima de estimar la variacin
esperada entre los subgrupos

Esquemas para formar subgrupos:

Productos producidos casi al mismo tiempo en
secuencia. Permite una variacin mnima dentro del
subgrupo y una probabilidad de variacin mxima
entre subgrupos

Un subgrupo consiste de una muestra aleatoria

representativa de toda la produccin durante un
periodo de tiempo

Qu es una Carta de
Una
Carta de Control es como un historial del proceso...
Control?
... En donde ha estado.
... En donde se encuentra.
... Hacia donde se puede dirigir

Las cartas de control pueden reconocer cambios

buenos y malos.
Qu tanto se ha mejorado?
Se ha hecho algo mal?
Las cartas de control detectan la variacin anormal en
un proceso, denominadas causas especiales o
asignables de variacin.

Variacin observada
en una Carta de Control

Una Carta de control es simplemente un registro de

datos en el tiempo con lmites de control superior e
inferior.

Una carta de control identifica los datos secuenciales en

patrones normales y anormales.

El patrn normal de un proceso se llama causas de

variacin comunes.

El patrn anormal debido a eventos especiales se llama

causa especial de variacin.

Tener presente que los lmites de control NO son lmites

10
de especificacin.

Causas comunes o normales

CAUSAS COMUNES
Siempre estn presentes
Slo se reduce con acciones de mejora mayores
Su reduccin es responsabilidad de la direccin

Fuentes de variacin: Mrgenes inadecuados de

diseo, materiales de baja calidad, capacidad del
proceso insuficiente

SEGN DEMING
El 94% de las causas de la variacin son causas
comunes, responsabilidad de la direccin
11

Variacin Causas comunes

Lmite
inf. de
especs.

Lmite
sup. de
especs.

Objetivo

12

Causas Especiales

CAUSAS ESPECIALES
Ocurren espordicamente
Son ocasionadas por variaciones anormales (6Ms)

Medicin,

Medio ambiente, Mano de obra, Mtodo,

Maquinaria, Materiales

Slo se reduce con acciones en el piso o lnea

Su reduccin es responsabilidad del operador por
medio del Control Estadstico del Proceso

SEGN DEMING
El 15% de las causas de la variacin son causas
especiales y es responsabilidad del operador

13

Variacin Causas especiales

Lmite
inf. de
especs.

Lmite
sup. de
especs.

Objetivo

14

Cartas de control
12.5

Lmite
Superior de
Control

11.5
10.5

Lnea
Central

9.5
8.5
7.5
0

10

20

30

Lmite
Inferior de
Control

15

Patrones de anormalidad
en la carta de control
Escuche la Voz del Proceso Regin de control,
M
E
D
I
D
A
S
C
A
L
I
D
A
D

captura la variacin
natural del proceso
original
LSC

LIC

Tendencia del proceso

Causa Especial

El proceso ha cambiado

identifcada

TIEMPO

Patrones Fuera de Control

Corridas
7 puntos consecutivos de un lado de X-media.
Puntos fuera de control
1 punto fuera de los lmites de control a 3 sigmas en
cualquier direccin (arriba o abajo).
Tendencia ascendente o descendente
7 puntos consecutivos aumentando o disminuyendo.

Adhesin a la media
15 puntos consecutivos dentro de la banda de 1 sigma
del centro.
Otros
2 de 3 puntos fuera de los lmites a dos sigma

17

Patrn de Carta
en Control Estadstico
Proceso en Control estadstico
Sucede cuando no se tienen situaciones
anormales y aproximadamente el 68% (dos
tercios) de los puntos de la carta se encuentran
dentro del 1 de las medias en la carta de
control.

Lo anterior equivale a tener el 68% de los

puntos dentro del tercio medio de la carta de
control.
18

Cartas de Control para

variables

19

Tipos de Cartas de control

Las cartas de control se dividen en dos
categoras, diferenciadas por el tipo de datos
bajo estudio- variables y atributos.
Las Cartas de Control para datos variables son
utilizadas para caractersticas que tienen una
magnitud variable. Ejemplo:
- Longitud, Ancho, Profundidad
- Peso, Tiempo de ciclo, Viscosidad
20

Cartas de Control por Variables

MEDIAS RANGOS (subgrupos de 5 - 9 partes cada x horas,

para estabilizar procesos)

MEDIANAS RANGOS (para monitorear procesos estables)

MEDIAS DESVIACIONES ESTANDAR (subgrupos de 9 o

ms partes cada hora o cada lote de proveedor para
monitoreo de procesos o proveedores)

VALORES INDIVIDUALES (partes individuales cada x

horas, para monitoreo de procesos muy lentos o qumicos)

21

Implantacin de cartas
de control por variables
1. Identificar la caracterstica a controlar en base
a un AMEF (anlisis del modo y efecto de falla)
2. Disear los parmetros de la carta (lmites de
control, subgrupo 3-5 partes, frecuencia de
muestreo)
3. Validar la habilidad del sistema de medicin por
medio de un estudio Repetibilidad &
Reproducibilidad
4.Centrar el proceso, correrlo y medir al menos 25
subgrupos de 5 partes cada uno,
correspondiente a la produccin del mismo
turno o da

Cartas de Control por Variables Metodologa de implantacin

5. Calcular los lmites de control preliminares a 3 Sigma
6. Identificar causas asignables o especiales y tomar accin
para prevenir recurrencia
7. Recalcular los lmites de control de ser necesario repetir paso
6. Establecer lmites preliminares para corridas futuras
8. Continuar el monitoreo y Anlisis, tomar acciones en causas
especiales y recalcular lmites de control cada 25 subgrupos
9. REDUCIR CAUSAS COMUNES DE VARIACIN

23

Carta X, R (Continuacin)
Terminologa
k = nmero de subgrupos; n = nmero de muestras en cada subgrupo
X = promedio para un subgrupo
X = promedio de todos los promedios de los subgrupos
R = rango de un subgrupo
R = promedio de todos los rangos de los subgrupos

x =
x =

x1 + x2 + x3 + ...+ xN
n
x1 + x2 + x3 + ...+ xN

LSCX = x + A2 R
LICX = x - A2 R
LSCR = D4 R
LICR = D3 R

NOTA: Los factores a considerar

para n = 5
Son A2 = 0.577 D3 = 0

D4 = 2.11

Carta X-R
Xbar-R Chart of Supp1
600.5

600.0
_
_
X=599.548

599.5

599.0
LCL=598.775
1

11
Sample

13

15

17

19

Sample Range

Sample Mean

UC L=600.321

UC L=2.835

2
_
R=1.341
1

LCL=0
1

11
Sample

13

15

17

19

Cul grfica se analiza primero?

Cul es su conclusin acerca del proceso ?

25

Carta de Individuales (Datos variables)

A menudo esta carta se llama I o Xi - MR.

Esta Carta monitorea la tendencia de un proceso con datos

variables que no pueden ser muestrados en lotes o grupos.

Este es el caso cuando la capacidad de

corto plazo se basa en subgrupos racionales de una unidad
o pieza

La lnea central se basa en el promedio de los datos, y los

lmites de control se basan en la desviacin estndar
poblacional (+/- 3 sigmas)

26

Carta X, R (Continuacin)
Terminologa
k = nmero de piezas
n = 2 para calcular los rangos
x = promedio de los datos
R = rango de un subgrupo de dos piezas consecutivas
R = promedio de los (n - 1) rangos

x =

x1 + x2 + x3 + ...+ xN
n

LSCX = x + E2 R
LICX = x - E2 R
LSCR = D4 R
LICR = D3 R

D4

3.27

D3

E2

2.66

(usar estos factores para calcular Lmites de Control n = 2)

Ejemplo: Carta I - MR
I-MR Chart of Supp2
UCL=605.34

I ndividual Value

605.0
602.5

_
X=600.23

600.0
597.5

LCL=595.12

595.0
1

11

21

31

41

51
Observation

61

71

81

91

UCL=6.284

Moving Range

6.0
4.5
3.0

__
MR=1.923

1.5
0.0

LCL=0
1

11

21

31

41

51
Observation

61

71

81

91

Observar la situacin fuera de control

28

Ejercicios de Cartas I o X, R

Hacer dos cartas X-R y concluir:

MUESTRA 1 MUESTRA 2

1 12
2 15
3 13
4 10
5 13
6 15
7 15
8 15
9 22
10

2.832
2.802
2.952
2.80
2.95
2.92
2.95
2.92
2.93
16
2.93

MUESTRA 1

11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

16
15
17
16
17
19
16
16
17
19

MUESTRA 2

2.97
2.95
2.95
2.86
2.89
2.86
2.85
2.78
2.89
2.78
29

Cartas de Control
para atributos

30

Cartas de control por

atributos
Las cartas para atributos son las que tienen
caractersticas como aprobado/reprobado, bueno/malo o
pasa/no pasa. Algunos ejemplos incluyen:
- Nmero de productos defectuosos
- Fraccin de productos defectuosos
- Numero de defectos por unidad de producto
- Nmero de llamadas para servicio
- Nmero de partes daadas
- Pagos atrasados por mes

Cartas de control para atributos

Datos de Atributos
Tipo
Muestra ?

Medicin

p
Fraccin de partes defectuosas,
variable > 30

Tamao de
Constante o

defectivas o no conformes
np

Nmero de partes defectuosas

c
de

Nmero de defectos

Constante > 30

Constante = 1 Unidad
inspeccin

Cartas de Control tipo p

p - CON LMITES DE CONTROL VARIABLES

p - CON n PROMEDIO

p - ESTANDARIZADA

CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN

OC Y ARL

2... Cartas de Control por Atributos

c Nmero de defectos
Se cuentan los defectos que tienen cada unidad de
inspeccin de tamao n constante en productos
complejos TV, computadoras

u Defectos por unidad

Se cuentan los defectos que tienen diferentes
unidades de inspeccin de tamao n variable en
productos complejos y se determinan los defectos por
unidad TV, computadoras

Cartas de control para Atributos

Situaciones fuera de control

Un punto fuera de los lmites de control.

Siete puntos consecutivos en un mismo lado de de la lnea central.

Siete puntos consecutivos, todos aumentando o disminuyendo.

Catorce puntos consecutivos, alternando hacia arriba y hacia abajo.

P Chart of Rejects
0.35

UCL=0.3324

0.30

Proportion

0.25
0.20

_
P=0.1685

0.15
0.10
0.05

LCL=0.0047

0.00
1

11
Sample

Tests performed with unequal sample sizes

13

15

17

19

Carta p (Cont...)
Ejemplo: Algunos componentes no pasaron la inspeccin final. Los datos
de falla se registraron semanalmente tal como se muestra a continuacin.

K = 13 semanas

de n
com pone nte
s
ins pe ccionad
os

Com pone nte s

de fe ctuos os

Fr accin de
com pone nte s
de fe ctuos os

7
7
15
14
48
22
18
7
14
9
14
12
8

0
0
2
2
6
0
6
0
1
0
2
2
1

0.000
0.000
0.133
0.143
0.125
0.000
0.333
0.000
0.071
0.000
0.143
0.167
0.125

np

Carta p (Cont..)
Ejemplo:

Grfica P para Fraccin Defectiva

0.5

Proporci
n

3.0SL= 0.4484
0.4

LSC

0.3
0.2

0.1

P= 0.1128

0.0

-3.0SL= 0.000
0

LIC

10

Nmero de muestra

Observe como el LSC vara conforme el tamao (n) de cada muest

Por qu el LIC es siempre cero?
Qu pas en la muestra 7? (33.3% defectos)
Qu oportunidades para mejorar existen?,
Podemos aprender algo de las muestras 1, 2, 6, 8, y 10?
Podra este proceso ser un buen proyecto de mejora?

Carta np (Atributos)

Se usa cuando se califica al producto como bueno/malo, pasa/no

pasa.
Monitorea el nmero de productos defectuosos de una muestra
El tamao de muestra (n) es constante y mayor a 30.

Terminologa (igual a grfica p, aunque n es constante)

n = tamao de cada muestra (Ejemplo: produccin semana

np = nmero de unidades defectuosas en cada muestra
k = nmero de muestras

Carta np (Cont..)
Ejemplo 1: en un proceso se inspeccionan K = 15 lotes tomando n = 4000

partes de cada lote, se rechazan algunas partes por tener defectos, como sig

# de partes inspeccionadas
4000
4000
4000
4000
4000
4000
4000
4000
4000
4000
4000
4000
4000
4000
4000

K=15 lotes

np

# de partes
defectuosas

2
3
3
2
4
2
3
3
6
8
3
4
4
7
6

4... Carta np (Cont...)

Ejemplo 1:
No. De fecetivos

Carta np de nmero de defectivos o defectuosos

3.0

10

LSC=10.03

Np =4.018 np

- 3.0S
0

10

Nmero de muestras

LIC=0.0

LIC

15

El tamao de la muestra (n) es constante

Los lmites de control LSC y LIC son constantes

Esta carta facilita el control por el operador ya que el

evita hacer clculos

4... Carta c (Atributos)

Monitorea el nmero de defectos por cada unidad de

inspeccin (1000 metros de tela, 200 m2 de material, un TV)
El tamao de la muestra (n unidades de inspeccin) debe ser
constante
Ejemplos:
- Nmero de defectos en cada pieza
- Nmero de cantidades ordenadas incorrectas en
rdenes de compra

Terminologa
c = Nmero de defectos encontrados en
cada unidad o unidades constantes de
inspeccin

Carta c (cont..)
Ejemplo: Nmero de defectos encontrados en una unidad de inspeccin que
consta de 50 partes de cada lote de 75 piezas durante 25 semanas (K = 11).

#Lote / Defectos encontrados

1

10

11

NOTA: Utilizar Excel para

Construir la carta c

Carta c (cont..)
Ejemplo:

Nmero de defectos

Carta C
15

1
3.0L SC=12.76

LSC

C = 5.640

-3.0L IC=0.000

10

10

15

20

Nmero de Muestras

25

Observe el valor de la ltima muestra; est fuera del

lmite superior de control (LSC)
Qu informacin, anterior a la ltima muestra, debi
haber obviado el hecho de que el proceso iba a salir de
control?

Carta u (Atributos)

Monitorea el nmero de defectos en una muestra de n unidades

de inspeccin. El tamao de la muestra (n) puede variar
Los defectos por unidad se determinan dividiendo el nmero de
defectos encontrados en la muestra entre el nmero de unidades
de inspeccin incluidas en la muestra (DPU o nmero de
defectos por unidad) .
Ejemplos:
Se toma una muestra de tamao constante de tableros PCB por
semana, identificando defectos visuales por tablero.

Se inspeccionan aparatos de TV por turno, se determinan los

defectos por TV promedio.

Carta u (cont...)
Ejemplo 2: Defectos encontrado al inspeccionar varios
lotes de productos registrados por semana
Lote
n
c = Defectos
u = DPU
Lote

Unidade s

De fe ctos

DPU

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

10
12
7
14
12
12
13
10
9
14
13
13
12
10
11
13
11
15
15
14

60
75
42
77
69
72
76
55
51
78
72
77
74
57
62
41
30
45
42
40

6
6.3
6
5.5
5.8
6
5.8
5.5
5.7
5.6
5.5
5.9
6.2
5.7
5.6
3.2
2.7
3
2.8
2.9

k=20 semanas

Carta u (cont..)

Nmero de efectos

Ejemplo 2:
Grfica U para Defectos
8
7

3.0L SC
=6.768

6
5

U=4.979

4
-3.0L IC=3.190

3
2
0

10

20

Nmero de Muestras

Observe que ambos lmites de control varan

cuando el tamao de muestra (n) cambia.

En que momentos estuvo el proceso fuera

de control?

LSC

LIC

Capacidad de proceso
por atributos

Para cartas de control p y np en base a la fraccin promedio de

productos defectivos o no conformes es:

Cp >=1 es equivalente a p <= 0.27%

NOTA: Equivale a que el porcentaje de
partes buenas sea cuando menos del
99.73%

Para cartas de control c y u dependen de la especificacin

proporcionada por el cliente

Carta EWMA

48

Carta de Promedios Mviles

Ponderados Exponencialmente
(EWMA)
Es ms sensible que la grfica X al movimiento de

los pequeos cambios sostenidos en la media del

proceso.

Es ms sensible que la grfica X al movimiento de

separacin gradual de la media del proceso.

Es menos sensible que la grfica X a

desplazamientos grandes de la media del proceso.

Se puede aplicar a las Xs o a las Xs individuales.

49

Carta EWMA del ejemplo

Xewma
1- 52.0

EWMA Chart for X

2- 47.0
3- 53.0

53

4- 49.3

52

UCL=52.59

5- 50.1
7- 51.0
8- 50.1
9- 51.2
10- 50.5
11- 49.6
12- 47.6

EW MA

6- 47.0

51
50

Mean=50

49
48
LCL=47.41
47
0

10

20

Sample Number

13- 49.9
14- 51.3
15- 47.8

50

Carta EWMA

=
X
_
_1
X
_
X
2
_
X

Z0 =
Z1 :=
+ (1- )
Los puntos a graficar son los siguientes
Z2 =
+ (1- )
Z3 = 3 + (1- )

Z4 = X4 + (1- )
Con Z = EWMA

Z0
Z1
Z2
Z3

Observa que Z es un promedio ponderado de X i y de todas las

Xs anteriores.
La tpica forma de una grfica EWMA se muestra a continuacin.

XII

UCL

LCL
subgrupo

Los clculos, especialmente de los

lmites de control, son tan complejos
que normalmente este tipo de grfica
se realiza por medio de un paquete
de computo.

51

Estandarizacin
1. Controles para la mejora.
2. Formas para eliminar causas.
3. Datos de control de resultados.
4. Aplicacin de soluciones en otros
procesos.
5. Uso de mtodos de estandarizacin.
.

52

Prevencin de la reincidencia
Estandarizacin

DISPOSITIVOS A PRUEBA DE ERROR ( Poka - Yokes

).
53
22

GUOQCSTORY.PPT

Prevencin de la reincidencia

Realizar actividades para asegurar la no reincidencia

del problema.

Se debe de tener un control de las mejoras y de los

nuevos estndares, estas deben de ser acciones que
realmente eliminen las causas de los problemas.

Herramientas a utilizar: hojas de verificacin, cartas

de control, histogramas, mtodos de documentacin
de archivos, ISO- TS 9000, 5W +1H, etc.

54

Prevencin de la reincidencia

55

Plan de control

CONTROL PLAN
of

Page
Prototype

Pre- launch

Production

Key Contac/Phone

Date (Orig.)

Date (Rev.)

Core Team

Customer Engineering Approval/Date (if Req'd.)

Supplier/P lant Approval/Date

Customer Quality Approval/Date (if Req'd.)

Other Approval/Date (if Req'd.)

Other Approval/Date (if Req'd.)

Control Plan Number

Part Number/Latest Change Level

Part Name/Description

Supplier/Plant

Supplier Code

Part /

Process Name /

Machine, Device,

P rocess

Operation

J ig, Tools

Number

Description

For Mfg.

Characteristics

Special

Methods

Char.
No.

P roduct

Process

Class.

Product/Process

Evaluation/

Specification/

Measurement

Tolerance

Technique

Sample
Size

Control Method

Reaction Plan

Freq.

Todos los procesos

- Todas las Operaciones
- Todas las actividades
-

Hoja de Instruccin
No de Producto
Nombre del producto
Caracteristica
Descripcin

Un proceso
- Una actividad
- Operaciones Limitadas

Especificacin
& Tolerancia

Dibujo No.
Nivel
Criterio

Operacin No.
Instrumento

Maquna

Tamao Frecuenc. Mtodo de

dmuestra
Registro

Elabor

calidad
Aprob
Plan de Reaccin

Ayuda Visual
Operador
Instrucciones:

Distribucin

56

One Way to Standardize a Process

57

Reconocimiento al equipo Seis

Sigma

Este paso es de los ms importantes ya que

sin un reconocimiento adecuado a los
resultados alcanzados, se enva el mensaje de
ganar perder para el personal y se elimina la
motivacin para trabajar en nuevos proyectos
de mejora.

Los reconocimientos son muy variados y

dependen de la empresa y los resultados
alcanzados en particular.
58