AFM (Atomic Force Microscopy)

Imagen topogrfica
Resolucion 0.1nm

De Contacto
De pulsos (nN)

Mide dureza y
elasticidad
 CLSM (Confocal Laser
Scanning Microscopy)

No invasivo

Puede penetrar en
la muestra
TIRFM (Total Internal Reflection Fluorescence
Microscopy)

Laser de IR alto a IR bajo

En ngulo critico se refracta la luz

Se excitan los fluoroforos a una

distancia menor a 100nm
STED (Stimulated Emission Depletion)
SMLM (Single-Molecule Localization Microscopy)
Fluorocromos con capacidad de
Ser excitados e inhibidos fcilmente
 TIRFM/AFM

a imagen DIC (Contraste Diferencial interferencia)

b imagen de fluoresencia
c - imgenes sobrepuestas
d se elige la zona AFM de inters
e mapa de adhesin
TIRFM/AFM
A- superposicin de contraste de fases
y reflexin de fluorescencia

B- Imagen de fluorescencia
Imagen de desviacin AFM
AFM Topografa

C- Combinacin de AFM con TIRFM

D- Relacin entre la topografia (altura)

y la intensidad de fluorescencia

E- Topografa tridimensional
por computadora
CRISP/CAS