ESCUELA SUPERIOR POLITÉCNICA DE CHIMBORAZO

FACULTAD DE INFORMÁTICA Y ELECTRÓNICA

ESCUELA DE INGENIERÍA ELECTRÓNICA EN CONTROL Y REDES INDUSTRIALES
PROPUESTA DE TRABAJO DE TITULACIÓN

DESARROLLO DE UN SISTEMA DE
MEDICIÓN DE RUIDO DE BAJA
FRECUENCIA PARA CARACTERIZACIÓN DE
CANALES CONDUCTIVOS EN
DISPOSITIVOS ELECTRÓNICOS
PROPONENTE: RONALD BARCIA MACÍAS
TUTOR: ING. JORGE LUIS HERNÁNDEZ AMBATO, PHD

ANTECEDENTES
Densidad espectral de voltaje de ruido en un
amplificador operacional ADA4622-2 (Kiely, 2017)
•
Todos los sistemas electrónicos son susceptibles a ruido
electrónico e interferencia, en especial los sistemas de
instrumentación (Bentley, 2005).
• Existen algunas fuentes externas que pueden inducir
ruido en aplicaciones electrónicas y se han desarrollado
varios métodos para mitigar sus efectos (Cook, 1979)
(Bentley, 2005) (Motchenbacher & Connelly, 1993).
• Sin embargo, el ruido de baja frecuencia (LFN) que se
produce al interior de los dispositivos electrónicos no
puede ser filtrado en su totalidad y necesita ser
caracterizado (Kiely, 2017).
• El ruido 1/f (o Flycker) se genera al interior de
dispositivos semiconductores y se produce a bajas
frecuencias (<50Hz).
• A este ruido se suman otros mecanismos como Thermal-
noise, Shot-noise, entre otros.
JUSTIFICACIÓN TEÓRICA
• Existen estudios realizados sobre medición del ruido 1/f para conocer sus efectos en
dispositivos semiconductores: en dispositivos optoelectrónicos (Jankovec, Smole, &
Topic, 2004) y como herramienta de comprobación del estado interno de transistores
CMOS (Ciofi & Neri, 2000), (Raychaudhuri, 2002), (Carmine Ciofi & Neri, 2003).
• Mediciones de ruido 1/f han sido llevados a cabo incluso sobre Transistores de
Potencia para corroborar el estado de degradación durante pruebas de estrés
(Pace, 2017).
• Otras áreas donde es importante las mediciones de LFN ha sido en el desarrollo de
materiales conductivos (Tubon-Usca, 2016).
Principal inconveniente es que No existe una instrumentación específica y que esté
disponible comercialmente para este tipo de aplicaciones debido a los requerimientos
que la misma debe cumplir (baja generación de LFN intrínseco, larga autonomía, etc.)
 JUSTIFICACIÓN
APLICATIVA

• Sistema propuesto para

medición de ruido de baja
Control del Sistema y
Sistema de Fuente de Poder programable
Unidad de frecuencia en dispositivos
Polarización Elaboración electrónicos y canales
conductivos.
Pre
Amplificador
Dispositivo
Bajo Prueba
de
ruido
bajo Muestreo de Señales
y Adquisición de
• Aspecto más relevante a
Datos considerar: El ruido
Cámara
CámaraTérmica
Térmica introducido por los mismos
Aislamiento Térmico y Electromagnético componetes que formarán
parte de la instrumentación.
 FORMULACIÓN Y SISTEMATIZACIÓN DEL PROBLEMA
• ¿Cómo va a funcionar el sistema de
medición de ruido de baja frecuencia para

• ¿Cómo implementar un caracterización de canales conductivos en

dispositivos electrónicos?
sistema de medición de • ¿Cuáles son los requerimientos que debe
cumplir el prototipo a implementar?
ruido de baja frecuencia
• ¿Cuál es el diseño que cumple con los
para caracterización de requerimientos planteados?

canales conductivos en • ¿Qué software y hardware son adecuados

para llevar a cabo la implementación del
dispositivos electrónicos? diseño?
• ¿Cómo se evaluará que el prototipo cumpla
con los requerimientos planteados?
 MES 1 MES 2 MES 3 MES 4 MES 5
MESES

ETAPAS 1S 2S 3S 4S 1S 2S 3S 4S 1S 2S 3S 4S 1S 2S 3S 4S 1S 2S

Análisis y estudio
Diseño, selección y adquisición de
dispositivos
Implementación Física
Programación
Pruebas de funcionamiento y
análisis de resultados
Documentación

CRONOGRAMA
 Cant. Detalle V/Unitario V/ Total
1 Fuente de voltaje programable $ 150,00 $ 150,00
1 Microcontrolador $ 50,00 $ 50,00
10 Componentes Electrónicos de bajo ruido $ 5,00 $ 50,00
1 CPU $ 500,00 $ 500,00
1 Monitor 32" $ 250,00 $ 250,00
2 PCB $ 80,00 $ 160,00
1 Software de programación de microcontrolador $ 10,00 $ 10,00
PRESUPUESTO 1 Software de diseño y simulación electrónico $ 10,00 $ 10,00
1 Software de edición de texto $ 10,00 $ 10,00
1 Elementos electrónicos y eléctricos $ 150,00 $ 150,00
1 Herramientas de trabajo $ 150,00 $ 150,00
1 Internet $ 25,00 $ 25,00
1 Suministros de oficinas $ 30,00 $ 30,00
1 Transporte $ 20,00 $ 20,00
TOTAL $ 1.565,00
 REFERENCIAS
• Bentley, J. P. (2005). Principles of Measurement Systems. Pearson Prentice Hall.
• Ciofi, C., & Neri, B. (2000). Low-frequency noise measurements as a characterization tool for degradation phenomena in solid-
state devices. Journal of Physics D: Applied Physics, 33(21), R199. https://doi.org/10.1088/0022-3727/33/21/201
• Ciofi, Carmine, & Neri, B. (2003). Low frequency noise measurements: Applications, methodologies and instrumentation.
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 5113. https://doi.org/10.1117/12.489652
• Cook, B. E. (1979). Electronic Noise and Instrumentation. Measurement and Control, 12(8), 326–335.
https://doi.org/10.1177/002029407901200804
• Jankovec, M., Smole, F., & Topic, M. (2004). Low-frequency noise measurement of optoelectronic devices (Vol. 1, pp. 11-14
Vol.1). https://doi.org/10.1109/MELCON.2004.1346758
• Kiely, R. (2017, mayo). Understanding and Eliminating 1/f Noise. Analogue Dialogue, 51. Recuperado de
http://www.analog.com/en/analog-dialogue/articles/understanding-and-eliminating-1-f-noise.html
• Motchenbacher, C. D., & Connelly, J. A. (1993). Low noise electronic system design. J. Wiley & Sons.
• Raychaudhuri, A. K. (2002). Measurement of 1/f noise and its application in materials science. Current Opinion in Solid State
and Materials Science, 6(1), 67–85. https://doi.org/10.1016/S1359-0286(02)00025-6
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ATENCIÓN