NUEVAS PROPIEDADES

FSICAS DE
MATERIALES
NANOESTRUCTURADOS
MINIATURIZACIN:
Con la aparicin de los transistores de estado solido por los bulbos al vaco ( los cuales son tpicamente
conocidos como tubos de rayos catdicos. Con estos se redujo:
1. El consumo de energa.
2. Las dimensiones.
3. Propiedades Volumtricas (Bulk).

Con esto aparecieron nuevas propiedades fsicas y la microelectrnica, el cambio de micro a nano crea
una tecnologa continua discontinua.
Las propiedades fsicas de un material dependen de:
El ordenamiento de sus tomos.
El ordenamiento de sus enlaces.
Las condiciones ambientales (presin, temperatura).
La Densidad de Cargas elctricas en el material.

Figura 1.
EL CONFINAMIENTO DE ESPACIO FSICO

Este da lugar a que las propiedades del material sufran

modificaciones. Este confinamiento indica que una carga
elctrica sigue una trayectoria para llegar a golpear a otra y
fluir en el material.
 CUANDO SE REDUCEN LAS DIMENSIONES
Esta figura representa la simplificacin de
laguna dimensin, en (a) encontramos tres
dimensiones y se puede evidenciar que los
tomos estn en la superficie y las cargas se
mueven libremente, en (b) se reduce el alto y
solo queda el largo y el ancho, en ya solo
nos queda el largo y esto se le conoce como
hilo cuntico y en (d) queda el electrn
confinado y ac es donde se estudia la
geometra y las propiedades fsicas y
aplicaciones futuras.

Figura
2.
Algunos resultados obtenidos del estudio de capas de delgados de Al, Cu y Au:
1. A) Propiedades Elctricas:
. La resistividad elctrica es una propiedad intrnseca del material
. La resistividad elctrica no debera de depender de las dimensiones del
material.
. Para materiales en capa delgada cuyo espesor es menor a los 100 nm, la
resistividad elctrica depende de las dimensiones del material. Esta
propiedad elctrica se incrementa enormemente al disminuir el espesor del
material
. Este efecto se ha trato de explicar tanto en forma terica como en forma
experimental:
-1901 por Thomson, usando teora clsica,
-[Fuchs, 1938 y Sondheimer, 1957] los modelos ms sofisticados de F-S
-[Mayadas y Shatzkes, 1969 y1970] ] los modelos ms sofisticados de M-S
usando fsica estadstica.
 Un estudio (Camacho y Oliva, 2005] realizado en capas de Au, Al y
Cu con espesores manomtricos demostr que las fronteras de grano
son los elementos que ms influencia tienen sobre el alto valor de
medido.
Se implement una tcnica para medir el tamao de grano cuya
funcin analtica es introducida en el modelo M-S para cuantificar los
efectos de las fronteras de grano y comparar con los efectos de
superficie.
En geometra de capa delgada, los electrones sufren un
confinamiento cuntico que les dificulta su movimiento para
desplazarse por el material, incrementando su energa.
Encontrando que los valores de medidos son cerca de dos rdenes
de magnitud mayores que el valor volumtrico.
Las fronteras de grano son las principales causantes de los altos
valores de en estas nanoestructuras
2. B) Propiedades Trmicas:
. Los coeficientes de dilatacin de los metales en volumen, estos
valores muestran cambios significativos cuando los espesores estn
en el rango nanomtrico.
. Usando difraccin de rayos X en la modalidad de haz rasante, para el
caso del aluminio, estos valores son ligeramente mayores que los del
volumen.
. Un comportamiento fue medido para el coeficiente trmico resistivo
donde se determinaron valores menores al valor del volumen cuando
los espesores de las capas disminuyen.
. midiendo los perfiles trmicos con alta resolucin durante el proceso
de calentamiento por efecto Joule, se ha implementado una
metodologa para estimar el coeficiente de conveccin, la resistencia
trmica de contacto y la constante de tiempo de difusin del calor en
un sistema bimaterial Au/vidrio.
3. C) Propiedades Mecnicas:
. Un rea de estudio con el objetivo de proponer aplicaciones usando
nanoestructuras metlicas. Dificultad de una tcnica para medir
ciertas propiedades mecnicas.
. En una capa depositada sobre un sustrato sufre esfuerzos en la
interface de unin de acuerdo con la ecuacin de Stoney [Stoney,
1909], es posible medir deformaciones muy pequeas en las capas
delgadas usando el MFA, cuando stas se someten a diversos flujos
de corriente controlados. Estas deformaciones trmicas son luego
relacionadas con los radios de curvatura, a partir de los cuales se
pueden estimar los parmetros mecnicos E, t y y.
. Sugiriendo modelos tericos que permitan cuantificar con un par
de experimentos los valores de estos parmetros [Hu y Huang,
2004].
 Se observa que el valor de E se incrementa en forma importante al
reducirse el espesor de la capa metlica e incrementarse la razn
de los radios de curvatura de los materiales generados por
temperatura o por esfuerzo mecnico.
El coeficiente de expansin trmica del material se incrementa en
forma casi linealmente inversa con el espesor.
Encontrando una mayor deformacin trmica para espesores cada
vez menores. Un lmite fsico es necesario agregar al modelo, en
virtud de la imposibilidad de algunos comportamientos en la vida
real.
IMGENES DE LOS INSTRUMENTOS UTILIZADOS PARA LA
OBTENCIN E LOS DATOS Y LA ELABORACIN DEL
EXPERIMENTO:

Figura
3.
Con el anterior experimento se puede concluir que con los
nanometriales se puede miniaturizar y construir aparatos para
diferentes reas de la ciencia que ayudara al avanece de la
humanidad, fuera de lo beneficiario que va hacer para todos, le
valor agregado es que se ahorrara material ,energa y se podr
utilizar las propiedades encontradas a esta escala. Tambin es
necesario que se desarrollen mitologas para el estudio de estas
nuevas propiedades y han aparecido nuevos conceptos y una
nueva disciplina los dispositivos microelectromecnicos.
Bibliografa:
Figura 1. http://1.bp.blogspot.com/-
zUtjTsgfNDw/T2KNXEbNCGI/AAAAAAAAAI8/qlEs4ds0C5M/s160
0/al%C3%B3tropos_do_carbono-final.jpg
Figura 2. Nuevas propiedades fsicas de materiales
nanoestructurados, Olivia Arias, pagina 41, Artculo de
divulgacin.
Figura 3. Nuevas propiedades fsicas de materiales
nanoestructurados, Olivia Arias, pagina 42, Artculo de
divulgacin.