CARLOS MARTINEZ BARRIDO (SEM) ORIGEN DEL MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO Conocido el fundamento DeBroglie, Busch llevo a la practica las primeras lentes electromagnticas Von Ardenne en 1933 demostr que se podan recoger electrones secundarios emitidos por la superficie de una muestra bombardeada por un haz de luz de electrones. PRINCIPIO BSICO
Debido a que el lmite de amplificacin de un microscopio ptico
est restringido por la longitud de onda de la luz visible; los microscopios electrnicos emplean electrones, que tienen una longitud de onda mucho menor que la de la luz y pueden revelar estructuras mucho ms finas.
La longitud de onda de los electrones que se utilizan en los
microscopios electrnicos es de 0,5 aproximadamente PRINCIPIO BASICO Los electrones del material se aceleran en un campo elctrico Se usan diferencias de potencial desde los 50 hasta los 30.000 voltios ALTO VOLTAJE: muestras metlicas BAJO VOLTAJE. muestras comnmente bilgicas El haz de electrones se desplaza sobre la superficie de la muestra realizando un barrido que obedece a una trayectoria de lneas paralelas. La variacin morfolgica de la muestra entrega diversas seales que son recogidas por distintos detectores; los cuales permiten la observacin, caracterizacin y microanlisis superficial de materiales tanto orgnicos como inorgnicos INTERACCION HAZ-MUESTRA
Electrones secundarios:La propia muestra emite electrones
secundarios debido a la colisin con el haz incidente para generar imgenes tridimensionales de alta resolucin, la energa de estos electrones es muy baja, inferior a 50 eV, por lo que los electrones secundarios provienen de los primeros nanmetros de la superficie. Electrones retrodispersados:Algunos electrones primarios son reflejados o retrodispersados tras interactuar con los tomos de la muestra Absorcin de electrones:La muestra absorbe electrones en funcin del espesor y la composicin; esto produce la diferencia de contraste en la imagen. INTERACCIN HAZ-MUESTRA Emisin de rayos X:Cuando los electrones de niveles internos son expulsados por la interaccin de los electrones primarios, habr transiciones entre los niveles de energa con emisin de rayos X, esta energa y longitud de onda estn relacionadas con la composicin elemental del material
Emisin de electrones Auger:Cuando un electrn es expulsado
de un tomo, otro electrn ms externo puede saltar hacia el interior para llenar esta vacancia resultando en un exceso de energa. VENTAJAS DEL SEM 1. Su gran profundidad de campo que le da apariencia tridimensional a las imgenes permitiendo enfocar y observar amplias zonas de la muestra al mismo tiempo. 2. Puede producir imgenes de alta resolucin (de hasta 3 nm), es decir, que detalles muy cercanos en la muestra pueden ser observados separadamente a alta magnificacin. 3. La relativamente sencilla preparacin de las muestras. 4. Se pueden observar muestras de tamaos desde centmetros hasta muestras del orden de nanmetros. MICROSCOPIO ELECTRNICO DE BARRIDO La microscopia electrnica de barrido (SEM) posibilita conocer la morfologa superficial de una muestra COMPONENTES DE UN MICROSCOPIO ELECTRNICO Can de electrones: Responsable de la generacin del haz de electrones Lentes electromagnticas Pantalla CARACTERIZACIN DE MATERIALES MEDIANTE SEM Dada a la alta resolucin que se puede lograr en la SEM se puede conocer: oEstructura cristalina oPorosidad oMorfologa superficial oComposicin qumica EJEMPLO BIBLIOGRAFIA https:// books.google.com.co/books?id=JNoMEWVRBmkC&pg=PA92&dq=micro scopia+electronica+de+barrido+en+catalisis&hl=es&sa=X&redi r_esc=y#v=onepage&q=microscopia%20electronica%20de%20barri do%20en%20catalisis&f=false http:// www.bahiablanca-conicet.gob.ar/biblioteca/principios-practica-micro scopia-electronica.pdf http:// ruc.udc.es/dspace/bitstream/handle/2183/9313/CC-011_art_5.pdf? sequence=1 http://www.biologia.edu.ar/microscopia/meb.htm https:// investigaciones.uniandes.edu.co/index.php/en/centro-de-microscopi