SIMS

Qumica Analtica III

Ftima M. Villalba Varas
 1910- primeras observaciones de emisin de partculas
inducidas por el impacto de iones sobre placa metlica
[THOMPSON]
1931- Se publico el primer espectro de masa de iones
secundarios negativos obtenidos bombardeando NaF y
CaF2 con iones Li+ [WOODCOCK].
1936-Arnot y Milligan investigaron el factor de ionizacin
secundario y la distribucin de energa de los iones
negativos inducidos por iones positivos
Los primeros espectros de iones secundarios completos
fueron construidos en 1958(HONIG); 1962(BESKE) y
1966(WERNER)
 La espectrometra de masas es una tcnica
de anlisis que permite determinar la
distribucin de las molculas de una
sustancia en funcin de su masa
El espectrmetro de masas es un dispositivo
que permite analizar con gran precisin la
composicin de diferentes elementos
qumicos e istopos atmicos, separando los
ncleos atmicos en funcin de su relacin
entre masa y carga (m/z).
 Enlos alimentos se
pueden encontrar un
gran nmero de
sustancias txicas
 ESTUDIAR METABOLISMO DE DROGAS

ESTUDIOS CLINICOS

TOXICOLOGIA FORENSE

ELUCIDACION ESTRUCTURAL DE PRODUCTOS

NATURALES
Acoplado CG o HPLC
 Ionizacin por impacto electrnico

Ionizacin qumica

Fuente de bombardeo de tomos rpidos

Desorcin con laser

Ionizacin a presin atmosfrica

 Se usa un haz de iones primarios energticos
para bombardear la superficie de la
muestra, produciendo la emisin de
partculas secundarias ionizadas que son
detectadas mediante un espectrmetro de
masas.
Los iones primarios pueden ser 02+, 0-, Cs+;
Ar+; Xe*; Ga + y algunos otros.
 Ion molecular.- (radical catin)
Fragmentos
Reordenamientos
Ion doblemente cargados
 Analizadores de sector magntico usan imn
permanente para hacer que el haz de la fuente
se mueva en trayectoria circular
Analizadores de cudrupolo, son mas robustos y
baratos, emplean tiempo de barrido pequeo y
son ideales para acoplarlos en un cromatografo.
Trampa de iones. Iones gaseosos son confinados
en periodos largos por accin de campo elctrico
y/o magntico
Tiempo de vuelo, donde se bombardea la
muestra con impulsos de electrones generados
por laser o de otro iones
 SIMS esttico: los iones primarios no tienen
suficiente energa - (estructura qumica de la
superficie)

SIMS dinmico: los iones primarios tienen

suficiente energa que producen una erosin
de la superficie (composicin elemental)
 Altasensibilidad para la deteccin de la mayora
de los elementos de la tabla peridica

Capacidad para distinguir isotopos

Buena relacin topogrfica (10 m)

Notable resolucin en profundidad (<50)

Gran rango dinmico de deteccin

 Difcil
cuantificacin debido a que el SIMS
detecta solo la fraccin ionizada de las
especies que se miden

Esuna tcnica de anlisis destructiva (en la

mayora de los casos se requiere volmenes
pequeo demuestra)
 Seregistra la intensidad de un rango de
especies secundarias en funcin de la masa

Unespectrmetro de masas tiene tres

componentes fundamentales: la fuente de
ionizacin, el analizador de masa y el
detector
MUCHAS GRACIAS
POR SU ATENCION!!!