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Rayos X
Miguel Mosquera Molina
2017
Rayos X
Los rayos x se producen cuando los electrones que
se mueven rpidamente, y que fueron acelerados a
travs de una diferencia de potencial del orden de
103 V a 106 V, chocan con un metal. Wilhelm
Rntgen (18451923) los produjo por primera vez
en 1895.
Los electrones se expulsan del ctodo calentado
por emisin termoinica, y son acelerados hacia el
nodo (el blanco) mediante una gran diferencia de
potencial VAC. El bulbo se evacua (presin residual
107 atm o menor), para que los electrones puedan Dispositivo usado para producir
ir del ctodo al nodo sin chocar con molculas de rayos X, parecido al que utiliz
aire. Cuando VAC es de algunos miles de volts o Rntgen en 1895.
ms, la superficie del nodo emite una radiacin
muy penetrante (rayos X).
Espectro continuo de Rayos X
The high voltage maintained across these
electrodes, some tens of thousands of volts, rapidly
draws the electrons to the anode, or target, which
they strike with very high velocity. X-rays are
produced at the point of impact and radiate in all
directions. If e is the charge on the electron (1.60
x 10-19 coulomb) and V the voltage across the
electrodes, then the kinetic energy (in joules) of the
electrons on impact is given by the equation:
1 Unidad
l = (m)
where:
K .
K . 4
K .
Doblete de lneas espectrales
Ordenando por energa asociada a cada espetral (para
el Molibdeno): K > K > K , con ellos
calculamos el promedio ponderado entre K K :
2 K + K = 2 . + . = 0.711
Lneas espectrales
Para K
/l = W W
1 1 1
=
l l l
Radiacin Ka1 para algunos metales
Mo 0.71
Cu 1.54
Co 1.79
Fe 1.94
Cr 2.29
Difraccin de rayos X
Los primeros experimentos de difraccin de rayos
X fueron realizados en 1912 por Friederich,
Knipping y Von Laue.
2 = l
2 = l
AplicacinLey de Bragg
Se dirige un haz de rayos X con una longitud de onda de 0.154 nm hacia ciertos planos de un
cristal de silicio. Conforme se aumenta el ngulo de incidencia a partir de cero, se encuentra el
primer mximo de interferencia intenso debido a estos planos, cuando el haz forma un ngulo
de 34.5 con los planos. a) Cul es la separacin entre los planos? b) Se hallarn otros
mximos de interferencia debidos a estos planos a ngulos mayores?
Determinacin de la estructura cristalina
Si la radiacin caracterstica Kb est
presente, el ngulo de Bragg obtenido (2qb )
resulta diferente al que se debera encontrar
para la radiacin Ka (2q ), los cuales se
relacionan segn:
=
l l
a, b y c: ejes cristalogrficos.
ndices de Miller
ndices de Miller, es espaciamiento d
entre los planos.
a, b y c: ejes cristalogrficos.
Red recproca
2 3
1 =
1 2 3
3 1
2 =
1 2 3
1 2
3 =
1 2 3
Efecto del tamao del crista en difraccin
El ancho del pico de difraccin aumenta
con el espesor disminuye, debido a que el
rango angular (2 -2 ) aumenta
cuando m disminuye.
2 = l
Tenemos:
( ) = l
+
2 =l
2 2
Efecto del tamao del cristal en difraccin
Con y , muy prximos a , tal que:
+ =
Tambin:
=
2 2
Tenemos:
2 = l
2
0.9 l
=
Aplicacin
a) Calcular el espesor B (en grados para 2q ), debido solamente al efecto tamao del cristal, de
partculas de dimetro 1000, 750, 500 y 250 . Asuma que q = 45 y l=1.5 . b) Para
partculas de 250 en dimetro, calcular el ancho B para q = 10 ,45 y q = 80 .
Indexando patrones de cristales cbicos
La distancia interplanar, en funcin del parmetro de red:
2 2 2 2
+ + =
2
2 + 2 + 2
=
2
2
2 = 2
+ 2 + 2
De la ley de Bragg: l2
2 =
42
42
2 + 2 + 2 = 2
l2
Formas cuadrticas de los ndices de Miller
Formas cuadrticas de los ndices de Miller
Formas cuadrticas de los ndices de Miller
Patrn de difraccin de NaCl
= +
=
+ = +
Tenemos:
= +
=
= + + +
Del grfico:
= +
Tenemos:
= +
Dispersin de Compton
Resolviendo:
+
= + + +
=
= ( )
Dividiendo por pp:
=
l l
=
Dispersin de Compton
Dispersin
de Compton l l =
m
Donde: l = = . m (longitud de Compton)
m
Aplicacin
Fotones de rayos x con l = 0.124 nm en un experimento de dispersin de Compton:
a) En qu ngulo la longitud de onda de los rayos x dispersados es 1.0% mayor que la
de los incidentes?
b) En qu ngulo es 0.050% mayor?
Resolucin
Piden