Академический Документы
Профессиональный Документы
Культура Документы
FOTOELECTRNICA DE RAYOS X
INTEGRANTES:
Melisa Cardona Taborda
Jessica Daniela Ortiz Gonzalez
Anglica Mara Jimnez Villa
AGENDA
Objetivos
Caracterizacin de superficie - Antecedentes
Instrumentacin
Modos de trabajo
Mediciones
Aplicaciones
Cuando la materia interacta con luz de suficiente
Conclusiones energa, se produce ionizacin
OBJETIVOS
Objetivo principal
Se pretende abordar la temtica de la Espectroscopia Fotoelectronica de Rayos X, y
entenderla desde su fenmeno fsico.
Objetivos especficos:
Se trataran algunas de las diferentes tcnicas de contraste presentes en el
microscopio.
Se realizara una comparacin entre los diferentes tipos.
Visualizar algunas de las aplicaciones de la microscopia ptica en las diferentes
reas.
Antecedentes
Espectroscopia por fotoemisin: se basa
en el efecto fotoelctrico.
Heinrich Hertz(1887) Albert Einstein(1905)
La emisin de fotoelectrones tambin
se acompaa de una emisin de
electrones Auger o fluorescencia
(emisin de fotones)
Ne requiri el desarrollo de la tcnicas
de vaco.
Aos 60
En qu consiste la tcnica...
Dos partes fundamentales de un
espectrmetro XPS son:
- Fuente de fotones excitante
- Analizador que permita separar los
electrones en funcin de su energa
cintica
Energa total disponible para excitar Energa de enlace con la cual estaba
un e- de un nivel de energa en el ligado el e- al tomo
tomo
Como es el proceso en Slidos
1. Emisin del fotoelectrn desde el tomo: 2. Propagacin del fotoelectrn en el slido:
funcin trabajo:
ruptura de la
simetra
traslacional
Solido
Obtencin de profundidad
Destructivo No Destructivo
30nm en adelante espesores de 5 a 10 nm
Bombardeo por iones argn (AIB)
Fuentes de Fotones
Orbitales Moleculares
Orbitales Atmicos
Rayos X, Niveles
Profundos de los
tomos XPS