Вы находитесь на странице: 1из 13

ФГУП «ВНИИА им.

Н.Л.Духова»
НИЯУ «МИФИ»

Установка комбинированного
активного и пассивного
контроля ДМ и их нуклидного
состава в отходах ядерной
энергетики
Ю.Н.Бармаков, Е.П.Боголюбов, О.В.Бочкарев,
Ю.Г.Полканов, В.Л.Ромоданов, Д.Н.Черникова

V международный ядерный форум, 27сентября -1октября 2010 года,


Санкт-Петербург
Методы неразрушающего
нейтронного анализа
1. Нейтронный анализ (пассивный, без внешних
источников)
- счет полного потока (мгновенные нейтроны спонтанного деления,
нейтроны отработавшего топлива, нейтроны (α ,n)-реакций и
вынужденного деления (размножение на собственных нейтронах
топлива);
- счет совпадений (определение массы Pu240эф ⇒ Pu239);
- счет множественности (идентификация типа источника нейтронов,
типа матрицы, учет космического фона).

2. Нейтронный анализ (активный, с внешними


источниками нейтронов, 252 Cf, PuBe, AmLi,
ИНГ):
- счет полного потока (мгновенные и запаздывающие нейтроны
деления делящихся нуклидов);
- параметры временного спада нейтронов различных энергий и
происхождения (мгновенные и запаздывающие нейтроны деления
различных нуклидов,
DDT метод);
Нейтронные методы обнаружения и
контроля ДМ (достоинства и недостатки)
Пассивные методы:
- простота и отсутствие внешнего источника излучения
(+)
- задача разделения нейтронного излучения на составляющие
(-)
3 источника: (α ,n), спонт. дел. четных изот. Pu/U, вынужд. дел. + фон
- метод косвенный (надо знать «историю»: выгорание и изот. состав Pu/U)
(-)
- очень затруднено для U (малая активность спонт.деления и (α ,n) от U234)
(-)

Активные методы
- прямое определение количества ДМ (полный поток Nfis ⇒ Σ масса U и
Pu) (+)

- использование различного зондирующего излучения (тепл., медл.


нейтр.)
для снижения эффекта экранировки (графит вместо полиэтилена)
(+)
- техническая возможность и пассивного режима
а

Зависимость плотности потока тепловых


нейтронов от времени после импульса
нейтронного источника
Ф(t)
~exp(-βt) - нейтроны источника и деления
всех ЯМ на быстрых нейтронах

~exp(-αt) - нейтроны вынужденного


деления нечетных ядер на тепловых
нейтронах.
Nсп +Nα n
Nзап.

t
Лабораторная установка для контроля багажа
авиапассажиров (2001-2005 гг.)

5 г U-235 за 5 с в 200-литровой камере


Ye.P.Bogolubov et al, Nucl. Instr. Meth. in Phys.Res.,
B213(2004)439
Схема установки В р е м е н н о й а н а

У с и л и т е л ь

Д е т е к т о р т е п л о в ы х
н е й т р о н о в
У с и л и т е л ь

Д е т е к т о р н а д к а д
н е й т р о н о в
З а м е д л и т е л ь 2
К а д м и е в ы й э к р а

З а м е д л и т е л ь 1
И м п у л ь с н ы й н е
г е н е р а т о р
отходах
Кадмиевый
экран

3
He счетчик
Матричные Длина
материалы
330-350 Полиэтилен
3
Не-счетчиков
– 50 см
ДM Свинец
толщ. 50 мм
330-350 Объем камеры
- 60-70 л
Мишень
ИНГ
150

Конструкционные
112 материалы ИНГ
Временная зависимость отклика
3
Не детекторов от U-235 для
различных типов матричных
материалов 1,00E-02

без матрицы
Отклик в детекторах He-3

1,00E-03
графит 0,65 г/см3

1,00E-04
железо 2 г/см3

1,00E-05 железо 4 г/см3

графит 0,32 г/см3


1,00E-06

графит 1,3 г/см3


1,00E-07

железо 1 г/см3

1,00E-08
0 100 200 300 400 500 600 700 800 900 1000

Время после импульса нейтронов источника, мкс


Число делений 132 г U-235 в контейнере с различными матричным
материалами и чувствительность установки в интервале (400–800
мкс для выхода нейтронов ИНГ 107 нейтр./c.
Тип матричного материала

Графит Железо

Число Число
Константа Число Константа Число
Плотность, делений Плотность делений
спада α, делений спада α, делений
за 1000 с , за 1000 с
г/см3 1/с /с 1/с /c
для 10мг г/см3 для
235
U 10 мг 235 U

0 2500 9403 712 0 2500 9403 712

0,32 2200 9463 716 1 4900 2767 209

0,65 1900 9340 707 2 5900 1348 102

1,3 1600 8103 613 4 6700 848 64


Временной анализатор БВА-16, блок 3He-счетчиков
в C2H4-замедлителе, ист.питания, блок коммутации
Временной анализатор на плате PCI

А.Г.Афанасьев,
А.В.Гаврюченков
Журнал ПТЭ,
2007, №5, с.158
Заключение
Использование импульсных нейтронных генераторов в
установках контроля ДМ обеспечивает:
• Прямой контроль содержания 235 U и/или 239 Pu.

• Возможность пассивных измерений (для 240 Pu).

• Измерение образцов ДМ с большой экранировкой.

• Учет матричных материалов в емкостях с отходами ядерного производства.

• Меньшее время и более высокую чувствительность измерений единицы ДМ

по сравнению с пассивными методами.


СПАСИБО
ЗА ВНИМАНИЕ!