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Limites de
especificación
Muestra y muestreo para el GC
Selección de la
muestra
Frecuencia
Tamaño del
de
subgrupo
muestreo
Sobre el muestreo
• La condición ideal es muestras grandes
1 con mucha frecuencia
2 • Costos del muestreo
• Confiabilidad esperada: conocimiento
3 y experiencia en el proceso
4 • Probabilidad de error tipo II
• Perdidas asociadas al permitir que el
5 proceso opere fuera de control
6 • Velocidad de la producción
Tipos de comportamiento anormal
en los GC
Estatificaciones
Tipos de comportamiento anormal en los GC
20
15
Tendencias 10
5
0
X -5
10
13
16
19
22
25
28
1
7
Posibles causas: -10
- Desgaste gradual de
-15
la herramienta
- Envejecimiento de las -20
materias primas Subgrupo
- Falta de
mantenimiento
- Fatiga personal
- Deterioro del sistema
de medida
Tipos de comportamiento anormal en los GC
Inestabilidad
20
Grandes variaciones, puntos 15
erráticos arriba y debajo de la línea 10
central
5
Posibles causas:
0
X
- Instrumentación con fallas
- Problemas de entrenamiento en -5 1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
operarios
- Cambios en métodos -10
- Mezclas de lotes de MP -15
- Cambios de materiales o repuestos -20
- Desajustes mecánicos
- Falta de cuidado en la operación Subgrupo
- Problemas de muestreo
- El arrancar o apagar la maquina
- El proceso no esta controlado
- Sobre control o ajustes innecesarios en
el proceso
- Control de dos o mas proceso en la
misma carta
Tipos de comportamiento anormal en los GC
20
Ciclos 15
10
Patrón de fluctuación no
aleatorio, tendencias 5
ascendentes y descendentes de 0
pocos datos y en forma X
recurrente repitiéndose varias -5
10
13
16
19
22
25
28
1
7
veces
-10
Posibles causas:
- Condiciones ambientales -15
cíclicas
- Fatiga del operador -20
- Diferentes métodos entre Subgrupo
turnos
- Diferentes procesos de
muestreo
- Mantenimiento de equipos
- Rotación regular de máquinas
u operarios
Tipos de comportamiento anormal en los GC
20
Estatificaciones
15
10
Los puntos se agrupan alrededor de la
línea central, se caracteriza por un 5
aparente control, pero es realmente una
0
X
estabilidad artificial
-5 1 4 7 10 13 16 19 22 25 28
-10
Posibles causas:
-15
- Fallas en el muestreo
- Fallas en los análisis -20
realizados
Subgrupo
- Limites de control mal
calculados
- Mezcla de materias primas
- “manipulación” de los
resultados
Tipos de comportamiento anormal en los GC
20
Secuencias 15
10
Tendencia del proceso a dar valores a un 5
solo lado de la linea central. El numero de
0
X
puntos se denomina longitud de racha
-5
10
13
16
19
22
25
28
1
4
7
Posibles causas:
-10
- Cambios en las proporciones de -15
las MP
- Programa de mantenimiento -20
- Instrumentación con fallas Subgrupo
- Entrenamiento de los operarios
- Cambio de método, MP,
materiales y/o repuestos
- Desajustes mecánicos
- Cambio en el instrumento a
medir
Resumen de criterio tipo de Causa Especial
A • 1 punto con mas de3 desviaciones est. de la línea central
Clases:
Instrumento de medición
p: proporción de
defectuosos
Clases: np: número de unidades
defectuosas
X: Medias
c: número de defectos
R: Rango
u: defectos presentes en la
S: Desviación estandar unidad
X: Medidas individuales